测试电极片

本专题涉及测试电极片的标准有500条。

国际标准分类中，测试电极片涉及到半导体材料、机床、光电子学、激光设备、金属的腐蚀、冶金设备、有色金属、橡胶和塑料制品、电学、磁学、电和磁的测量、电气工程综合、电子管、半导体分立器件、电工和电子试验、有色金属产品、无屑加工设备、燃料电池、焊接、钎焊和低温焊、钢铁产品、分析化学、集成电路、微电子学、电子电信设备用机电元件、航空航天制造用材料、电工器件、电阻器、印制电路和印制电路板、金属材料试验、造船和海上构筑物综合、电池和蓄电池、残障人员用设备、电容器、表面处理和镀涂、非金属矿、电子元器件综合、水质、建筑材料、家用自动控制装置、太阳能工程、磁性材料、粉末冶金、核能工程、废物、医疗设备、电子元器件组件、土方工程、挖掘、地基构造、地下工程、电影、化工产品、无线通信、机械试验、电信设备用部件和附件、塑料、食品试验和分析的一般方法、绝缘流体、光学和光学测量、数据存储设备、复合增强材料、燃烧器、锅炉、地质学、气象学、水文学、术语学(原则和协调配合)、玻璃和陶瓷生产设备、无机化学、陶瓷、导体材料、土质、土壤学、光学设备、泵、无损检测、输电网和配电网。

在中国标准分类中，测试电极片涉及到化合物半导体材料、、半导体二极管、微波、毫米波二、三极管、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、其他电工生产设备、电子技术专用材料、微波管、半导体发光器件、电工绝缘材料及其制品、重金属及其合金、电真空器件综合、化学电源、加工工艺综合、物理化学特性标准物质、半导体光敏器件、半导体集成电路、连接器、测磁仪器、航空与航天用非金属材料、控制继电器、其他电真空器件、电子元件综合、微电路综合、金属物理性能试验方法、船舶用材料及其检验方法、材料防护、其他非金属矿、基础标准与通用方法、电子测量与仪器综合、电磁计量、氧化物、单质、水环境有毒害物质分析方法、焊接与切割、电工合金零件、电子束管、基础标准和通用方法、核探测器、医用卫生用品、测试设备与检验片仪器、轻金属及其合金、炭素材料、广播、电视发送与接收设备、光电子器件综合、天线及其馈线、其他电子元器件、石墨材料、半导体分立器件综合、计量综合、数据媒体、电工用钢、绝缘油、标志、包装、运输、贮存、电力半导体器件、部件、炭素材料综合、绝热、吸声、轻质与防火材料、交直流电源装置、钢铁与铁合金分析方法、放大镜与显微镜、维生素类、滋补营养、氨基酸、酶类药与其他生化药品、广播、电视设备综合、电化学、热化学、光学式分析仪器、物性分析仪器、电力试验技术。

行业标准-电子，关于测试电极片的标准

SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法
SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
SJ 1388-1978 噪声二极管阳极电导的测试方法
SJ 1389-1978 噪声二极管极间漏电流的测试方法
SJ 2140-1982 硅稳流二极管极限电压的测试方法
SJ/Z 9009-1987 电子管极间电容的测试方法
SJ/Z 9010.1-1987 电子管电性能的测试第1部分：电极电流的测试
SJ 2214.6-1982 半导体光敏三极管集电极.发射极反向击穿电压的测试方法
SJ 444-1973 高压整流管阳极电流与欠热时阳极电流的测试方法
SJ 363-1973 反射速调管反射极总电流、反射极离子流、反射极漏电流的测试方法
SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法
SJ/T 2354-2015/0352 PIN、雪崩光电二极管测试方法
SJ 421-1973 低噪声行波管末阳极与各极间的漏电电流的测试方法
SJ 2354.5-1983 PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法
SJ/Z 1171-1977 电镀溶液极化曲线的测试方法
SJ 2215.7-1982 半导体光耦合器集电极-发射极反向击穿电压的测试方法
SJ 2354.3-1983 PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
SJ/Z 9010.9-1987 电子管电性能的测试第9部分：阴极中间层阻抗的测试
SJ/Z 9010.15-1987 电子管电性能的测试第15部分：寄生和不需要电极电流测试方法
SJ 364-1973 反射速调管阴极电流的测试方法
SJ 431-1973 “O”型返波管各极电压和电流的测试方法
SJ/Z 9010.24-1987 电子管电性能的测试第24部分：阴极射线电荷存储管的测试方法
SJ 2138-1982 硅稳流二极管稳定电流的测试方法
SJ 2141-1982 硅稳流二极管击穿电压的测试方法
SJ 2658.4-1986 半导体红外发光二极管测试方法.电容的测试方法
SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
SJ 2354.1-1983 PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法.总则
SJ 420-1973 低噪声行波管各极电压和电流的测试方法
SJ 2658.3-1986 半导体红外发光二极管测试方法.反向电压测试方法
SJ 1387-1978 噪声二极管灯丝电流和灯丝电压的测试方法
SJ 2354.2-1983 PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
SJ 2354.6-1983 PIN、雪崩光电二极管响应度的测试方法
SJ 455-1973 高压整流管静态极间电容的测试方法
SJ 1718-1981 功率速调管阴极脉冲电流的测试方法
SJ 366-1973 反射速调管各极间漏电流的测试方法
SJ 2354.13-1983 雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法
SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法
SJ 2214.8-1982 半导体光敏三极管暗电流的测试方法
SJ 2534.9-1985 天线测试方法.极化测量
SJ 445-1973 高压整流管阴极脉冲放射电流和欠热阴极脉冲放射电流的测试方法
SJ/Z 9010.13-1987 电子管电性能的测试第13部分：高真空电子管热阴极发射电流的测试方法
SJ 3260-1989 音叉、音片谐振器电性能测试方法
SJ/Z 9010.14-1987 电子管电性能的测试第14部分：雷达和示波阴极射线管测试方法
SJ 1395-1978 气体放电噪声管阳极电流和管压降的测试方法
SJ 1230-1977 锗检波二极管高频整流电流的测试方法
SJ 2354.4-1983 PIN、雪崩光电二极管正向压降的测试方法
SJ 2142-1982 硅稳流二极管电流温度系数的测试方法
SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
SJ 2214.10-1982 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
SJ 1386-1978 噪声二极管和气体放电噪声管测试条件
SJ/Z 9010.22-1987 电子管电性能的测试第22部分：冷阴极计数管和显示管的测试方法
SJ/Z 9010.8-1987 电子管电性能的测试第8部分：阴极加热时间和热丝加热时间的测试
SJ 1391-1978 噪声二极管冷态电压驻波系数的测试方法
SJ 1393-1978 气体放电噪声管阴极预热时间的测试方法

