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x光电子谱
本专题涉及x光电子谱的标准有74条。
国际标准分类中，x光电子谱涉及到分析化学、光学和光学测量、无损检测、电学、磁学、电和磁的测量、电子元器件综合。
在中国标准分类中，x光电子谱涉及到基础标准与通用方法、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、光学测试仪器、化学、综合测试系统、标准化、质量管理、电子光学与其他物理光学仪器、物理学与力学、电子测量与仪器综合、光学计量仪器。
德国标准化学会，关于x光电子谱的标准
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- DIN ISO 16129:2020 表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
英国标准学会，关于x光电子谱的标准
- BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- BS ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- BS ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- BS ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- BS ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
- BS ISO 18118:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南
- BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- BS ISO 20903:2019 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- BS ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析指南
- BS ISO 18118:2015 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- 23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
国际标准化组织，关于x光电子谱的标准
- ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
- ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- ISO 20903:2019 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
- ISO 18118:2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- ISO 18118:2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- ISO 10810:2019 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南
- ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱学.分析导则
- ISO/TR 19319:2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- ISO/TR 18392:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序
- ISO/DIS 18118:2023 表面化学分析 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- ISO/FDIS 18118:2023 表面化学分析 - 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 - 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 射线光电子能谱 确定背景的程序
- ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能普和X射线光电子光谱.通报结果所需峰值强度和信息的测定方法
- ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
美国材料与试验协会，关于x光电子谱的标准
- ASTM E995-16 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南
- ASTM E996-04 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
- ASTM E996-10 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
- ASTM E996-10(2018) 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
- ASTM E996-19 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
- ASTM E995-11 在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中应用背景消除技术的标准指南
- ASTM E996-94(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
- ASTM E1523-03 X射线光电子谱测定中电荷控制和电荷参照技术标准指南
- ASTM E1523-09 X射线光电子谱测定中电荷控制和电荷参照技术的标准指南
- ASTM E2108-16 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
- ASTM E2735-14(2020) 用于选择X射线光电子能谱所需校准的标准指南
- ASTM E902-05 检查X射线光电子光谱仪的操作特性的标准实施规程
- ASTM E2735-14 选择X射线光电子光谱40;XPS41试验所需校准的标准指南
- ASTM E2735-13 X射线光电子光谱法 (XPS) 试验所需校准选择的标准指南
- ASTM E902-94(1999) 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准实施规程
法国标准化协会，关于x光电子谱的标准
- NF X21-061:2008 表面化学分析.螺旋电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- NF X21-058:2006 表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息
- NF X21-071:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析用导则
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于x光电子谱的标准
- GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
国家质检总局，关于x光电子谱的标准
- GB/T 31472-2015 X光电子能谱中荷电控制和荷电基准技术标准指南
- GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
- GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪鉴定方法
- GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
- GB/T 19500-2004 X射线光电子能谱分析方法通则
- GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
- GB/T 30702-2014 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
- GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
- GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
行业标准-电子，关于x光电子谱的标准
- SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则
- SJ/T 10714-1996 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准方法
未注明发布机构，关于x光电子谱的标准
- BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率的测定
日本工业标准调查会，关于x光电子谱的标准
- JIS K 0167:2011 表面化学分析.俄歇电子光谱和X射线光电子能谱学.匀质材料定量分析用实验室测定相对敏感因子的使用指南
韩国科技标准局，关于x光电子谱的标准
- KS D ISO 18118:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
- KS D ISO 19319:2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验测定的相对灵敏度因子的使用指南
澳大利亚标准协会，关于x光电子谱的标准
- AS ISO 19319:2006 表面化学分析．Augur电子能谱法和X射线光电子光谱法．分析员对横向分辨率；分析区域和样品区域的目视检测
- AS ISO 18118:2006 表面化学分析．俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法．均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南
- AS ISO 15472:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．能量标度的校准
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于x光电子谱的标准
- GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
KR-KS，关于x光电子谱的标准
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准
