单晶畴

本专题涉及单晶畴的标准有500条。

国际标准分类中,单晶畴涉及到半导体材料、有色金属、工业炉、纸和纸板、绝缘流体、词汇、有色金属产品、钢铁产品、建筑物中的设施、金属材料试验、电信设备用部件和附件、频率控制和选择用压电器件与介质器件、光学和光学测量、电池和蓄电池、切削工具、电子显示器件、机床、半导体分立器件、职业安全、工业卫生、粉末冶金、光学设备、能源和热传导工程综合、太阳能工程、光纤通信、化工产品、空气质量、核能工程、集成电路、微电子学、综合、术语学、标准化、文献、电学、磁学、电和磁的测量、滤波器、整流器、转换器、稳压电源、复合增强材料、陶瓷、光电子学、激光设备、电灯及有关装置、阀门、术语学(原则和协调配合)、导体材料、珠宝、教育。

在中国标准分类中,单晶畴涉及到元素半导体材料、稀有分散金属及其合金、化合物半导体材料、工业电热设备、半金属、太阳能、半金属与半导体材料综合、、加工糖、稀有高熔点金属及其合金、稀有轻金属及其合金、金属物理性能试验方法、金属无损检验方法、电子技术专用材料、石英晶体、压电元件、技术管理、人工晶体、化学电源、磨料与磨具、半导体分立器件综合、卫生、安全、劳动保护、经济管理、稀有金属及其合金分析方法、电磁计量、物理电源、光通信设备、大气环境有毒害物质分析方法、半导体二极管、光电子器件综合、计算机综合、仪器、仪表用材料和元件、半导体发光器件、基础标准与通用方法、滤波器、延迟线、电力半导体器件、部件、光学计量、炼焦、烧结设备、半金属及半导体材料分析方法、特殊炭素材料、航空与航天用金属铸锻材料、金相检验方法、特种陶瓷、红外器件、电离辐射计量、金属化学性能试验方法、电子束管、其他、场效应器件、无线电计量、重金属及其合金、特种非金属矿、电子测量与仪器综合、工业防尘防毒技术、其他电真空器件、催化剂基础标准与通用方法、能源综合、阀门、波导同轴元件及附件、加工专用设备、工艺美术品、表面活性剂基础标准与通用方法、教学专用仪器。


