x射线的能谱

本专题涉及x射线的能谱的标准有93条。

国际标准分类中,x射线的能谱涉及到分析化学、电学、磁学、电和磁的测量、犯罪行为防范、光学和光学测量、光学设备、纸和纸板、物理学、化学、无损检测、艺术和手工艺品、计量学和测量综合、有色金属、电子元器件综合、辐射测量、天文学、大地测量学、地理学。

在中国标准分类中,x射线的能谱涉及到基础标准与通用方法、综合测试系统、电子光学与其他物理光学仪器、造纸综合、犯罪鉴定技术、电化学、热化学、光学式分析仪器、纸、工艺美术品、化学、化学助剂基础标准与通用方法、、电子元件综合、光学测试仪器、贵金属及其合金、颜料、标准化、质量管理、半导体分立器件综合。


国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于x射线的能谱的标准

  • GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
  • GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
  • GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于x射线的能谱的标准

  • GB/T 33502-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱(XPS)数据记录与报告的规范要求

国家质检总局,关于x射线的能谱的标准

  • GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
  • GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
  • GB/T 30702-2014 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
  • GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
  • GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
  • GB/T 28892-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.选择仪器性能参数的表述
  • GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
  • GB/T 28633-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.强度标的重复性和一致性
  • GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
  • GB/T 25185-2010 表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告
  • GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
  • GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
  • GB/T 2679.11-2008 纸和纸板 无机填料和无机涂料的定性分析.电子显微镜/X射线能谱法
  • GB/T 19267.6-2008 刑事技术微量物证的理化检验 第6部分:扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GB/T 18873-2008 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则
  • GB/T 17507-2008 透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件
  • GB/T 19500-2004 X射线光电子能谱分析方法通则
  • GB/T 18873-2002 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线 能谱定量分析通则
  • GB/T 17723-1999 黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法
  • GB/T 17507-1998 电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样通用技术条件
  • GB/T 17362-1998 黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法
  • GB/T 17361-1998 沉积岩中自生粘土矿物扫描电子显微镜及X射线能谱鉴定方法
  • GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则
  • GB/T 2679.11-1993 纸和纸板中无机填料和无机涂料的定性分析 电子显微镜/X射线能谱法

国际电工委员会,关于x射线的能谱的标准

  • IEC TS 62607-6-21:2022 纳米制造.关键控制特性.第6-21部分:石墨烯基材料.元素组成 C/O比:X射线光电子能谱

国际标准化组织,关于x射线的能谱的标准

  • ISO 17109:2022 表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法
  • ISO 22581:2021 表面化学分析X射线光电子能谱测量扫描的近实时信息含碳化合物表面污染的识别和校正规则
  • ISO 10810:2019 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南
  • ISO 20903:2019 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
  • ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
  • ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
  • ISO 19668:2017 表面化学分析.X射线光电子能谱学.均匀材料中元素检测极限的估算和报告
  • ISO 15470:2017 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
  • ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
  • ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
  • ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
  • ISO 13424:2013 表面化学分析——X射线光电子能谱;薄膜分析结果的报告
  • ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
  • ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
  • ISO/TS 10798:2011 纳米技术.使用扫描电镜与X射线能谱分析的单臂碳纳米管的特征描述
  • ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱学.分析导则
  • ISO/TR 19319:2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测

公安部,关于x射线的能谱的标准

  • GA/T 1937-2021 法庭科学 橡胶检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GA/T 1938-2021 法庭科学 金属检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GA/T 1939-2021 法庭科学 电流斑检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GA/T 1522-2018 法庭科学 射击残留物检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GA/T 1520-2018 法庭科学 黑火药、烟火药元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GA/T 1519-2018 法庭科学 墨粉元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GA/T 1521-2018 法庭科学 塑料元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GA/T 823.3-2018 法庭科学油漆物证的检验方法 第3部分:扫描电子显微镜/X射线能谱法

美国材料与试验协会,关于x射线的能谱的标准

  • ASTM E2735-14(2020) 用于选择X射线光电子能谱所需校准的标准指南
  • ASTM E996-19 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
  • ASTM E996-10(2018) 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
  • ASTM E995-16 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南
  • ASTM E995-11 在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中应用背景消除技术的标准指南
  • ASTM E996-10 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
  • ASTM E996-04 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
  • ASTM E996-94(1999) 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
  • ASTM E1523-97 X射线光电子能谱法中电荷控制和电荷参考技术的标准指南
  • ASTM E996-1994(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程

德国标准化学会,关于x射线的能谱的标准

  • DIN ISO 16129:2020 表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本

英国标准学会,关于x射线的能谱的标准

  • BS ISO 14701:2018 表面化学分析. X射线光电子能谱学. 二氧化硅厚度测量
  • BS ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
  • BS ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
  • BS ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
  • BS ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
  • BS ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
  • BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
  • BS ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析指南

青海省质量技术监督局,关于x射线的能谱的标准

  • DB63/T 1678-2018 唐卡中矿物颜料的测定 X射线荧光光谱法(能谱法)

,关于x射线的能谱的标准

  • KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验测定的相对灵敏度因子的使用指南
  • KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析-俄歇电子能谱和X射线光电子能谱-分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
  • KS D ISO 19318-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱电荷控制和电荷校正方法报告

日本工业标准调查会,关于x射线的能谱的标准

  • JIS K0152-2014 表面化学分析. X射线光电子能谱分析. 强度标的重复性和一致性
  • JIS K0167-2011 表面化学分析.俄歇电子光谱和X射线光电子能谱学.匀质材料定量分析用实验室测定相对敏感因子的使用指南

广东省质量技术监督局,关于x射线的能谱的标准

  • DB44/T 1215-2013 利用扫描电子显微术和X射线能谱法表征单壁碳纳米管的特性
  • DB44/T 1216-2013 利用扫描电子显微术和X射线能谱法表征石墨烯的特性

法国标准化协会,关于x射线的能谱的标准

  • NF X21-073-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
  • NF X21-071-2011 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析用导则
  • NF X21-058-2006 表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息

行业标准-有色金属,关于x射线的能谱的标准

  • YS/T 644-2007 铂钌合金薄膜测试方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量

韩国标准,关于x射线的能谱的标准

  • KS D ISO 19319:2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测

福建省地方标准,关于x射线的能谱的标准

  • DB35/T 110-2000 油漆物证检测电子探针和扫描电镜X射线能谱分析方法

行业标准-电子,关于x射线的能谱的标准

  • SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则

美国电气电子工程师学会,关于x射线的能谱的标准

澳大利亚标准协会,关于x射线的能谱的标准

  • AS ISO 19319:2006 表面化学分析.Augur电子能谱法和X射线光电子光谱法.分析员对横向分辨率;分析区域和样品区域的目视检测
  • AS ISO 18118:2006 表面化学分析.俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法.均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南

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