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晶体x射线衍射仪

本专题涉及晶体x射线衍射仪的标准有153条。

国际标准分类中，晶体x射线衍射仪涉及到分析化学、光学和光学测量、教育、化工产品、金属生产、金属材料试验、无损检测、塑料、辐射防护、无机化学、职业安全、工业卫生、词汇、管道部件和管道、半导体材料、陶瓷、燃料、水质、非金属矿、核能工程、有色金属、涂料配料、电子元器件综合、辐射测量、空气质量、长度和角度测量、黑色金属。

在中国标准分类中，晶体x射线衍射仪涉及到物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、化学计量、电离辐射计量、电子光学与其他物理光学仪器、教学专用仪器、金属化学分析方法综合、金属物理性能试验方法、金属无损检验方法、Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、教育、学位、学衔、金相检验方法、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、放射卫生防护、无机化工原料综合、物性分析仪器、、无机盐、催化剂基础标准与通用方法、化合物半导体材料、石油焦、水环境有毒害物质分析方法、物理学与力学、催化剂、基础标准与通用方法、元素半导体材料、电工用钢、非金属矿、炭素材料综合、核仪器与核探测器综合、炭素材料、通用核仪器、大气环境有毒害物质分析方法、工业防尘防毒技术、职业病诊断标准、辐射防护仪器。

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于晶体x射线衍射仪的标准

GB/T 37983-2019 晶体材料X射线衍射仪旋转定向测试方法

国家计量检定规程，关于晶体x射线衍射仪的标准

JJG 629-2014 多晶X射线衍射仪检定规程
JJG 629-1989 多晶X射线衍射仪检定规程
JJG(地质) 1014-1990 多晶X-射线衍射仪检定规程

行业标准-机械，关于晶体x射线衍射仪的标准

JB/T 11144-2011 X射线衍射仪
JB/T 5482-2011 X射线晶体定向仪
JB/T 9400-1999 X射线衍射仪.技术条件
JB/T 9400-2010 X射线衍射仪技术条件
JB/T 5482-2004 X射线晶体定向仪技术条件

行业标准-教育，关于晶体x射线衍射仪的标准

JY/T 0587-2020 多晶体X射线衍射方法通则
JY/T 009-1996 转靶多晶体X射线衍身方法通则
JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
JY/T 008-1996 四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则

日本工业标准调查会，关于晶体x射线衍射仪的标准

JIS H 7805:2005 用X射线衍射仪测定金属晶体中晶粒大小的方法

国家质检总局，关于晶体x射线衍射仪的标准

GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
GB 16355-1996 X射线衍射仪和荧光分析仪放射防护标准
GB/T 8362-1987 钢中残余奥氏体定量测定 X射线衍射仪法
GB/T 30904-2014 无机化工产品晶型结构分析 X射线衍射法
GB/T 8360-1987 金属点阵常数的测定方法 X射线衍射仪法
GB/T 19421.1-2003 层状结晶二硅酸钠试验方法 δ相层状结晶二硅酸钠定性分析 X射线衍射仪法
GB/T 8359-1987 高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法
GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定.X射线衍射线宽化法
GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则
GB/T 11114-1989 人造石英晶体位错的X 射线形貌检测方法

英国标准学会，关于晶体x射线衍射仪的标准

BS EN 13925-3:2005(2009) 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.仪器
BS EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.仪器
BS EN 13925-2:2003(2008) 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.程序
BS EN 13925-2:2003 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.程序
BS EN 13925-1:2003(2008) 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.通用原理
BS EN 13925-1:2003 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.通用原理
BS EN 1330-11:2007 无损检验.术语.多晶和无定形材料X射线衍射用术语
BS ISO 22278:2020 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷）采用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的测试方法
20/30360821 DC BS ISO 22278 精细陶瓷（高级陶瓷、先进技术陶瓷）采用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的测试方法
BS ISO 20203:2006 铝生产用碳素材料.煅烧焦炭.用X射线衍射法测定煅烧石油焦炭的晶体粒度
BS ISO 20203:2005 用于生产铝的碳质材料锻烧焦炭 X射线衍射法测定煅烧石油焦微晶尺寸
BS IEC 62963:2020 辐射防护仪器仪表瓶装/罐装液体的 X 射线计算机断层扫描 (CT) 检测系统