国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于单晶畴的标准

国家质检总局,关于单晶畴的标准

行业标准-机械,关于单晶畴的标准

UNKNOWN,关于单晶畴的标准

河北省标准,关于单晶畴的标准

中国团体标准,关于单晶畴的标准

轻工业部,关于单晶畴的标准

行业标准-轻工,关于单晶畴的标准

行业标准-有色金属,关于单晶畴的标准

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于单晶畴的标准

行业标准-电子,关于单晶畴的标准

RU-GOST R,关于单晶畴的标准

ES-UNE,关于单晶畴的标准

国家军用标准-总装备部,关于单晶畴的标准

IN-BIS,关于单晶畴的标准

  • IS 9709-1980 合成石英单晶规范
  • IS 4570 Pt.11-1989 晶体单元支架规范 第11部分金属、焊接、双针晶体单元支架 DQ 型
  • IS 4570 Pt.8-1985 晶体单元支架规范 第8部分金属、焊接、三线晶体单元支架 DK 型
  • IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 晶体单元支架——规范 第13部分自动处理石英晶体单元支架概述 第5节:金属、密封、两针晶体单元支架类型 CU 05
  • IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 晶体单元支架——规范 第13部分自动处理石英晶体单元支架概述 第4节:金属、密封、两针晶体单元支架类型 CU 04
  • IS 4570 Pt.6-1984 晶体单元支架规范 第6部分金属、焊料密封、双针晶体单元支架 CX 型
  • IS 4570 Pt.13/Sec.3-1993 晶体单元支架——规范 第13部分自动处理的石英晶体单元支架概述 第3节:金属、密封、两针晶体单元支架类型 CU 03
  • IS 4570 Pt.13/Sec.2-1993 晶体单元支架——规范 第13部分自动处理的石英晶体单元支架概述 第2节:金属、密封、两针晶体单元支架类型 CU 02
  • IS 4570 Pt.13/Sec.1-1993 晶体单元支架——规范 第13部分自动处理的石英晶体单元支架概述 第1节:金属、密封、两针晶体单元支架类型 CU 01
  • IS 4570 Pt.7-1985 晶体单元支架规范 第7部分微型、金属、焊封、双线晶体单元支架类型 DJ
  • IS 4570 Pt.12-1989 晶体单元支架规范 第12部分微型、金属、冷焊、双线晶体单元支架类型 EB
  • IS 4570 Pt.3-1984 晶体单元支架规范 第3部分管型晶体单元支架(玻璃)类型 AP、AR、AS、AT 和 AU
  • IS 8271 Pt.2/Sec.3-1981 振荡器中使用的石英晶体单元规范第 II 系列 AA 第3节:石英晶体单元 AA-03 型
  • IS 8271 Pt.2/Sec.5-1981 振荡器中使用的石英晶体单元规范第 II 系列 AA 第5节:石英晶体单元 AA-05 型
  • IS 8271 Pt.2/Sec.2-1981 振荡器中使用的石英晶体单元规范第 Ⅱ 系列 AA 第2节:石英晶体单元 AA-02 型
  • IS 8271 Pt.2/Sec.1-1981 振荡器中使用的石英晶体单元规范第 Ⅱ 系列 AA 第1节:石英晶体单元 AA-01 型
  • IS 8271 Pt.2/Sec.4-1981 振荡器中使用的石英晶体单元规范第 Ⅱ 部分 AA 系列 第4节:石英晶体单元 AA-04 型
  • IS 8271 Pt.2/Sec.6-1981 振荡器中使用的石英晶体单元规范第 Ⅱ 部分系列 AA 第6节:石英晶体单元 AA-06 型
  • IS 4570 Pt.5-1984 晶体单元支架规范 第5部分 ftfiETAL、焊料密封、双线晶体单元支架类型 BF、EF/1 和 BG、BG 1
  • IS 8271 Pt.3/Sec.6-1982 振荡器中使用的石英晶体单元规范第 III 部分系列 BC 第6节:石英晶体单元类型 BC-06
  • IS 8271 Pt.3/Sec.7-1982 振荡器中使用的石英晶体单元规范第 III 部分系列 BC 第7节:石英晶体单元类型 BC-07
  • IS 4540-1968 单晶半导体整流器组件和设备规范
  • IS 3895-1966 单晶半导体整流器电池和堆的规范
  • IS 8271 Pt.6/Sec.4-1988 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第6部分 BF 系列振荡器 第4节:石英晶体单元类型 BF-04
  • IS 8271 Pt.2/Sec.22-1985 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第2部分 AA 系列振荡器 第22节:石英晶体单元 AA-22 型
  • IS 8271 Pt.2/Sec.8-1982 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第2部分 AA 系列振荡器 第8节:石英晶体单元 AA-08 型
  • IS 8271 Pt.2/Sec.10-1984 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第2部分 AA 系列振荡器 第10节:石英晶体单元 AA-10 型
  • IS 8271 Pt.4/Sec.1-1983 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第4部分 AB 系列振荡器 第1节:石英晶体单元类型 AB-01
  • IS 8271 Pt.2/Sec.18-1985 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第2部分 AA 系列振荡器 第18节:石英晶体单元 AA-18 型
  • IS 8271 Pt.4/Sec.2-1983 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第4部分 AB 系列振荡器 第2节:石英晶体单元类型 AB-02
  • IS 8271 Pt.5/Sec.6-1988 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第5部分 CX 系列振荡器 第6节:石英晶体单元类型 CX-06
  • IS 8271 Pt.2/Sec.21-1985 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第2部分 AA 系列振荡器 第21节:石英晶体单元 AA-21 型
  • IS 8271 Pt.5/Sec.9-1989 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第5部分 CX 系列振荡器 第9节:石英晶体单元类型 CX-09
  • IS 8271 Pt.2/Sec.9-1982 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范第 Ⅱ 部分 AA 系列振荡器 第9节:石英晶体单元 AA-09 型
