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染色体 缺陷

本专题涉及染色体 缺陷的标准有218条。

国际标准分类中，染色体 缺陷涉及到医学科学和保健装置综合、茶、咖啡、可可、实验室医学、半导体材料、医疗设备、建筑材料、陶瓷、词汇、电气设备元件、印制技术、石油和天然气工业设备、绝缘流体、管道部件和管道、信息技术应用、造船和海上构筑物综合、半导体分立器件、皮革技术、磁性材料、分析化学、有色金属、公司(企业)的组织和管理、橡胶和塑料制品、涂料和清漆、微生物学、人类工效学、电子显示器件、集成电路、微电子学、金属材料试验、残障人员用设备、轴承、捕捞和水产养殖、焊接、钎焊和低温焊、印制电路和印制电路板、化工产品、电子元器件组件、试验条件和规程综合、建筑工业、涂料配料、IT终端和其他外围设备、职业安全、工业卫生、危险品防护。

在中国标准分类中，染色体 缺陷涉及到、医用化验设备、半金属与半导体材料综合、特种陶瓷、半导体分立器件综合、油、气集输设备、磁性元器件、缩微复印机械、感光材料、贵金属及其合金分析方法、船舶工艺、电子技术专用材料、涂料、医学、电子束管、金属化学性能试验方法、矫形外科、骨科器械、医疗器械综合、电感器、变压器、水产、渔业综合、焊接与切割、电工合金零件、印制电路、化学助剂基础标准与通用方法、走行部分、电站、电力系统运行检修、食品卫生、染料基础标准与通用方法、涂料基础标准与通用方法、职业病诊断标准、教育、学位、学衔、焊接与切割设备、标志、包装、运输、贮存综合。


行业标准-卫生，关于染色体 缺陷的标准

  • WS 322.2-2010 胎儿常见染色体异常与开放性神经管缺陷的产前筛查与诊断技术标准 第2部分：胎儿染色体异常的细胞遗传学产前诊断技术标准
  • WS 322.1-2010 胎儿常见染色体异常与开放性神经管缺陷的产前筛查与诊断技术标准 第1部分:中孕期母血清学产前筛查

RU-GOST R，关于染色体 缺陷的标准

行业标准-医药，关于染色体 缺陷的标准

  • YY/T 1893-2023 Y染色体微缺失检测试剂盒
  • YY/T 1727-2020 口腔黏膜渗出液人类免疫缺陷病毒抗体检测试剂盒(胶体金免疫层析法)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于染色体 缺陷的标准

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于染色体 缺陷的标准

韩国科技标准局，关于染色体 缺陷的标准

KR-KS，关于染色体 缺陷的标准

  • KS P ISO 8548-1-2018 假肢和矫形器 - 肢体缺陷 - 第1部分:出生时出现肢体缺陷的方法
  • KS P ISO 8548-4-2018 假肢和矫形器 - 肢体缺陷 - 第4部分:导致截肢的病因描述
  • KS P ISO 8548-3-2018 假肢和矫形器 - 肢体缺陷 - 第3部分:描述上肢截肢残片的方法
  • KS P ISO 8548-2-2018 假肢和矫形器 - 肢体缺陷 - 第2部分:描述下肢截肢残片的方法
  • KS M ISO 21227-4-2022 色漆和清漆.用光学成像法评定涂层表面的缺陷.第4部分:丝状腐蚀的评定

德国标准化学会，关于染色体 缺陷的标准

  • DIN EN 623-1:2006 高级工业陶瓷.块体陶瓷.一般和结构特性.第1部分:用染色穿透法测定缺陷
  • DIN 50446:1995 半导体工艺材料的检验.硅晶体外延层缺陷种类和缺陷密度的测定
  • DIN 42026-4:1982-09 永磁体段；可见缺陷的极限值
  • DIN 58969-41:1994 医用微生物学.传染病的血清诊断.免疫缺陷斑(IB).第41部分:防止人体免疫缺乏病毒 HIV-1 或 HIV-2 抗体的检测用特殊要求
  • DIN EN 60424-1:2000 铁氧体磁芯.表面缺陷极限指南.第1部分：通用规范
  • DIN EN ISO 21227-1:2003 色漆和清漆.用光成像评定覆层表面缺陷.第1部分:通用指南
  • DIN EN 61193-1:2002 质量评定体系.第1部分:印制板组件缺陷注册和分析
  • DIN EN 60424-3:2000 铁氧体磁芯.表面缺陷性极限指南.第3部分:ETD磁芯和E磁芯
  • DIN 58967-40:1994 传染病和免疫性疾病的血清诊断.免疫缺陷(IB).第40部分:术语、一般方法的特殊要求

