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荧光峰 面积
本专题涉及荧光峰 面积的标准有129条。
国际标准分类中，荧光峰 面积涉及到辐射测量、生物学、植物学、动物学、微生物学、有色金属、润滑剂、工业油及相关产品、分析化学、光纤通信、兽医学、土质、土壤学、词汇、环境保护、光电子学、激光设备、金属材料试验、半导体材料、航空器和航天器综合、建筑材料、水质、光学和光学测量、医疗设备、化工产品、邮政服务、电影、试验条件和规程综合、消毒和灭菌、塑料、光学设备、长度和角度测量、陶瓷、表面处理和镀涂、食品试验和分析的一般方法。
在中国标准分类中，荧光峰 面积涉及到医用射线设备、稀土金属及其合金、稀有金属及其合金分析方法、润滑油、、光通信设备、半导体发光器件、半金属及半导体材料分析方法、半金属与半导体材料综合、标志、包装、运输、贮存、基础标准与通用方法、土壤环境质量分析方法、水环境有毒害物质分析方法、医疗器械综合、冶金辅助原料矿、轻金属及其合金分析方法、火工产品、化学、公共医疗设备、特种加工机床、材料防护、地基、基础工程。
RU-GOST R，关于荧光峰 面积的标准
- GOST R IEC 580-1995 面积曝光积计
- GOST 24229-1980 70、35和16mm电影摄影机.曝光面积.尺寸和位置.检验方法
- GOST R ISO 16962-2012 钢表面锌基和/或铝基镀层. 采用辉光放电原子发射光谱法对单位面积镀层厚度, 化学成分和质量的测定
BE-NBN，关于荧光峰 面积的标准
- NBN-HD 379-1994 曝光面积乘积器
欧洲电工标准化委员会，关于荧光峰 面积的标准
- HD 379-1978 曝光面积乘积器
国际电工委员会，关于荧光峰 面积的标准
- IEC 60580:1977 曝光面积求积仪
- IEC TR 62284:2003 单模光纤的有效面积测量.指南
美国材料与试验协会，关于荧光峰 面积的标准
- ASTM F2998-14 采用荧光显微法量化固定细胞扩散面积的指南
- ASTM D7214-07a(2012) 使用峰面积积分用FT-IR测定已使用润滑剂中氧化物的标准试验方法
- ASTM D7214-07a 利用峰面积积分用FT-IR测定已使用润滑剂中氧化物的标准试验方法
- ASTM D7214-07 利用峰面积积分用FT-IR测定已使用润滑剂中氧化物的标准试验方法
- ASTM D7214-06 利用峰面积积分用FT-IR测定已使用的润滑剂中氧化物的标准试验方法
- ASTM D7214-07a(2019) 用峰面积增加计算用FT-IR测定用过的润滑剂氧化的标准试验方法
- ASTM D7214-20 用峰面积增加计算用FT-IR测定用过的润滑剂氧化的标准试验方法
- ASTM D7214-23 用峰面积增加计算通过FT-IR测定用过的润滑剂氧化的标准试验方法
- ASTM D7214-22 用峰面积增加计算通过FT-IR测定用过的润滑剂氧化的标准试验方法
- ASTM D2332-84(1999) 通过波长 - 分散X射线荧光分析水形沉积物的标准实践
- ASTM D2332-08 用波长色散X射线荧光法作水沉积物分析标准实施规程
- ASTM D2332-13 用波长色散X射线荧光法作水沉积物分析标准操作规程
- ASTM D2332-84(2003) 用波长色散X射线荧光法作水沉积物分析标准操作规程
- ASTM D2332-13(2021) 用波长色散X射线荧光法分析水成沉积物的标准实施规程
- ASTM F2997-13 采用荧光图像分析量化祖细胞成骨培养钙沉积的标准实施规程
- ASTM F2997-21 采用荧光图像分析量化祖细胞成骨培养钙沉积的标准实施规程
- ASTM D5626-94(2001) 美国邮政服务小面积光学测量的标准试验方法
- ASTM D7458-21 用氟化氢铵萃取和荧光检测法测定土壤和沉积物中铍的标准试验方法
- ASTM A754/A754M-11 钢表面金属涂层重量(质量)X射线荧光测量的标准试验方法
- ASTM D7458-08 使用二氟化铵提取和荧光检测测定土壤 岩石 沉积物和飞灰中铍的标准测试方法
- ASTM C715-90(2000) 用光度分析法测定搪瓷用钢表面镍沉积量的标准试验方法
- ASTM C715-90(2016) 用光度分析法测定搪瓷用钢表面镍沉积量的标准试验方法
- ASTM E1217-11 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号样品面积的标准操作规程
- ASTM D7458-14 使用氟化氢铵提取和荧光检测法测定土壤, 岩石, 沉积物和粉煤灰中铍的标准试验方法