  • IS 8271 Pt.4/Sec.4-1984 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第4部分 AB 系列振荡器 第4节:石英晶体单元类型 AB-04
  • IS 8271 Pt.6/Sec.3-1988 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第6部分 BF 系列振荡器 第3节:石英晶体单元类型 BF-03
  • IS 8271 Pt.5/Sec.7-1989 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第5部分 CX 系列振荡器 第7节:石英晶体单元类型 CX-07
  • IS 8271 Pt.2/Sec.7-1982 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范第 Ⅱ 部分 AA 系列振荡器 第7节:石英晶体单元 AA-07 型
  • IS 8271 Pt.4/Sec.3-1984 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第4部分振荡器的 SERFES AB 第3节:石英晶体单元类型 AB-03
  • IS 8271 Pt.3/Sec.4-1982 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范第 III 部分 BC 系列振荡器 第4节:石英晶体单元类型 BC-04
  • IS 8271 Pt.3/Sec.5-1982 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范第 III 部分 BC 系列振荡器 第5节:石英晶体单元类型 BC-05
  • IS 8271 Pt.5/Sec.17-1990 用于频率控制和选择的石英晶体单元——规范 第5部分 CX 系列振荡器 第17节:石英晶体单元类型 CX-17
  • IS 8271 Pt.5/Sec.10-1989 用于频率控制和选择的石英晶体单元——规范 第5部分 CX 系列振荡器 第10节:石英晶体单元类型 CX-10
  • IS 8271 Pt.5/Sec.13-1990 用于频率控制和选择的石英晶体单元——规范 第5部分 CX 系列振荡器 第13节:石英晶体单元类型 CX-13
  • IS 8271 Pt.3/Sec.3-1982 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范第 III 部分 BC 系列振荡器 第3节:石英晶体单元类型 BC-03
  • IS 8271 Pt.6/Sec.6-1991 用于频率控制和选择的石英晶体单元 规范 第6部分 BF 系列振荡器 第6节:石英晶体单元类型 BF-06
  • IS 8271 Pt.3/Sec.8-1982 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范第 III 部分 BC 系列振荡器 第8节:石英晶体单元类型 BC-08
  • IS 8271 Pt.2/Sec.13-1984 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第2部分 AA 系列振荡器 第13节:石英晶体单元 AA-13 型
  • IS 8271 Pt.3/Sec.1-1982 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范第 III 部分 BC 系列振荡器 第1节:石英晶体单元类型 BC-01
  • IS 8271 Pt.5/Sec.11-1990 用于频率控制和选择的石英晶体单元——规范 第5部分 CX 系列振荡器 第11节:石英晶体单元类型 CX-11
  • IS 8271 Pt.2/Sec.11-1984 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第2部分 AA 系列振荡器 第11节:石英晶体单元 AA-11 型
  • IS 8271 Pt.2/Sec.14-1984 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第2部分 AA 系列振荡器 第14节:石英晶体单元 AA-14 型
  • IS 8271 Pt.6/Sec.5-1991 用于频率控制和选择的石英晶体单元——规范 第6部分 BF 系列振荡器 第5节:石英晶体单元类型 BF-O5
  • IS 8271 Pt.2/Sec.19-1985 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第2部分 AA 系列振荡器 第19节:石英晶体单元 AA-19 型
  • IS 8271 Pt.5/Sec.16-1990 用于频率控制和选择的石英晶体单元——规范 第5部分 CX 系列振荡器 第16节:石英晶体单元类型 CX-16
  • IS 8271 Pt.2/Sec.15-1985 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第2部分 AA 系列振荡器 第15节:石英晶体单元 AA-15 型
  • IS 8271 Pt.2/Sec.20-1985 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第2部分 AA 系列振荡器 第20节:石英晶体单元 AA-20 型
  • IS 8271 Pt.2/Sec.17-1985 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第2部分 AA 系列振荡器 第17节:石英晶体单元 AA-17 型
  • IS 8271 Pt.5/Sec.15-1990 用于频率控制和选择的石英晶体单元——规范 第5部分 CX 系列振荡器 第15节:石英晶体单元类型 CX-15
  • IS 8271 Pt.5/Sec.12-1990 用于频率控制和选择的石英晶体单元——规范 第5部分 CX 系列振荡器 第12节:石英晶体单元类型 CX-12
  • IS 8271 Pt.2/Sec.12-1984 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第2部分 AA 系列振荡器 第12节:石英晶体单元 AA-12 型
  • IS 8271 Pt.5/Sec.14-1990 用于频率控制和选择的石英晶体单元——规范 第5部分 CX 系列振荡器 第14节:石英晶体单元类型 CX-14
  • IS 8271 Pt.3/Sec.9-1982 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范第 III 部分 BC 系列振荡器 第9节:石英晶体单元 BC-09 型
  • IS 8271 Pt.3/Sec.2-1982 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范第 III 部分 BC 系列振荡器 第2节:石英晶体单元类型 BC-02
  • IS 8271 Pt.2/Sec.16-1985 用于频率控制和选择的石英晶体单元规范 第2部分 AA 系列振荡器 第16节:石英晶体单元 AA-16 型