台湾地方标准，关于染色体 缺陷的标准

  • CNS 14104-1-1997 义肢学与矫具学–肢体缺陷–第一部分：描述先天性肢体缺陷之方法
  • CNS 14104.1-1997 义肢学与矫具学–肢体缺陷–第一部分：描述先天性肢体缺陷之方法
  • CNS 5474-1980 瓷质实验仪器胚体孔隙度与釉缺陷检验法
  • CNS 14104.2-1997 义肢学与矫具学–肢体缺陷–第二部分：描述下肢截肢之方法
  • CNS 14104.3-1998 义肢学与矫具学--肢体缺陷：第三部分：描述上肢截肢之方法
  • CNS 14104-2-1997 义肢学与矫具学–肢体缺陷–第二部分：描述下肢截肢之方法
  • CNS 14104-3-1998 义肢学与矫具学--肢体缺陷：第三部分：描述上肢截肢之方法

法国标准化协会，关于染色体 缺陷的标准

国家质检总局，关于染色体 缺陷的标准

  • GB/T 43612-2023 碳化硅晶体材料缺陷图谱
  • GB/T 43493.1-2023 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分：缺陷分类
  • GB/T 9634.1-2002 铁氧体磁心表面缺陷极限导则 第1部分;总则
  • GB/T 9634.2-2002 铁氧体磁心表面缺陷极限导则 第2部分;RM磁心
  • GB/T 43493.2-2023 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分：缺陷的光学检测方法
  • GB/T 28864.1-2012 软磁铁氧体磁心术语定义.第1部分：物理缺陷术语
  • GB/T 9634.4-2007 铁氧体磁心表面缺陷极限导则 第4部分:环形磁心
  • GB/T 32757-2016 贝类染色体组型分析
  • GB/T 43493.3-2023 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分：缺陷的光致发光检测方法
  • GB/T 9634.3-2002 铁氧体磁心表面缺陷极限导则 第3部分;ETD和E形磁心
  • GB 15193.6-1994 骨髓细胞染色体畸变试验
  • GB 15193.8-1994 小鼠睾丸染色体畸变试验
  • GB 15193.8-2003 小鼠睾丸染色体畸变试验
  • GB/T 4466-2003 还原染料 悬浮体轧染色光和强度的测定
  • GB/T 30789.8-2015 色漆和清漆 涂层老化的评价 缺陷的数量和大小以及外观均匀变化程度的标识 第8部分:划线或其它人造缺陷周边剥离和腐蚀等级的评定
  • GB/T 28236-2011 染色体畸变估算生物剂量方法
  • GB/T 27827-2011 化学品.体内姊妹染色单体交换试验方法

