硅氧硅红外峰

本专题涉及硅氧硅红外峰的标准有114条。

国际标准分类中，硅氧硅红外峰涉及到绝缘流体、长度和角度测量、金属材料试验、半导体材料、铁合金、空气质量、金属矿、化工产品、陶瓷、光电子学、激光设备、橡胶、医疗设备、有色金属、集成电路、微电子学、分析化学、建筑材料、航空航天制造用材料、半导体分立器件。

在中国标准分类中，硅氧硅红外峰涉及到金属无损检验方法、、半金属及半导体材料分析方法、元素半导体材料、钢铁与铁合金分析方法、轻金属及其合金分析方法、金属物理性能试验方法、半金属、半金属与半导体材料综合、重金属矿、基础标准与通用方法、一般有机化工原料、红外器件、半导体分立器件综合、橡胶制品综合、轻金属及其合金、稀有轻金属及其合金、体外循环、人工脏器、假体装置、半导体集成电路、氧化物、单质、稀有金属及其合金分析方法、微电路综合、计算机应用、航空与航天用金属铸锻材料。

国家质检总局，关于硅氧硅红外峰的标准

GB/T 14143-1993 300-900μm硅片间隙氧含量红外吸收测量方法
GB/T 1557-2006 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
GB/T 42905-2023 碳化硅外延层厚度的测试红外反射法
GB/T 35306-2023 硅单晶中碳、氧含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法
GB/T 1558-2023 硅中代位碳含量的红外吸收测试方法
GB/T 1558-1997 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
GB/T 1558-2009 硅中代位碳原子含量.红外吸收测量方法
GB/T 14847-1993 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
GB/T 4700.5-1998 硅钙合金化学分析方法红外线吸收法测定碳量
GB/T 32573-2016 硅粉总碳含量的测定感应炉内燃烧后红外吸收法
GB/T 4699.4-2008 铬铁和硅铬合金.碳含量的测定.红外线吸收法和重量法
GB/T 14849.6-2014 工业硅化学分析方法第6部分:碳含量的测定红外吸收法
GB/T 4699.6-2008 铬铁和硅铬合金.硫含量的测定.红外线吸收法和燃烧中和滴定法
GB/T 4700.7-1998 硅钙合金化学分析方法红外线吸收法和燃烧碘酸钾滴定法测定硫量
GB/T 24581-2009 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法
GB/T 5686.7-2008 锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰.硫含量的测定.红外线吸收法和燃烧中和滴定法
GB/T 5686.7-2022 锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰硫含量的测定红外线吸收法和燃烧中和滴定法
GB/T 5686.5-2023 锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰碳含量的测定红外线吸收法、气体容量法、重量法和库仑法
GB/T 5686.5-2008 锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰.碳含量的测定.红外线吸收法、气体容量法、重量法和库仑法

中国团体标准，关于硅氧硅红外峰的标准

T/HIS 002-2022 硅基红外气体传感器
T/IAWBS 007-2018 4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法
T/CSTM 00254-2020 聚碳硅烷裂解产物氧含量的测定脉冲加热惰气熔融-红外线吸收法
T/SCDA 126-2023 HF气相二氧化硅保温材料外墙内保温系统应用技术标准

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于硅氧硅红外峰的标准

GB/T 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
GB/T 38976-2020 硅材料中氧含量的测试惰性气体熔融红外法
GB/T 4333.10-2019 硅铁碳含量的测定红外线吸收法
GB/T 40561-2021 光伏硅材料氧含量的测定脉冲加热惰性气体熔融红外吸收法
GB/T 36691-2018 甲基乙烯基硅橡胶乙烯基含量的测定近红外法
GB/T 4333.7-2019 硅铁硫含量的测定红外线吸收法和色层分离硫酸钡重量法
GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法
GB/T 40566-2021 流化床法颗粒硅氢含量的测定脉冲加热惰性气体熔融红外吸收法

