制晶体的方法

本专题涉及制晶体的方法的标准有153条。

国际标准分类中，制晶体的方法涉及到分析化学、核能工程、半导体材料、玻璃、金属材料试验、频率控制和选择用压电器件与介质器件、光电子学、激光设备、非金属矿、光学和光学测量、电子元器件综合、电池和蓄电池、绝缘流体、陶瓷、太阳能工程、糖、糖制品、淀粉、能源和热传导工程综合、辐射测量、涂料配料、有色金属、医疗设备、长度和角度测量、金属的腐蚀、化工产品、金属生产、航空器和航天器综合、集成电路、微电子学、电子显示器件、航空航天发动机和推进系统、词汇、半导体分立器件、黑色金属、滤波器、钟表学。

在中国标准分类中，制晶体的方法涉及到电化学、热化学、光学式分析仪器、核探测器、半金属与半导体材料综合、特种玻璃、电子技术专用材料、半金属及半导体材料分析方法、石英晶体、压电元件、激光器件、金属物理性能试验方法、金属化学性能试验方法、合成材料综合、人工晶体、仪器、仪表用材料和元件、物理电源、金属无损检验方法、、、、、、、化学试剂综合、太阳能、能源综合、核仪器与核探测器综合、通用核仪器、涂料、半金属、金属化学分析方法综合、元素半导体材料、基础标准和通用方法、航空、航天材料基础标准、电子束管、商业、贸易、合同、眼科与耳鼻咽喉科手术器械、通用电子测量仪器设备及系统、半导体光敏器件、金相检验方法、标准化、质量管理、半导体三极管、光电子器件综合、时间计量仪器、半导体整流器件、技术管理、教育、学位、学衔。

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于制晶体的方法的标准

GB/T 20724-2021 微束分析薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
GB/T 40291-2021 核仪器仪表辐射探测器用高纯度锗晶体基本特性的测量方法
GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
GB/T 37240-2018 晶体硅光伏组件盖板玻璃透光性能测试评价方法
GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
GB/T 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于制晶体的方法的标准

GB/T 22319.11-2018 石英晶体元件参数的测量第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法
GB/T 35118-2017 掺铒钇铝石榴石激光晶体光学性能测量方法
GB/T 34612-2017 蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法
GB/T 14142-2017 硅外延层晶体完整性检验方法腐蚀法

国家质检总局，关于制晶体的方法的标准

GB/T 14144-2009 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
GB/T 1554-2009 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
GB/T 24370-2009 硒化镉量子点纳米晶体表征.紫外-可见吸收光谱方法
GB/T 7896-2008 人造光学石英晶体试验方法
GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
GB/T 1557-2006 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
GB/T 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法
GB/T 16863-1997 晶体折射率的试验方法
GB/T 16822-1997 介电晶体介电性能的试验方法
GB/T 6495.4-1996 晶体硅光伏器件的I－V实测特性的温度和辐照度修正方法
GB/T 1554-1995 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
GB/T 14144-1993 硅晶体中间隙氧含量经向变化测量方法
GB/T 14142-1993 硅外延层晶体完整性检查方法
GB/T 12634-1990 压电晶体电弹常数测试方法
GB/T 11312-1989 压电陶瓷材料和压电晶体声表面波性能测试方法
GB/T 11295-1989 激光晶体棒型号命名方法
GB/T 11297.12-1989 电光晶体、铌酸锂、磷酸二氢钾和磷酸二氘钾消光比的测定方法
GB/T 11113-1989 人造石英晶体中杂质的分析方法
GB/T 11114-1989 人造石英晶体位错的X 射线形貌检测方法
GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
GB/T 7896-1987 人造光学石英晶体试验方法
GB/T 6627-1986 人造石英晶体棒材型号命名方法
GB/T 6430-1986 晶体盒型号命名方法
GB/T 6495.11-2016 光伏器件第11部分:晶体硅太阳电池初始光致衰减测试方法