SCC，关于测试电极片的标准

AENOR UNE 26131:1959 刹车片特性测试和同质性极限
CSA C22.2 No.160-M1985-1985(R2012) 电压和极性测试仪
DANSK DS/ISO 22426:2020 基于挂片测量评估阴极保护的有效性
DANSK DS/IEC TS 62916:2017 光伏组件旁路二极管静电放电敏感性测试
BS 1488:1948 16 毫米电影放映机的测试影片
AS 2656:1984 测试缩微胶片
AS 2039.7.1:1978 铝和铝合金阳极氧化涂层的测试方法第 7.1 部分：绝缘测试阳极氧化涂层击穿电位的测量
AASHTO T 200-1979(2002) 用玻璃电极测试水溶液 pH 值的标准方法
NACE TM0190-2022 铝和锌合金阳极的外加电流实验室测试
NS 1212:1964 文字测试极简主义测试简体中文
NS 1218:1964 文字测试极简主义测试每日精选
NS 1210:1964 文字测试极简主义测试租赁合同
NS 1032:1960 文字测试极简主义测试单词排序
UNE-EN 10280:2001 磁性材料通过单片测试仪测量电工片材和带材磁性能的方法
DIN 51919 E:2012 碳质材料的测试根据电流电压法测定电极的电阻率固体材料草案
ESD SP5.5.2-2007 静电放电灵敏度测试极快传输线脉冲 (VF-TLP) 组件级
AENOR UNE 26132:1957 刹车片技术测试
AENOR UNE 10029:1956 双极电热塞装配测量

河北省标准，关于测试电极片的标准

DB13/T 1513-2012 电池极片辊压设备
DB13/T 5026.3-2019 石墨烯导电浆料物理性质的测定方法第3部分：浆料极片电阻率的测定四探针法

国际标准化组织，关于测试电极片的标准

ISO 22426:2020 基于试片测量的阴极保护效果评估

中国团体标准，关于测试电极片的标准

T/SSEA 0202-2022 锂电池极片轧机轧辊
T/CEMIA 028-2022 片式电阻用面电极浆料规范
T/CEMIA 027-2022 片式电阻用背电极浆料规范
T/ZZB 1912-2020 多层片式陶瓷电容器电极镍粉
T/HBZXL 011-2023 电池极片辊压机技术条件
T/CAS 455-2020 锂离子电池自动极片刮涂机
T/QGCML 030-2020 二极管扩散片常规电性标准
T/SSEA 0201-2022 锂电池极片轧机轧辊用辊坯
T/CASME 901-2023 锂电池极片冲切模具技术要求
T/COEMA 004LCD-2022 电视用有机发光二极管（OLED）偏光片
T/CESA 1054-2018 超级电容器电极用多孔炭测试方法
T/QGCML 4051-2024 电动轮椅车电源模块极限测试规范
T/CAAMTB 12-2020 质子交换膜燃料电池膜电极测试方法
T/WJDGC 0005-2021 自动电饭锅保温片测试方法
T/CSTM 00461-2022 晶体硅光伏电池电极剥离强度测试方法
T/DZJN 114-2022 废旧锂离子电池极片材料回收技术规范
T/WHAS 050-2023 双极电凝镊镊片模具成型制作工艺规范
T/CEEIA 577-2022 铁-铬液流电池用电极材料技术要求及测试方法

韩国科技标准局，关于测试电极片的标准

KS D 5584-2004 电子管阴极用镍片、带
KS B 0891-1974 角焊涂覆电极测试方法
KS C 6050-1985(2000) 双极数字集成电路的测试方法
KS C 6050-1985 双极数字集成电路的测试方法
KS C 6991-2013 光纤传输光电二极管的测试方法
KS B 0892-1971 角焊涂覆电极熔敷速度测试方法
KS F 2736-2015 混凝土中钢筋极化电阻测试方法
KS C 2712-2001 负极温度系数热敏电阻器测试方法
KS P 4402-2007 测试镜片组
KS D 0235-2015(2020) 牺牲阳极阴极保护实验室测试方法
KS A 5105-2006 pH测定用玻璃电极
KS A 5105-2022 pH测量用玻璃电极
KS A 5105-2006(2021) pH测量用玻璃电极
KS A 5105-1986 pH测量用玻璃电极
KS L 3403-2019 圆柱形加工石墨电极螺纹精度测试方法
KS L 9103-1996 瓷电极用糊料试验方法

美国国家标准学会，关于测试电极片的标准

ANSI/ASTM D1830:1999 弧形电极法测定电绝缘挠性薄片材料耐热性的试验方法(10.01)
ANSI/ASTM D3380:2010 塑料片基微波电路基片的相对透电率(介电常数)和耗散因数测试方法

未注明发布机构，关于测试电极片的标准

CSA C22.2 No.160-2015(R2020) 电压和极性测试仪
ASTM RR-G01-1026 2013 G0005-进行动电位阳极极化测量的参考测试方法
ASTM RR-D02-1414 1997 D6120-阳极和阴极碳材料在室温下电阻率的测试方法
ASTM RR-F03-1014 1995 F1277-采用离子选择电极技术测定填料和垫片材料中可浸出氯化物的标准测试方法
DIN 51919 E:2012-06 碳质材料的测试根据电流-电压法测定电极的电阻率固体材料
ASTM RR-G01-1022 2004 G0187-使用两电极土壤盒法测量土壤电阻率的标准测试方法

工业和信息化部，关于测试电极片的标准

JB/T 14230-2022 锂离子电池极片涂布机
SJ/T 11792-2022 锂离子电池电极材料导电性测试方法
XB/T 702-2022 金属氢化物-镍电池负极用稀土系贮氢合金粉电化学性能的测试三电极体系测试法
SJ/T 11793-2022 锂离子电池电极材料电化学性能测试方法
SJ/T 11627-2016 太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法
SJ/T 11795-2022 锂离子电池电极材料中磁性异物含量测试方法
SJ/T 11794-2022 锂离子电池正极材料游离锂的测试方法
YB/T 5289-2017 电极糊延伸率试验方法

台湾地方标准，关于测试电极片的标准

CNS 8105-1981 晶体管集极–射极饱和电压测试法
CNS 13806-1997 发光二极管磊芯片发光波长与亮度量测法
CNS 6839-1980 ｐＨ值测定用玻璃电极