- ASTM E1217-00 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
- ASTM E1217-05 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
- ASTM D6625-13(2020) 使用荧光紫外线冷凝灯和水曝光设备进行对涂漆面板的防腐蚀性能的测试的标准实践
国家质检总局，关于荧光峰 面积的标准
- GB/T 14634.6-2002 灯用稀土三基色荧光粉试验方法 比表面积测定
- GB/T 14634.6-2010 灯用稀土三基色荧光粉试验方法 第6部分：比表面积的测定
- GB/T 24981.1-2010 稀土长余辉荧光粉试验方法 第1部分：发射主峰和色品坐标的测定
- GB/T 24578-2015 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
- GB/T 24578-2009 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
- GB/T 14634.2-2010 灯用稀土三基色荧光粉试验方法 第2部分：发射主峰和色度性能的测定
- GB/T 42360-2023 表面化学分析 水的全反射X射线荧光光谱分析
- GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
- GB/T 30701-2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定
US-FCR，关于荧光峰 面积的标准
- FCR FED H-08-4 VOL 4-E-F-19-1988 表面安装荧光灯
- FCR FED H-08-4 VOL 4-E-F-9-1988 单灯表面安装荧光灯
- FCR FED H-08-4 VOL 4-E-F-23-1988 表面贴装 4'X4' 荧光灯
- FCR FED H-08-4 VOL 4-E-F-22-1988 表面贴装 2'X4' 荧光灯
- FCR FED H-08-4 VOL 4-E-F-20-1988 表面安装的 1'X4' 荧光灯
- FCR FED H-08-4 VOL 4-E-F-21-1988 X 2 表面荧光，约 4 英寸深
- FCR FED H-08-4 VOL 4-E-O-13-1988 表面安装的封闭式和垫片式荧光灯装置
SE-SIS，关于荧光峰 面积的标准
- SIS SS IEC 580:1986 X射线设备．曝光面积乘积仪
- SIS SS 91 42 01-1988 建筑设计．采光．简化方法检查窗户玻璃所需的面积
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于荧光峰 面积的标准
- GB/T 40139-2021 材料表面积的测量 高光谱成像三维面积测量法
- GB/T 24981.1-2020 稀土长余辉荧光粉试验方法 第1部分：发射主峰和色品坐标的测定
- GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定硅片表面元素污染
- GB/T 33779.3-2021 光纤特性测试导则 第3部分：有效面积(Aeff)
- GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
美国国家标准学会，关于荧光峰 面积的标准
- ANSI/TIA/EIA 455-132-A-2001 单模光纤有效面积测量
福建省地方标准，关于荧光峰 面积的标准
- DB35/T 1995-2021 禽心包积液-肝炎综合征荧光定量 PCR 诊断技术
TIA - Telecommunications Industry Association，关于荧光峰 面积的标准
- TIA/EIA-455-132-1998 FOTP-132 单模光纤有效面积测量
陕西省标准，关于荧光峰 面积的标准
- DB61/T 1580-2022 土壤和沉积物 无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法
行业标准-环保，关于荧光峰 面积的标准
- HJ 780-2015 土壤和沉积物 无机元素的测定 波长色散X射线荧光光谱法
- HJ 680-2013 土壤和沉积物 汞、砷、硒、铋、锑的测定 微波消解/原子荧光法
- HJ 1269-2022 土壤和沉积物 甲基汞和乙基汞的测定 吹扫捕集/气相色谱-冷原子荧光光谱法
法国标准化协会，关于荧光峰 面积的标准
- NF EN ISO 25178-1:2016 产品几何规范 (GPS) - 表面光洁度：面积 - 第 1 部分：表面光洁度指示
