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金 低介电损耗

本专题涉及金 低介电损耗的标准有229条。

国际标准分类中，金 低介电损耗涉及到电信设备用部件和附件、频率控制和选择用压电器件与介质器件、电学、磁学、电和磁的测量、印制电路和印制电路板、电容器、非金属矿、电子电信设备用机电元件、电线和电缆、建筑材料、绝缘材料、纸和纸板、橡胶、绝缘流体、电子元器件综合、绝缘、集成电路、微电子学、音频、视频和视听工程、变压器、电抗器、电感器、旋转电机、电气工程综合、输电网和配电网、水果、蔬菜及其制品、焊接、钎焊和低温焊、电站综合。

在中国标准分类中，金 低介电损耗涉及到电磁计量、基础标准和通用方法、电能测量和负荷控制系统、、连接器、造纸综合、电子技术专用材料、电工材料和通用零件综合、电工绝缘材料及其制品、纸、合成橡胶基础标准与通用方法、橡胶制品综合、电容器、电缆及其附件、微电路综合、录制设备、印制电路、绝缘油、旋转电机综合、输变电设备综合、电气设备安装工程、基础标准与通用方法、电气系统与设备、焊接与切割、其他。

GSO，关于金 低介电损耗的标准

• GSO IEC 62810:2017 圆柱腔法测量低损耗介质棒复介电常数
• OS GSO IEC 62810:2017 圆柱腔法测量低损耗介质棒复介电常数
• OS GSO IEC 62562:2013 空腔谐振器法测量低损耗介质板的复介电常数
• GSO IEC 60247:2015 介电流体 测量相对介电常数、电绝缘损耗因数 (tan d) 和直流电阻
• OS GSO IEC 60247:2015 绝缘液体 相对介电常数、介电损耗因数 (tan d) 和直流电阻率的测量
• GSO IEC 60250:2015 确定介电材料在电气、音频和射频（包括公制波长）下的介电常数和介电损耗因数的推荐方法
• GSO IEC 61620:2015 绝缘液体 通过测量电导和电容测定介电损耗因数 测试方法
• OS GSO IEC 61620:2015 绝缘液体 通过测量电导和电容测定介电损耗因数 测试方法
• BH GSO IEC 61620:2016 绝缘液体 通过测量电导和电容测定介电损耗因数 测试方法
• OS GSO IEC 60250:2015 在功率、音频和射频（包括米波长）下测定电绝缘材料的介电常数和介电损耗因数的推荐方法
• BH GSO IEC 60250:2016 在功率、音频和射频（包括米波长）下测定电绝缘材料的介电常数和介电损耗因数的推荐方法

法国标准化协会，关于金 低介电损耗的标准

• NF EN 62562:2011 谐振腔法测量低损耗介质板复介电常数
• NF C26-232*NF EN 62810:2018 圆柱腔法测量低损耗介质棒的复介电常数
• NF EN 62810:2018 圆柱腔法测量低损耗介质棒的复介电常数
• NF C26-296*NF EN 62562:2011 空腔谐振器法测量低损耗介电设备的复合介电常数.
• NF EN IEC 63185:2021 测量低损耗介质基片复介电常数的对称型圆盘谐振器法
• NF EN 60247:2004 绝缘液体 - 相对介电常数、介电损耗因数 (tan δ) 和直流电阻率的测量
• NF C27-210:1979 相对电容率电介质损耗和绝缘流体直流电阻率的测量
• NF C27-210*NF EN 60247:2004 绝缘液体 相对电容率、电介质损耗因数（tanδ）和直流电阻率的测量
• NF EN 61620:1999 液体绝缘体 通过测量电导和电容来确定介电损耗因数 测试方法
• NF C51-127-3*NF EN 60034-27-3:2016 旋转电机 第 27-3 部分：旋转电机定子绕组绝缘的介质损耗因数测量
• NF EN IEC 62631-2-2:2022 固体绝缘材料的介电和电阻特性 第2-2部分：相对介电常数和损耗因数 高频（1 MHz 至 300 MHz） 交流电方法
• NF L54-002-222*NF EN 2591-222:2008 航空航天系列 电气和光学连接元件 试验方法 第222部分：介入损耗（I L ）