美国材料与试验协会，关于测试电极片的标准

ASTM D1830-17 用曲线电极法测定电绝缘用柔性片材的耐热性的标准试验方法
ASTM D1830-99 用弧形电极法测定电绝缘挠性薄片材料热稳定性的标准试验方法
ASTM D1830-99(2005) 用弧形电极法测定电绝缘挠性薄片材料热稳定性的标准试验方法
ASTM G5-94(1999)e1 作静电位标记和动电位阳极极化测量的基准测试方法
ASTM G5-94(2004) 作静电位标记和动电位阳极极化测量的基准测试方法
ASTM G5-14(2021) 动电位阳极极化测量的标准参考试验方法
ASTM G5-94 恒电位和动电位阳极极化测量的标准参考试验方法
ASTM G5-94(1999) 恒电位和动电位阳极极化测量的标准参考试验方法
ASTM G5-14e1 进行动电位阳极极化测量的标准参考试验方法
ASTM G5-14 进行动电位阳极极化测量的标准参考试验方法
ASTM G100-89(2004) 循环电流梯级极化的测试方法
ASTM G59-97e1 动电势极化电阻测量的标准试验方法
ASTM G59-97(2009) 动电势极化电阻测量的标准试验方法
ASTM G5-12 动电势极化电阻测量的标准试验方法
ASTM G5-13e2 制定动电位阳极极化测量值的标准参考试验方法
ASTM G5-13 制定动电位阳极极化测量值的标准参考试验方法
ASTM G59-97(2003) 用于进行电位极化电阻测量的标准测试方法
ASTM G59-97(2020) 用于进行电位极化电阻测量的标准测试方法
ASTM G5-94(2011)e1 制定恒电位和动电位阳极极化测量值的标准参考试验方法
ASTM D6120-97(2002) 阳极和阴极碳材料在室温下的电阻率的标准测试方法
ASTM G5-13e1 进行动电位阳极极化测量用试验方法的标准实施规程
ASTM D6120-97(2017)e1 阳极和阴极碳材料在室温下的电阻率的标准测试方法
ASTM G59-97(2014) 实施动电势极化电阻测量的标准试验方法
ASTM G57-95a(2001) 使用Wenner四电极法测量土壤电阻率的标准测试方法
ASTM G57-95A 使用Wenner四电极法测量土壤电阻率的标准测试方法
ASTM G59-97 动电势极化电阻测量
ASTM G59-23 进行电位动态极化电阻测量的标准试验方法
ASTM D6745-06(2011) 电极碳素线性热膨胀的标准测试方法
ASTM D6745-01 电极碳线性热膨胀率的标准测试方法
ASTM D6745-06 电极碳线性热膨胀率的标准测试方法
ASTM G215-17 电极电位测量标准指南
ASTM F1680-96 确定膜片开关电路电阻的标准测试方法
ASTM D1816-12 用VDE电极测量绝缘油介电击穿电压的标准试验方法
ASTM C1025-91(2005) 电极石墨弯曲破裂模量的标准测试方法
ASTM C1025-15(2020) 电极石墨弯曲破裂模量的标准测试方法
ASTM D3380-90(2003) 塑料片基微波电路基片的相对透电率(介电常数)和耗散因数测试方法
ASTM G215-16 电极电位测量的标准指南
ASTM G215-17(2024) 电极电势测量的标准指南
ASTM F1113-87(2005)e1 钢中可扩散氢的电化学测量标准试验方法(Barnacle 电极)
ASTM G57-20 用温纳四电极法测量土壤电阻率的标准试验方法
ASTM G187-23 用双电极土箱法测量土壤电阻率的标准试验方法
ASTM D1816-12(2019) 用VDE电极测定绝缘液体介电击穿电压的标准试验方法

美国电子元器件、组件及材料协会，关于测试电极片的标准

EIA_ECA-956-2006 聚合物阴极铝电解片式电容器
EIA/ECA-956-2006 聚合物阴极铝电解片式电容器
EIA_ECA-953-2006 带聚合物阴极的模制钽芯片电容器
EIA/ECA-953-2006 带聚合物阴极的模制钽芯片电容器
EIA/ECA-955-2007 聚合物阴极表面贴装铝电解片式电容器（合格规范）
ECA EIA/ECA-955-2007 带聚合物阴极的表面安装铝电子芯片电容器(鉴定规范)

HU-MSZT，关于测试电极片的标准

MNOSZ 1301-1952 电阻K、E、O极的测试
MSZ 10906/3.lap-1963 电极管电力标志测量模式．阳极电流，阴极电流，你理带来的测量电流的电网
MSZ 6449-1975 钢电线．电极焊接检测
MSZ 10906/19-1969 电极管电力标志测量模式．微电极管波段定义
MSZ 10906/10.lap-1964 电动管电力标志测量模式．阴极到阳极电流提到测量的时间
MSZ KGST 2413-1980 电力手动切片剪的工业要求和测试
MSZ 10906/12.lap-1964 电极管电力标志尺寸模式．测量静态电极之间的能力
MSZ 6690-1983 电极的可溶因素检测

GSO，关于测试电极片的标准

OS GSO 1500:2002 接地电极的测试方法
GSO 1500:2002 接地电极的方法和测试
GSO IEC 62088:2014 核测量仪器闪烁体光电二极管测试程序
GSO IEC TS 62916:2021 光伏组件旁路二极管静电放电敏感性测试
GSO IEC 60512-2-2:2015 电子设备的连接测试和测量第 2 2 部分：电气连续性和触点电阻测试测试 2(b)：触点电阻极限测试电流方法
OS GSO ASTM D1816:2014 使用 VDE 电极测量绝缘液体介电击穿电压的标准测试方法
BH GSO ASTM D1816:2015 使用 VDE 电极测量绝缘液体介电击穿电压的标准测试方法
GSO 258:1994 玉米片（玉米片）的测试方法
BH GSO IEC 62088:2016 核仪器仪表闪烁探测器用光电二极管测试程序
OS GSO IEC 62088:2014 核仪器仪表闪烁探测器用光电二极管测试程序
OS GSO 876:1997 皂片的测试方法

国家质检总局，关于测试电极片的标准

GB/T 7274-2015 电子管极间电容测试方法
GB/T 13789-2008 用单片测试仪测量电工钢片(带)磁性能的方法
GB/T 13789-2022 用单片测试仪测量电工钢带(片)磁性能的方法
GB/T 41760-2022 电气石自发极化性能测试方法
GB/T 43092-2023 锂离子电池正极材料电化学性能测试高温性能测试方法
GB/T 23729-2009 闪烁探测器用光电二极管.试验方法
GB/T 13920-1992 35mm电影-主观检验片(彩色测试图)
GB/T 13920-2015 35mm电影主观检验片(彩色测试图)
GB/T 24488-2009 镁合金牺牲阳极电化学性能测试方法
GB/T 3074.4-2003 石墨电极测定方法石墨电极热膨胀系数(CTE)测定方法
GB/T 20042.5-2009 质子交换膜燃料电池.第5部分:膜电极测试方法
GB/Z 27753-2011 质子交换膜燃料电池膜电极工况适应性测试方法
GB 3320.3-1982 抖晃度测试唱片
GB/T 27757-2011 pH值测定用参比电极
GB/T 27756-2011 pH值测定用玻璃电极