行业标准-石油，关于染色体 缺陷的标准

  • SY/T 6477-2000 含缺陷油气输送管道剩余强度评价方法 第1部分：体积型缺陷

BE-NBN，关于染色体 缺陷的标准

RO-ASRO，关于染色体 缺陷的标准

加拿大标准协会，关于染色体 缺陷的标准

行业标准-电子，关于染色体 缺陷的标准

行业标准-机械，关于染色体 缺陷的标准

中国团体标准，关于染色体 缺陷的标准

行业标准-船舶，关于染色体 缺陷的标准

国家能源局，关于染色体 缺陷的标准

英国标准学会，关于染色体 缺陷的标准

  • BS IEC 63068-1:2019 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷无损识别标准 缺陷分类
  • BS ISO 5618-1:2023 精细陶瓷（先进陶瓷高级技术陶瓷） GaN晶体表面缺陷的测试方法 缺陷的分类
  • BS EN 60424-1:2000 铁氧体磁芯表面缺陷限值指南.通用规范
  • BS EN 60424-1:2016 铁氧体磁芯.表面缺陷限值指南.通用规范
  • BS IEC 63068-3:2020 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷无损识别标准光致发光缺陷测试方法
  • BS IEC 63068-2:2019 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷无损识别标准 光学检测缺陷测试方法
  • BS EN 60424-3:1999 铁氧体磁芯表面缺陷限值指南.ETD芯和E芯
  • BS EN 60424-4:2001 铁氧体磁芯表面缺陷极限值指南.环形磁芯
  • BS EN 60424-4:2016 铁氧体磁芯.表面缺陷极限值指南.环形磁芯
  • BS EN ISO 21227-1:2003 色漆和清漆.用光成像评定覆层表面缺陷.通用指南
  • 23/30438675 DC BS ISO 5618-1 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷） GaN晶体表面缺陷的测试方法 第1部分：缺陷的分类
  • BS EN 61988-2-3:2009 等离子体显示器.测量方法.图像质量.退化和缺陷
  • BS ISO 8548-4:1998 修复术和矫形学.肢体缺陷.导致截肢的原因描述
  • BS IEC 63229:2021 半导体器件 碳化硅衬底氮化镓外延膜缺陷分类
  • BS ISO 8548-2:2020 假肢和矫形器 肢体缺陷 下肢截肢残端的描述方法
  • 18/30382424 DC BS IEC 63068-3 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷无损识别标准第3部分 光致发光缺陷测试方法
  • BS EN 12584:1999 氧气火焰切割、激光束切割和等离子体切割缺陷.术语
  • BS EN 60424-5:2009 铁氧体磁芯.表面缺陷的限值指南.第5部分:平面磁芯
  • BS EN 60424-3:2016 铁氧体磁芯.表面缺陷限值指南.ETD芯、EER芯、EC芯和E芯
  • BS EN 12584:1999(2009) 氧气火焰切割、激光束切割和等离子体切割缺陷.术语
  • PD CEN ISO/TR 9241-310:2015 人机交互的人体工程学 像素缺陷的可见性、美观性和人体工程学
  • BS EN ISO 17658:2015 焊接.氧气火焰切割、激光束切割和等离子体切割缺陷.术语
  • 18/30386543 DC BS EN 63229 Ed.1.0 半导体器件 碳化硅衬底氮化镓外延片缺陷分类
  • BS IEC 63068-4:2022 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损识别标准 使用光学检查和……相结合的方法识别和评估缺陷的程序
  • 19/30404655 DC BS EN IEC 63229 半导体器件 碳化硅衬底氮化镓外延薄膜缺陷的分类

PL-PKN，关于染色体 缺陷的标准

国际标准化组织，关于染色体 缺陷的标准

  • ISO 11457:2018 皮革 - 根据缺陷分级湿蓝色山羊和绵羊皮
  • ISO/PRF 5618-1:2023 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷） GaN晶体表面缺陷测试方法 第1部分：缺陷分类
  • ISO/CD 5868 眼科光学和仪器 用于诊断红绿色视觉缺陷的 Anomaloscopes
  • ISO/DIS 5618-1:2023 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷） GaN晶体表面缺陷测试方法 第1部分：第1部分：缺陷分类
  • ISO/DIS 5868:2011 眼科光学和仪器 用于诊断红绿色视觉缺陷的畸变镜
  • ISO/DIS 24505-2:2023 人体工程学 — 无障碍设计 — 创建颜色组合的方法 — 第 2 部分：针对色觉缺陷和视力低下的人
  • ISO/DIS 3643:2023 滚动轴承 陶瓷滚动体 表面缺陷的常用词汇和特征
  • ISO/CD 24505-2:2023 人体工程学 — 无障碍设计 — 创建颜色组合的方法 — 第 2 部分：针对色觉有缺陷的人和视力低下的人
  • ISO 21227-1:2003 色漆和清漆.光成像法评定涂覆表面的缺陷.第1部分:通用指南
  • ISO 17658:2002 焊接.氧气火焰切割、激光束切割和等离子体切割的缺陷
  • ISO/DIS 8548-3 假肢与矫形器《肢体缺陷》第3部分：描述上肢截肢残端的方法
  • ISO 8548-2:2020 假肢和矫形器 - 肢体缺陷 - 第2部分:描述下肢截肢残片的方法

VDI - Verein Deutscher Ingenieure，关于染色体 缺陷的标准

欧洲标准化委员会，关于染色体 缺陷的标准

  • EN 623-1:2006 高级工业陶瓷.整块陶瓷.一般性能和结构性能.第1部分:用染色穿透法测定缺陷
  • EN 623-1:1995 高级工业陶瓷.整块陶瓷.一般性能和结构性能.第1部分:用染色穿透法测定缺陷
  • EN 16492:2014 色漆和清漆 由真菌和藻类对涂层造成的表面缺陷的评估
  • EN ISO/TR 9241-310:2015 人机交互的人体工程学 第310部分：像素缺陷的可见性、美学和人体工程学
  • EN ISO 17658:2015 焊接.氧气火焰切割,激光束切割和等离子体切割缺陷.术语(ISO 17658:2002)