欧洲电工标准化委员会，关于金 低介电损耗的标准

• EN 62810:2015 圆柱腔法测量低损耗介质棒的复介电常数
• EN 62562:2011 空腔谐振器法测量低损耗介质板的复合介电常数
• EN IEC 63185:2021 低损耗介质基片平衡型圆盘谐振器复介电常数测量方法
• EN 61620:1999 绝缘液体 通过测量电导和电容来确定介电损耗因数 试验方法
• EN 60034-27-3:2016 旋转电机 第 27-3 部分：旋转电机定子绕组绝缘的介电损耗因数测量
• EN 60247:2004 绝缘液体.相对电容率,电介质损耗因数(tan $)和直流电阻率的测量 IEC 60247-2004
• EN 60512-25-2:2002 电子设备用连接器.试验和测量.第25-2部分:试验25b:衰减(介入损耗)IEC 60512-25-2-2002

ES-UNE，关于金 低介电损耗的标准

• UNE-EN 62810:2015 圆柱腔法测量低损耗介质棒的复介电常数
• UNE-EN 62562:2011 空腔谐振器法测量低损耗介电板的复介电常数
• UNE-EN IEC 63185:2021 低损耗介质基片的复介电常数测量平衡型圆盘谐振器法
• UNE-EN 60247:2004 ERRATUM:2005 绝缘液体 相对介电常数、介电损耗因数(tan d)和直流电阻率的测量
• UNE-EN 60034-27-3:2016 旋转电机 第27-3部分：旋转电机定子绕组绝缘的介电损耗因数测量

德国标准化学会，关于金 低介电损耗的标准

• DIN EN 62810:2015-12 圆柱腔法测量低损耗介质棒的复介电常数
• DIN EN 62562:2011-10 空腔谐振器法测量低损耗介质板的复介电常数
• DIN EN IEC 63185:2022-10 低损耗介质基片复介电常数的测量平衡型圆盘谐振器法（IEC 63185:2020）
• DIN EN 63185:2018 平衡型圆盘谐振器法测量低损耗介质基板的复介电常数（IEC 46F/415/CD:2018）
• DIN 57472-505:1983 电缆、导线和软线的试验.损耗因数、介质损耗系数和漏电率.(VDE规范)
• DIN EN 62562:2011 用空腔共振器法测量低损耗介质板复介电常数(IEC 62562-2010);德文版本EN 62562-2011
• DIN EN 62810:2015 用圆柱形谐振腔法测量低损耗介质棒材的复介电常数(IEC 62810-2015);德文版本EN 62810-2015
• DIN EN 60247:2005 绝缘液体.相对电容率、电介质损耗因数(tanδ)和直流电阻率的测量
• DIN EN 61620:1999 绝缘液体.通过测量电导率和电容量来测定介电损耗因数.试验方法
• DIN 51111:2024-02 车辆电驱动器中新鲜油和用过的油的电特性 比电导率、相对介电常数和介电损耗因数的测量
• DIN IEC/TS 60034-27-3:2012 旋转电机. 第27-3部分:旋转电机的定子绕组绝缘的介电损耗因子测量 (IEC 2/1651/CD-2011)

丹麦标准化协会，关于金 低介电损耗的标准

• DS/EN 62562:2011 腔谐振器法测量低损耗介质板的复介电常数
• DS/EN IEC 63185:2021 低损耗介质基片平衡型圆盘谐振器复介电常数测量方法
• DS/EN 60247:2004 绝缘液体 相对介电常数、介电损耗因数（tan phi）和直流电阻率的测量
• DS/EN 61620:1999 绝缘液体 通过测量电导和电容来确定介电损耗因数 试验方法