行业标准-兵工民品，关于测试电极片的标准

WJ 2100-2004 硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法
WJ 2506-1998 光电二极管动态测试仪检定规程

SE-SIS，关于测试电极片的标准

SIS SS 06 11 01-1990 焊接电极．碳钢，碳锰合金钢，微合金钢和低合金钢的气体金属电弧焊和金属电弧焊接用焊接电极和管状电极．熔着金属试片的焊接金属测试
SIS SS 428 91 05-1985 最高系统电压3．6 - 420千伏的便携式单极电压测试仪．设计和测试
SIS SS 436 01 13-1981 架空电力线路胶合木极点．设计和测试
SIS SS 428 91 05-1982 3.6 - 420 kV高压系统的便携式单极电压测试仪．设计和测试
SIS SS 06 17 10-1984 焊接电极．用于焊接金属成分测定的试样
SIS SS 06 13 01-1990 耗材．碳钢，碳锰钢，微合金钢和低合金钢的埋弧焊的焊接电极和焊剂．熔着金属试片的焊接金属测试

美国国防后勤局，关于测试电极片的标准

DLA SMD-5962-88677 REV C-2009 微电路，数字，4 位双极微处理器片，单片硅
DLA SMD-5962-88605 REV B-2001 硅单片双极高性能10位缓冲双极数字微电路
DLA SMD-5962-91725 REV A-2008 单片硅三相输出扫描测试装置带8D型锁存器双极CMOS数字微电路
DLA DSCC-DWG-04052-2006 多阳极高分子钽芯片固定电容器
DLA MIL-M-38510/10 D VALID NOTICE 1-2009 微电路、数字、双极、TTL、解码器单片硅
DLA MIL-M-38510/13 G VALID NOTICE 1-2010 微电路、数字、双极、TTL、计数器单片硅
DLA SMD-5962-86727 REV B-2011 微电路，数字，双极，BCD 计数器单片硅
DLA SMD-5962-95567 REV A-2002 闭环极速缓冲器硅单片电路线型微电路
DLA SMD-5962-96843 REV D-2008 微电路，线性，电压参考二极管，1.2 伏，单片硅
DLA MIL-M-38510/161 A-2005 单片硅双极TTL普通或门数字微电路
DLA SMD-5962-87791 REV B-1989 硅单片先入先出两极化数字微电路
DLA MIL-M-38510/3 G VALID NOTICE 1-2009 微电路、数字、双极、TTL、Nand 缓冲器单片硅
DLA MIL-M-38510/503 B VALID NOTICE 4-2010 微电路，数字，双极，可编程逻辑，单片硅
DLA MIL-M-38510/505 C VALID NOTICE 1-2010 微电路，数字，双极可编程逻辑，单片硅
DLA SMD-5962-86715 REV C-2011 微电路，数字，双极，D 型寄存器，单片硅
DLA SMD-5962-86728 REV B-2011 微电路，数字，双极，高速寄存器，单片硅
DLA SMD-5962-87755 REV C-2011 微电路、数字、双极、缓冲寄存器、单片硅
DLA MIL-M-38510/3 G (1)-2012 微电路、数字、双极、TTL、NAND 缓冲器单片硅
DLA SMD-5962-87683 REV D-2013 微电路，数字，双极 ALS TTL，解码器，单片硅
DLA SMD-5962-01507-2001 单片硅两极化的数字微电路高速率预测进位发生器
DLA SMD-5962-78019 REV E-2006 硅单片高速电压比较器,双极线性微型电路
DLA SMD-5962-91746 REV A-2008 微电路、数字、双极 CMOS、带八进制缓冲器的扫描测试设备、反相三态输出、单片硅
DLA SMD-5962-85065 REV A-1988 硅单片可编程逻辑,双极数字微型电路
DLA SMD-5962-87755 REV B-2005 硅单片缓冲记数器两极化数字微电路
DLA SMD-5962-88515-1988 硅单片可编程逻辑两极化数字微电路
DLA SMD-5962-89930 REV C-2003 硅单片,双极追踪稳压器,线性微型电路
DLA SMD-5962-88604 REV B-2007 硅单片双向收发器双极化数字微电路
DLA SMD-5962-88666-1988 硅单片中断处理程序双极数字微电路
DLA SMD-5962-88763-1990 硅单片双极性跟踪稳压器线性微电路
DLA SMD-5962-89549-1989 硅单片阴影调节管道双极数字微电路
DLA SMD-5962-86023 REV D-2011 微电路、存储器、数字、双极 256 位 RAM、单片硅
DLA SMD-5962-86051 REV D-2011 微电路、存储器、数字、双极 64 位 RAM、单片硅
DLA MIL-M-38510/9 E VALID NOTICE 1-2009 微电路、数字、双极 TTL、移位寄存器、单片硅
DLA MIL-M-38510/150 D VALID NOTICE 1-2009 微电路，数字，双极，TTL，幅度比较器，单片硅
DLA SMD-5962-86725 REV B-2009 微电路，数字，双极，八进制缓冲器，单片硅
DLA MIL-M-38510/22 D VALID NOTICE 1-2010 微电路、数字、双极、高速 TTL、触发器、单片硅
DLA MIL-M-38510/80 F VALID NOTICE 1-2010 微电路、数字、双极、肖特基 TTL 和门、单片硅
DLA SMD-5962-78015 REV J-2010 微电路，数字，双极，存储器，64 位 RAM，单片硅
DLA SMD-5962-88763 REV A-2010 微电路，线性，双极性跟踪稳压器，单片硅
DLA SMD-5962-89930 REV D-2011 微电路，线性，双极性跟踪稳压器，单片硅
DLA SMD-5962-89930 REV E-2013 微电路，线性，双极性跟踪稳压器，单片硅
DLA DSCC-DWG-89085 REV C-2006 固定极化电解质氧化铝及SNAP安装薄片电容器
DLA SMD-5962-97548 REV A-2006 同步4-BIT计数器硅单片电路数字双极微电路
DLA SMD-5962-94676 REV F-2005 极速的硅单片电路电流反馈(回授)放大线型微电路
DLA SMD-5962-96756 REV B-2007 极可调整电流反馈放大器硅单片电路线型微电路
DLA DSCC-VID-V62/04729 REV A-2011 微电路，数字，高级双极 CMOS，3.3-V ABT 扫描测试设备，带 18 位通用总线收发器，单片硅
DLA DSCC-VID-V62/04730 REV A-2011 微电路，数字，高级双极 CMOS，3.3-V ABT 扫描测试设备，带 18 位通用总线收发器，单片硅
DLA DSCC-VID-V62/04731 REV A-2011 微电路，数字，高级双极 CMOS，3.3-V ABT 扫描测试设备，带 18 位收发器和寄存器，单片硅
DLA SMD-5962-88598 REV A-1990 硅单片双极时钟发生器/微循环长度控制双极化数字微电路
DLA SMD-5962-81035 REV E-1988 硅单片可编程序逻辑双极数字微型电路
DLA SMD-5962-78017 REV G-2006 硅单片微程序控制器,双极数字微型电路
DLA SMD-5962-87769 REV A-2001 硅单片双线路驱动器两极化数字微电路
DLA SMD-5962-87772-1988 硅单片加法器收发器两极化数字微电路
DLA SMD-5962-98640 REV B-2009 微电路，线性，稳压器，15 伏，正极，固定，单片硅
DLA SMD-5962-98641 REV B-2009 微电路，线性，稳压器，15 伏，负极，固定，单片硅
DLA SMD-5962-98642 REV B-2009 微电路，线性，稳压器，5 伏，负极，固定，单片硅
DLA SMD-5962-98642 REV C-2012 微电路，线性，稳压器，5 伏，负极，固定，单片硅
DLA SMD-5962-98643 REV C-2012 微电路，线性，稳压器，5 伏，正极，固定，单片硅
DLA SMD-5962-91523 REV C-2013 微电路，线性，稳压器，正极，20 V 固定，单片硅
DLA SMD-5962-87671 REV F-2008 微电路、存储器、数字、双极、编程逻辑、单片硅
DLA SMD-5962-86714 REV C-2009 微电路，数字，双极，四路总线收发器，单片硅
DLA MIL-M-38510/25 E VALID NOTICE 1-2010 微电路、数字、双极、TTL、低功率、计数器、单片硅
DLA MIL-M-38510/21 F VALID NOTICE 1-2010 微电路、数字、双极、TTL、低功率、触发器、单片硅
DLA SMD-5962-87534 REV D-2011 微电路，数字，双极，四路总线收发器，单片硅
DLA SMD-5962-87657 REV D-2012 微电路、线性、双极、RF/IF 放大器，带 AGC，单片硅
DLA DSCC-DWG-13008-2013 电容器，固定，多阳极钽，芯片，保形涂层外壳
DLA SMD-5962-00516 REV B-2002 单片硅线性微电路正极的5V可调精密电压基准
DLA SMD-5962-95527-1994 7通道共源极功率陈列硅单片电路线型微电路
DLA SMD-5962-89479 REV C-2002 硅单片正极10伏可调精密电压基准线性微电路
DLA SMD-5962-97572 REV A-2006 四重2输入排外的硅单片电路数字双极微电路
DLA MIL-C-28777/2 B VALID NOTICE 2-2009 电缆组件（I 型）、电子测试设备（2 极、3 线、125 伏、13 安培、50 或 60 赫兹）、接地插头连接器和接线片
DLA SMD-5962-97577 REV A-2006 四重2输入阳性与门硅单片电路数字双极微电路
