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俄歇电子能

本专题涉及俄歇电子能的标准有105条。

国际标准分类中，俄歇电子能涉及到分析化学、光学设备、光学和光学测量、金属材料试验、电子元器件综合、长度和角度测量、无损检测、电学、磁学、电和磁的测量。

在中国标准分类中，俄歇电子能涉及到基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、金属化学分析方法综合、标准化、质量管理、化学、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、综合测试系统、化学助剂基础标准与通用方法。

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于俄歇电子能的标准

GB/T 35158-2017 俄歇电子能谱仪检定方法
GB/T 32565-2016 表面化学分析俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求
GB/T 32998-2016 表面化学分析俄歇电子能谱荷电控制与校正方法报告的规范要求

国家质检总局，关于俄歇电子能的标准

GB/T 26533-2011 俄歇电子能谱分析方法通则
GB/Z 32494-2016 表面化学分析俄歇电子能谱化学信息的解析
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标的线性
GB/T 25187-2010 表面化学分析.俄歇电子能谱.选择仪器性能参数的表述
GB/T 29558-2013 表面化学分析俄歇电子能谱强度标的重复性和一致性
GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
GB/T 29731-2013 表面化学分析高分辨俄歇电子能谱仪元素和化学态分析用能量标校准
GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
GB/T 28893-2024 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
GB/T 29556-2013 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定

行业标准-机械，关于俄歇电子能的标准

JB/T 6976-1993 俄歇电子能谱术元素鉴定方法

行业标准-电子，关于俄歇电子能的标准

SJ/T 10457-1993 俄歇电子能谱术深度剖析标准导则
SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于俄歇电子能的标准

GB/T 36504-2018 印刷线路板表面污染物分析俄歇电子能谱
GB/T 36533-2018 硅酸盐中微颗粒铁的化学态测定俄歇电子能谱法
GB/T 29732-2021 表面化学分析中等分辨俄歇电子能谱仪元素分析用能量标校准
GB/T 41064-2021 表面化学分析深度剖析用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法

美国材料与试验协会，关于俄歇电子能的标准

ASTM E1127-91(1997) 俄歇电子能谱学中的深度压形的标准指南
ASTM E1127-08(2015) 俄歇电子能谱学中的深度压形的标准指南
ASTM E1127-08 俄歇电子能谱学中的深度压形的标准指南
ASTM E984-95(2001) 识别俄歇电子能谱中化学效应和基质效应的标准指南
ASTM E984-95 识别俄歇电子能谱中化学效应和基质效应的标准指南
ASTM E984-12(2020) 识别俄歇电子能谱中化学效应和基质效应的标准指南
ASTM E984-06 用俄歇电子能谱法鉴别化学效应和基体效应用标准指南
ASTM E984-12 用俄歇电子能谱法鉴别化学效应和基体效应的标准指南
ASTM E996-10(2018) 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
ASTM E996-19 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
ASTM E996-94(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
ASTM E995-11 在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中应用背景消除技术的标准指南
ASTM E1217-11(2019) 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践

国际标准化组织，关于俄歇电子能的标准

ISO/TR 18394:2016 表面化学分析. 俄歇电子能谱学. 提取化学信息
ISO 16242:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据
ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
ISO 29081:2010 表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法
ISO/DIS 17973:2023 表面化学分析中分辨率俄歇电子能谱仪元素分析能级的校准
ISO/CD 17973 表面化学分析中分辨率俄歇电子能谱仪元素分析能量标度的校准
ISO 17109:2022 表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法
ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能普和X射线光电子光谱.通报结果所需峰值强度和信息的测定方法
ISO/TR 19319:2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
ISO 18118:2024 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验确定的相对灵敏度因子的使用指南

英国标准学会，关于俄歇电子能的标准

PD ISO/TR 18394:2016 表面化学分析俄歇电子能谱化学信息的推导
BS ISO 16242:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱术的记录和报告数据(AEC)
BS ISO 15471:2016 表面化学分析俄歇电子能谱所选仪器性能参数的描述
BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度尺度的线性
BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度线性度
BS ISO 29081:2010 表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法
BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率的测定
BS ISO 17973:2016 表面化学分析中分辨率俄歇电子能谱仪元素分析能量标度的校准
BS ISO 17974:2002(2010) 表面化学分析高分辨率俄歇电子能谱仪元素和化学态分析能级的校准
23/30469291 DC BS ISO 17973 表面化学分析中分辨率俄歇电子能谱仪元素分析能量标度的校准
BS ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
BS ISO 20903:2019 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
BS ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
BS ISO 17109:2022 表面化学分析深度剖析使用单层和多层薄膜的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率的测定方法...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析深度剖析使用单一和……的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率测定方法