英国标准学会，关于金 低介电损耗的标准

• BS EN 62562:2011 空腔谐振器法测量低损耗介质板的复介电常数
• BS EN 62810:2015 用圆柱形谐振腔法测量低损耗介质棒材的复介电常数
• BS EN IEC 63185:2021 低损耗介质衬底复介电常数的测量平衡型圆盘谐振器法
• 18/30373795 DC BS EN 63185. 平衡型圆盘谐振器方法测量低损耗介电基板的复介电常数
• 23/30461071 DC BS EN IEC 63185 低损耗介电基板的复介电常数测量平衡型圆盘谐振器方法
• BS EN 60512-25-2:2002 电子设备连接器.试验和测量.试验25b.衰减(介入损耗).第2节:衰减(介入损耗)
• 21/30435996 DC BS IEC 61196-1-125 同轴通讯电缆 第1-125部分 电气测试方法 电介质的等效介电常数和等效耗散损耗测试
• BS IEC 61196-1-125:2022 同轴通信电缆 电气测试方法 电介质的等效介电常数和等效损耗因数测试
• BS EN 60034-27-3:2016 旋转电机. 旋转电机的定子绕组绝缘的介电损耗因子测量
• BS EN 61620:1999 绝缘液体 通过测量电导和电容来确定介电损耗因数 测试方法
• BS EN IEC 62631-2-2:2022 固体绝缘材料的介电和电阻特性 相对介电常数和损耗因数 高频（1MHz 至 300MHz）交流方式
• BS EN 60247:2004 绝缘液体.相对电容率、电介质损耗因数(tan<δ>)和直流电阻率的测量
• BS 7663:1993(2000) 片状或管状电绝缘材料介电常数和损耗因数测定的试验方法
• 20/30425177 DC BS IEC 62631-2-2 固体绝缘材料的介电和电阻特性 第2-2部分 相对介电常数和介电损耗因数 高频（1 MHz 至 300 MHz） 交流方法

国际电工委员会，关于金 低介电损耗的标准

• IEC PAS 62562:2008 空腔谐振器法测量低损耗介电设备的复合介电常数
• IEC 62810:2015 用圆柱形谐振腔法测量低损耗介质棒材的复介电常数
• IEC 63185:2020 低损耗介质基片平衡型圆盘谐振器复介电常数测量方法
• IEC 61620:1998 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数 试验方法
• IEC 60247:1978 绝缘液体的相对电容率、电介质损耗因数和直流电阻率的测量
• IEC 60034-27-3:2015 旋转电机 - 第27-3部分:旋转电机定子绕组绝缘介质损耗因子测量
• IEC 60247:2004 液体绝缘材料.相对电容率、电介质损耗因数(tan<δ>)和直流电阻率的测量
• IEC 62631-2-2:2022 固体绝缘材料的介电和电阻特性.第2-2部分:相对介电常数和损耗因数.高频（1MHz至300MHz）.交流法
• IEC 62562:2010 低损耗绝缘板的复电容率的测量用空腔谐振器方法
• IEC 60512-25-2:2002 电子设备连接器.试验和测量.第25-2部分:试验25b.衰减(介入损耗)
• IEC 60996:1989 可用于电容器的介质损耗角正切δ测量的核校准确度的方法
• IEC 62631-2-3:2024 固体绝缘材料的介电和电阻特性 第2-3部分：相对介电常数和损耗因数 绝缘薄膜的接触电极法 交流法
• IEC 60250:1969 测定电气绝缘材料在工频、音频、射频(包括米波长)下电容率和电介质损耗因数的推荐方法

IEC - International Electrotechnical Commission，关于金 低介电损耗的标准

• PAS 62562-2008 腔谐振器法测量低损耗介质板的复介电常数（1.0版）

立陶宛标准局，关于金 低介电损耗的标准

• LST EN 62562-2011 腔谐振器法测量低损耗介质板的复介电常数（IEC 62562:2010）
• LST EN IEC 63185:2021 低损耗电介质基板平衡型圆盘谐振器复介电常数的测量方法（IEC 63185:2020）
• LST EN 60247-2004 绝缘液体 测量相对介电常数、介电损耗因数（tan ）和直流电阻率（IEC 60247:2004）
• LST EN 61620-2001 绝缘液体 通过测量电导和电容来确定介电损耗因数 测试方法（IEC 61620:1998）