DLA SMD-5962-97578 REV A-2006 四重2输入阳性与门硅单片电路数字双极微电路
DLA SMD-5962-97579 REV A-2006 三重3输入阳性与门硅单片电路数字双极微电路
DLA SMD-5962-84129 REV E-2004 硅单片可编程逻辑,双极数字记忆微型电路
DLA SMD-5962-88507 REV A-2001 硅单片现场可编程序器两极化数字微电路
DLA SMD-5962-88581 REV A-2006 硅单片双极十六进制NTDS驱动器线性微电路
DLA SMD-5962-88582 REV B-2006 硅单片双极十六进制NTDS接收器线性微电路
DLA SMD-5962-98647 REV B-2010 微电路，线性，稳压器，正极，可调，低压差，单片硅
DLA SMD-5962-98648 REV B-2011 微电路，线性，稳压器，正极，可调，低压差，单片硅
DLA SMD-5962-98650 REV B-2011 微电路，线性，稳压器，正极，可调，低压差，单片硅
DLA SMD-5962-98649 REV C-2012 微电路，线性，稳压器，正极，可调，低压差，单片硅
DLA SMD-5962-02524 REV G-2013 微电路，线性，正极，可调，低压差，稳压器，单片硅
DLA SMD-5962-81036 REV M-2010 微电路、存储器、数字、双极、可编程逻辑、单片硅
DLA SMD-5962-88541 REV C-2010 微电路、存储器、数字、双极、512 X 4 位 PROM、单片硅
DLA SMD-5962-87791 REV D-2012 微电路、存储器、数字、双极、先进先出（FIFO）、单片硅
DLA SMD-5962-87788 REV E-2013 微电路、存储器、数字 256 X 4 位、双极 PROM、单片硅
DLA SMD-5962-03202 REV A-2008 微电路，存储器，数字，1024 X 8 位双极 PROM，单片硅
DLA SMD-5962-03203 REV A-2008 微电路，存储器，数字，2048 X 8 位双极 PROM，单片硅
DLA SMD-5962-84129 REV F-2009 微电路、存储器、数字、双极、可编程逻辑、单片硅
DLA SMD-5962-87791 REV C-2010 微电路、存储器、数字、双极、先进先出（FIFO）、单片硅
DLA MIL-M-38510/333 C VALID NOTICE 1-2008 微电路，数字，双极高级肖特基 TTL，或门，单片硅
DLA SMD-5962-88605 REV C-2008 微电路，数字，双极高性能 10 位缓冲器，单片硅
DLA SMD-5962-87542 REV C-2009 微电路、数字、双极、三态优先级编码器、单片硅
DLA SMD-5962-86713 REV B-2009 微电路，数字，双极性，8 位等于比较器，单片硅
DLA MIL-M-38510/75 C VALID NOTICE 1-2010 微电路，数字，双极，肖特基 TTL，专用或门，单片硅
DLA SMD-5962-86868 REV C-2011 微电路、数字、双极、八进制总线收发器、单片硅
DLA MIL-M-38510/600 VALID NOTICE 4-2012 微电路、数字、双极、半定制（门阵列）设备、单片硅
DLA MIL-M-38510/333 C VALID NOTICE 2-2013 微电路，数字，双极高级肖特基 TTL，或门，单片硅
DLA SMD-5962-89520 REV D-2008 微电路，线性，可调正极，低压差，稳压器，单片硅
DLA SMD-5962-89521 REV F-2008 微电路，线性，可调，正极，低压差，稳压器，单片硅
DLA SMD-5962-88646 REV G-2008 微电路，线性，可调，正极，低压差，稳压器，单片硅
DLA MIL-M-38510/210 F-2013 微电路，数字，16,384 位肖特基二极管，双极，可编程只读存储器（PROM），单片硅
DLA SMD-5962-95574 REV A-2006 双极晶体管四倍2输入阳性硅单片电路线型微电路
DLA SMD-5962-97547 REV A-2006 低功率4-BIT数量比较器硅单片电路数字双极微电路
DLA SMD-5962-97553 REV A-2006 单稳多谐振荡器晶体管硅单片电路数字双极微电路
DLA SMD-5962-97558 REV A-2006 8输入阳性与门晶体管硅单片电路数字双极微电路
DLA MIL-M-38510/211 (1)-2012 微电路，数字，32,768 位肖特基二极管，双极性，可编程只读存储器（PROM），单片硅
DLA SMD-5962-81036 REV L-2005 硅单片可编程序逻辑双极数字记忆微型电路
DLA SMD-5962-90513-1990 硅单片,奇偶位总线收发器,双极数字微型电路
DLA SMD-5962-90538 REV D-2003 硅单片,四重肖脱基二极管阵列,线性微型电路
DLA SMD-5962-90573-1991 硅单片,ECL可编程逻辑设置,双极记忆微型电路
DLA SMD-5962-88696 REV A-1990 硅单片动态记忆体控制器双极化数字微电路
DLA SMD-5962-93226 REV H-2006 硅单片,双信道总线收发器,双极数字微型电路
DLA MIL-M-38510/330 C VALID NOTICE 1-2008 微电路、数字、双极高级肖特基 TTL、与非门、单片硅
DLA MIL-M-38510/337 B VALID NOTICE 1-2008 微电路、数字、双极、高级肖特基 TTL、解码器、单片硅
DLA SMD-5962-01507 REV A-2008 微电路、数字、双极、高速前瞻进位发生器、单片硅
DLA MIL-M-38510/12 J VALID NOTICE 1-2009 微电路、数字、双极、TTL、单稳态多谐振荡器、单片硅
DLA MIL-M-38510/81 D VALID NOTICE 1-2010 微电路、数字、双极、肖特基 TTL、线路驱动器、单片硅
DLA MIL-M-38510/82 C VALID NOTICE 1-2010 微电路、数字、双极、肖特基 TTL、幅度比较器、单片硅
DLA MIL-M-38510/74 C VALID NOTICE 1-2010 微电路、数字、双极、肖特基 TTL 和/或反相门、单片硅
DLA MIL-M-38510/310 D VALID NOTICE 2-2012 微电路、数字、双极低功耗肖特利 TTL 和单片硅门
DLA MIL-M-38510/330 C VALID NOTICE 2-2013 微电路、数字、双极高级肖特基 TTL、与非门、单片硅
DLA MIL-M-38510/337 B VALID NOTICE 2-2013 微电路、数字、双极、高级肖特基 TTL、解码器、单片硅
DLA SMD-5962-88550 REV D-2008 单片硅D型触发器,边沿触发双极数字微电路
DLA SMD-5962-94615 REV B-2013 微电路、数字、高级双极 CMOS、带八进制寄存总线收发器的扫描测试设备、三电平输出、TTL 兼容输入、单片硅
DLA SMD-5962-94677 REV A-2002 极速的硅单片输出箝位电路电流反馈(回授)放大线型微电路
DLA SMD-5962-88589 REV D-2008 带小功率肖肯特晶体管,正极与非门及单硅片的高级双极数字微电路
DLA SMD-5962-02534 REV D-2006 单片硅线性微电路正极固定的2.5V低压降稳压器
DLA SMD-5962-02535 REV D-2006 单片硅线性微电路正极固定的3.3V低压降稳压器
DLA SMD-5962-02536 REV D-2006 单片硅线性微电路正极固定的 5V低压降稳压器
DLA SMD-5962-88550 REV C-2001 硅单片D型触发器边缘触发两极化数字微电路
DLA SMD-5962-88583 REV B-2006 硅单片双极十六进制NTDS快速驱动器线性微电路
DLA SMD-5962-85065 REV B-2010 微电路、存储器、数字、双极、可编程逻辑阵列、单片硅
DLA SMD-5962-87528 REV A-2011 微电路、存储器、数字、双极可编程逻辑阵列、单片硅
DLA SMD-5962-87530 REV A-2011 微电路、存储器、数字、双极可编程逻辑阵列、单片硅
DLA SMD-5962-85527 REV C-2010 微电路、存储器、数字、双极、2K x 8 位、注册 PROM、单片硅
DLA SMD-5962-87794 REV C-2008 微电路，数字，双极，高级肖特基 TTL，NOR 驱动器，单片硅
DLA MIL-M-38510/345 C VALID NOTICE 1-2009 微电路，数字，双极高级肖特基 TTL，专用或门，单片硅
DLA SMD-5962-87711 REV B-2009 微电路，数字，双极，TTL，双单稳态多谐振荡器，单片硅
DLA MIL-M-38510/151 B VALID NOTICE 1-2009 微电路、数字、双极、TTL、施密特触发器与非门、单片硅
DLA SMD-5962-76020 REV H-2010 微电路，数字，双极低功耗肖特基 TTL，与非门，单片硅
DLA MIL-M-38510/230 A VALID NOTICE 4-2010 微电路、数字、双极 256 位随机存取存储器（RAM）单片硅
DLA SMD-5962-86726 REV C-2011 微电路，数字，双极，12 输入奇偶校验/发生器，单片硅
DLA MIL-M-38510/302 D VALID NOTICE 2-2012 微电路、数字、双极低功耗肖特基 TTL、缓冲器、单片硅
DLA MIL-M-38510/327 B VALID NOTICE 2-2013 微电路、数字、双极、低功耗肖特基 TTL、计数器、单片硅
DLA MIL-M-38510/345 C VALID NOTICE 2-2013 微电路，数字，双极高级肖特基 TTL，专用或门，单片硅

