锗30

本专题涉及锗30的标准有195条。

国际标准分类中，锗30涉及到核能工程、物理学、化学、金属材料试验、半导体材料、有色金属产品、化工产品、辐射防护、金属矿、有色金属、能源和热传导工程综合、煤、食品综合、辐射测量、绝缘流体、电子元器件综合、词汇、土质、土壤学、职业安全、工业卫生、工业炉、分析化学、电学、磁学、电和磁的测量、试验、半导体分立器件。

在中国标准分类中，锗30涉及到核探测器、人工晶体、金属物理性能试验方法、元素半导体材料、稀有分散金属及其合金、半金属及半导体材料分析方法、半金属与半导体材料综合、化合物半导体材料、金属化学性能试验方法、工业气体与化学气体、放射卫生防护、有色金属矿综合、通用核仪器、重金属及其合金分析方法、技术管理、贵金属及其合金、稀有金属矿、核仪器与核探测器综合、煤炭分析方法、钢铁与铁合金分析方法、食品卫生、重金属矿、核材料、核燃料及其分析试验方法、半金属、、金相检验方法、车船、煤气用煤、稀有金属及其合金分析方法、基础标准与通用方法、、、卫生、安全、劳动保护、辐射防护仪器、仪器、仪表用材料和元件、工业电热设备、固体燃料矿综合、电磁兼容、放射源、堆用核仪器、电离辐射计量、热学计量、石油物探测井设备与仪器、光学仪器综合、电子技术专用材料、半导体二极管、半导体三极管。

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于锗30的标准

GB/T 40291-2021 核仪器仪表辐射探测器用高纯度锗晶体基本特性的测量方法
GB/T 39867-2021 正电子发射断层扫描仪用锗酸铋闪烁晶体
GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法
GB/T 5238-2019 锗单晶和锗单晶片
GB/T 11071-2018 区熔锗锭
GB/T 37211.1-2018 金属锗化学分析方法第1部分：砷含量的测定砷斑法
GB/T 37211.2-2018 金属锗化学分析方法第2部分：铝、铁、铜、镍、铅、钙、镁、钴、铟、锌含量的测定电感耦合等离子体质谱法
GB/T 8756-2018 锗晶体缺陷图谱

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于锗30的标准

GB/T 35308-2017 太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片
GB/T 11070-2017 还原锗锭
GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法

中华人民共和国国家卫生和计划生育委员会，关于锗30的标准

GB/T 11713-2015 高纯锗γ能谱分析通用方法（GBT 11713-2015）

国家质检总局，关于锗30的标准

GB/T 31987-2015 电子工业用气体锗烷
GB/T 11713-2015 高纯锗γ能谱分析通用方法
GB/T 14353.14-2014 铜矿石、铅矿石和锌矿石化学分析方法第14部分:锗量测定
GB/T 30861-2014 太阳能电池用锗衬底片
GB/T 30151-2013 高纯锗γ谱仪本底谱的特性
GB/T 8151.13-2012 锌精矿化学分析方法第13部分：锗量的测定氢化物发生-原子荧光光谱法和苯芴酮分光光度法
GB 29413-2012 锗单位产品能源消耗限额
GB/T 26292-2010 金锗蒸发料
GB/T 26072-2010 太阳能电池用锗单晶
GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
GB/T 14352.15-2010 钨矿石、钼矿石化学分析方法第15部分：锗量测定
GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
GB/T 5238-2009 锗单晶和锗单晶片
GB/T 23523-2009 再生锗原料中锗的测定方法
GB/T 23513.5-2009 锗精矿化学分析方法.第5部分:二氧化硅量的测定.重量法
GB/T 23522-2009 再生锗原料
GB/T 23513.3-2009 锗精矿化学分析方法.第3部分:硫量的测定.硫酸钡重量法
GB/T 23513.4-2009 锗精矿化学分析方法.第4部分:氟量的测定.离子选择电极法
GB/T 23513.1-2009 锗精矿化学分析方法.第1部分:锗量的测定.碘酸钾滴定法
GB/T 23513.2-2009 锗精矿化学分析方法.第2部分:砷量的测定.硫酸亚铁铵滴定法
GB/T 7167-2008 锗γ射线探测器测试方法
GB/T 8207-2007 煤中锗的测定方法
GB/T 11071-2006 区熔锗锭
GB/T 11070-2006 还原锗锭
GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
GB/T 20127.6-2006 钢铁及合金.痕量元素的测定.第6部分:没食子酸-示波极谱法测定锗含量
GB/T 5009.151-2003 食品中锗的测定
GB/T 5009.127-2003 食品包装用聚酯树脂及其成型品中锗的测定
GB/T 8151.13-2000 锌精矿化学分析方法锗量的测定
GB/T 17036-1997 铀矿地质样品中锗的测定水杨基萤光酮分光光度法
GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
GB/T 7167-1996 锗γ射线探测器测试方法
GB/T 5238-1995 锗单晶
GB/T 15713-1995 锗单晶片
GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法
GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
GB/T 14353.14-1993 铜矿石、铅矿石和锌矿石化学分析方法四氯化碳萃取分离,溴化十六烷基三甲胺-苯芴酮光度法测定锗量
GB/T 14352.15-1993 钨矿石、钼矿石化学分析方法蒸馏分离,溴化十六烷基三甲胺-苯芴酮光度法测定锗量
GB/T 11070-1989 还原锗锭
GB/T 11071-1989 区熔锗锭
GB/T 9532-1988 铌酸锂、钽酸锂、锗酸铋、硅酸铋压电单晶材料型号命名方法
GB/T 8756-1988 锗晶体缺陷图谱
GB/T 8207-1987 煤中锗的测定方法
GB/T 5252-1985 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
GB/T 4375.9-1984 镓化学分析方法苯基荧光酮-聚乙二醇辛基苯基醚光度法测定锗量

