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薄膜的导电性
本专题涉及薄膜的导电性 的标准有138条。
国际标准分类中，薄膜的导电性 涉及到导体材料、半导体分立器件、橡胶和塑料制品、化工生产、电子元器件组件、电子显示器件、热力学和温度测量、无损检测、印制电路和印制电路板、玻璃、电线和电缆、金属材料试验、鞋类、光学和光学测量、集成电路、微电子学、图形符号、电学、磁学、电和磁的测量、太阳能工程、摄影技术、电容器、半导体材料、电子电信设备用机电元件、绝缘流体、频率控制和选择用压电器件与介质器件、绝缘材料、磁性材料、电影、表面处理和镀涂。
在中国标准分类中，薄膜的导电性 涉及到电工材料和通用零件综合、、电子元件综合、半导体分立器件综合、带绝缘层电线、金属物理性能试验方法、电工绝缘材料及其制品、鞋、靴、光学仪器综合、电力半导体器件、部件、其他、电磁计量、电阻器、化学电源、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、电容器、特种陶瓷、电子技术专用材料、混合集成电路、印制电路、半导体集成电路、塑料型材、半金属与半导体材料综合、基础标准和通用方法、电子设备专用微特电机。
韩国科技标准局，关于薄膜的导电性 的标准
- KS C 6111-4-2007(2022) 微波频率下大型高温超导薄膜表面电阻的均匀性
- KS C 6111-4-2007 超高频带中大面积高温超导薄膜的表面电阻均匀性
- KS M ISO 23559:2014 塑料 薄膜和薄片 热塑性薄膜测试指导
- KS M ISO 23559:2019 塑料 - 薄膜和薄片 - 热塑性薄膜测试指导
- KS C IEC 61249-5-4-2003(2019) 互联结构材料第五部分:导电薄膜和涂层薄膜的详细规格4章:导电墨水
- KS C IEC 60748-20-1:2003 半导体器件.集成电路.第20部分:薄膜集成电路及混合薄膜集成电路的总规范.
- KS C IEC 60748-20:2003 半导体器件.集成电路.第20部分:薄膜集成电路及混合薄膜集成电路的总规范
- KS C 6111-3-2007 超导电子特性的测量.高温超导薄膜的高频固有表面阻抗测量方法
- KS C IEC 60748-20:2019 半导体器件 - 集成电路 - 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范
- KS C IEC 60748-2-20:2019 半导体器件 - 集成电路 - 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范
- KS C 8562-2015 薄膜光伏发电模块(性能)
- KS C IEC 60748-20:2021 半导体器件集成电路第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路总规范
- KS M ISO 5989:2002 塑料.薄膜和薄板.电晕处理薄膜的水接触角度的测量
- KS L 1620-2013 电传导陶器薄膜电阻测定方法.范得堡法
- KS L 1620-2003 电传导陶器薄膜电阻测定方法.范得堡法
- KS C 6111-3-2007(2017) 电子特性测量微波频率下高温超导薄膜的本征表面阻抗
- KS C IEC 61788-17:2020 超导性 - 第17部分:电子特性测量 - 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
- KS C IEC 62951-1:2022 半导体器件.柔性和可拉伸半导体器件.第1部分:柔性衬底上导电薄膜的弯曲试验方法
- KS L 1619-2013(2018) 四探针阵列导电陶瓷薄膜电阻率测试方法
- KS C 6448-2002 可靠性有保证的塑料薄膜电容器（特性 M）
- KS C 6449-2002 可靠性有保证的塑料薄膜电容器（特性 S）
- KS L 1619-2013 电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法
- KS L 1619-2003 电传导陶器薄膜电阻率测定方法.4点探针法
- KS C IEC 60648:2014 电绝缘用塑料薄膜和薄膜摩擦系数的试验方法
- KS L 1620-2013(2018) 用于测量导电陶瓷薄膜用范德堡法的电阻率的测试方法
- KS C 6111-5-2008 利用微波测定高温超导薄膜的厚度
- KS A ISO 1039-2003(2018) 摄影 - 电影和磁性薄膜卷芯 - 尺寸
英国标准学会，关于薄膜的导电性 的标准
- BS IEC 62951-4:2019 半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件 柔性半导体器件基材上柔性导电薄膜的疲劳评估
- BS IEC 62951-6:2019 半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件 柔性导电薄膜方块电阻的测试方法
- BS EN 61788-17:2013 超导性.电气特性测量值.大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