国际电工委员会，关于染色体 缺陷的标准

  • IEC 63068-1:2019 半导体器件.功率器件用碳化硅同质外延片中缺陷的无损识别标准.第1部分:缺陷分类
  • IEC 60424-2:1997 铁氧体磁芯 表面缺陷极限指南 第2部分:RM-磁芯
  • IEC 60424-1:1999 铁氧体磁芯 表面缺陷极限指南 第1部分:总规范
  • IEC 60424-1:2015 铁氧体磁芯.表面缺陷极限指南.第1部分:总规范
  • IEC 60424-2:2015 铁氧体磁芯.表面缺陷极限指南.第2部分:RM-磁芯
  • IEC 63068-2:2019 半导体器件.功率器件用碳化硅同质外延片中缺陷的无损识别标准.第2部分:光学检验缺陷的试验方法
  • IEC 60424-4:2001 铁氧体磁芯 表面缺陷极限指南 第4部分：环形磁芯
  • IEC 60424-4:2015 铁氧体磁芯.表面缺陷极限指南.第4部分:环形磁芯
  • IEC 63068-4:2022 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损识别标准 第4部分：使用梳子识别和评估缺陷的程序
  • IEC 60424-3:1999 铁氧体磁芯 表面缺陷极限指南 第3部分:ETD芯和E芯
  • IEC 60424-5:2009 铁氧体磁芯.表面缺陷的限值指南.第5部分:平面磁芯
  • IEC 63229:2021 半导体器件.碳化硅衬底上氮化镓外延膜缺陷的分类
  • IEC 63068-3:2020 半导体器件.功率器件用碳化硅同质外延片中缺陷的无损识别标准.第3部分:用光致发光法检测缺陷的试验方法
  • IEC 60424-3:2015 铁氧体磁芯.表面缺陷极限指南.第3部分:ETD芯、EER芯、EC芯和E芯

德国机械工程师协会，关于染色体 缺陷的标准

未注明发布机构，关于染色体 缺陷的标准

  • DIN 58969-41 E:1991-09 医用微生物学 传染病的血清诊断 免疫缺陷斑(IB) 第41部分：防止人体免疫缺乏病毒 HIV-1 或 HIV-2 抗体的检测用特殊要求
  • DIN EN 623-1:1995 先进技术陶瓷——整体陶瓷 一般和质地特性 第 1 部分：通过染料渗透测定缺陷的存在
  • DIN EN 60424-1 E:2013-05 铁氧体磁芯 表面缺陷极限指南 第1部分：总规范（草案）
  • DIN EN 60424-2 E:2013-05 铁氧体磁芯 表面缺陷极限指南 第2部分：RM-磁芯（草案）
  • DIN EN 60424-4 E:2013-05 铁氧体磁芯 表面缺陷极限指南 第4部分：环形磁芯（草案）
  • DIN 58967-40:1991 传染病和免疫性疾病的血清诊断 免疫缺陷(IB) 第40部分：术语、一般方法的特殊要求

丹麦标准化协会，关于染色体 缺陷的标准

  • DS/EN 623-1:2006 高级技术陶瓷 整体陶瓷 一般和结构特性 第1部分：通过染料渗透确定缺陷的存在
  • DS/ISO/TR 9241-310:2010 人机交互的人体工程学 第310部分：像素缺陷的可见性、美学和人体工程学

立陶宛标准局，关于染色体 缺陷的标准

  • LST EN 623-1-2006 高级技术陶瓷 整体陶瓷 一般和结构特性 第1部分：通过染料渗透确定缺陷的存在

ES-UNE，关于染色体 缺陷的标准

  • UNE-EN 623-1:2006 先进技术陶瓷 整体陶瓷 一般和结构特性 第1部分：通过染料渗透测定缺陷的存在

US-CLSI，关于染色体 缺陷的标准

  • CLSI M53-A-2011 人类免疫缺陷病毒感染的实验室检测和诊断标准；批准的指南

美国国防后勤局，关于染色体 缺陷的标准

日本工业标准调查会，关于染色体 缺陷的标准

国家药监局，关于染色体 缺陷的标准

  • YY/T 1611-2018 人类免疫缺陷病毒抗体检测试剂盒（免疫层析法）
  • YY 1727-2020 口腔黏膜渗出液人类免疫缺陷病毒抗体检测试剂盒（胶体金免疫层析法）

AENOR，关于染色体 缺陷的标准

  • UNE-EN 16492:2014 色漆和清漆 由真菌和藻类对涂层造成的表面缺陷的评估
  • UNE 111912:1990 保护学和矫形器 医疗方面 出生时存在的肢体缺陷描述