行业标准-电子，关于硅氧硅红外峰的标准

SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
SJ 20830-2002 铂硅红外焦平面探测器杜瓦组件.通用规范
SJ/T 11552-2015 以布鲁斯特角入射P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量

工业和信息化部，关于硅氧硅红外峰的标准

YB/T 4738-2019 硅钙合金氧含量的测定惰性气体熔融红外吸收法
YB/T 4582.4-2017 氮化硅铁硫含量的测定红外线吸收法
YB/T 4582.10-2017 氮化硅铁碳含量的测定红外线吸收法
YB/T 5316-2016 硅钙合金碳含量的测定高频燃烧红外线吸收法
YS/T 1509.2-2021 硅碳复合负极材料化学分析方法第2部分：碳含量的测定高频加热红外吸收法

行业标准-黑色冶金，关于硅氧硅红外峰的标准

YB/T 178.6-2008 硅铝合金、硅钡铝合金碳含量的测定红外线吸收法
YB/T 178.7-2008 硅铝合金、硅钡铝合金硫含量的测定红外线吸收法
YB/T 109.7-2012 硅钡合金硫含量的测定红外线吸收法
YB/T 109.6-2012 硅钡合金碳含量的测定红外线吸收法
YB/T 178.6-2000 硅铝合金、硅钡铝合金化学分析方法.红外线吸收法测定碳含量
YB/T 109.6-1997 硅钡合金化学分析方法.红外线吸收法测定碳量
YB/T 109.7-1997 硅钡合金化学分析方法.红外线吸收法测定硫量
YB/T 5316-2006 硅钙合金化学分析方法红外线吸收法测定碳量
YB/T 109.6-2023 硅钡合金分析方法第6部分：碳含量的测定红外线吸收法
YB/T 5317-2016 硅钙合金硫含量的测定高频燃烧红外线吸收法和燃烧碘酸钾滴定法
YB/T 5317-2006 硅钙合金化学分析方法红外线吸收法和燃烧碘酸钾滴定法测定硫量

国家军用标准-总装备部，关于硅氧硅红外峰的标准

GJB 2052-1994 红外电荷耦合器件用硅片规范

SCC，关于硅氧硅红外峰的标准

SPC GB/T 4333.10-2019 硅铁碳含量的测定红外吸收法
AENOR UNE 81550:2017 工作场所的博览会空气中结晶二氧化硅（可呼吸部分）的测定红外分光光度法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于硅氧硅红外峰的标准

GB/T 35306-2017 硅单晶中碳、氧含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法

云南省地方标准，关于硅氧硅红外峰的标准

DB53/T 749-2016 工业硅粉水分的测定红外加热法

美国材料与试验协会，关于硅氧硅红外峰的标准

ASTM F1188-00 红外线吸收法测定硅中填隙原子氧含量的标准试验方法
ASTM D7948-20 通过红外光谱法测量工作场所空气中可吸入结晶二氧化硅的标准测试方法
ASTM D7948-14 采用红外光谱法测量工作场所空气中可吸入结晶二氧化硅的标准试验方法
ASTM D7948-14e1 通过红外光谱法测量工作场所空气中可吸入结晶二氧化硅的标准测试方法
ASTM C1842-16 傅里叶变换红外光谱法分析六氟化铀中硼和硅的标准试验方法
ASTM F1619-95(2000) 以布鲁斯特角入射的p偏振辐射通过红外吸收光谱法测量硅片间隙氧含量的标准试验方法