日本工业标准调查会，关于制晶体的方法的标准

JIS C6703-2021 晶体过滤器的通用规范和试验方法
JIS C6701-2021 石英晶体单元的通用规范和试验方法
JIS C8914 AMD 1-2005 晶体太阳能PV模件的输出功率测量方法(修改件1)
JIS C8913 AMD 1-2005 晶体太阳能电池的输出功率测量方法(修改件1)
JIS C8916 AMD 1-2005 晶体太阳能电池和模件的输出电压和电流的温度系数测量方法(修改件1)
JIS C8917 AMD 1-2005 晶体太阳能PV模件的环境试验方法和耐久性试验方法(修改件1)
JIS C8915 AMD 1-2005 晶体太阳能电池和模件的波谱反应测量方法(修改件1)
JIS C8920-2005 采用空载电压的晶体太阳能电池等效电池温度的测量方法
JIS C8919 AMD 1-2005 晶体太阳能电池及模件输出功率的室外测量方法(修改件1)
JIS H7805-2005 用X射线衍射仪测定金属晶体中晶粒大小的方法
JIS H7804-2005 用电子显微法测定金属晶体的粒径的方法
JIS H0609-1999 用优选浸蚀技术检测硅中晶体缺陷的试验方法
JIS H0615-1996 用光致发光光谱法测定硅晶体中杂质浓度的试验方法
JIS H0602-1995 用四点探针法对硅晶体和硅片电阻率的测试方法
JIS C8919-1995 晶体太阳能电池及组件输出功率的室外测量方法
JIS H0609-1994 在优选的腐蚀工艺下硅晶体损害的试验方法
JIS H0610-1966 锗晶体浸蚀点密度的测定方法
JIS C7051-1974 反向阻断型三极晶体闸流管的试验方法

国际标准化组织，关于制晶体的方法的标准

ISO 21820-2021 精细陶瓷（高级陶瓷，高级工业陶瓷）.分析掺硼和掺氮SiC晶体的多类型的紫外光致发光图像试验方法
ISO 19214-2017 微束分析. 分析电子显微术. 采用透射电子显微镜术测定丝状晶体显著增长方向的方法

教育部，关于制晶体的方法的标准

JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则

浙江省市场监督管理局，关于制晶体的方法的标准

DB33/ 972-2019 晶体硅光伏产品单位可比电耗限额及计算方法

江苏省市场监督管理局，关于制晶体的方法的标准

DB32/T 3594-2019 晶体硅太阳电池热斑耐久性能试验方法

德国标准化学会，关于制晶体的方法的标准

DIN IEC/TS 62804-1-2017 光伏(PV)模块.检测电位诱导衰减的试验方法.第1部分:晶体硅(IEC/TS 62804-1-2015)
DIN EN 60679-6-2011 质量评定的石英晶体控制振荡器.第6部分:石英晶体振荡器和SAW振荡器的相位抖动测量方法.应用指南(IEC 60679-6-2011).德文版 EN 60679-6-2011
DIN EN 60689-2009 频率为10 kHz～200 kHz 音叉石英晶体元件的测量和试验方法及标准值(IEC 60689:2008),德文版本 EN 60689:2009
DIN EN 60444-4-1997 用π型网络的零相位技术测量石英晶体元件参数.第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法以及其他导出参数值的计算
DIN EN 60444-5-1997 石英晶体元件参数测量.第5部分:自动网络分析仪和误差修正技术评定电气参数的测量方法
DIN 45105-4-1981 压电石英器件.测量方法.滤波器晶体附加谐振的频率和谐振阻抗测量

工业和信息化部，关于制晶体的方法的标准

JC/T 2418-2017 掺钕硼酸氧钙钆钇激光自倍频晶体通用技术条件及测试方法
SJ/T 11572-2016 运输环境下晶体硅光伏组件机械振动测试方法

，关于制晶体的方法的标准

TS 2154-1975 滤波器晶体装置无用谐振频率和等效电阻测量方法

英国标准学会，关于制晶体的方法的标准

BS PD IEC/TS 62804-1-2015 光伏 (PV) 模块. 检测电位诱导衰减的试验方法. 晶体硅
BS PD IEC/TS 62804-1-2015 光伏 (PV) 模块. 检测电位诱导衰减的试验方法. 晶体硅
BS IEC 61435-2013 核仪器.放射探测器用高纯度锗晶体.基本特性的测量方法
BS IEC 61435-2013 核仪器.放射探测器用高纯度锗晶体.基本特性的测量方法
BS EN 60679-6-2011 经质量评估的石英晶体受控振荡器.石英晶体振荡器和SAW振荡器的相位抖动测量方法.应用指南
BS EN 60444-11-2010 石英晶体元件参数的测量.使用自动网络分析技术和纠错法测定负载共振频率L和有效负载电容CLeff的标准方法
BS EN 61747-5-1998 液态晶体和固态显示装置.环境、耐久性和机械试验方法
BS EN 60444-3-1993 石英晶体器件参数的测定.第3部分:用与并联电容量C0补偿相连的π网络相位技术测量200 MHz以下的石英器件的两极参数的基本方法
BS EN 60444-1-1997 石英晶体单元参数的测量.第1部分:用π型网络零相位技术测量石英晶体单元谐振频率和谐振电阻的基本方法
BS EN 60444-4-1993 石英晶体元件参数测量.第4部分:30 MHz以下石英晶体元件负荷谐振频率fL.负荷谐振电阻R1测量方法,以及石英晶体元件其他导出值计算方法