中国团体标准，关于金 低介电损耗的标准

• T/CSTM 00985-2023 低损耗介质板的复介电常数测试 分离式圆柱谐振腔法
• T/ZZB 2383-2021 低损耗稳相射频同轴电缆
• T/CSTM 00990-2023 毫米波频段介电常数和介质损耗角正切测试方法 准光腔法
• T/CSEE 0032-2017 电容型设备相对介质损耗因数及电容量比值带电测试方法
• T/CSTM 00988-2023 射频电路用低损耗陶瓷基板材料试验方法

未注明发布机构，关于金 低介电损耗的标准

• DIN EN IEC 63185:2022 使用对称圆盘谐振器法测量低损耗介电基板的复介电常数
• DIN EN 62810 E:2013-08 用圆柱形谐振腔法测量低损耗介质棒材的复介电常数（草案）
• ASTM RR-D27-1015 2003 D0924-电绝缘液体的损耗因数（或功率因数）和相对介电常数（介电常数）的测试方法

SCC，关于金 低介电损耗的标准

• DANSK DS/EN IEC 63185:2021 低损耗介质基片的复介电常数测量平衡型圆盘谐振器法
• DIN EN IEC 62631-2-2 E:2021 文件草案 固体绝缘材料的介电和电阻特性 第2-2部分：相对介电常数和介电损耗因数 高频（1 MHz 至 300 MHz） 交流方法 (IEC 112/515/CD:2020) 文本为德语和英语

PL-PKN，关于金 低介电损耗的标准

• PN-EN IEC 63185-2021-08 E 低损耗电介质基板平衡型圆盘谐振器复介电常数的测量方法（IEC 63185:2020）
• PN E04403-1986 固体电绝缘材料．介电常数和介质损耗因数的测量
• PN E04410-22-1986 电绝缘清漆．测试方法．损耗因子和介电常数测定

IPC - Association Connecting Electronics Industries，关于金 低介电损耗的标准

• IPC TM-650 2.5.5.3C-1987 材料的介电常数（介电常数）和损耗正切（耗散因数）（双流体池法）
• IPC TM-650 2.5.5.5C-1998 X 波段介电常数和损耗角正切（介电常数和耗散因数）的带状线测试
• IPC TM-650 2.5.5.5B-1995 X 波段介电常数和损耗角正切（介电常数和耗散因数）的带状线测试
• IPC TM-650 2.5.5.1B-1986 绝缘材料在 1 MHz 时的介电常数（介电常数）和损耗角正切（耗散因数）（接触电极系统）

韩国科技标准局，关于金 低介电损耗的标准

• KS C 2150-2008(2018) 高频（500mhz∼10ghz）介质薄膜介电常数和介电损耗的测量方法
• KS C 2150-2008 在高频带(500MHz〜10GHz)的介电常数和介电损耗测量的介电薄膜的方法
• KS C 2150-2023 高频范围（500 MHz∼10 GHz）介电薄膜介电常数和介电损耗的测量方法
• KS C 2135-1996(2021) 固体电绝缘的交流损耗特性和介电常数（介电常数）的试验方法
• KS C 2135-2021 固体电绝缘体交流损耗特性和介电常数（介电常数）的测试方法
• KS C 2135-1996(2016) 固体电绝缘的交流损耗特性和介电常数的试验方法
• KS C IEC 60034-27-3:2019 旋转电机 - 第27-3部分:旋转电机定子绕组绝缘介质损耗因子测量
• KS C IEC 60250-2020 在功率、音频和射频（包括米波长）下测定电绝缘材料的介电常数和介电损耗因数的推荐方法
• KS C IEC 62631-2-1:2020 固体绝缘材料的介电和电阻特性第2-1部分:相对介电常数和损耗因数技术频率（0.1hz～10mhz）交流法
• KS C IEC 60512-25-2:2004 电子设备连接器.试验和测量.第25-2部分:试验25b.衰减(介入损耗)
• KS C IEC 60512-25-2:2014 电子设备连接器 试验和测量 第25-2部分：试验25b 衰减（介入损耗）
• KS C 2134-1996(2016) 平行于层压薄板和板材料的损耗因子和介电常数的试验方法
• KS C IEC 60250:2003 电气绝缘材料在工频、音频和射频(包括米波长)下介电常数和介质损耗因数的推荐测定方法
• KS C 2134-2021 平行于层压片材和板材的叠层的损耗因数和介电常数的测试方法
• KS C 2134-1996(2021) 层压薄板和平板材料的损耗因子和与层压平行的介电常数的试验方法
• KS C IEC 60250-2003(2018) 确定电绝缘材料在包括仪表波长的电源 音频和无线电频率下的介电损耗因子的推荐方法

