四探针方阻测试
本专题涉及四探针方阻测试的标准有24条。
国际标准分类中，四探针方阻测试涉及到电学、磁学、电和磁的测量、半导体分立器件、半导体材料、金属材料试验、复合增强材料、导体材料、塑料、有色金属、陶瓷、农业和林业。
在中国标准分类中，四探针方阻测试涉及到、电磁计量、无线电计量、半金属及半导体材料分析方法、金属物理性能试验方法、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、基础标准与通用方法、元素半导体材料、电阻器、特种陶瓷。
韩国科技标准局，关于四探针方阻测试的标准
- KS C 0256-2002(2022) 硅晶体和硅片电阻率的四点探针测试方法
- KS D 0260-1999 四点探针法测试单晶硅片电阻率的方法
- KS L 1619-2013(2018) 四探针阵列导电陶瓷薄膜电阻率测试方法
- KS D 0260-1989(1994) 具有四点探针的单晶硅片的电阻率测试方法
- KS C 0256-2002(2017) 具有四点探针的硅晶体和硅晶片的电阻率测试方法
中国团体标准，关于四探针方阻测试的标准
- T/CASAS 019-2021 微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法
- T/CSTM 00252-2020 碳纤维体积电阻率试验方法 四探针法
国家计量检定规程，关于四探针方阻测试的标准
- JJG 508-2004 四探针电阻率测试仪
- JJG 508-1987 四探针电阻率测试仪检定规程
国家质检总局，关于四探针方阻测试的标准
- GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
- GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
日本工业标准调查会，关于四探针方阻测试的标准
- JIS H 0612:1975 硅单晶片电阻率的测定方法.四探针法
- JIS K 7194:1994 用四点探针排列法测定传导塑料电阻率的测试方法
- JIS H 0602:1995 用四点探针法对硅晶体和硅片电阻率的测试方法
- JIS R 1637:1998 用四点探针排列法测定传导精细陶瓷薄膜电阻率的试验方法
河北省标准，关于四探针方阻测试的标准
- DB13/T 5255-2020 石墨烯导电油墨方阻的测定 四探针法
行业标准-电子，关于四探针方阻测试的标准
- SJ/T 10314-1992 直流四探针电阻率测试仪通用技术条件
KR-KS，关于四探针方阻测试的标准
- KS L 1619-2013(2023) 用四点探针阵列测试导电陶瓷薄膜电阻率的方法
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于四探针方阻测试的标准
- GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法
RU-GOST R，关于四探针方阻测试的标准
- GOST 24392-1980 单晶硅和锗.四探针法测定电阻系数
美国材料与试验协会，关于四探针方阻测试的标准
- ASTM F390-11 用共线四探针法测定金属薄膜的薄膜电阻的标准试验方法
行业标准-有色金属，关于四探针方阻测试的标准
- YS/T 602-2007 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法
- YS/T 602-2017 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法
江苏省标准，关于四探针方阻测试的标准
- DB32/T 4378-2022 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法
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可能用到的仪器设备
