光谱 电子
本专题涉及光谱 电子的标准有98条。
国际标准分类中，光谱 电子涉及到电子元器件综合、橡胶和塑料制品、物理学、化学、分析化学、辐射测量、光学和光学测量、电气工程综合、医学科学和保健装置综合、道路车辆装置、环境保护、环保、保健和安全、水质、光纤通信、食品试验和分析的一般方法、有色金属。
在中国标准分类中，光谱 电子涉及到电子元件综合、基础标准和通用方法、基础标准与通用方法、化学、基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、辐射防护与监测综合、辐射防护监测与评价、核仪器与核探测器综合、基础标准与通用方法、重金属及其合金分析方法、物理学与力学、基础标准与通用方法、水环境有毒害物质分析方法、光通信设备、基础标准与通用方法、电子技术专用材料。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于光谱 电子的标准
- GB/T 39560.301-2020 电子电气产品中某些物质的测定 第3-1部分：X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴
国家质检总局，关于光谱 电子的标准
- GB/T 32888-2016 电子电气产品中有机锡的筛选 红外光谱法
- GB/T 29783-2013 电子电气产品中六价铬的测定 原子荧光光谱法
- GB/Z 21277-2007 电子电气产品中限用物质铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选.X射线荧光光谱法
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于光谱 电子的标准
- GB/T 33352-2016 电子电气产品中限用物质筛选应用通则 X射线荧光光谱法
美国材料与试验协会，关于光谱 电子的标准
- ASTM E720-23 电子辐射硬度试验中中子光谱测定用中子传感器的选择和使用标准指南
- ASTM E983-19 俄歇电子光谱法中最小化不需要的电子束效应的标准指南
- ASTM E983-10(2018) 俄歇电子光谱法中最小化不需要的电子束效应的标准指南
- ASTM E1588-17 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准实施规程
- ASTM E720-16 选择和使用中子传感器用于确定电子辐射硬度测试中使用的中子光谱的标准指南
- ASTM E995-16 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南
- ASTM E1588-16a 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准实施规程
- ASTM E1588-16 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准指南
- ASTM E720-11 电子辐射强度测试中测定中子光谱的中子传感器的选择和应用标准指南
- ASTM E1588-10e1 扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法射击残留物分析的标准指南
- ASTM E827-08 对奥格电子光谱法的基本识别方法
- ASTM D4128-06 用气相色谱与电子冲击光谱方法鉴别和定量测量水中有机化合物的标准实施规程
- ASTM E983-05 俄歇电子光谱法中最小化不需要的电子束效应的标准指南
- ASTM E995-04 螺旋电子光谱法和X射线光电光谱法中减去背景技术的标准指南
- ASTM E1127-03 螺旋电子光谱法的深度剖面的标准指南
- ASTM E827-02 通过 Auger 电子光谱测定中的峰值识别元素的标准实施规程
- ASTM E995-97 螺旋电子光谱法中基本抽减技术
- ASTM E827-95 通过 Auger 电子光谱测定中的峰值识别元素的标准实施规程
- ASTM D4128-94 用气相色谱与电子冲击光谱方法鉴别和定量测量水中有机化合物的标准实施规程
国际电工委员会，关于光谱 电子的标准
- IEC TS 62607-5-4:2022 纳米制造.关键控制特性.第5-4部分:用电子能量损失光谱法（EELS）测量纳米材料的能带隙
- IEC TS 62607-5-4-2022 纳米制造.关键控制特性.第5-4部分:用电子能量损失光谱法（EELS）测量纳米材料的能带隙
- IEC 62321-5:2013 电工制品中特定物质的测定.第5部分:通过原子吸收分光光度法(AAS)、原子荧光光谱法(AFS)、电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)和电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)测定聚合物和电子中镉、铅和铬及金属中镉和铅
国际标准化组织，关于光谱 电子的标准
- ISO 24639:2022 微束分析.分析电子显微镜.用电子能量损失光谱法进行元素分析的能量标度校准程序
- ISO 13304-1:2020 放射防护 - 电离辐射回顾性剂量学电子顺磁共振（EPR）光谱的最低标准 - 第1部分:一般原则
- ISO 20903:2019 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- ISO 15471:2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
- ISO 18118:2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- ISO 17470:2014 微束分析. 电子探针微量分析. 用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
- ISO 13304-1:2013 辐射防护.电离辐射可追溯性剂量的电子顺磁共振(EPR)光谱的最低标准.第1部分:通则
- ISO 11938:2012 微束分析. 电子探针微量分析. 使用波长色散光谱对元素映射的分析方法
- ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能普和X射线光电子光谱.通报结果所需峰值强度和信息的测定方法
- ISO 14594:2003/Cor 1:2009 微光束分析.电子探针微分析.波长色散光谱法测定实验参数用指南.技术勘误1
- ISO 22489:2006 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- ISO/TR 18394:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法.化学信息的推导
- ISO 20903:2006 表面化学分析.螺旋电子光谱法和X-射线光电光谱学.报告结果时测定峰强度的方法和必要信息的使用方法
- ISO 24236:2005 表面化学分析.螺旋电子光谱法.强度标的重复性和持久性
- ISO 17470:2004 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法分析质量点的指南
- ISO 18118:2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- ISO 15471:2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
英国标准学会，关于光谱 电子的标准
- BS EN 13708-2022 食品.用电子自旋共振光谱法检验经辐照的含晶体糖的食品
- BS ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
- BS ISO 15471:2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- BS PD ISO/TR 18394:2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.化学信息的推导