RO-ASRO，关于金 低介电损耗的标准

• STAS 2740-1969 电绝缘材料．介电常数以及介电耗损切角的测定
• STAS 6799-1981 绝缘矿物质油．电容率和介电损耗角正切测定
• STAS 12969-1991 固体电绝缘材料在70度热力学温度下介电常数和损耗角正切的测定方法

国家质检总局，关于金 低介电损耗的标准

• GB/T 14217-1993 电容器纸介损耗因数(tanδ)测定法
• GB/T 3334-1999 电缆纸介质损耗角正切(tgδ)试验方法(电桥法)
• GB/T 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
• GB/T 11297.9-2015 热释电材料介质损耗角正切tanδ的测试方法
• GB/T 3048.11-2007 电线电缆电性能试验方法.第11部分:介质损耗角正切试验
• GB/T 21216-2007 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法
• GB/T 5654-2007 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量
• GB/T 43801-2024 微波频段覆铜箔层压板相对介电常数和损耗正切值测试方法 分离介质谐振器法
• GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法

美国材料与试验协会，关于金 低介电损耗的标准

• ASTM D1082-17 云母介电损耗因数和介电常数（介电常数）的标准试验方法
• ASTM D2149-13 固体陶瓷电介质的介电常数（介电常数）和损耗因数的标准试验方法
• ASTM D1082-17(2024) 云母的损耗因数和介电常数（介电常数）的标准试验方法
• ASTM D150-18 固体电绝缘材料交流损耗特性和介电常数（介电常数）的标准试验方法
• ASTM D150-87 固体电绝缘材料的交流损耗特性和介电常数（介电常数）的标准试验方法
• ASTM D150-98(2004) 固体电绝缘材料(恒定电介质)的交流损耗特性和介电常数的标准试验方法
• ASTM D150-98 固体电绝缘材料(恒定电介质)的交流损耗特性和介电常数的标准试验方法
• ASTM D3380-14 高分子基微波电路基材的相对介电率 (介电常数) 和电损耗因数的标准试验方法
• ASTM D2149-97(2004) 频率为10MHz温度至500℃的固体陶瓷电介质电容率(介电常数)及损耗因数的测试方法
• ASTM D2149-97 频率为10MHz温度至500℃的固体陶瓷电介质电容率(介电常数)及损耗因数的测试方法
• ASTM D3380-22 聚合物基微波电路基板的相对介电常数（介电常数）和损耗因数的标准试验方法
• ASTM D2149-13(2021) 频率为10MHz和温度为500°C的固体电介质的介电常数和损耗因数的标准试验方法
• ASTM D3380-90(1995)e1 基于聚合物的微波电路基板的相对介电常数（介电常数）和损耗因子的标准测试方法
• ASTM D150-11 固体电绝缘材料的交流损耗特性和电容率(介电常数)的标准试验方法
• ASTM D924-99e1 电绝缘液体的损耗因数(或功率因数)和电容率(介电常数)的标准测试方法
• ASTM D924-99e2 电绝缘液体的损耗因数(或功率因数)和电容率(介电常数)的标准测试方法
• ASTM D924-08 电绝缘液体的损耗因数(或功率因数)和电容率(介电常数)的标准试验方法
• ASTM D924-15 电绝缘液体的损耗因数 (或功率因数) 和电容率 (介电常数) 的标准试验方法
• ASTM D1673-94(2004) 电绝缘用膨胀多孔聚合物的相对介电常数和损耗因数的标准试验方法
• ASTM D1673-94(1998) 电绝缘用膨胀多孔聚合物的相对介电常数和损耗因数的标准试验方法
• ASTM D924-04 电绝缘液体的损耗因数(或功率因数)和相对电容率(介电常数)的标准试验方法
• ASTM D924-03 电绝缘液体的损耗因数(或功率因数)和相对电容率(介电常数)的标准试验方法
• ASTM D924-03a 电绝缘液体的损耗因数(或功率因数)和相对电容率(介电常数)的标准试验方法
• ASTM D669-92(1997) 平行于层压薄板和板材层压的损耗因子和介电常数的标准试验方法
• ASTM D3380-10 基于聚合物的高频电路基质的相对电容率(介电常数)和损耗因子的标准试验方法