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于晶体x射线衍射仪的标准

GB/T 34612-2017 蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法

德国标准化学会，关于晶体x射线衍射仪的标准

DIN EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
DIN EN 13925-3:2005-07 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第3部分：仪器
DIN EN 13925-2:2003 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第2部分:程序
DIN EN 13925-1:2003 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第1部分:总则
DIN EN 13925-2:2003-07 无损检测 - 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 - 第 2 部分：程序
DIN EN 13925-1:2003-07 无损检测 - 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 - 第 1 部分：一般原理
DIN EN 1330-11:2007-09 无损检测术语第11部分：多晶和非晶材料 X 射线衍射中使用的术语
DIN 50433-1:1976 无机半导体材料的检验.第1部分:采用X射线衍射现象对单晶体取向的测定
DIN EN 1330-11:2007 无损检验.专业术语.第11部分:在多晶和非晶材料的X射线衍射中使用的术语

欧洲标准化委员会，关于晶体x射线衍射仪的标准

EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
EN 13925-2:2003 无损检测.多晶和非晶材料的X射线衍射.第2部分:程序
EN 1330-11:2007 无损检验.专业术语.在多晶和非晶材料的X射线衍射中使用的术语
EN 13925-1:2003 无损检验.多晶体材料和无定形材料的X射线衍射.第1部分:一般原理

法国标准化协会，关于晶体x射线衍射仪的标准

NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 无损检验多晶和非晶材料的X射线衍射第2部分：程序
NF EN 1330-11:2007 无损检测 - 术语 - 第 11 部分：多晶和非晶材料的 X 射线衍射
NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第1部分:基本原则
NF EN 13925-2:2003 无损检测 - X 射线衍射应用于多晶和非晶材料 - 第 2 部分：程序
NF EN 13925-3:2005 无损检测-应用于多晶和非晶材料的X射线衍射-第3部分：设备
NF EN 13925-1:2003 无损检测 - X 射线衍射应用于多晶和非晶材料 - 第 1 部分：一般原理
NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 无损检测.术语.第11部分:多结晶和非结晶材料中X射线衍射用术语
NF ISO 22262-3:2017 空气质量固体材料第3部分：X射线衍射法定量测定石棉
NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 工作场所空气通过 X 射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅第2部分：间接分析法
NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 工作场所空气通过 X 射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅第1部分：直接过滤法
NF ISO 16258-2:2015 工作场所空气通过 X 射线衍射测定结晶二氧化硅的可吸入部分第2部分：间接分析方法
NF ISO 16258-1:2015 工作场所空气 X 射线衍射法测定结晶二氧化硅的可吸入部分第1部分：直接过滤分析方法

丹麦标准化协会，关于晶体x射线衍射仪的标准

DS/EN 13925-3:2005 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第3部分：仪器
DS/EN 13925-2:2003 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第2部分：程序
DS/EN 13925-1:2003 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第1部分：一般原则
DS/EN 1330-11:2007 无损检测术语多晶和非晶材料的 X 射线衍射中使用的术语

立陶宛标准局，关于晶体x射线衍射仪的标准

LST EN 13925-3-2005 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第3部分：仪器
LST EN 13925-2-2004 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第2部分：程序
LST EN 13925-1-2004 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第1部分：一般原则
LST EN 1330-11-2007 无损检测术语多晶和非晶材料的 X 射线衍射中使用的术语

AENOR，关于晶体x射线衍射仪的标准

UNE-EN 13925-3:2006 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第3部分：仪器
UNE-EN 13925-2:2004 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第2部分：程序
UNE-EN 13925-1:2006 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第1部分：一般原则
UNE-EN 1330-11:2008 无损检测术语第11部分：多晶和非晶材料的 X 射线衍射中使用的术语

工业和信息化部，关于晶体x射线衍射仪的标准

YB/T 5338-2019 钢中奥氏体定量测定 X射线衍射仪法
SH/T 1827-2019 塑料结晶度的测定 X射线衍射法

行业标准-黑色冶金，关于晶体x射线衍射仪的标准

YB/T 5338-2006 钢中残余奥氏体定量测定 X射线衍射仪法
YB/T 5337-2006 金属点阵常数的测定方法 X射线衍射仪法
YB/T 5336-2006 高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法