新疆维吾尔自治区标准，关于硅氧硅红外峰的标准

DB65/T 3486-2013 太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法

英国标准学会，关于硅氧硅红外峰的标准

BS ISO 19087:2018 工作场所空气可吸入结晶二氧化硅的傅立叶变换红外光谱分析

行业标准-有色金属，关于硅氧硅红外峰的标准

YS/T 820.8-2012 红土镍矿化学分析方法.第8部分：二氧化硅量的测定.氟硅酸钾滴定法
YS/T 514.7-2006 高钛渣、金红石化学分析方法重量法测定二氧化硅量
YS/T 820.23-2012 红土镍矿化学分析方法.第23部分: 钴、铁、镍、磷、氧化铝、氧化钙、氧化铬、氧化镁、氧化锰、二氧化硅和二氧化钛量的测定.波长色散X射线荧光光谱法
YS/T 514.4-2009 高钛渣、金红石化学分析方法.第4部分:二氧化硅量的测定.称量法、钼蓝分光光度法

法国标准化协会，关于硅氧硅红外峰的标准

NF T77-156:1987 工业用碱性硅树脂.导入的过氧化物含量的测定.红外线光谱测定法
NF T77-162:1988 工业用碱性硅树脂.苯基/硅和苯基/甲基比率的测定.近红外线光谱测定法
XP X43-243:2002 工作场所空气结晶二氧化硅的傅里叶变换红外光谱法测定使用旋转杯装置或滤膜取样
NF X43-243:2022 工作场所空气通过结晶二氧化硅的傅里叶变换红外光谱法测定剂量通过旋转杯装置或滤膜采样
NF T77-155:1987 工业用基础硅塑料.乙烯类含量的测定（含量大于百分之0.1(m/m)）.近红外光谱法