行业标准-电子，关于金 低介电损耗的标准

• SJ/T 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法
• SJ/T 1147-1993 电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法
• SJ/Z 9181-1995 录像机用低损耗铝电解电容器认定规范
• SJ 20512-1995 微波大损耗固体材料复介电常数和复磁导率测试方法

国家计量技术规范，关于金 低介电损耗的标准

• JJF 1095-2002 电容器介质损耗测量仪校准规范
• JJF 1618-2017 绝缘油介质损耗因数及体积电阻率测试仪校准规范

日本工业标准调查会，关于金 低介电损耗的标准

• JIS C 2138:2007 电绝缘材料.相对介电常数和介电损耗因子的测定方法

RU-GOST R，关于金 低介电损耗的标准

• GOST 22372-1977 介电材料.在100Hz～5MHz频段内介电常数和介电损耗角正切值测量方法
• GOST 26127-1984 电绝缘纸.频率50Hz时介电损耗正切角测定法
• GOST R IEC 62562-2012 确保测量一致性的国家系统. 用空腔谐振器法测量低损耗介质板的复介电常数
• GOST 8.358-1979 0.2-1GHz频段内相对介电常数和介电损耗正切角之测量方法
• GOST R IEC 61620-2013 绝缘液体. 通过测量电导和电容测定介质损耗因数
• GOST R IEC 60247-2013 绝缘液体. 相对电容率, 介质损耗因数(tan d)和直流电阻率的测量
• GOST R 8.623-2015 确保测量一致性的国家系统. 固体电介质的相对介电常数和损耗因数. 微波频率的测量程序
• GOST 8.544-1986 确保测量一致性的状态系统 相对介电常数固体电介质的损耗角正切 从 9 度 10 到 10 度 Hz 10 的测量程序

CZ-CSN，关于金 低介电损耗的标准

• CSN 72 5041-1973 烧陶瓷材料的测试．介电常数和介电损耗因子的测定
• CSN 34 6466-1983 电绝缘材料的电容率和介电损耗因数的测定方法
• CSN 34 6317-1984 电工材料陶瓷测试．电容率和介电损耗因数的测定方法

KR-KS，关于金 低介电损耗的标准

• KS C 2150-2008(2023) 介电薄膜在高频范围（500 MHz～10 GHz）下的介电常数和介电损耗的测量方法
• KS C IEC 60034-27-3-2019 旋转电机 - 第27-3部分:旋转电机定子绕组绝缘介质损耗因子测量
• KS C IEC 62631-2-1-2020 固体绝缘材料的介电和电阻特性第2-1部分:相对介电常数和损耗因数技术频率（0.1hz～10mhz）交流法

HU-MSZT，关于金 低介电损耗的标准

• MSZ 4803/36.lap-1969 测试绝缘清漆．测定介电常数和损耗因子
• MSZ 15747/9-1982 陶瓷电力切割设备检测的定义 相对介电常数和损耗因子