GSO，关于俄歇电子能的标准

GSO ISO/TR 18394:2021 表面化学分析俄歇电子能谱化学信息的推导
GSO ISO 16242:2015 表面化学分析在俄歇电子能谱中记录和报告数据
BH GSO ISO 16242:2017 表面化学分析俄歇电子能谱 (AES) 中记录和报告数据
OS GSO ISO 21270:2014 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性
GSO ISO 21270:2014 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性
BH GSO ISO 21270:2016 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性
OS GSO ISO 29081:2013 表面化学分析俄歇电子能谱电荷控制和电荷校正方法的报告
BH GSO ISO 29081:2016 表面化学分析俄歇电子能谱电荷控制和电荷校正方法的报告
OS GSO ISO 17973:2013 表面化学分析中分辨率俄歇电子能谱仪元素分析能级的校准
GSO ISO 17973:2013 表面化学分析中分辨率俄歇电子能谱仪元素分析能级的校准
BH GSO ISO 17973:2016 表面化学分析中分辨率俄歇电子能谱仪元素分析能级的校准
OS GSO ISO 18516:2013 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率的测定
GSO ISO 18516:2013 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率的测定
BH GSO ISO 18516:2016 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率的测定
OS GSO ISO 17974:2014 表面化学分析高分辨率俄歇电子能谱仪元素和化学态分析能级的校准
BH GSO ISO 17974:2016 表面化学分析高分辨率俄歇电子能谱仪元素和化学态分析能级的校准
BH GSO ISO 20903:2016 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱用于确定峰强度和报告结果时所需信息的方法

法国标准化协会，关于俄歇电子能的标准

NF ISO 16242:2012 表面化学分析俄歇电子能谱(AES)数据记录和报告
NF ISO 24236:2006 表面化学分析俄歇电子能谱能级的重复性和恒定性
NF X21-072*NF ISO 16242:2012 表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据
NF ISO 17973:2006 表面化学分析中分辨率俄歇电子能谱仪元素分析能量标度的校准
NF ISO 29081:2010 表面化学分析俄歇电子能谱电荷控制和校正所采用的方法的指示
NF ISO 17974:2009 表面化学分析高分辨率俄歇电子能谱仪用于元素和化学状态分析的能量标度校准
NF X21-058:2006 表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息

韩国科技标准局，关于俄歇电子能的标准

KS D ISO 15471-2020 表面化学分析俄歇电子能谱所选仪器性能参数说明
KS D ISO 21270-2020 表面化学分析 X射线光电子能谱和俄歇电子能谱仪强度标度线性度
KS D ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性
KS D ISO 15471-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱学－选定仪器性能参数的描述
KS D ISO 17973-2021 表面化学分析中分辨率俄歇电子能谱仪元素分析能级的校准
KS D ISO 17973-2011(2016) 表面化学分析中分辨率俄歇电子能谱仪元素分析用能标的校准
KS D ISO 17974-2021 表面化学分析高分辨率俄歇电子能谱仪元素和化学态分析能级的校准
KS D ISO 17974-2011(2016) 表面化学分析高分辨率俄歇电子能谱仪元素和化学状态分析用能标的校准
KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
KS D ISO 19319:2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
KS D ISO 19319-2020 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱横向分辨率、分析面积和分析仪观察到的样品面积的测定
KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验测定的相对灵敏度因子的使用指南
KS D ISO 18118-2020 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均质材料定量分析中实验确定的相对灵敏度因子的使用指南

未注明发布机构，关于俄歇电子能的标准

DIN ISO 16242 E:2019-10 表面化学分析俄歇电子能谱（AES）中的数据记录和报告

德国标准化学会，关于俄歇电子能的标准

DIN ISO 16242:2020-05 表面化学分析在俄歇电子能谱(AES)中记录和报告数据
DIN ISO 16242:2020 表面化学分析俄歇电子能谱（AES）中的数据记录和报告（ISO 16242:2011）；英文文本

SCC，关于俄歇电子能的标准

ASTM E983-04 最小化俄歇电子能谱中不需要的电子束效应的标准指南
DIN ISO 16242 E:2019 文件草案表面化学分析俄歇电子能谱 (AES) 记录和报告数据 (ISO 16242:2011) 英文文本
ISO 17109:2015/DAmd 1 表面化学分析深度分析 X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中使用单层和多层薄膜的溅射速率测定方法 A...