- BS ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
- BS ISO 18118:2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南
- BS ISO 17470:2014 微束分析. 电子探针显微分析. 采用波长分散X射线光谱测定法的定性点分析指南
- BS ISO 11938:2013 微束分析.电子探针显微分析.使用波长色散光谱对元素映射的分析方法
- BS ISO 22489:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
- BS ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- BS ISO 24236:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.强度标的可重复性和一致性
- BS ISO 18118:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南
- BS ISO 15471:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- BS EN 13708-2002 食品.用电子自旋共振光谱法检验经辐照的含晶体糖的食品
- BS 3727-20-1966 电子管和电子阀用镍的分析方法.第20部分:光谱法
，关于光谱 电子的标准
- SIS SS IEC 714:1983 电子测量设备．光谱分析仪特性说明
德国标准化学会，关于光谱 电子的标准
- DIN EN 62321-4-2018 电工技术产品中某些物质的测定. 第4部分: 通过冷蒸汽原子吸收光谱法, 冷蒸汽原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物, 金属和电子中的汞 (IEC 62321-4-2013+A1-2017); 德文版本EN 62321-4-2014+A1-2017
- DIN EN 62321-4-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第4部分: 通过冷蒸汽原子吸收光谱法, 冷蒸汽原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物, 金属和电子中的汞 (IEC 62321-4-2013); 德文版本EN 62321-4-2014
- DIN EN 61290-5-3-2002 光纤放大器.基础规范.第5-3部分:反射参数的试验方法.使用电子光谱分析仪的反射比偏差 (IEC 61290-5-3:2002); 德文版本 EN 61290-5-3:2002
- DIN EN 13708-2002 食品.电子自旋共振光谱法检验经辐照的食品
立陶宛标准局，关于光谱 电子的标准
- LST EN 62321-4-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第4部分: 通过冷蒸汽原子吸收光谱法, 冷蒸汽原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物, 金属和电子中的汞(IEC 62321-4-2013)
法国标准化协会，关于光谱 电子的标准
- NF C05-100-4-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第4部分: 通过冷蒸汽原子吸收光谱法, 冷蒸汽原子荧光光谱法, 电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱测定法测定聚合物, 金属和电子中的汞
- NF M60-526-1-2013 辐射防护.电离辐射可追溯性剂量的电子顺磁共振(EPR)光谱的最低标准.第1部分:通则
- NF X21-068-2010 表面化学分析.俄歇电子光谱法.电荷控制和校正用方法的报告
- NF X21-061-2008 表面化学分析.螺旋电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- NF X21-006-2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法进行块状样品的定量点分析
- NF X21-059-2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法.强度等级的重复性和持久性
- NF X21-058-2006 表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息
- NF X21-003-2006 微光束分析.电子探针显微分析.波长分布X射线光谱测量法定量分析指南
- NF V03-005-2002 食品.用电子自旋共振光谱法检验含晶体糖的辐照食品
日本工业标准调查会，关于光谱 电子的标准
- JIS K0189-2013 微束分析.电子探针显微分析.波长色散X射线光谱学用实验参数的测定
- JIS K0167-2011 表面化学分析.俄歇电子光谱和X射线光电子能谱学.匀质材料定量分析用实验室测定相对敏感因子的使用指南
- JIS K0190-2010 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法对质量点分析用指南
- JIS K0161-2010 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
韩国科技标准局，关于光谱 电子的标准
- KS D ISO 22489:2012 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- KS D ISO 18118:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- KS D ISO 15471:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
行业标准-商品检验，关于光谱 电子的标准
- SN/T 2592.2-2010 电子电气产品中有机锡化合物的测定 第2部分：傅立叶变换红外光谱筛选法
- SN/T 2003.6-2010 电子电气产品中铅、汞、镉、铬的定性筛选方法 第6部分：火花源发射光谱法
- SN/T 2003.4-2006 电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定.第4部分:能量色散X射线荧光光谱定性筛选法
- SN/T 2003.5-2006 电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定 第5部分：能量色散X射线荧光光谱定量筛选法
- SN/T 2004.7-2006 电子电气产品中铅、镉的测定.第7部分：原子荧光光谱法
- SN/T 2003.3-2006 电子电气产品中铅、汞、镉、铬和溴的测定.第3部分:X射线荧光光谱定量筛选法
- SN/T 2003.2-2006 电子电气产品中多溴联苯和多溴二苯醚的测定.第2部分:红外光谱定性筛选法
- SN/T 2003.1-2005 电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第1部分:X射线荧光光谱定性筛选法
- SN/T 2004.1-2005 电子电气产品中汞的测定 第1部分:原子荧光光谱法
澳大利亚标准协会，关于光谱 电子的标准
- AS ISO 18118:2006 表面化学分析．俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法．均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南
- AS ISO 19319:2006 表面化学分析．Augur电子能谱法和X射线光电子光谱法．分析员对横向分辨率；分析区域和样品区域的目视检测