国际标准化组织，关于硅氧硅红外峰的标准

ISO 19087:2018 工作场所空气.用傅里叶变换红外光谱法分析可吸入结晶二氧化硅

德国标准化学会，关于硅氧硅红外峰的标准

DIN 50438-1:1995 半导体工艺材料检验.用红外吸收法测量硅的杂质含量.第1部分:氧

河南省标准，关于硅氧硅红外峰的标准

DB41/T 1050-2015 硅铁化学分析方法红外线吸收法测定硫量

RU-GOST R，关于硅氧硅红外峰的标准

GOST R ISO 19087-2021 工作场所的空气通过傅里叶变换红外光谱分析可吸入结晶二氧化硅

AENOR，关于硅氧硅红外峰的标准

UNE 81550:2017 工作场所暴露空气中结晶游离二氧化硅（可吸入部分）的测定红外光谱法

国家食品药品监督管理局，关于硅氧硅红外峰的标准

YY/T 1457-2016 无源外科植入物硅凝胶填充乳房植入物中寡聚硅氧烷类物质测定方法

美国国防后勤局，关于硅氧硅红外峰的标准

DLA SMD-5962-94642-1994 硅单片,扩展多功能外围,氧化物半导体数字微型电路
DLA SMD-5962-84066 REV G-2006 硅单片可编程序外围接口,氧化物半导体数字微型电路
DLA SMD-5962-89971-1992 硅单片,远程通用外围接口,高性能金属氧化物半导体数字微型电路
DLA SMD-5962-96646 REV C-2003 抗辐射互补金属氧化物半导体四重排外与门硅单片电路数字微电路
DLA SMD-5962-96816-1996 互补金属氧化物半导体,四重2输入排外与门硅单片电路数字微电路
DLA SMD-5962-95660 REV C-2000 互补金属氧化物半导体数字的四重2输入排外硅单片电路线型微电路
DLA SMD-5962-96611 REV C-2004 抗辐射互补金属氧化物半导体四重排外或与门硅单片电路数字微电路
DLA SMD-5962-94510 REV A-2007 硅单片,紫外线可擦除可程序化逻辑阵列,氧化物半导体数字记忆微型电路
DLA SMD-5962-95654 REV C-2000 互补金属氧化物半导体数字的四重2输入排外的硅单片电路线型微电路
DLA SMD-5962-88549 REV A-1992 硅单片互补型金属氧化物半导体紫外线擦除可编程逻辑器件数字微电路
DLA SMD-5962-93144 REV B-2007 硅单片,紫外线可消除可程序化逻辑设置,氧化物半导体数字记忆微型电路
DLA SMD-5962-96815 REV A-2000 双极互补金属氧化物半导体,四重2输入排外与门硅单片电路数字微电路
DLA SMD-5962-90989 REV A-2006 硅单块互补金属氧化物半导体紫外可编程逻辑阵列,数字主储存器微型电路
DLA SMD-5962-91772-1993 硅单块互补金属氧化物半导体,紫外可擦拭逻辑阵列,数字主储存器微型电路
DLA SMD-5962-93248-1993 硅单片,电压紫外线可擦除可编程逻辑阵列,氧化物半导体数字记忆微型电路
DLA SMD-5962-95783 REV B-2004 高速抗辐射互补金属氧化物半导体四重2输入排外硅单片电路线型微电路
DLA SMD-5962-95814 REV A-1998 高速抗辐射互补金属氧化物半导体四重 2输入排外硅单片电路线型微电路
DLA SMD-5962-88548 REV A-1992 硅单片互补型金属氧化物半导体紫外线擦除可编程逻辑器件数字存储微电路
DLA SMD-5962-88678 REV B-2005 硅单片紫外线擦除可编程逻辑阵列互补型金属氧化物半导体数字存储微电路
DLA SMD-5962-88724 REV D-2007 硅单片可编程逻辑阵列互补型金属氧化物半导体紫外线擦除数字存储微电路
DLA SMD-5962-88726 REV E-2007 硅单片可编程逻辑阵列互补型金属氧化物半导体紫外线擦除数字存储微电路
DLA SMD-5962-96538 REV C-2007 抗辐射数字的互补金属氧化物半导体四重2输入排外硅单片电路线型微电路
DLA SMD-5962-85102 REV E-2005 硅单块 8KX8紫外可擦除可程序化只读存储器,氧化物半导体数字主储存器微型电路
DLA SMD-5962-91584-1992 硅单块紫外可擦拭编程逻辑阵列,互补金属氧化物半导体,数字主储存器微型电路
DLA SMD-5962-92062 REV B-2007 硅单块紫外擦拭可编程逻辑设备,互补金属氧化物半导体,数字主储存器微型电路
DLA SMD-5962-89468 REV C-2007 硅单片紫外线擦写的可编程逻辑阵列互补型金属氧化物半导体数字存储微电路
DLA SMD-5962-89469 REV B-1994 硅单片紫外线擦写的可编程逻辑设备互补型金属氧化物半导体数字存储微电路
DLA SMD-5962-89476-1992 硅单片紫外线擦写的可编程逻辑设备互补型金属氧化物半导体数字存储微电路
DLA SMD-5962-93245-1993 硅单片,扩展电压紫外线可擦除可编程逻辑阵列,氧化物半导体数字记忆微型电路
DLA SMD-5962-96817 REV B-1997 互补金属氧化物半导体,四重2输入排外与门晶体管输入硅单片电路数字微电路

PL-PKN，关于硅氧硅红外峰的标准

PN Z04018-02-1991 空气纯度保护．游离结晶硅的含量的试验，通过红外吸收光谱测定工作场所总粉尘中的游离结晶硅
PN Z04018-03-1991 空气纯度保护．游离结晶硅的含量的试验，通过红外吸收光谱测定工作场所可吸入粉尘中的游离结晶硅

行业标准-商品检验，关于硅氧硅红外峰的标准

SN/T 2413-2010 进出口金属硅中总碳和硫含量测定.高频燃烧红外吸收光谱法

国家质量监督检验检疫总局，关于硅氧硅红外峰的标准

SN/T 4758-2017 金红石中三氧化二铁、二氧化硅、二氧化锆含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法

(美国)福特汽车标准，关于硅氧硅红外峰的标准

FORD WSL-M4G349-A-2014 密封剂，硅橡胶，紫外线/甲氧基固化剂 ***与福特 WSS-M99P1111-A 一起使用***