- NF ISO 19962:2019 光学和光子学。平行平面光学元件积分散射的光谱测量方法
- NF EN ISO 25178-6:2010 产品几何规范（GPS） - 表面光洁度：面积 - 第 6 部分：表面光洁度测量方法的分类
- NF EN ISO 25178-70:2014 产品几何规格 (GPS) - 表面光洁度：面积 - 第 70 部分：材料测量
- NF EN ISO 25178-600:2019 产品几何规范 (GPS) - 表面光洁度：面积 - 第 600 部分：表面形貌测量方法的计量特性
- NF EN ISO 25178-72/A1:2020 产品几何规格 (GPS) - 表面光洁度：面积 - 第 72 部分：x3p XML 文件格式 - 修正案 1
- NF X21-058:2006 表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息
中国团体标准，关于荧光峰 面积的标准
- T/HNAEPI 006-2022 土壤和沉积物 砷、汞、硒、锑、铋的测定 水浴/原子荧光法
- T/BSPT 001-2018 微纳加工 基于激光诱导应变的大面积表面三维微纳结构加工方法
- T/JCMS 0007-2022 受控堆肥条件下聚乳酸类生物降解材料最终需氧生物分解能力测定 太赫兹宽谱峰面积计算法
- T/CAQI 159-2020 食品及食品包装表面中新型冠状病毒采样与实时荧光 RT-PCR 检测方法
日本工业标准调查会，关于荧光峰 面积的标准
- JIS R 1697:2015 利用积分球对白光发光二极管用荧光粉的内部量子效率的绝对测量
- JIS K 0181:2021 表面化学分析 水的全反射X射线荧光分析
- JIS K 0148:2005 表面化学分析.用总反射X-射线荧光(TXRF)测定法测定硅晶片的表面主要污染物
- JIS K 0160:2009 表面化学分析 从硅片加工基准材料的表面上收集元素和化学方法及其通过总反射X射线荧光(TXRF)分光光度法的测定
美国电信工业协会，关于荧光峰 面积的标准
- TIA/EIA-455-132A-2001 FOTP-132.单模光纤有效面积的测量
英国标准学会，关于荧光峰 面积的标准
- PD IEC TR 62284:2003 单模光纤的有效面积测量 指导
- BS ISO 19962:2019 光学和光子学 平面平行光学元件积分散射的光谱测量方法
- BS ISO 20289:2018 表面化学分析 水的全反射X射线荧光分析
- BS ISO 19950:2015 主要用于铝生产的氧化铝. α氧化铝含量的测定. 采用X射线衍射净峰面积的方法
- BS ISO 18337:2015 表面化学分析. 表面特征. 共焦荧光显微镜横向分辨率的测量
- BS ISO 14706:2000 表面化学分析.采用全反射X射线荧光(TXRF)光谱法对硅片表面元素污染物的测定
- BS ISO 14706:2014 表面化学分析.采用全反射X射线荧光(TXRF)光谱法对硅片表面元素污染物的测定
- BS ISO 14706:2001 表面化学分析 采用全反射X射线荧光（TXRF）光谱法对硅片表面元素污染物的测定
- BS ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析 全反射 X 射线荧光光谱在生物和环境分析中的应用
- BS PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析. 全反射X射线荧光光谱法在生物和环境分析中的使用
- BS ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
- BS ISO 17331:2004+A1:2010 表面化学分析.从硅片工作标准物质表面采集元素的化学方法及其全反射X射线荧光光谱(TXRF)法的测定
工业和信息化部，关于荧光峰 面积的标准
- SJ/T 11760-2020 光伏电池绒面反射率的测量 光电积分法
(美国)海军，关于荧光峰 面积的标准
- NAVY A-A-59752-2003 荧光性反光背面可粘贴预制船用符号,标签,标志
丹麦标准化协会，关于荧光峰 面积的标准
- DS 423.39:2002 混凝土测试 硬化混凝土 荧光浸渍平面截面的生产
ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc.，关于荧光峰 面积的标准
- ASHRAE NY-08-058-2008 使用大面积照明积分球验证百叶窗的太阳能/光学模型
NL-NEN，关于荧光峰 面积的标准
- NEN 2057-1991 建筑物采光口．采光口同等采光面积的简化（abridged）测定方法