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于测试电极片的标准

GB/T 36613-2018 发光二极管芯片点测方法
GB/T 24488-2021 镁合金牺牲阳极电化学性能测试方法
GB/T 39042-2020 电工钢单片磁性能测试 H线圈法

福建省地方标准，关于测试电极片的标准

DB35/T 1370-2013 发光二极管芯片点测方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于测试电极片的标准

GB/T 33970-2017 电阻焊电极用Al2O3弥散强化铜片材

CZ-CSN，关于测试电极片的标准

CSN 35 8539-1968 电子管阳极电阻的测试方法
CSN 35 8542-1968 电子管极间电容的测试方法
CSN 35 8757 Cast.1-1985 晶体管．集电极．基极和发射极．基极击穿电压的测量方法
CSN 35 8757 Cast.4-1985 晶体管．集电极切断电流；发射极切断电流以及集电极．发射极切断电流的测量方法
CSN 35 8741-1964 晶体管．集电极发射极残余电压的测量
CSN 35 8757 Cast.12-1989 双极晶体管．集电极．发射极击穿电压的脉冲测量方法
CSN 35 8736-1964 半导体二极管．极间电容的测量
CSN 64 0181-1986 胶片及薄片厚度测试方法
CSN 35 8757 Cast.8-1985 晶体管．基极．发射极电压的测量方法
CSN 05 5016-1985 弧焊及堆焊用涂层电极．电极涂层中湿度测定
CSN 35 8585 Cast.1-1984 电视显像管．加热电流；阳极电流和阴极电流的测量方法
CSN 35 8757 Cast.5-1985 晶体管．集电极和发射极阻隔层电容的测量方法
CSN 35 8545-1968 电子管电极逆电流的测量方法

