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表面能分析
本专题涉及表面能分析的标准有133条。
国际标准分类中，表面能分析涉及到太阳能工程、分析化学、长度和角度测量。
在中国标准分类中，表面能分析涉及到基础标准与通用方法、化学、综合技术、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置。
韩国科技标准局，关于表面能分析的标准
- KS C IEC 61725-2005(2020) 日常太阳能剖面分析表达式
- KS D ISO 15471-2020 表面化学分析 俄歇电子能谱 所选仪器性能参数说明
- KS D ISO 15471-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱学－选定仪器性能参数的描述
- KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪部分性能参数说明
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
- KS D ISO 15470-2020 表面化学分析 X射线光电子能谱 所选仪器性能参数说明
- KS D ISO 19319-2020 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析仪观察到的样品面积的测定
- KS D ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- KS D ISO 21270-2020 表面化学分析 X射线光电子能谱和俄歇电子能谱仪 强度标度线性度
- KS D ISO 19319:2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- KS D ISO 19318-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱电荷控制和电荷校正方法报告
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性
- KS D ISO 19318-2020 表面化学分析 X射线光电子能谱 电荷控制和电荷校正方法的报告
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于表面能分析的标准
- GB/T 41072-2021 表面化学分析 电子能谱 紫外光电子能谱分析指南
- GB/T 36504-2018 印刷线路板表面污染物分析 俄歇电子能谱
- GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
- GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
- GB/T 38114-2019 纳米技术 石墨烯材料表面含氧官能团的定量分析 化学滴定法
GSO，关于表面能分析的标准
- GSO ISO 15471:2013 表面化学分析 电子能谱 有用性能参数选择的描述
- GSO ISO 15472:2013 表面化学分析 X射线光谱 能量计校准
- GSO ISO 10810:2013 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析说明
- OS GSO ISO 10810:2013 表面化学分析X射线光电子能谱分析指南
- BH GSO ISO 10810:2016 表面化学分析X射线光电子能谱分析指南
- GSO ISO/TR 18394:2021 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的推导
- BH GSO ISO 16242:2017 表面化学分析 俄歇电子能谱 (AES) 中记录和报告数据
- GSO ISO 13424:2015 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果报告
- OS GSO ISO 13424:2015 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果报告
- BH GSO ISO 13424:2017 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果报告
- GSO ISO 19830:2016 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- BH GSO ISO 19830:2017 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- GSO ISO 16242:2015 表面化学分析 在俄歇电子能谱中记录和报告数据
- BH GSO ISO 15472:2016 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标度的校准
- GSO ISO 29081:2013 表面化学分析 电子能谱 用于控制电荷和校正电荷的方法的编纂
- GSO ISO/TR 18392:2013 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定背景的程序
- GSO ISO 14701:2013 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度测量
- OS GSO ISO 18516:2013 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率的测定
- GSO ISO 18516:2013 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率的测定
- BH GSO ISO 18516:2016 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率的测定
- OS GSO ISO 29081:2013 表面化学分析 俄歇电子能谱 电荷控制和电荷校正方法的报告
- BH GSO ISO 29081:2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 电荷控制和电荷校正方法的报告
- GSO ISO 15470:2013 表面化学分析 X射线光电子能谱 有用性能参数的描述和选择
- GSO ISO 24237:2013 表面化学分析 X射线光电子能谱 强度标度的重复性和稳定性
- GSO ISO 18554:2017 表面化学分析 电子能谱 在接受X射线光电子能谱分析的材料中识别、估计和校正X射线意外降解的程序
- OS GSO ISO 18554:2017 表面化学分析 电子能谱 在接受X射线光电子能谱分析的材料中识别、估计和校正X射线意外降解的程序
- OS GSO ISO 21270:2014 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度的线性
- GSO ISO 21270:2014 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度的线性
- BH GSO ISO 21270:2016 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度的线性
- OS GSO ISO 16129:2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 评估X射线光电子能谱仪日常性能的程序
- BH GSO ISO 16129:2015 表面化学分析 X射线光电子能谱 评估X射线光电子能谱仪日常性能的程序
- OS GSO ISO 19318:2013 表面化学分析 X射线光电子能谱 电荷控制和电荷校正方法的报告
- BH GSO ISO 19318:2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 电荷控制和电荷校正方法的报告
国家质检总局，关于表面能分析的标准
- GB/Z 32494-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析
- GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- GB/T 25187-2010 表面化学分析.俄歇电子能谱.选择仪器性能参数的表述
- GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
- GB/T 28892-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.选择仪器性能参数的表述
- GB/T 28892-2024 表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述
- GB/T 29558-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱 强度标的重复性和一致性
- GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
- GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
- GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
- GB/T 28633-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.强度标的重复性和一致性
- GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
- GB/T 25185-2010 表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告
国际标准化组织，关于表面能分析的标准