AENOR，关于金 低介电损耗的标准

• UNE-EN 60247:2004 绝缘液体 相对介电常数、介电损耗因数（tan d）和直流电阻率的测量

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于金 低介电损耗的标准

• GB/T 34665-2017 电机线圈/绕组绝缘介质损耗因数测量方法

美国国防后勤局，关于金 低介电损耗的标准

• DLA DSCC-DWG-07021-2007 50欧姆,通称直径为1.625英寸低介电损耗的,半刚性波纹外导体同轴射频电缆
• DLA SMD-5962-93265 REV D-2002 硅单片,低损耗控制器,线性微型电路
• DLA MIL-DTL-17/223 (5)-2009 电缆，射频，柔性，同轴，50 欧姆，低烟，低损耗直径 .405
• DLA MIL-DTL-17/224 A VALID NOTICE 1-2012 电缆，射频，柔性，同轴，50 欧姆，低烟，低损耗直径 .500
• DLA SMD-5962-92336 REV D-2003 硅单片,可调式低功率低损耗稳压器,线性微型电路
• DLA DSCC-DWG-08009-2008 电缆，射频，柔性，同轴，75 欧姆，低损耗，低烟，直径 .405，（直径 .475 铠装）
• DLA DSCC-DWG-08010-2008 电缆，射频，柔性，同轴，75 欧姆，低损耗，低烟，直径 .300，直径 .370（铠装）
• DLA SMD-5962-89587 REV G-2002 硅单片1.0 安培低损耗5伏特稳压器线性微型电路

行业标准-电力，关于金 低介电损耗的标准

• DL/T 1694.6-2020 高压测试仪器及设备校准规范 第6部分：电力电缆超低频介质损耗测试仪
• DL/T 1154-2012 高压电气设备额定电压下介质损耗因数试验导则
• DL/T 2603-2023 电容型设备相对介质损耗因数及电容量比值带电测试方法
• DL/T 846.14-2023 高电压测试设备通用技术条件 第14部分：绝缘油介质损耗因数及体积电阻率测试仪

美国国家标准学会，关于金 低介电损耗的标准

• ANSI/ASTM D150:2018 固体电绝缘的交流损耗特性和介电常数（介电常数）的标准测试方法
• ANSI/ASTM D150:2011 固体电绝缘材料的(恒定电介质)的交流损耗特性和介电常数试验方法
• ANSI/AWS A5.25/A.25M:1997 碳钢和高强度低合金钢电渣焊用自耗品规范

美国电子电路和电子互连行业协会，关于金 低介电损耗的标准

• IPC TM-650 2.5.5.2-1987 印刷电路板材料的介电常数和损耗因子-剪辑方法
• IPC TM-650 2.5.5.4-1985 印刷电路板材料微米方法的介电常数和损耗因子
• IPC TM-650 2.5.5.8-1995 聚合物薄膜低频介电常数和损失正切
• IPC TM-650 2.5.5.9-1998 1兆赫到1.5千兆赫平行板,介电常数和损耗切线
• IPC TM-650.2.5.7.2-2009 材料(两液池法)的介电常数(介电常数)和损失正切(耗散因数) 修订版C 1987年12月
• IPC TM-650 2.5.5.3-1987 材料(两液池法)的介电常数(介电常数)和损失正切(耗散因数) 修订版C 1987年12月
• IPC TM-650 2.5.5.5-1998 修订版C,在x波段,介电常数和损失正切(介电常数和耗散因子)的带状线测试
• IPC TM-650-2015 材料(两液池法)的介电常数(介电常数)和损失正切(耗散因数) 修订版C 1987年12月
• IPC TM-650 2.5.5.1-1986 绝缘材料在1兆赫(接触电极系统)的介电常数(介电常数)和损失正切(耗散因数) 修订版B 1986年5月

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于金 低介电损耗的标准

• GB/T 31838.6-2021 固体绝缘材料 介电和电阻特性 第6部分：介电特性（AC方法） 相对介电常数和介质损耗因数（频率0.1Hz~10MHz）
• GB/T 20833.3-2018 旋转电机 旋转电机定子绕组绝缘 第3部分：介质损耗因数测量

澳大利亚标准协会，关于金 低介电损耗的标准

• AS 1767.2.2:2008 绝缘液体 试验方法 相对介电常数、介电损耗因数 (tan d) 和直流电阻率的测量

行业标准-航天，关于金 低介电损耗的标准

• QJ 1990.3-1990 电绝缘粘合剂电性能测试方法 工频、高频下介质损耗角
• QJ 2220.5-1994 涂层电绝缘性能测试方法 工频、音频和高频下介质损耗角正切的测试方法