工业和信息化部，关于锗30的标准

YS/T 1510-2021 高纯锗粉
YS/T 1341.9-2019 粗锌化学分析方法第9部分：锗含量的测定苯芴酮分光光度法
YS/T 1171.11-2019 再生锌原料化学分析方法第11部分：锗含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
YS/T 1341.11-2019 粗锌化学分析方法第11部分：铅、铁、镉、铜、锡、铝、砷、锑、锗和铟含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
YS/T 1180-2017 锗精矿单位产品能源消耗限额
YS/T 1168-2016 饰品用锗合金
YS/T 1182-2016 锗单晶安全生产规范
YS/T 1107-2016 羧乙基锗倍半氧化物化学分析方法
YS/T 988-2014 羧乙基锗倍半氧化物

国际电工委员会，关于锗30的标准

IEC 61452:2021 核仪器.γ射线放射性核素放射性活度或发射率的测量.锗基光谱仪的校准和使用
IEC 61435:2013 核仪器 - 用于辐射检测器的高纯度锗晶体 - 基本特性的测量方法
IEC 61435-2013 核仪器.放射探测器用高纯度锗晶体.基本特性的测量方法
IEC 61275:2013 辐射防护仪器 - 环境中离散放射性核素的测量 - 使用锗检测器的原位光子分光系统
IEC 61275-2013 辐射防护仪表.环境中放射性核素的测量.使用锗探测器的现场光子光谱测定系统
IEC 61275-1997 辐射防护仪表环境中放射性核素的测量使用锗探测器的现场光子光谱测定系统
IEC 61435-1996 核仪器放射探测器用高纯度锗晶体
IEC 61452:1995 核仪器 - 放射性核素伽马射线辐射率的测量 - 锗光谱仪的校准和使用
IEC 61452-1995 核仪器放射性核素r射线发射率的测量锗分光仪的校验和应用
IEC 60973:1989 锗伽马射线探测器测试程序
IEC 60973-1989 锗γ射线探测器的试验程序
IEC 60937-1988 γ射线谱仪用锗半导体探头冷阱端帽罩尺寸

海关总署，关于锗30的标准

SN/T 5242-2020 进出口纺织品锗含量的测定电感耦合等离子体质谱法

国家计量技术规范，关于锗30的标准

JJF 1850-2020 锗γ射线谱仪校准规范

生态环境部，关于锗30的标准

HJ1129-2020 就地高纯锗谱仪测量土壤中γ核素技术规范

黑龙江省市场监督管理局，关于锗30的标准

DB23/T 2411-2019 富锗土壤评价技术要求

云南省质量技术监督局，关于锗30的标准

DB53/T 898-2018 煤中锗含量的测定原子荧光光谱法
DB53/T 897-2018 煤中锗含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
DB53/T 729-2015 锌物料中锗含量的测定分光光度法