IPC - Association Connecting Electronics Industries，关于测试电极片的标准

IPC TM-650 2.6.25B-2016 导电阳极丝（CAF）电阻测试：XY 轴
IPC TM-650 2.6.25A-2012 导电阳极丝（CAF）电阻测试：XY 轴
IPC 9691A CHINESE-2007 IPC-TM-650 方法 2.6.25 导电阳极丝（CAF）电阻测试（电化学迁移测试）用户指南
IPC 9691A CD-2007 IPC-TM-650 方法 2.6.25 导电阳极丝（CAF）电阻测试（电化学迁移测试）用户指南
IPC 9691A CHINESE CD-2007 IPC-TM-650 方法 2.6.25 导电阳极丝（CAF）电阻测试（电化学迁移测试）用户指南
IPC TM-650 5.5.4.8-1998 试片 D 电迁移电阻
IPC TM-650 5.5.4.12-1998 试片 L 线电阻率
IPC TM-650 5.5.4.9-1998 试片 G 通过电阻率

国家能源局，关于测试电极片的标准

NB/T 42082-2016 全钒液流电池电极测试方法
NB/T 42146-2018 锌溴液流电池电极、隔膜、电解液测试方法

行业标准-能源，关于测试电极片的标准

NB/T 11224-2023 锌镍液流电池电极测试方法
NB/T 42007-2013 全钒液流电池用双极板测试方法

美国电子电路和电子互连行业协会，关于测试电极片的标准

IPC TM-650 2.6.25-2003 XY轴阳极导电长丝(CAF)电阻测试
IPC 9691-2005 导电阳极丝(CAF)电阻测试(电化学迁移测试),方法2.6.25,IPC-TM-650用户指南

行业标准-机械，关于测试电极片的标准

JB/T 5469-1991 单片电工钢片(带)比总损耗测试仪
JB/T 7704.6-1995 电镀溶液试验方法.极化曲线测定
JB/T 7624-2013 整流二极管测试方法
JB/T 7704.3-1995 电镀溶液试验方法.阴极电流效率试验
JB/T 9354-1999 pH值测定用甘汞电极
JB/T 7815-1995 pH值测定用玻璃电极

加拿大标准协会，关于测试电极片的标准

CSA C22.2 NO.160-2015 电压和极性测试仪（第三版）

美国电影与电视工程师协会，关于测试电极片的标准

SMPTE ST 183M-1996 电影胶片摄影音频电平测试胶片光电输出因数的测量
SMPTE 183M-1996 电影胶片.摄影音频水平的试验片.光电输出因素的测量

(美国)海军，关于测试电极片的标准

NAVY MIL-PRF-28800 F-1996 带电的和电极设备测试总说明书

美国电气电子工程师学会，关于测试电极片的标准

IEEE Std C37.103-1990 差动和极化继电器电路测试指南
IEEE Std C37.103-2004 差分和极化继电器电路测试 IEEE 指南
IEEE Std C37.103-2015 差分和极化继电器电路测试 IEEE 指南
IEEE PC37.103/D5, July 2014 差分和极化继电器电路测试 IEEE 草案指南
SMPTE ST 183:1996 ST 183:1996 SMPTE 标准电影胶片“摄影音频电平测试胶片”光电输出因子的测量
IEEE PC37.103/D7.0, April 2015 IEEE 批准的差分和极化继电器电路测试指南草案

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.，关于测试电极片的标准

IEEE C37.103-1990 差分和极化继电器电路测试指南
IEEE C37.103-2004 差分和极化继电器电路测试指南
IEEE C37.103-2015 差分和极化继电器电路测试指南

TR-TSE，关于测试电极片的标准

TS 2441-1976 电子管和电子阀电性能的测试．第1部分：电极电流的测试
TS 2449-1976 电子管和电子阀电气性能的测试．第9部分：阴极中间层阻抗的测试
TS 2455-1976 电子管和电子阀电气性能的测试．第15部分：寄生和不需要电极电流测试方法
TS 1861-1975 电影摄影．电影安全胶片．定义、测试和标志
TS 2454-1976 电子管和电子阀电气性能的测试．第14部分：雷达和示波阴极射线管测试方法

PL-PKN，关于测试电极片的标准

PN T06516-1990 选择性电极．一般要求和测试
PN T01504-22-1987 晶体管．集电极基极和发射极基极电容CCBO和CEBO的测量方法
PN T80006-1988 电子元件．铝电解电容器电极电容器．一般要求和测试
PN C04576-10-1986 水和废水氮测试离子选择性电极电位法测定硝态氮
PN C82055-21-1992 成型碳产品的试验方法，在电极上测定电阻率
PN M69161-1990 手工电焊所用隔热焊接电极夹钳．要求和测试
PN E05030-05-1986 腐蚀防护，阴极保护，电偶阳极要求和试验

行业标准-船舶，关于测试电极片的标准

CB/T 3794-2014 压电陶瓷材料性能测试方法电极结合强度的测试

贵州省地方标准，关于测试电极片的标准

DB52/T 928-2014 CA45S 型底面电极片式固体电解质钽固定电容器

YU-JUS，关于测试电极片的标准

JUS N.R1.115-1977 电子管．电气特性的测量．电极故障电流的测试方法
JUS N.R1.101-1977 电子管．电气特性测量．电极电流的测量

(美国)福特汽车标准，关于测试电极片的标准

FORD FLTM BI 007-1-2001 涂漆面板的芯片电阻测试
FORD FLTM EU-BI 007-1-2001 涂漆面板的芯片电阻测试
FORD FLTM BJ 001-1-2000 油的极压测试
FORD FLTM EU-BJ 001-1-2001 FALEX 机油的极压测试

行业标准-黑色冶金，关于测试电极片的标准

YB/T 4148-2006 电工钢片(带)小单片试样磁性能测量方法
YB/T 4292-2012 电工钢带（片）几何特性测试方法
YB/T 5289-2001 电极糊延伸率试验方法

法国标准化协会，关于测试电极片的标准

NF EN 60512-5-1:2002 电子设备连接器测试和测量第5-1部分：极限电流测试：测试 5a：温升
NF T90-008:1953 水的试验.PH值的玻璃电极电位计测定
NF A81-304:1994 手工金属弧电极用药皮电极棒.化学分析用的焊接金属垫片的沉积
NF C28-913:2007 磁性材料.用单片测试仪测定电工钢片和电工钢带磁性的方法
NF EN ISO 2128:2010 铝及其合金的阳极氧化.阳极层厚度的测定.光学切片显微镜无损方法

