afm显微镜探针
本专题涉及afm显微镜探针的标准有59条。
国际标准分类中，afm显微镜探针涉及到有色金属、教育、分析化学、光学和光学测量、光学设备、词汇、长度和角度测量、机械试验、无损检测、试验条件和规程综合。
在中国标准分类中，afm显微镜探针涉及到放大镜与显微镜、教学专用仪器、基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、光学计量、稀有金属及其合金分析方法、化学、电化学、热化学、光学式分析仪器。
韩国科技标准局，关于afm显微镜探针的标准
- KS D 2714-2016(2021) 扫描探针显微镜－侧向力显微镜法
- KS D 2714-2016 横向力显微镜扫描探针显微镜方法
- KS D 2714-2006 扫描探针显微镜.横向剪切力的测量方法
- KS D ISO 23833:2022 微束分析.电子探针显微分析（EPMA）.词汇
国家计量技术规范，关于afm显微镜探针的标准
- JJF 1351-2012 扫描探针显微镜校准规范
行业标准-教育，关于afm显微镜探针的标准
- JY/T 0582-2020 扫描探针显微镜分析方法通则
国际标准化组织，关于afm显微镜探针的标准
- ISO 13095:2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
- ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义与校准
- ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的指南
- ISO 23729:2022 表面化学分析.原子力显微镜.有限探针尺寸放大原子力显微镜图像的恢复程序指南
- ISO 11039:2012 表面化学分析.扫描探针显微镜.漂移率的测定标准
- ISO 18115-2:2021 表面化学分析词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
- ISO 28600:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜检查用数据传送格式
- ISO 21222:2020 表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
- ISO 11775:2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
- ISO 18115-2:2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜检查中使用的术语
- ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
- ISO 11952:2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准
- ISO 18115-2:2013 表面化学分析.词汇表.第2部分:扫描-探针显微镜检查中应用的术语
- ISO 19463:2018 微光束分析.电子探针显微分析仪（EPMA）.执行质量保证程序的指南
英国标准学会，关于afm显微镜探针的标准
- BS ISO 13095:2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
- BS ISO 18115-2:2013 表面化学分析. 词汇. 扫描探针显微镜用术语
- BS ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
- BS ISO 11039:2012 表面化学分析.扫面探针显微镜.漂移率的测定
- BS ISO 28600:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜的数据传送格式
- BS ISO 23729:2022 表面化学分析 原子力显微镜 有限探针尺寸扩张的原子力显微镜图像恢复程序指南
- BS ISO 18115-2:2021 表面化学分析 词汇 扫描探针显微镜中使用的术语
- 21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化学分析 原子力显微镜 有限探针尺寸扩张的原子力显微镜图像恢复程序指南
- BS ISO 18115-2:2010 表面化学分析.词汇表.扫描-探针显微镜检查中应用的术语
- BS ISO 11775:2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
- BS ISO 21222:2020 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用原子力显微镜和两点 JKR 方法测定柔顺材料弹性模量的程序
- 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用原子力显微镜和两点 JKR 方法测定柔顺材料弹性模量的程序
- BS ISO 11952:2019 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用 SPM 确定几何量：测量系统的校准
- 19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于电子探针显微镜或电子探针微量分析仪(EPMA)的能量色散 X 射线光谱仪的规格和检查的选定仪器性能参数
- 12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1 表面化学分析 词汇 第 2 部分：扫描探针显微镜中使用的术语
国家质检总局，关于afm显微镜探针的标准
- GB/T 29190-2012 扫描探针显微镜漂移速率测量方法
- GB/T 42659-2023 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准
- GB/T 21636-2008 微束分析.电子探针显微分析(EPMA)术语
- GB/T 32055-2015 微束分析 电子探针显微分析 波谱法元素面分析
- GB/T 20725-2006 波谱法定性点分析电子探针显微分析导则
- GB/T 30705-2014 微束分析 电子探针显微分析 波谱法实验参数测定导则
- GB/T 28634-2012 微束分析.电子探针显微分析.块状试样波谱法定量点分析
- GB/T 15247-2008 微束分析.电子探针显微分析.测定钢中碳含量的校正曲线法
- GB/T 22461.2-2023 表面化学分析 词汇 第2部分： 扫描探针显微术术语
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于afm显微镜探针的标准
- GB/T 36052-2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式
德国机械工程师协会，关于afm显微镜探针的标准
- VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 使用扫描探针显微镜确定几何量 测量系统的校准
德国标准化学会，关于afm显微镜探针的标准
- DIN SPEC 52407:2015-03 纳米技术 使用原子力显微镜(AFM)和透射扫描电子显微镜(TSEM)进行粒子测量的准备和评估方法
法国标准化协会，关于afm显微镜探针的标准
- NF X21-069-2:2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜用术语.
日本工业标准调查会，关于afm显微镜探针的标准
- JIS K 0147-2:2017 表面化学分析. 词汇. 第2部分: 扫描探针显微镜用术语
KR-KS，关于afm显微镜探针的标准
- KS D ISO 23833-2022 微束分析.电子探针显微分析（EPMA）.词汇
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于afm显微镜探针的标准
- GB/T 21636-2021 微束分析 电子探针显微分析（EPMA） 术语
- GB/T 4930-2021 微束分析 电子探针显微分析 标准样品技术条件导则
RU-GOST R，关于afm显微镜探针的标准
- GOST 8.593-2009 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.鉴定方法
- GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法
- GOST R ISO 27911-2015 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
美国材料与试验协会，关于afm显微镜探针的标准
- ASTM E1813-96e1 扫描探测显微镜探头测量和报告的标准实施规程
- ASTM E1813-96(2002) 扫描探测显微镜探头测量和报告的标准实施规程
- ASTM E1813-96(2007) 扫描探测显微镜探头测量和报告的标准实施规程
ESDU - Engineering Sciences Data Unit，关于afm显微镜探针的标准
- SPB-M6-2-2010 月 8 日：通过原子力显微镜（AFM）测量沥青质与不同表面之间的胶体相互作用