- BS IEC 62951-1:2017 半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件 柔性基板上导电薄膜的弯曲测试方法
- BS EN 62047-22:2014 半导体器件. 微型机电装置. 柔性基板上导电薄膜机电拉伸试验方法
- 21/30434810 DC BS EN IEC 62899-202-8 印刷电子产品 第 202-8 部分 材料 导电薄膜 线状材料导电薄膜随印刷方向电阻差异的测量
- BS EN IEC 61788-17:2021 超导 电子特性测量 大面积超导薄膜局部临界电流密度及其分布
- BS IEC 62899-202-3:2019 印刷电子 材料 导电墨水 导电薄膜的方块电阻测量 非接触式方式
- BS IEC 62047-30:2017 半导体器件 微机电器件 MEMS压电薄膜机电转换特性测量方法
- BS EN 61249-5-4:1997 互连结构材料 带涂层和不带涂层的导电箔和薄膜的分规范集 导电油墨
- BS EN 62047-3:2006 半导体器件.微机电设备.拉伸测试的薄膜标准试样
国际电工委员会，关于薄膜的导电性 的标准
- IEC 62951-4:2019 半导体器件.柔性和可伸展半导体器件.第4部分:柔性半导体器件衬底上柔性导电薄膜的疲劳评价
- IEC 62951-6:2019 半导体器件.柔性和可拉伸的半导体器件.第6部分:柔性导电薄膜片电阻的试验方法
- IEC 61788-15:2011 超导性.第15部分:电子特性测量.微波频率下超导薄膜的固有表面阻抗
- IEC 61788-17:2013 超导性.第17部分:电气特性测量值.大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
- IEC 61788-17:2021 超导性第17部分:电子特性测量大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
- IEC 61788-17:2021 RLV 超导性第17部分:电子特性测量大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
- IEC 62951-1:2017 半导体器件. 柔性和可伸缩半导体器件. 第1部分: 柔性基板上导电薄膜的拉伸试验方法
- IEC 60748-22-1:1991 半导体器件.集成电路.第22部分第1节:符合性能审批程序的薄膜集成电路和混合薄膜集成电路空白详细规范
- IEC 62047-22:2014 半导体器件. 微型机电装置. 第22部分: 柔性基板上导电薄膜机电拉伸试验方法
- IEC 60748-20:1988/AMD1:1995 修改件1——半导体器件 集成电路 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路总规范
- IEC 62047-30:2017 半导体器件 - 微机电器件 - 第30部分:MEMS压电薄膜机电转换特性的测量方法
KR-KS，关于薄膜的导电性 的标准
- KS M ISO 23559-2019 塑料 - 薄膜和薄片 - 热塑性薄膜测试指导
- KS C IEC 60748-2-20-2019 半导体器件 - 集成电路 - 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范
- KS C IEC 60748-20-2019 半导体器件 - 集成电路 - 第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范
- KS C IEC 60748-20-2021 半导体器件集成电路第20部分:薄膜集成电路和混合薄膜集成电路总规范
- KS L 1620-2013(2023) 范德波法测量导电陶瓷薄膜电阻率的试验方法
- KS C IEC 61788-17-2020 超导性 - 第17部分:电子特性测量 - 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
- KS C IEC 62951-1-2022 半导体器件.柔性和可拉伸半导体器件.第1部分:柔性衬底上导电薄膜的弯曲试验方法
- KS L 1619-2013(2023) 用四点探针阵列测试导电陶瓷薄膜电阻率的方法
- KS C 6111-5-2008(2023) 微波频率下超导体薄膜厚度的测量
(美国)海军，关于薄膜的导电性 的标准
- NAVY MIL-DTL-82646 B-2008 柔性热密封导电塑料薄膜
中国团体标准，关于薄膜的导电性 的标准
- T/QGCML 855-2023 低介电高导热薄膜
- T/CI 006-2021 柔性/折叠触控屏导电硬化薄膜
- T/ZBH 022-2023 薄膜太阳能电池用FTO导电玻璃
- T/CEC 470-2021 户用光伏发电系统薄膜组件选型导则
- T/CIET 190-2023 太阳能薄膜电池产品碳足迹评价导则
- T/CSTM 00591-2022 石墨烯-铜薄膜材料电导率测量 范德堡法
美国电子电路和电子互连行业协会，关于薄膜的导电性 的标准
- IPC 3408-1996 各向异性导电胶薄膜一般要求
- IPC MI-660 3.5-1984 柔性电路粘接薄膜