- ISO 10810:2019 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南
- ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱学.分析导则
- ISO/TR 18394:2016 表面化学分析. 俄歇电子能谱学. 提取化学信息
- ISO 13424:2013 表面化学分析——X射线光电子能谱；薄膜分析结果的报告
- ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- ISO 16242:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据
- ISO/TR 19693:2018 表面化学分析. 生物传感用功能玻璃基片的特性
- ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 射线光电子能谱 确定背景的程序
- ISO 15470:2017 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
- ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
- ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
- ISO 29081:2010 表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法
- ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- ISO/TR 19319:2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
- ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- ISO/CD 5861 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色Al Ka XPS仪器强度校准方法
- ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色 Al Kα XPS 仪器强度校准方法
- ISO/PRF 5861:2024 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色 Al Kα XPS 仪器强度校准方法
英国标准学会，关于表面能分析的标准
- BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- BS ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析指南
- PD ISO/TR 18394:2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的推导
- PD ISO/TR 23173:2021 表面化学分析 电子能谱 纳米粒子涂层的厚度和成分的测量
- BS ISO 15471:2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 所选仪器性能参数的描述
- BS ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- BS ISO 16242:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱术的记录和报告数据(AEC)
- BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
- BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率的测定
- BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
- BS ISO 29081:2010 表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法
- BS ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度尺度的线性
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度线性度
- BS ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- BS ISO 19668:2017 表面化学分析 X射线光电子能谱 均质材料中元素检测限的估计和报告
- BS ISO 19318:2021 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法
SCC，关于表面能分析的标准
- BS PD ISO/TR 18394:2006 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的推导
- BS ISO 15471:2004 表面化学分析 俄歇电子能谱 所选仪器性能参数的描述
- BS PD ISO/TR 19319:2003 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
- ISO 15472:2001/DAmd 1 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能量校准 修改件1
- BS ISO 15470:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱 所选仪器性能参数的描述
- DIN ISO 16242 E:2019 文件草案 表面化学分析 俄歇电子能谱 (AES) 记录和报告数据 (ISO 16242:2011) 英文文本
- DIN ISO 15472 E:2019 文件草案 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标度校准（ISO 15472:2010） 英文文本
- BS ISO 19318:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法
法国标准化协会，关于表面能分析的标准
- NF X21-071:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析用导则
- NF ISO 16242:2012 表面化学分析 俄歇电子能谱(AES)数据记录和报告
- NF ISO 24236:2006 表面化学分析 俄歇电子能谱 能级的重复性和恒定性
- NF X21-072*NF ISO 16242:2012 表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据
- NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 射线光电子能谱(XPS)中的数据记录和报告
- NF ISO 29081:2010 表面化学分析 俄歇电子能谱 电荷控制和校正所采用的方法的指示
未注明发布机构，关于表面能分析的标准
- DIN ISO 15472 E:2019-09 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能标校准
- DIN ISO 16242 E:2019-10 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）中的数据记录和报告
- DIN ISO 16129 E:2020-01 表面化学分析 X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于表面能分析的标准
- GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
- GB/T 32565-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求
- GB/T 32998-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求
- GB/T 33502-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求
KR-KS，关于表面能分析的标准
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准
德国标准化学会，关于表面能分析的标准
- DIN ISO 16242:2020-05 表面化学分析 在俄歇电子能谱(AES)中记录和报告数据
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)
- DIN ISO 15472:2020 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能标校准（ISO 15472:2010）；英文文本
- DIN ISO 16242:2020 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）中的数据记录和报告（ISO 16242:2011）；英文文本
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
日本工业标准调查会，关于表面能分析的标准
- JIS K 0152:2014 表面化学分析. X射线光电子能谱分析. 强度标的重复性和一致性
澳大利亚标准协会，关于表面能分析的标准
- AS ISO 19319:2006 表面化学分析．Augur电子能谱法和X射线光电子光谱法．分析员对横向分辨率；分析区域和样品区域的目视检测
RU-GOST R，关于表面能分析的标准
- GOST R ISO 16242-2016 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 俄歇电子能谱学 (AES) 的记录和报告数据