国家计量技术规范，关于晶体x射线衍射仪的标准

JJF 1256-2010 X射线单晶体定向仪校准规范

行业标准-核工业，关于晶体x射线衍射仪的标准

EJ/T 553-1991 矿物晶胞参数的测定粉末x射线衍射法

行业标准-能源，关于晶体x射线衍射仪的标准

NB/SH/T 6015-2020 ZSM-23分子筛晶胞参数的测定 X-射线衍射法
NB/SH/T 6033-2021 ZSM—22分子筛晶胞参数的测定 X射线衍射法
NB/SH/T 6024-2021 ZSM—5分子筛相对结晶度的测定 X射线衍射法
NB/SH/T 0339-2021 八面沸石分子筛晶胞参数的测定 X射线衍射法

IT-UNI，关于晶体x射线衍射仪的标准

UNI 6966-1971 通过X射线的衍射进行多晶体中的极面图形数量测定

卫生部国家职业卫生标准，关于晶体x射线衍射仪的标准

GBZ 115-2002 X射线衍射和荧光分析仪卫生防护标准

美国国家标准学会，关于晶体x射线衍射仪的标准

ANSI/ASTM E915:1996 测量剩余应力用的X射线衍射仪验证方法

福建省地方标准，关于晶体x射线衍射仪的标准

DB35/T 1914-2020 β晶型聚丙烯管材和管件中β晶含量的测定（X 射线衍射法）

行业标准-化工，关于晶体x射线衍射仪的标准

HG/T 6149-2023 加氢催化剂及其载体中二氧化硅晶相含量的测定 X射线衍射法

行业标准-电子，关于晶体x射线衍射仪的标准

SJ 20714-1998 砷化镓抛光片亚损伤层的X射线双晶衍射试验方法
SJ 20719-1998 碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法

国际标准化组织，关于晶体x射线衍射仪的标准

ISO 22278:2020 精细陶瓷（高级陶瓷高级工业陶瓷）.用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的试验方法
ISO 20203:2005 铝生产中使用的碳素材料.煅烧焦炭.用X-射线衍射法测定煅烧石油焦的晶体粒度
ISO 16258-1:2015 工作场所的空气. 采用X射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅. 第1部分: 直接过滤法
ISO 16258-2:2015 工作场所的空气. 采用X射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅. 第2部分: 间接分析法
ISO/CD 5861 表面化学分析 X射线光电子能谱石英晶体单色Al Ka XPS仪器强度校准方法
ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X射线光电子能谱石英晶体单色 Al Kα XPS 仪器强度校准方法

美国材料与试验协会，关于晶体x射线衍射仪的标准

ASTM D5187-91(2007) 用X射线衍射法测定焙烧石油焦结晶大小的试验方法
ASTM D934-80(2003) 用X射线衍射法作水沉积物中结晶化合物的识别方法
ASTM D5187-91(2002) 用X射线衍射法测定焙烧石油焦结晶大小的试验方法
ASTM D5187-91(1997) 用X射线衍射法测定焙烧石油焦结晶大小的试验方法
ASTM D5357-98 用X射线衍射法测定沸石钠相对结晶度的标准试验方法
ASTM D8352-20 用X射线衍射法测定β沸石相对结晶度的标准试验方法
ASTM D5357-03(2008)e1 用X射线衍射法测定沸石钠相对结晶度的标准试验方法
ASTM D5357-03(2013) 用X射线衍射法测定沸石钠相对结晶度的标准试验方法
ASTM E915-96 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
ASTM E915-16 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
ASTM E915-96(2002) 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
ASTM D5357-03 X射线衍射法测定A型沸石钠相对结晶度的标准试验方法
ASTM D5357-19 X射线衍射法测定A型沸石钠相对结晶度的标准试验方法
ASTM D934-08 用X射线衍射法作水沉积物中结晶化合物的标准实施规程
ASTM D934-80(1999) 通过X射线衍射鉴定水形沉积物中的结晶化合物的标准实践
ASTM D5758-01(2021) 通过X射线衍射测定沸石ZSM-5的相对结晶度的标准测试方法
ASTM E915-19 残余应力测量用X射线衍射仪校准验证的标准试验方法
ASTM E915-10 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的标准试验方法
ASTM E915-21 残余应力测量用X射线衍射仪校准验证的标准实施规程
ASTM D5187-10 晶粒大小的标准试验方法(用X射线衍射法测定煅烧石油焦的Lc)
ASTM D5758-01(2011)e1 使用X射线衍射法测定沸石ZSM-5相对结晶度的的标准试验方法
ASTM D934-22 用X射线衍射法鉴定水成沉积物中结晶化合物的标准实施规程
ASTM D934-13 利用X射线衍射法鉴定水沉淀物中结晶化合物的标准实施规程
ASTM D5758-01(2015) 通过X射线衍射法测定ZSM-5沸石的相对结晶度的标准试验方法
ASTM D5187-10(2015)e1 使用X射线衍射法测定焙烧石油焦结晶大小 (Lc) 的标准试验方法
ASTM D5380-93(2003) 通过X射线衍射分析鉴定涂料中结晶颜料和扩展剂的标准测试方法
ASTM D5187-21 用X射线衍射法测定煅烧石油焦微晶尺寸（Lc）的标准试验方法
ASTM D5380-93(2021) 通过X射线衍射分析鉴定涂料中结晶颜料和扩展剂的标准测试方法
ASTM E975-00 X射线测定近似随机晶体取向钢中残留奥氏体的标准实践