韩国科技标准局，关于荧光峰 面积的标准
- KS D ISO 14706:2003 表面化学分析.用全反射X射线荧光光谱法测定硅圆片表面主要污物
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
- KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化学分析-全反射X-射线荧光分析仪测定硅片表面元素杂质
- KS A ISO 74-2006(2016) 电影摄影－8mm R型电影胶片上照相机光圈产生的图像面积和最大可投影图像面积－位置和尺寸
- KS A ISO 74-2006(2021) 电影摄影——8mm R型电影胶片上摄像机光圈产生的图像面积和最大可投影图像面积——位置和尺寸
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于荧光峰 面积的标准
- GB/T 33806-2017 面阵荧光成像微阵列芯片扫描仪技术要求
国际标准化组织，关于荧光峰 面积的标准
- ISO 20289:2018 表面化学分析.水的全反射X射线荧光分析
- ISO 19950:2015 主要用于铝生产的氧化铝. α氧化铝含量的测定. 采用X射线衍射净峰面积的方法
- ISO 18337:2015 表面化学分析. 表面特征. 共焦荧光显微镜横向分辨率的测量
- ISO/CD 20351:2023 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷） 使用积分球测试白光发光二极管用陶瓷荧光粉光学性能的方法
- ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- ISO/TS 18507:2015 表面化学分析. 全反射X射线荧光光谱法在生物和环境分析中的使用
- ISO 20903:2006 表面化学分析.螺旋电子光谱法和X-射线光电光谱学.报告结果时测定峰强度的方法和必要信息的使用方法
- ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能普和X射线光电子光谱.通报结果所需峰值强度和信息的测定方法
- ISO 14706:2000 表面化学分析 用总反射X-射线荧光(TXRF)测定法测定硅晶片的表面基本的污染
- ISO 14706:2014 表面化学分析 用总反射X-射线荧光(TXRF)测定法测定硅晶片的表面基本的污染
- ISO 20903:2019 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- ISO 20351:2017 精细陶瓷（先进陶瓷 先进技术陶瓷） - 使用积分球对白色发光二极管的荧光体的内部量子效率的绝对测量
- ISO 17331:2004 表面化学分析.从硅片工作基准材料表面采集元素的化学方法及其全反射X射线荧光光谱法的测定
德国标准化学会，关于荧光峰 面积的标准
- DIN 19279:2018-01 表面的光催化活性 光催化活性表面上一氧化氮的光催化沉积速度的测定
- DIN 58747-1:2015 光学技术加工.超声波清洗机.第1部分:清洗槽的面积
- DIN 50990:2018-12 涂层厚度的测量 通过光谱测量方法测量金属层的面积相关质量
河北省标准，关于荧光峰 面积的标准
- DB13/T 5220-2020 合成材料跑道面层中铅、镉、铬、汞的测定 X射线荧光光谱法
PL-PKN，关于荧光峰 面积的标准
- PN C04613-1988 水和废水．通过四面汞化荧光法测定水中的尿酸
江苏省标准，关于荧光峰 面积的标准
- DB32/T 3422-2018 医疗机构物体表面洁净度ATP生物荧光检测规范
国家军用标准-国防科工委，关于荧光峰 面积的标准
- GJB 6224-2008 野外烟幕对可见光有效遮蔽面积试验方法
AENOR，关于荧光峰 面积的标准
- UNE 59050:2012 皮革 使用光电设备进行无应变表面积测量
KR-KS，关于荧光峰 面积的标准
- KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化学分析-全反射X射线荧光分析仪测定硅晶片表面元素杂质
湖北省地方标准，关于荧光峰 面积的标准
- DB42/T 1412-2018 医疗机构物体表面清洗效果现场快速检测-ATP生物荧光法
上海市标准，关于荧光峰 面积的标准
- DB31/T 1070-2017 医疗机构环境表面清洁度ATP生物荧光现场评价与检测方法
吉林省食品地方标准，关于荧光峰 面积的标准
- DBS22/ 010-2013 面制食品中十二烷基苯磺酸钠的测定高效液相色谱-荧光检测器法