国家质量监督检验检疫总局，关于锗30的标准

SN/T 4501.2-2017 镍精矿化学分析方法第2部分：镓、锗、硒、镉、铟、碲、镧、铊含量的测定电感耦合等离子体质谱法

，关于锗30的标准

PN C04555-1974 比色法测定水和废水中的锗

国土资源部，关于锗30的标准

DZ/T 0279.15-2016 区域地球化学样品分析方法第15部分：锗量测定氢化物发生——原子荧光光谱法
DZ/T 0279.16-2016 区域地球化学样品分析方法第16部分：锗量测定电感耦合等离子体质谱法

行业标准-商品检验，关于锗30的标准

SN/T 4243-2015 铜精矿中金、银、铂、钯、砷、汞、镉、镓、铟、锗、硒、碲、铊、镧的测定电感耦合等离子体质谱法
SN/T 2597-2010 食品接触材料高分子材料铅、镉、铬、砷、锑、锗迁移量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法

德国标准化学会，关于锗30的标准

DIN IEC 61275-2014 辐射防护仪器. 环境中放射性核素的测量. 使用锗探测器的现场光子光谱测定系统 (IEC 61275-2013)
DIN 25702-1995 核素单位放射性测量用检波器屏蔽.带锗检波器的标准系统
DIN 50435-1988 半导体材料试验:采用四探针/直流法测量硅片和锗片电阻率的径向变化
DIN 50431-1988 半导体材料的试验.用探针直线排列的四探针/直流法测量单晶硅或锗单晶体的电阻率

行业标准-有色金属，关于锗30的标准

YS/T 989-2014 锗粒
YS/T 956.1-2014 金锗合金化学分析方法第1部分:锗量的测定电感耦合等离子体发射光谱法
YS 783-2012 红外锗单晶单位产品能源消耗限额
YS/T 746.15-2010 无铅锡基焊料化学分析方法.第15部分:锗含量的测定水杨基荧光酮分光光度法
YS/T 956.2-2014 金锗合金化学分析方法第2部分:锗量的测定碘酸钾电位滴定法
YS/T 300-2008 锗精矿
YS/T 520.9-2007 镓化学分析方法.第9部分:锗含量的测定.苯基荧光酮-聚乙二醇辛基苯基醚萃取分光光度法
YS/T 602-2007 区熔锗锭电阻率测试方法两探针法
YS/T 300-2015 锗精矿
YS/T 300-1994 锗富集物
YS/T 602-2017 区熔锗锭电阻率测试方法两探针法
YS/T 520.9-2006 镓化学分析方法苯基荧光酮-聚乙二醇辛基苯基醚光度法测定锗量

行业标准-机械，关于锗30的标准

JB/T 5327-2014 锗锰铜电阻合金裸线及聚酯漆包线
JB/T 12068-2014 TDR-Z直拉法锗单晶炉
JB/T 5327-1991 锗锰铜电阻合金裸线及聚酯漆包线

英国标准学会，关于锗30的标准

BS IEC 61435-2013 核仪器.放射探测器用高纯度锗晶体.基本特性的测量方法
BS IEC 61435-2013 核仪器.放射探测器用高纯度锗晶体.基本特性的测量方法
BS IEC 61275-2013 辐射防护仪表.环境中放射性核素的测量.使用锗探测器的现场光子光谱测定系统
BS IEC 61275-2013 辐射防护仪表.环境中放射性核素的测量.使用锗探测器的现场光子光谱测定系统
BS 9300 C776-777-1971 锗同轴混频器二极管详细规范
BS 9300 C778-1971 锗同轴混频器二极管配对用详细规范

福建省质量技术监督局，关于锗30的标准

DB35/T 1248-2012 电子工业用锗烷气体中杂质含量的测定气相色谱法

日本工业标准调查会，关于锗30的标准

JIS Z4520-2007 锗γ射线探测器的试验规程
JIS Z 4520-2007 锗γ射线探测器的试验程序
JIS H0607-1978 用热电动势法测定锗导电类型
JIS H0603-1978 用光电导衰减法测定锗中少数载流子寿命
JIS H0610-1966 锗晶体浸蚀点密度的测定方法
JIS H0601-1962 锗的电阻率测试方法
JIS Z4520-1979 锗γ射线检测器试验方法