(美国)军事条例和规范,关于单晶畴的标准

美国国防后勤局,关于单晶畴的标准

工业和信息化部,关于单晶畴的标准

IEC - International Electrotechnical Commission,关于单晶畴的标准

  • IEC 61747-20-1:2015 液晶显示装置 第 20-1 部分:外观检查 单色液晶显示单元(不包括所有有源矩阵液晶显示单元)(1.0 版)
  • PAS 62276-2001 用于表面声波器件的单晶晶片-规范和测量方法(1.0版)
  • PAS 62277-2001 表面安装石英晶体单元的测试夹具(1.0 版;)

韩国科技标准局,关于单晶畴的标准

CEN - European Committee for Standardization,关于单晶畴的标准

  • EN IEC 60122-4:2019 质量评估的石英晶体单元 第4部分:带热敏电阻的晶体单元

KR-KS,关于单晶畴的标准

  • KS C IEC 60122-4-2022 质量评定的石英晶体单元.第4部分:带热敏电阻的晶体单元
  • KS C IEC 60444-9-2016 的石英晶体元件参数的测量 - 第9部分:压电晶体单元的寄生共振的测定

德国标准化学会,关于单晶畴的标准

  • DIN EN IEC 60122-4:2019-10 质量评估的石英晶体单元 第4部分:带热敏电阻的晶体单元
  • DIN EN 60444-9:2007-12 石英晶体单元参数的测量 第9部分:压电晶体单元寄生谐振的测量
  • DIN EN 60444-8:2017-11 石英晶体单元参数的测量第8部分:表面贴装石英晶体单元的测试夹具
  • DIN EN 60444-7:2004-11 石英晶体单元参数的测量-第7部分:石英晶体单元的活性和频率骤降的测量
  • DIN EN 62276:2017-08 用于表面声波(SAW)器件应用的单晶晶片 规格和测量方法
  • DIN EN IEC 62276:2023-05 用于表面声波(SAW)器件应用的单晶晶片 规格和测量方法
  • DIN EN 120007:1993 空白详细规范.液晶显示器.无电子电路的单色液晶显示器
  • DIN 50431:1988 半导体材料的试验.用探针直线排列的四探针/直流法测量单晶硅或锗单晶体的电阻率
  • DIN EN 61747-4:2013-07 液晶显示装置 第4部分:液晶显示模块和单元 基本额定值和特性
  • DIN V VDE V 0126-18-3:2007 太阳能硅片.第3部分:结晶硅片的碱性腐蚀损坏.单晶硅片和多晶硅片腐蚀速度的测定方法

英国标准学会,关于单晶畴的标准

  • 13/30276532 DC BS EN 61747-20-1 液晶显示装置 第20-1部分 视力检查 单色液晶显示单元(不包括所有有源矩阵液晶显示单元)
  • BS EN 61747-2-1:2013 液晶显示设备. 无源矩阵单色液晶显示模块. 空白详细规范
  • BS EN 61747-2-1:1998 液晶显示设备 无源矩阵单色液晶显示模块 空白详细规范
  • 14/30277702 DC BS EN 61747-3 液晶显示装置 第3部分:液晶显示(LCD)单元 截面规格
  • BS EN 61747-2-1:2001 液晶和固体显示器.无源矩阵单色液晶显示模件.空白详细规范
  • 23/30468947 DC BS EN 62276 用于表面声波 (SAW) 器件应用的单晶晶片 规格及测量方法
  • BS EN 60444-2:1997 石英晶体单元参数的测量 相位偏移法测量石英晶体元件的动电容
  • 14/30300376 DC BS EN 61747-3-1 液晶显示装置 第3-1部分 液晶显示(LCD)单元 空白详细规范

