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半导体可靠性测试
本专题涉及半导体可靠性测试的标准有23条。
国际标准分类中，半导体可靠性测试涉及到半导体分立器件、电气工程综合、长度和角度测量。
在中国标准分类中，半导体可靠性测试涉及到可靠性和可维护性、、半导体分立器件综合、电子测量与仪器综合。
GSO，关于半导体可靠性测试的标准
- GSO IEC 63275-1:2024 半导体器件 碳化硅分立金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性测试方法 第1部分：偏置温度不稳定性测试方法
- GSO IEC 63284:2024 半导体器件 氮化镓晶体管的感性负载开关可靠性测试方法
- GSO IEC 63287-1:2024 半导体器件 通用半导体鉴定指南 第1部分：IC 可靠性鉴定指南
英国标准学会，关于半导体可靠性测试的标准
- BS IEC 63275-1:2022 半导体器件 碳化硅分立金属氧化物半导体场效应晶体管的可靠性测试方法 偏置温度不稳定性测试方法
- 20/30406230 DC BS IEC 63275-1 半导体器件 碳化硅分立金属氧化物半导体场效应晶体管的可靠性测试方法 第1部分.偏置温度不稳定性测试方法
- 20/30406234 DC BS IEC 63275-2 Ed.1.0 半导体器件 碳化硅分立金属氧化物半导体场效应晶体管的可靠性测试方法 第2部分. 体二极管工作造成的双极退化的测试方法
- 20/30409285 DC BS IEC 63284 半导体器件 氮化镓晶体管感性负载开关导通应力可靠性的可靠性测试方法
- BS IEC 63284:2022 半导体器件 氮化镓晶体管感性负载开关可靠性测试方法
- BS EN IEC 63287-1:2021 半导体器件 通用半导体鉴定指南 IC 可靠性鉴定指南
- 14/30297227 DC BS EN 62880-1 半导体器件 半导体器件的晶圆级可靠性 铜应力迁移测试方法
AT-OVE/ON，关于半导体可靠性测试的标准
- OVE EN IEC 63275-2:2021 半导体器件-碳化硅分立金属氧化物半导体场效应晶体管的可靠性测试方法-第2部分：体二极管操作引起的双极退化测试方法（IEC 47/2680/CDV）（英文版）
美国国防后勤局，关于半导体可靠性测试的标准
- DLA MIL STD 750 5 F-2012 半导体器件的测试方法标准高可靠性空间应用测试方法第5部分：测试方法 5000 至 5999
中国团体标准，关于半导体可靠性测试的标准
- T/CIE 144-2022 半导体器件可靠性强化试验方法
- T/ZSA 47-2020 电动汽车用功率半导体器件可靠性试验方法
韩国科技标准局，关于半导体可靠性测试的标准
- KS C 5212-1981(2002) 可靠性保证单个半导体器件公理
- KS C 5212-1981 可靠性保证单个半导体器件公理
国家质检总局，关于半导体可靠性测试的标准
- GB/T 24468-2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范
丹麦标准化协会，关于半导体可靠性测试的标准
- DS/EN IEC 63287-1:2021 半导体器件《通用半导体鉴定指南》第1部分：IC 可靠性鉴定指南
法国标准化协会，关于半导体可靠性测试的标准
- NF C96-287-1*NF EN IEC 63287-1:2021 半导体器件 通用半导体鉴定指南 第1部分：IC 可靠性鉴定指南
欧洲电工标准化委员会，关于半导体可靠性测试的标准
- EN IEC 63287-1:2021 半导体器件 通用半导体鉴定指南 第1部分：IC 可靠性鉴定指南
国际电工委员会，关于半导体可靠性测试的标准
- IEC 63287-1:2021 半导体器件 通用半导体鉴定指南 第1部分：IC 可靠性鉴定指南
ES-UNE，关于半导体可靠性测试的标准
- UNE-EN IEC 63287-1:2021 半导体器件 通用半导体资格指南 第1部分：IC 可靠性资格指南
德国标准化学会，关于半导体可靠性测试的标准
- DIN EN IEC 63287-1:2020-06 半导体器件 通用半导体鉴定指南 第1部分：LSI 可靠性鉴定指南