美国通用公司（巴西），关于染色体 缺陷的标准

  • GMSA LTP 201-2011 不用于新程序的气缸体表面缺陷验收要求；无更换
  • GMSA LTP 215-2011 水泵体表面缺陷验收要求 不得用于新项目；无更换
  • GMSA LTP 217-2011 油泵体表面缺陷验收要求 不得用于新项目；无更换
  • GMSA LTP 202-2011 气缸体表面缺陷验收要求 家族 II 不得用于新程序；无更换

国家食品药品监督管理局，关于染色体 缺陷的标准

  • YY/T 1526-2017 人类免疫缺陷病毒抗原抗体联合检测试剂盒（发光类）
  • YY/T 1514-2017 人类免疫缺陷病毒（1+2型）抗体检测试剂盒（免疫印迹法）

工业和信息化部，关于染色体 缺陷的标准

  • HG/T 5495-2018 纺织染整助剂 涤纶染色载体 促染效果的测定

行业标准-铁道，关于染色体 缺陷的标准

  • TB/T 3031-2002 铁路用辗钢整体车轮径向全截面低倍组织缺陷的评定

FI-SFS，关于染色体 缺陷的标准

  • SFS 5151 E-1985 对于视觉缺陷者的辅助工具．白色手杖．对于反光镜的要求和试验

CEN - European Committee for Standardization，关于染色体 缺陷的标准

  • CEN ISO/TR 9241-310:2015 人机交互的人体工程学 第310部分：像素缺陷的 Visibility 美学和人体工程学

行业标准-农业，关于染色体 缺陷的标准

  • 180药典 三部-2020 各论 Ⅳ体外诊断类 人类免疫缺陷病毒抗体诊断试剂盒（酶联免疫法）
  • 161药典 三部-2015 各论 Ⅳ体外诊断类 人类免疫缺陷病毒抗体诊断试剂盒（酶联免疫法）
  • GB/T 15193.8-2003 小鼠睾丸染色体畸变试验
  • 181药典 三部-2020 各论 Ⅳ体外诊断类 人类免疫缺陷病毒抗原抗体诊断试剂盒（酶联免疫法）
  • 135药典 三部-2010 各论目次 Ⅳ体外诊断类 人类免疫缺陷病毒抗体诊断试剂盒（酶联免疫法）

美国通用公司（欧洲），关于染色体 缺陷的标准

  • GME R-7-5-2000 法兰克福客户课程，旁通阀有缺陷的流体/空气冷却器测试

青海省标准，关于染色体 缺陷的标准

  • DB63/T 1781-2020 电站现场晶体硅太阳能电池组件隐性缺陷检测技术规范

(美国)军事条例和规范，关于染色体 缺陷的标准

TR-TSE，关于染色体 缺陷的标准

  • TS 847-1970 染色用络交椎体．椎体半角为4° 20'
  • TS 852-1970 染色用转移锥体．4°20'锥体的半角

GOSTR，关于染色体 缺陷的标准

行业标准-教育，关于染色体 缺陷的标准

  • JY 88-1982 唾腺染色体装片技术条件（试行）

染色体 缺陷，金属各种缺陷缺陷检测，样品 缺陷，磷缺陷，高温 缺陷，出生缺陷，ms 缺陷，ms缺陷，结构缺陷，压铸 缺陷，氧 缺陷，缺陷 性质，设备 缺陷，法规 缺陷，缺陷 原因，碳 缺陷，设计缺陷，出生 缺陷，表面缺陷，材料缺陷。

 

可能用到的仪器设备

 

MALDI质谱毅新博创CLIN-TOF-Ⅰ 适用于无创产前Rh血型快速鉴定

MALDI质谱毅新博创CLIN-TOF-Ⅰ 适用于无创产前Rh血型快速鉴定

北京毅新博创生物科技有限公司

 

临床飞行时间质谱系统CLIN-TOF-Ⅱ毅新博创 适用于无创产前Rh血型快速鉴定

临床飞行时间质谱系统CLIN-TOF-Ⅱ毅新博创 适用于无创产前Rh血型快速鉴定

北京毅新博创生物科技有限公司

 

毅新博创 临床飞行时间质谱系统CLIN-TOF-Ⅱ 无创产前Rh血型快速鉴定

毅新博创 临床飞行时间质谱系统CLIN-TOF-Ⅱ 无创产前Rh血型快速鉴定

北京毅新博创生物科技有限公司

 

WIGGENS WH1200-C生物培养磁力搅拌器

WIGGENS WH1200-C生物培养磁力搅拌器

北京桑翌实验仪器研究所

 

蔡司MetaSystems Ikaros染色体核型分析系统

蔡司MetaSystems Ikaros染色体核型分析系统

埃克森（北京）科技有限公司

 

 



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