行业标准-航空，关于晶体x射线衍射仪的标准

HB 6742-1993 单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法

行业标准-商品检验，关于晶体x射线衍射仪的标准

SN/T 3514-2013 电工钢晶粒取向与无取向鉴定方法 X射线衍射测定织构法
SN/T 3011.1-2011 X射线衍射法鉴别金属矿产类进口固体废物物相.第1部分：通则

未注明发布机构，关于晶体x射线衍射仪的标准

BS ISO 20203:2005(2006) 铝生产用碳质材料 X 射线衍射法测定煅烧石油焦微晶尺寸

行业标准-海关，关于晶体x射线衍射仪的标准

HS/T 12-2006 滑石、绿泥石、菱镁石混合相的定量分析 X 射线衍射仪法

韩国科技标准局，关于晶体x射线衍射仪的标准

KS M ISO 20203:2011 铝生产中使用的碳素材料.煅烧焦炭.X.射线衍射法测定煅烧石油焦的晶体粒度
KS M ISO 20203:2016 铝生产中使用的碳素材料煅烧焦炭 X 射线衍射法测定煅烧石油焦的晶体粒度
KS M ISO 20203-2016(2021) 铝生产用含碳材料——煅烧焦炭——用X射线衍射法测定煅烧石油焦的微晶尺寸（Lc）
KS C IEC 60759:2009 半导体X射线能谱仪的标准试验程序
KS C IEC 60759-2009(2019) 半导体X射线能谱仪的标准测试程序

KR-KS，关于晶体x射线衍射仪的标准

KS M ISO 20203-2016 铝生产用碳质材料煅烧焦炭用X射线衍射法测定煅烧石油焦的微晶尺寸
KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化学分析-全反射X射线荧光分析仪测定硅晶片表面元素杂质

RU-GOST R，关于晶体x射线衍射仪的标准

GOST R ISO 20203-2017 用于生产铝的碳质材料锻烧焦炭 X射线衍射法测定煅烧石油焦微晶尺寸
GOST R ISO 16258-1-2017 工作场所空气通过 X 射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅第 1 部分. 直接过滤法
GOST R 8.698-2010 确保测量一致性的国家体系.纳米粒子和薄膜的空间参数.利用小角度X-射线散射衍射仪的测量方法

SE-SIS，关于晶体x射线衍射仪的标准

SIS SS IEC 759:1986 核检测仪表．半导体X射线能谱仪检测程序

CZ-CSN，关于晶体x射线衍射仪的标准

CSN 35 6575 Z1-1997 半导体X射线能谱仪的标准测试程序

国际电工委员会，关于晶体x射线衍射仪的标准

IEC 60759:1983 半导体X射线能谱仪的标准试验程序
IEC 61137:1992 辐射防护仪表固定式个人表面污染监测装置低能X和γ射线发射体
IEC 60759:1983/AMD1:1991 半导体X射线能谱仪的标准试验程序修改1

海关总署，关于晶体x射线衍射仪的标准

SN/T 3011.1-2020 X射线衍射法鉴别金属矿产类进口固体废物物相第1部分：通则

美国电气电子工程师学会，关于晶体x射线衍射仪的标准

ANSI/IEEE Std 759-1984 半导体 X 射线能谱仪的 IEEE 标准测试程序

行业标准-卫生，关于晶体x射线衍射仪的标准

WS/T 117-1999 X、γ、β射线和电子束所致眼晶体剂量估算规范

IN-BIS，关于晶体x射线衍射仪的标准

IS 12737-1988 半导体 X 射线能量光谱仪的标准测试程序