DS/EN 60749-6-2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

 

 

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标准号
DS/EN 60749-6-2003
发布日期
2003年01月08日
实施日期
2002年08月26日
废止日期
无
国际标准分类号
31.080.01
发布单位
DK-DS
适用范围
The purpose of this part of IEC 60749 is to test and determine the effect on all semiconductor electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered non-destructive but should preferably be used for device qualification. If such devices are used for delivery, the effects of this highly accelerated stress test must be evaluated.

DS/EN 60749-6-2003系列标准

DS/EN 60749-1-2003 DS/EN 60749-10-2003 DS/EN 60749-10/Corr.1-2004 DS/EN 60749-11-2003 DS/EN 60749-11/Corr.1-2003 DS/EN 60749-11/Corr.2-2004 DS/EN 60749-12-2003 DS/EN 60749-12/Corr.1-2004 DS/EN 60749-13-2003 DS/EN 60749-13/Corr.1-2004 DS/EN 60749-14-2004 DS/EN 60749-15-2011 DS/EN 60749-15/AC-2011 DS/EN 60749-16-2003 DS/EN 60749-17-2003 DS/EN 60749-18-2003 DS/EN 60749-19-2003 DS/EN 60749-19/A1-2010 DS/EN 60749-2-2003 DS/EN 60749-2/Corr.1-2004 DS/EN 60749-20-1-2009 DS/EN 60749-20-2010 DS/EN 60749-21-2011 DS/EN 60749-22+Corr.1-2004 DS/EN 60749-23-2004 DS/EN 60749-23/A1-2011 DS/EN 60749-24-2004 DS/EN 60749-25-2004 DS/EN 60749-26-2006 DS/EN 60749-27-2006 DS/EN 60749-27/A1-2013 DS/EN 60749-29-2011 DS/EN 60749-3-2003 DS/EN 60749-3/Corr.1-2004 DS/EN 60749-30-2005 DS/EN 60749-30/A1-2011 DS/EN 60749-31+Corr.1-2004 DS/EN 60749-32+Corr.1-2004 DS/EN 60749-32/A1-2010 DS/EN 60749-33-2004 DS/EN 60749-34-2011 DS/EN 60749-35-2007 DS/EN 60749-36-2003 DS/EN 60749-37-2008 DS/EN 60749-38-2008 DS/EN 60749-39-2006 DS/EN 60749-4-2003 DS/EN 60749-4/Corr.1-2004 DS/EN 60749-40-2011 DS/EN 60749-5-2003 DS/EN 60749-6/Corr.1-2004 DS/EN 60749-7-2011 DS/EN 60749-8+Corr.2-2004 DS/EN 60749-9-2003 DS/EN 60749-9/Corr.1-2004


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