浙江省质量技术监督局，关于制晶体的方法的标准

DB33/ 972-2015 太阳能晶体硅单位产品可比电耗限额及计算方法

法国标准化协会，关于制晶体的方法的标准

NF C93-610-2014 在10 kHz至200 kHz和标准值范围内音叉石英晶体元件的测量和试验方法
NF C93-620-6-2011 质量评估石英晶体控制振荡器.第6部分:石英晶体振荡器和锯齿波振荡器相位抖动的测量方法.
NF C93-623-2001 用π型网络的零相位技术测量石英晶体器件参数.第3部分:用并联电容 CO 补偿的π网络零相位技术测量最高可达 200 MHz 的石英晶体器件谐振器两端参数的基本方法
NF C93-625-2001 石英晶体元件的参数测量.第5部分:使用自动网络分析仪和误差修正技术测定等效电气参数的方法
NF C93-624-2001 用π型网络的零相位法测量石英晶体元件参数.第4部分:石英晶体单元负荷谐振频率 fL 、负荷谐振电阻 RL 的测量方法及其他石英晶体元件导出值的计算方法(频率最高可达 30 MHz)
NF C93-621-2000 用π型网络的零相位法测量石英晶体器件参数.第1部分:用π型网络零相位法测量石英晶体器件谐振频率和谐振电阻的基本方法

美国材料与试验协会，关于制晶体的方法的标准

ASTM E82/E82M-2014 测定金属晶体取向的标准试验方法
ASTM B808-2010(2015) 用石英晶体微量天平监测室内大气腐蚀的标准试验方法
ASTM E82-2009 测定金属晶体取向的标准试验方法
ASTM B808-2005 用石英晶体微量天平监测大气腐蚀室的标准试验方法
ASTM F950-1998 用角抛光和疵点侵蚀加工法测量机械加工硅片表面晶体损坏深度的试验方法
ASTM B808-1997 用石英晶体微量天平监测室内大气腐蚀的标准试验方法
ASTM E82-1991(2007) 测定金属晶体取向的标准试验方法

行业标准-电子，关于制晶体的方法的标准

SJ/T 10015-2013 10kHz～200kHz音叉石英晶体元件的测试方法和标准值
SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量.第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
SJ/T 11211-1999 石英晶体元件参数的测量.第5部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法
SJ 20718-1998 碲镉汞晶体中痕量元素的测定方法
SJ 20719-1998 碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法
SJ 3254-1989 中小功率晶体三极管计量专用样管筛选方法
SJ/Z 9162-1987 手表用32KHz石英晶体元件的测量方法、试验方法和标准值
SJ/Z 9154.3-1987 利用并联电容CO补偿的π型网络相位法测量频率达200MHz的石英晶体元件两端网络参数的基本方法
SJ/Z 9154.1-1987 用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数第一部分：测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法
SJ/Z 9156-1987 滤波晶体元件寄生谐振的频率和等效电阻的测量方法
SJ/Z 9155.1-1987 石英晶体振荡元件第一部分：综合性资料、试验条件和试验方法