RU-GOST R，关于测试电极片的标准

GOST 18604.27-1986 大功率高电压双极型的晶体管.在发射极（集电极）为零电流时的集电极－基极（发射极－基极）击穿电压的测量方法
GOST 25995-1983 生物电位测量电极.一般技术条件和试验方法
GOST 19438.12-1975 小功率电子管.相对于阴极有正电位的阳极电流和栅极电流的测量方法
GOST 20398.13-1980 场效应晶体管.漏极－源极电阻测量方法
GOST 6134-2007 叶片泵.测试方法
GOST 6134-1987 叶片泵测试方法

国家军用标准-总装备部，关于测试电极片的标准

GJB 7675-2012 微波电子管阴极及组件测试方法

IN-BIS，关于测试电极片的标准

IS 5266-1969 400 Hz 信号电平测试胶片规格

英国标准学会，关于测试电极片的标准

24/30490678 DC BS IEC 60747-5-18 半导体器件第5-18部分：光电器件发光二极管微型发光二极管外延片的宏观光致发光测试方法发光二极管
BS ISO 22426:2020 基于挂片测量评估阴极保护的有效性
PD IEC/TS 62916:2017 光伏组件旁路二极管静电放电敏感性测试
BS 6043-3.2:1997 铝制造中使用的碳质材料的取样和测试方法电极阴极块和预焙阳极密度的测定
BS 6043-3.6:2000 铝制造中使用的碳质材料的取样和测试方法电极环境温度下阴极块和预烘烤阳极电阻率的测定
BS IEC 60747-5-8:2019 半导体器件光电器件发光二极管发光二极管光电效率的测试方法
BS 7310:1990(2012) 用于测定溶液中离子的离子选择性电极、参比电极、组合电极和离子选择性电极计规范
BS EN IEC 60404-3:2022 磁性材料用单片测试仪测量电工钢带和片材磁性能的方法
BS 6043-3.1.2:1999 铝制造中使用的碳质材料的取样和测试方法电极采样阳极取样
BS 6043-3.1.1:1999 铝制造中使用的碳质材料的取样和测试方法电极采样阴极取样

日本工业标准调查会，关于测试电极片的标准

JIS C 2556:2015 采用单片测试仪测量电工钢带和钢片磁性能的方法
JIS Z 2359:2021 应变片测试原理
JIS Z 8805:2011 pH值测量用玻璃电极

德国标准化学会，关于测试电极片的标准

DIN IEC 62088:2002-09 核仪器闪烁探测器光电二极管测试程序
DIN 51919:2013-05 碳质材料的测试根据电流-电压法测定电极的电阻率固体材料
DIN 16726:2017-08 塑料片材测试
DIN 19263:1989 pH值测量.玻璃电极
DIN 19264:1985 pH值测量.参比电极
DIN ISO 3310-3:1992-02 测试筛；技术要求和测试；电铸片试验筛；与 ISO 3310-3:1990 相同
DIN 51932:2010-06 碳材料的测试圆柱形加工电极堆积密度的测定
DIN 44402-14:1971 电子管电气性能测试.第14部分:高真空电子管加热阴极的放射电流的测试方法
DIN 51919:1999 碳质材料试验.用电流电压法测定电极的电阻率.固体材料

(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于测试电极片的标准

JEDEC JESD5-1982 电压常规两极真空管温度系数测试
JEDEC JESD24-11-1996 JESD24的补遗－功率MOSFET 等值系列栅极电阻测试

AT-ON，关于测试电极片的标准

ONORM DIN 19263-1994 pH 测量．玻璃电极

PT-IPQ，关于测试电极片的标准

E 302-1974 阳极氧化铝，阳极电镀铝涂层的持续性检验．硫酸铜的测试

CU-NC，关于测试电极片的标准

NC 68-05-1985 家用电器．太阳能集热片．测试方法

IEC - International Electrotechnical Commission，关于测试电极片的标准

IEC 62088:2001 核仪器闪烁探测器光电二极管测试方法（1.0 版）
TS 62916-2017 光伏组件—旁路二极管静电放电敏感性测试（1.0版）

美国机动车工程师协会，关于测试电极片的标准

SAE ARP5448/1-2010 滑动轴承径向极限和极限载荷测试

SAE - SAE International，关于测试电极片的标准

SAE ARP5448/1-2004 滑动轴承径向极限和极限载荷测试
SAE ARP5448/1A-2016 滑动轴承径向极限和极限载荷测试

AASHTO - American Association of State Highway and Transportation Officials，关于测试电极片的标准

T 373M/T 373-2017 用于混凝土增强的钢筋的比较定性腐蚀特性的标准测试方法（线性极化电阻和动电位极化测试）

国际电工委员会，关于测试电极片的标准

IEC 60404-3:2010 电磁材料.第3部分:用单片钢板测试仪测量电钢带和钢片磁性能的方法

印度尼西亚标准，关于测试电极片的标准

SNI 05-4006-1996 安装非磁性热交换电极管. 艾迪氏电流测试方法
SNI 06-6876-2002 用离子选择性电极测试水中氨含量的方法

行业标准-海洋，关于测试电极片的标准

HY/T 192-2015 海水环境中金属材料动电位极化电阻测试方法

美国公路与运输员工协会，关于测试电极片的标准

AASHTO T 200-1979 用玻璃电极测量水溶液pH值的试验方法
AASHTO T 200-79(R2006) 用玻璃电极测试水溶液 pH 值的标准方法

德国机械工程师协会，关于测试电极片的标准

DVS 0923-4-1987 埋弧焊用焊剂的焊接性能测试；带状电极堆焊适用性测试

AENOR，关于测试电极片的标准

UNE 103104:1993 测试土壤的塑性极限

行业标准-环保，关于测试电极片的标准

HJ 802-2016 土壤电导率的测定电极法

WRC - Welding Research Council，关于测试电极片的标准

BULLETIN 431-1998 垫片蒸汽泄漏测试总结：I）垫片蒸汽泄漏测试； II）对石墨垫片进行的泄漏测试； III）弹性片材垫片材料的长时间空气和蒸汽筛选测试

美国国防部标准化文件（含MIL标准），关于测试电极片的标准

DOD A-A-54065-1990 显微镜滑片(测试)
DOD A-A-53836-1989 酚红PH测试药片

欧洲电工标准化委员会，关于测试电极片的标准

HD 48 S1-1988 电缆极其附件的冲击电压试验

行业标准-电力，关于测试电极片的标准

DL/T 1566-2016 直流输电线路及接地极线路参数测试导则