ECIA - Electronic Components Industry Association，关于薄膜的导电性 的标准
- 401-1973 用于功率半导体应用的纸 纸/薄膜 薄膜介电电容器
国际标准化组织，关于薄膜的导电性 的标准
- ISO/TTA 4:2002 硅基质上薄膜导热性的测量
- ISO 1325:1973 塑料.薄板和薄膜电性能的测定
- ISO 15989:2004 塑料.薄膜和薄板.电晕处理薄膜的水接触角度的测量
- ISO 15989:2004/cor 1:2007 塑料.薄膜和薄片.电晕处理薄膜水接触角的测量.技术勘误1
- ISO 23216:2021 碳基薄膜.用椭圆光谱法测定非晶碳薄膜的光学特性
行业标准-能源，关于薄膜的导电性 的标准
- NB/T 10827-2021 动力电池薄膜离子电导率的测试方法
- NB/T10827-2021 动力电池薄膜离子电导率的测试方法
美国国家标准学会，关于薄膜的导电性 的标准
- ANSI/ASTM D2307:2007 薄膜绝缘圆磁性导线的耐热性试验方法
- ANSI/EIA 479-A:1993 50/60Hz倍压电源用的薄膜纸介质和薄膜介电电容器
国家质检总局，关于薄膜的导电性 的标准
- GB/T 6616-2023 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法
- GB/T 26598-2011 光学仪器用透明导电薄膜规范
- GB/T 22586-2008 高温超导薄膜微波表面电阻测试
- GB/T 6616-1995 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层 电阻测定 非接触涡流法
- GB/T 6616-2009 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法
- GB/T 14708-1993 挠性印制电路用涂胶聚酯薄膜
美国材料与试验协会，关于薄膜的导电性 的标准
- ASTM D1676-02 带绝缘薄膜的磁性导线的标准试验方法
- ASTM D1676-99 带绝缘薄膜的磁性导线的标准试验方法
- ASTM D1676-01 带绝缘薄膜的磁性导线的标准试验方法
- ASTM D1676-03 带绝缘薄膜的磁性导线的标准试验方法
- ASTM D1676-03(2011) 带绝缘薄膜的磁性导线的标准测试方法
- ASTM F1711-96(2002) 使用四点探测法测定专业平板显示器用薄膜导线的薄膜电阻的标准规程
- ASTM F1711-96 使用四点探测法测定专业平板显示器用薄膜导线的薄膜电阻的标准规程
- ASTM F1711-96(2008) 使用四点探测法测定专业平板显示器用薄膜导线的薄膜电阻的标准实施规程
美国国防后勤局，关于薄膜的导电性 的标准
- DLA MIL-F-36978 (1)-1974 导电塑料薄膜用完即弃鞋外套
- DLA MIL-F-36978-1973 导电塑料薄膜用完即弃鞋外套
- DLA SMD-5962-78013 REV M-2006 厚膜/薄膜高电流扬声器,线性混合微型电路
- DLA MIL-R-55182/11 E (2)-2012 电阻器，固定，薄膜，可靠性高，RN51 型
- DLA MIL-R-55182/12 E (2)-2012 电阻器，固定，薄膜，可靠性高，RN56 型
丹麦标准化协会，关于薄膜的导电性 的标准
- DS/IEC 748-20:1990 半导体器件.集成电路.第20部分:薄膜集成电路、混合薄膜集成电路的一般规格
- DS/EN 61788-15:2012 超导性 第15部分：电子特性测量 微波频率下超导体薄膜的本征表面阻抗
- DS/EN IEC 61788-17:2021 超导性 第17部分：电子特性测量 大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
- DS/EN 61788-17:2013 超导性 第17部分：电子特性测量 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
- DS/EN ISO 11502:2005 塑料 薄膜和薄片 抗粘连性的测定
- DS/IEC 748-21:1993 半导体装置．集成电路．第21部分：基于认证批准程序的薄膜集成电路和混合薄膜集成电路分规范
法国标准化协会，关于薄膜的导电性 的标准
- NF C31-888-15*NF EN 61788-15:2012 超导性 第15部分：电子特性测量 微波频率下超导薄膜的固有表面阻抗
- NF EN 61788-15:2012 超导性 - 第 15 部分：电子特性测量 - 微波频率下超导薄膜的本征表面阻抗
- NF EN IEC 61788-17:2021 超导性 - 第 17 部分：电子特性的测量 - 大表面超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
- NF EN 62047-22:2014 半导体器件 微机电器件 第22部分：柔性基板上导电薄膜的机电拉伸试验方法
- NF C31-888-17*NF EN 61788-17:2013 超导性 第17部分：电气特性测量值 大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