行业标准-机械，关于金 低介电损耗的标准

• JB/T 7608-1994 高压交流电机线圈介质损耗角正切试验方法及限值
• JB/T 7608-2006 测量高压交流电机线圈介质损耗角正切试验方法及限值
• JB/T 10181.12-2014 电缆载流量计算 第12部分:载流量公式(100%负荷因数)和损耗计算 双回路平面排列电缆金属套涡流损耗因数
• JB/T 10181.2-2000 电缆载流量计算.第1部分：载流量公式（100%负荷因数）和损耗计算.第2节：双回路平面排列电缆金属套涡流损耗因数

CN-QIYE，关于金 低介电损耗的标准

• Q/GDW 1895-2013 电容型设备介质损耗因数和电容量带电测试技术现场应用导则

欧洲航空工业协会，关于金 低介电损耗的标准

• AECMA PREN 2591-F1-1993 航空航天系列.光电连接元件 试验方法 F1部分:光学元件 介入损耗

AT-OVE/ON，关于金 低介电损耗的标准

• OVE EN IEC 62631-2-2:2021 固体绝缘材料的介电和电阻特性 第 2-2 部分：相对介电常数和介电损耗因数 高频（1 MHz 至 300 MHz） 交流方法（IEC 112/531/CDV）（英文版）

(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于金 低介电损耗的标准

• JEDEC JEP159-2010 低 k/金属层间/层内介电完整性评估程序
• JEDEC JEP159A-2015 低 k/金属层间/层内介电完整性评估程序

AWS - American Welding Society，关于金 低介电损耗的标准

• A5.26-1978 碳钢和高强度低合金钢的气电焊耗材规范
• A5.25-1978 用于碳钢和高强度低合金钢电渣焊的耗材规范

加拿大标准协会，关于金 低介电损耗的标准

• CSA T568.2-3-05-2005 商用建筑电信电缆敷设标准.第2部分:平衡双绞线对称电缆.附件3:对介入损耗和回波损耗通过/失败测定的附加考虑ANSI/TIA/EIA-568-B.2-3-2002

国家军用标准-总装备部，关于金 低介电损耗的标准

• GJB 973/5-2021 SFLF46-50-4-53 型挤出低密度聚四氟乙烯绝缘低损耗柔软同轴射频电缆详细规范
• GJB 973/3-2021 SFLF46-50-3-52 型挤出低密度聚四氟乙烯绝缘低损耗柔软同轴射频电缆详细规范
• GJB 973/7-2021 SFLF46-50-6-53 型挤出低密度聚四氟乙烯绝缘低损耗柔软同轴射频电缆详细规范
• GJB 973/2-2021 SFLF46-50-3-51 型挤出低密度聚四氟乙烯绝缘低损耗柔软同轴射频电缆详细规范
• GJB 973/8-2021 SFLF46-50-8-51型挤出低密度聚四氟乙烯绝缘低损耗柔软同轴射频电缆详细规范
• GJB 973/4-2021 SFLF46-50-4-52 型挤出低密度聚四氟乙烯绝缘低损耗柔软同轴射频电缆详细规范
• GJB 973/6-2021 SFLF46-50-4-54 型挤出低密度聚四氟乙烯绝缘低损耗柔软同轴射频电缆详细规范
• GJB 973/1-2021 SFLF46-50-2-51型挤出低密度聚四氟乙烯绝缘低损耗柔软同轴射频电缆详细规范

(美国)海军，关于金 低介电损耗的标准

• NAVY MIL-E-22200/10 C (1)-2003 高拉伸度高强度低合金钢铁粉低氢介质矿物覆盖焊接电极

YU-JUS，关于金 低介电损耗的标准

• JUS N.R8.163-1982 电信用感应器及变压器铁芯．通用测量方法．通量低密度中的损耗

ITU-T - International Telecommunication Union/ITU Telcommunication Sector，关于金 低介电损耗的标准

• ITU-T G.654-1989 1550 毫米波长损耗最小化单模光纤电缆的特性 传输介质特性（第 XV 研究组）3 页

本站其他标准专题： 金 低介电损耗，低介电损耗，介电损耗低。

 

可能用到的仪器设备