国际电工委员会,关于单晶畴的标准

  • IEC 60122-4:2019 经质量评定的石英晶体单元第4部分:带热敏电阻的晶体单元
  • IEC 61747-3:2015 液晶显示器件 - 第3部分:液晶显示器(LCD)单元 - 分段规格
  • IEC 61747-2-1:2013 液晶显示器.第2-1部分:无源矩阵单色液晶(LCD)模块.空白详细规范
  • IEC 61747-20-2:2015 液晶显示器件第 20-2 部分:外观检查单色矩阵液晶显示模块(不包括所有有源矩阵液晶显示模块)

江西省标准,关于单晶畴的标准

内蒙古自治区标准,关于单晶畴的标准

SE-SIS,关于单晶畴的标准

国家计量检定规程,关于单晶畴的标准

行业标准-建材,关于单晶畴的标准

机械电子工业部,关于单晶畴的标准

行业标准-黑色冶金,关于单晶畴的标准

美国国家标准学会,关于单晶畴的标准

法国标准化协会,关于单晶畴的标准

日本工业标准调查会,关于单晶畴的标准

丹麦标准化协会,关于单晶畴的标准

  • DS/EN 60444-9:2007 石英晶体单元参数的测量 第9部分:压电晶体单元杂散谐振的测量
  • DS/EN 61747-3:2007 液晶显示装置 第3部分:液晶显示(LCD)单元 分规范
  • DS/EN 62276:2013 用于表面声波(SAW)器件应用的单晶晶片 规格和测量方法
  • DS/EN 61747-3-1:2007 液晶显示装置 第 3-1 部分:液晶显示(LCD)单元 空白详细规范
  • DS/EN 61747-4:2013 液晶显示设备 第4部分:液晶显示模块和单元 基本额定值和特性

德国机械工程师协会,关于单晶畴的标准

上海市标准,关于单晶畴的标准

行业标准-航空,关于单晶畴的标准

  • HB 6742-1993 单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法
  • HB 7762-2005 航空发动机用定向凝固柱晶和单晶高温合金锭规范

立陶宛标准局,关于单晶畴的标准

  • LST EN 60444-9-2007 石英晶体单元参数的测量 第9部分:压电晶体单元寄生谐振的测量(IEC 60444-9:2007)
  • LST EN 61747-3-2007 液晶显示设备 第3部分:液晶显示(LCD)单元 分规范(IEC 61747-3:2006)
  • LST EN 60444-8-2004 石英晶体单元参数的测量 第8部分:表面安装石英晶体单元的测试夹具(IEC 60444-8:2003)
  • LST EN 60444-7-2004 石英晶体单元参数的测量 第7部分:石英晶体单元活动和频率骤降的测量(IEC 60444-7:2004)
  • LST EN 120007-2001 空白详细规范 液晶显示器 没有电子电路的单色液晶显示器
  • LST EN 62276-2006 用于表面声波(SAW)器件应用的单晶晶片 规格和测量方法(IEC 62276:2005)
  • LST EN 62276-2013 用于表面声波(SAW)器件应用的单晶晶片 规格和测量方法(IEC 62276:2012)
  • LST EN 61747-3-1-2007 液晶显示设备 第 3-1 部分:液晶显示(LCD)单元 空白详细规范(IEC 61747-3-1:2006)

国家计量技术规范,关于单晶畴的标准

陕西省标准,关于单晶畴的标准

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization,关于单晶畴的标准

  • EN 62276:2013 用于表面声波(SAW)器件应用的单晶晶片 规格和测量方法
  • EN 61747-4:1998 液晶和固态显示设备第4部分:液晶显示模块和单元基本额定值和特性

欧洲电工标准化委员会,关于单晶畴的标准

  • EN 62276:2016 用于表面声波(SAW)器件应用的单晶晶片 规格和测量方法
  • EN 61747-4:2012 液晶显示设备 第4部分:液晶显示模块和单元 基本额定值和特性

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components,关于单晶畴的标准

  • QC 720200-1998 液晶和固态显示设备 第3部分:液晶显示(LCD)单元的分规范

美国材料与试验协会,关于单晶畴的标准

CZ-CSN,关于单晶畴的标准

欧洲电工电子元器件标准,关于单晶畴的标准

台湾地方标准,关于单晶畴的标准

国家军用标准-国防科工委,关于单晶畴的标准

  • GJB 5971-2007 10MHz~100MHz带通单片石英晶体滤波器规范

北京市地方标准,关于单晶畴的标准

四川省标准,关于单晶畴的标准

福建省地方标准,关于单晶畴的标准

行业标准-教育,关于单晶畴的标准

  • JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则




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