- NF C31-888-17*NF EN IEC 61788-17:2021 超导性 第17部分：电子特性测量 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
- NF C96-050-22*NF EN 62047-22:2014 半导体器件. 微型机电装置. 第22部分: 柔性基板上导电薄膜机电拉伸试验方法
- NF EN 62374:2008 半导体器件 - 栅极介电薄膜的时间相关介电击穿测试 (TDDB)
ES-UNE，关于薄膜的导电性 的标准
- UNE-EN 61788-15:2011 超导性 第15部分：电子特性测量 微波频率下超导薄膜的本征表面阻抗
- UNE-EN 62047-22:2014 半导体器件 微机电器件 第22部分：柔性基板上导电薄膜的机电拉伸测试方法
- UNE-EN IEC 61788-17:2021 超导性 第17部分：电子特性测量 大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
- UNE-EN 61788-17:2013 超导性 第17部分：电子特性测量 大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
CZ-CSN，关于薄膜的导电性 的标准
- CSN IEC 748-20:1993 半导体设备．集成电路．第20部分：薄膜集成电路及混合薄膜集成电路的一般规范
- CSN 34 6501 Cast.8-1989 塑料薄膜的耐热性
- CSN 35 8136-1965 稳定的薄膜电阻器
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization，关于薄膜的导电性 的标准
- EN 61788-15:2011 超导性 第15部分：电子特性测量 微波频率下超导体薄膜的本征表面阻抗
欧洲电工标准化委员会，关于薄膜的导电性 的标准
- EN 62047-22:2014 半导体器件-微机电器件-第22部分：柔性基板上导电薄膜的机电拉伸试验方法
- EN IEC 61788-17:2021 超导性 第17部分：电子特性测量 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
- EN 61788-17:2013 超导性 第17部分：电子特性测量 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
未注明发布机构，关于薄膜的导电性 的标准
- BS EN 61788-15:2011(2012) 超导 第15部分：电子特性测量 – 微波频率下超导薄膜的本征表面阻抗
IN-BIS，关于薄膜的导电性 的标准
- IS 9455-1980 基于电气特性的白云母块、薄片和薄膜的分类
美国电子元器件、组件及材料协会，关于薄膜的导电性 的标准
- ECA 479-A-1993 50/60Hz倍压器电源的薄膜纸介质和薄膜介电电容器
VE-FONDONORMA，关于薄膜的导电性 的标准
- COVENIN 693-1974 带非导电聚酯薄膜的电容器（该电容器用于持续电流）
日本工业标准调查会，关于薄膜的导电性 的标准
- JIS C 6472:1995 柔性印制电路板用包铜层压板(聚酯薄膜、聚酰亚胺薄膜)
- JIS C 5841:1982 有可靠性保证的塑料薄膜电容器(特性M)
- JIS C 5842:1982 有可靠性保证的塑料薄膜电容器(特性S)
- JIS K 7126:1987 塑料薄膜及薄板的透气性测试方法
IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components，关于薄膜的导电性 的标准
- QC 760000-1988 半导体器件集成电路第20部分：薄膜集成电路和混合薄膜集成电路的通用规范（IEC 748-20 ED 1）
立陶宛标准局，关于薄膜的导电性 的标准
- LST EN 61788-15-2012 超导性 第15部分：电子特性测量 微波频率下超导体薄膜的本征表面阻抗（IEC 61788-15:2011）
- LST EN IEC 61788-17:2021 超导性 第17部分：电子特性测量 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布（IEC 61788-17:2021）
德国标准化学会，关于薄膜的导电性 的标准
- DIN EN 62047-22:2015-04 半导体器件 - 微机电器件 - 第 22 部分：柔性基板上导电薄膜的机电拉伸试验方法 (IEC 62047-22:2014)
- DIN EN 62374:2008-02 半导体器件-栅极介电薄膜的时间相关介电击穿（TDDB）测试
(美国)福特汽车标准，关于薄膜的导电性 的标准
- FORD FLTM EU-BO 051-09-2001 塑料薄膜的低温挠曲性
美国保险商实验所，关于薄膜的导电性 的标准
- UL 126-2012 塑料薄膜产品的耐用性
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于薄膜的导电性 的标准
- GB/T 14708-2017 挠性印制电路用涂胶聚酯薄膜
欧洲标准化委员会，关于薄膜的导电性 的标准
- EN ISO 23216:2022 碳基薄膜.用椭圆光谱法测定非晶碳薄膜的光学特性
