开尔文探针法
本专题涉及开尔文探针法的标准有60条。
国际标准分类中，开尔文探针法涉及到复合增强材料、金属材料试验、半导体材料、绝缘流体、农业和林业、土质、土壤学、兽医学、陶瓷、半导体分立器件、长度和角度测量、试验条件和规程综合、水质、电工器件、无损检测、集成电路、微电子学、光纤通信、电子显示器件、有色金属。
在中国标准分类中，开尔文探针法涉及到氧化物、单质、金属物理性能试验方法、半金属与半导体材料综合、、、陶瓷、玻璃综合、、、、、、、电工合金零件、特种陶瓷、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、电阻器、半导体集成电路、工程地质、水文地质勘察与岩土工程、水环境有毒害物质分析方法、电工材料和通用零件综合、半金属、元素半导体材料、金属无损检验方法。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于开尔文探针法的标准
- GB/T 39978-2021 纳米技术 碳纳米管粉体电阻率 四探针法
- GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法
国家质检总局，关于开尔文探针法的标准
- GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定.直排四探针法
- GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
- GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法
- GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
- GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
，关于开尔文探针法的标准
- GOST 24392-1980 单晶硅和锗.四探针法测定电阻系数
江苏省标准，关于开尔文探针法的标准
- DB32/T 4378-2022 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法
- DB32/T 4027-2021 石墨烯粉体电导率测定 动态四探针法
美国材料与试验协会，关于开尔文探针法的标准
- ASTM D5334-22a 用热针探针法测定土壤和岩石导热性的标准试验方法
- ASTM D5334-22 用热针探针法测定土壤和岩石热导率的标准试验方法
- ASTM D5220-21 用中子深度探针法测定土壤和岩石含水量的标准试验方法
- ASTM E498/E498M-11 在示踪探针法 中用质谱仪检漏器或残余气体分析器作泄漏检验的标准操作规程
- ASTM F390-11 用共线四探针法测定金属薄膜的薄膜电阻的标准试验方法
- ASTM E499/E499M-11 在检测器探针法 中用质谱仪检漏器作泄漏检验的标准操作规程
- ASTM D5220-08 用中子深探针法对地表土壤和岩石中单位体积含水量的标准试验方法
- ASTM D5220-02 用中子深探针法对应有位置的土壤和岩石的含水量的标准试验方法
- ASTM F374-00a 用单型程序直列式四点探针法测定硅外延层、扩散层、多晶硅层和离子注入层的薄膜电阻的测试方法
- ASTM F390-98(2003) 用共线四探针法对金属薄膜的薄膜耐力的试验方法
- ASTM F1711-96(2016) 采用四点探针法测量平板显示器制造用薄膜导体的薄层电阻的标准实施规程
- ASTM E498-95(2006) 在示踪探针法中用质谱仪检漏器或残余气体分析器作泄漏检验的测试方法
- ASTM D5220-92(1997) 用中子深探针法对应有位置的土壤和岩石的含水量的标准试验方法
湖北省地方标准，关于开尔文探针法的标准
- DB42/T 1864.2-2022 家禽疫病诊断技术规程 第2部分：禽大肠杆菌致病群双重探针法检测
海关总署，关于开尔文探针法的标准
- SN/T 5315-2021 光催化自洁陶瓷性能测试方法 荧光探针法
中国团体标准，关于开尔文探针法的标准
- T/CASAS 019-2021 微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法
- T/CSTM 00252-2020 碳纤维体积电阻率试验方法 四探针法
- T/ZGIA 001-2019 石墨烯测试方法 粉体电导率的测定 四探针法
河北省标准，关于开尔文探针法的标准
- DB13/T 5255-2020 石墨烯导电油墨方阻的测定 四探针法
- DB13/T 5026.3-2019 石墨烯导电浆料物理性质的测定方法 第3部分：浆料极片电阻率的测定 四探针法
国际电工委员会，关于开尔文探针法的标准
- IEC TS 62607-6-1:2020 纳米制造关键控制特性第6-1部分:石墨烯基材料体积电阻率:四探针法
- IEC TS 62607-6-1-2020 纳米制造关键控制特性第6-1部分:石墨烯基材料体积电阻率:四探针法
- IEC 61967-6:2002+AMD1:2008 CSV 集成电路.150kHz至1GHz电磁发射的测量.第6部分:传导发射的测量.磁探针法
- IEC 61967-6-2002+AMD1-2008 CSV 集成电路.150kHz至1GHz电磁发射的测量.第6部分:传导发射的测量.磁探针法
- IEC 61967-6 Edition 1.1:2008 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导辐射的测量.磁探针法
- IEC 61967-6-2002/AMD1-2008 修改件1.集成电路.150 kHz至1 GHz电磁发射的测量.第6部分:传导发射的测量.磁探针法
- IEC 61967-6:2002/AMD1:2008 修改件1.集成电路.150 kHz至1 GHz电磁发射的测量.第6部分:传导发射的测量.磁探针法
- IEC 61967-6:2008 集成电路.150kHz至1GHz电磁发射的测量.第6部分:传导发射的测量.磁探针法
- IEC 61290-10-3-2002 光放大器.试验方法.第10-3部分:多通道参数.探针法
- IEC 61967-6-2002 集成电路 - 电磁辐射测量 150赫兹至1 Ghz - 第6部分:传导发射测量 - 磁探针法
吉林省地方标准，关于开尔文探针法的标准
- DB22/T 3089-2019 羊传染性脓疱病毒检测 荧光PCR探针法
行业标准-有色金属，关于开尔文探针法的标准
- YS/T 602-2017 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法
- YS/T 602-2007 区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法
行业标准-机械，关于开尔文探针法的标准
- JB/T 12074-2014 复合金属材料成分的测定 电子探针法
韩国标准，关于开尔文探针法的标准
- KS L 1619-2013 电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法
- KS L 1619-2003 电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法
- KS C 0256-2002 硅单结晶及硅片的4探针法的抵抗率测定方法
国际标准化组织，关于开尔文探针法的标准
- ISO 5814-2012 水质与灰分；溶解氧的测定——电化学探针法
- ISO 5814-1990 水质.溶解氧的测定.电化学探针法
- ISO 5814-1984 水质.溶解氧的测定.电化学探针法
- ISO 5814:1984 水质.溶解氧的测定.电化学探针法
日本工业标准调查会，关于开尔文探针法的标准
- JIS H0602-1995 用四点探针法对硅晶体和硅片电阻率的测试方法
- JIS H0612-1975 硅单晶片电阻率的测定方法.四探针法
法国标准化协会，关于开尔文探针法的标准
- NF T90-106-1993 水质.溶解氧的测定.电化学探针法