行业标准-煤炭，关于锗30的标准

MT/T 967-2005 煤中锗含量分级

韩国标准，关于锗30的标准

KS C IEC 61275-2005 辐射防护仪表.环境中放射性核素的测量.使用锗探测器的现场光子光谱测定系统
KS C IEC 61275-2005 辐射防护仪表.环境中放射性核素的测量.使用锗探测器的现场光子光谱测定系统
KS C 0263-2002 锗的电阻率测量方法
KS C 0263-2002 锗的电阻率测量方法
KS D 0264-1989 锗的腐蚀坑密度测量方法
KS D 0266-1989 温度电动势法测定锗的导电类型
KS D 0265-1989 光电导衰减测量法.锗的少数载流子寿命的测量方法
KS D 0265-1989 光电导衰减测量法.锗的少数载流子寿命的测量方法
KS D 0266-1989 温度电动势法测定锗的导电类型
KS D 0264-1989 锗的腐蚀坑密度测量方法

美国国家标准学会，关于锗30的标准

ANSI N42.28-2002 现场γ射线测量用锗探测器的校准
ANSI N42.14-1999 放射性核素γ射线放射速率的测量用锗分光计的校准和使用
ANSI/IEEE 1160-1993 辐射探测器用高纯度锗晶体的测试程序

美国电气电子工程师学会，关于锗30的标准

IEEE/ANSI N 42.28-2002 现场伽马射线测量用锗探测器的美国国家标准校正
IEEE N 42.14-1999 放射性核素的γ射线放射率测量用锗能谱仪的校正和使用
IEEE/ANSI N 42.14-1999 伽马射线辐射率的放射性核素含量测定用锗光谱仪校准和使用方法
IEEE 325-1996 锗γ射线探测器的试验规程
IEEE 1160-1993 辐射探测器用高纯锗晶体试验程序
IEEE N42.14-1990 放射性核素的γ射线放射率测量用锗能谱仪的校正和使用
IEEE 1131-1987 锗半导体伽马射线能谱测定用低温器端盖尺寸
IEEE 325-1986 锗γ射线探测器的试验规程
IEEE N42.14-1999(R2004) 放射性核素γ射线放射速率的测量用锗分光计的校准和使用美国国家标准

美国国防后勤局，关于锗30的标准

DLA MIL-PRF-19500/27 E NOTICE 2-1999 2N384型高频率锗PNP晶体管半导体装置
DLA MIL-PRF-19500/205 B NOTICE 1-1999 JAN,JANTX和JANTXV 1N3287型正向电压基准低水平锗二极管半导体装置
DLA MIL-PRF-19500/25 B NOTICE 2-1999 2N240型低功率锗PNP晶体管半导体装置
DLA MIL-S-19500/201 B-1989 JAN,JANTX和JANTXV 1N277型混频锗二极管半导体装置
DLA MIL-S-19500/38 C (1)-1988 功率类型2N539和2N539A的PNP锗晶体管半导体装置
DLA MIL-S-19500/191 A (1)-1971 1N263型混频锗二极管半导体装置

行业标准-核工业，关于锗30的标准

EJ/T 1091-1999 放射性核素活度测量锗γ谱仪法

美国材料与试验协会，关于锗30的标准

ASTM F28-91(1997) 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

行业标准-电子，关于锗30的标准

SJ/T 10625-1995 锗单晶体中间隙氧含量的红外吸收测定方法
SJ/Z 2655-1986 锗单晶缺陷图集
SJ 1226-1977 2AP9～2AP10型锗检波二极管
SJ 1227-1977 2AP1～2AP8,2AP21和2AP27型锗检波二极管
SJ 1230-1977 锗检波二极管高频整流电流的测试方法
SJ 1225-1977 2AP11和2AP17型锗检波二极管
SJ 1693-1980 3AD150型PNP锗低频大功率三极管
SJ 1229-1977 2AK1～20型锗开关二极管
SJ 1228-1977 2AP30～2AP31型锗宽带检波二极管

国家计量检定规程，关于锗30的标准

JJG 575-1994 锗γ谱仪体源活度测量装置检定规程
JJG 857-1994 锗电阻温度计检定规程
JJG(核工) 10-1991 用标准级锗γ谱仪测定点状γ射线源检定方法
JJG 752-1991 锗γ谱仪活度标准装置检定规程
JJG 417-1986 用<上标152>Eu点状γ标准源校准锗γ谱仪检定规程

行业标准-石油，关于锗30的标准

SY/T 5253-1991 岩心的自然伽马能谱分析方法高纯锗探测器法

台湾地方标准，关于锗30的标准

CNS 7391-1981 放射性同位素分析法–锗侦检器侦测伽马射线法

欧洲标准化委员会，关于锗30的标准

HD 303 S1-1977 锗伽玛射线探测器试验规程

欧洲电工标准化委员会，关于锗30的标准

HD 303-1975 锗γ射线探测器试验规程

锗30