散射式近场光学显微镜
散射式近场光学显微镜NeaSNOM，具有如下的特点：独有的极高空间分辨率10nm；可适用于可见、红外和太赫兹光谱范围；近场振幅和相位分辨测量功能；纳米尺度下，用于FTIR吸收光谱研究；极高的分辨率下，研究有机或无机样品，整个操作仅需要常规的AFM样品准备过程。因此，推动了等离激元研究、 石墨烯研究和纳米尺度(<20nm)FTIR等研究领域。
简介
自1928年，英国科学家 - Edward Hutchinson Synge为提高传统光学显微镜分辨率，提出近场光学显微镜设计理念以来，科学家们一直致力于通过缩小小孔直径和控制样品与小孔之间的间距，来试图获取更好的近场光学图像和信息（如右图所示）。
进步
现代科技的不断进步，包括微纳加工技术和扫描探针显微技术，极大的推动了近场光学显微镜的发展，出现各种反馈形式和工作方式的近场光学显微镜（反射式、透射式、多探针式等）。目前得到学术界认可的近场光学显微镜是基于扫描探针显微技术的，将孔径较小的光纤探针粘附在音叉上，利用音叉感知样品与探针之间的距离，并对这个距离进行控制，即可同时满足近场光学显微镜两个要求：小孔和微距。
然而，通过上述方法得到近场光学图像的分辨率比较难于突破光的衍射极限，得到的较好的分辨率一般在几百纳米，而如何能将分辨率进一步提高，也成为了科学家一直努力的方向。
自1984年来，科学家们（参见文章Phil. Trans. R. Soc. Lond. A (2004) 362, 787–805 [1] ）提出了通过金属化的AFM探针，利用散射的方式得到了分辨率在~10nm左右或更好的近场光学图像，从而推动的近场光学领域的研究，其大致原理如右图所示。
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