国际电工委员会，关于制晶体的方法的标准

IEC 61435-2013 核仪器.放射探测器用高纯度锗晶体.基本特性的测量方法
IEC 60689-2008 用于10kHz～200kHz及标准值的音叉石英晶体元件的测量和试验方法
IEC 60444-1 AMD 1-1999 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数第1部分:用π型网络零相位技术测量石英晶体元件的谐振频率和谐振电阻的基本方法修改1
IEC 60444-5-1995 石英晶体元件参数的测量第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法
IEC 60891 AMD 1-1992 晶体硅光伏器件实测I-V特性的温度和辐照度校正方法修改1
IEC 60444-4-1988 用π型网络的零相位技术测量石英谐振器参数.第4部分:石英晶体元件负荷谐振频率fl、负荷谐振电阻Rl的测量方法,以及石英晶体元件其他导出值的计算方法(频率小于30MHz)
IEC 60891-1987 晶体硅光伏器件实测I-V特性的温度和辐照度校正方法
IEC 60444-1-1986 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数第1部分:用π型网络零相位技术测量石英晶体元件的谐振频率和谐振电阻的基本方法
IEC/TR 60444-3-1986 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数第3部分:利用有并联电容Co补偿的π型网络相位技术测量频率达200MHz的石英晶体元件两端网络参数的基本方法
IEC 60679-1 AMD 1-1985 石英晶体受控振荡器.第1部分:一般信息、试验条件和方法
IEC 60689-1980 手表用32kHz石英晶体元件的测量方法、试验方法和标准值
IEC 60679-1-1980 石英晶体受控振荡器.第1部分:一般信息、试验条件和方法
IEC/TR 60283-1968 滤波器晶体单元的无用谐振频率和等效电阻的测量方法

韩国标准，关于制晶体的方法的标准

KS M ISO 10601-2012 涂料用云母铁矿晶体颜料.规范和试验方法
KS D 0258-2012 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
KS D 0258-2012 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
KS D 0078-2008 硅晶体中混杂物浓度测定方法.光致发光分析测定法
KS D 0078-2008 硅晶体中混杂物浓度测定方法.光致发光分析测定法
KS C 8526-2005 晶体基太阳电池模块输出功率的测量方法
KS C 8526-2005 晶体基太阳电池模块输出功率的测量方法
KS C 8528-2005 晶体基太阳电池输出功率的测量方法
KS C 8525-2005 晶体基太阳电池光谱响应测试方法
KS C 8528-2005 晶体基太阳电池输出功率的测量方法
KS C 8525-2005 晶体基太阳电池光谱响应测试方法
KS C 8529-1995 晶体基太阳电池模块输出电压、输出电流的温度系数测定方法
KS C 8529-1995 晶体基太阳电池模块输出电压、输出电流的温度系数测定方法

欧洲标准化委员会，关于制晶体的方法的标准

EN ISO 11979-3-2012 眼科植入物.人工晶体.第3部分:机械性能和测试方法
EN ISO 10601-2008 涂料用云母铁矿晶体颜料.规范和试验方法

(美国)军事条例和规范，关于制晶体的方法的标准

ARMY MIL-STD-1170 VALID NOTICE 1-2003 评测7.62mm弹壳中的晶体结构视觉标准和比较方法
ARMY MIL-STD-1170-1964 评测7.62mm弹壳中的晶体结构视觉标准和比较方法

行业标准-商品检验，关于制晶体的方法的标准

SN/T 0735.2-1997 出口芳香油、单离和合成香料熔点的测定方法.晶体类

行业标准-医药，关于制晶体的方法的标准

YY 0290.2-1997 人工晶体.第2部分：光学性能及其测试方法
YY 0290.3-1997 人工晶体.第3部分：机械性能及其测试方法

欧洲电工标准化委员会，关于制晶体的方法的标准

EN 60444-4-1997 用π型网络的零相位技术测量石英谐振器参数.第4部分:石英晶体元件负荷谐振频率fl,负荷谐振电阻Rl的测量方法,以及石英晶体元件其他导出值的计算方法(频率小于30MHz)

美国电子元器件、组件及材料协会，关于制晶体的方法的标准

ECA 699-1997 石英晶体协振器视觉检验的试验方法
ECA 512-1-1990 1kHz至1GHz石英晶体振子等效电气参数测量的标准方法
ECA 512-1983 1kHz至1GHz石英晶体振子等效电气参数测量的标准方法

美国国家标准学会，关于制晶体的方法的标准

ANSI/EIA 699-1997 石英晶体谐振子坯视觉检验的试验方法
ANSI/EIA 512-1-1990 1kHz至1GHz石英晶体振子等效电气参数测量的标准方法(ANSI/EIA 512-1985的补充件)
ANSI/EIA 512-1985 1kHz至1GHz石英晶体振子等效电参数测量的标准方法

行业标准-教育，关于制晶体的方法的标准

JY/T 008-1996 四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则