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表征技术 厚度
本专题涉及表征技术 厚度的标准有483条。
国际标准分类中，表征技术 厚度涉及到长度和角度测量、信息技术应用、半导体材料、技术制图、化工设备、橡胶和塑料工业设备、试验条件和规程综合、词汇、物理学、化学、文献成像象技术、土方工程、挖掘、地基构造、地下工程、计算机图形技术、表面处理和镀涂、电磁兼容性(EMC)、建筑材料、连续搬运设备、无损检测、废物、软件开发和系统文件、橡胶和塑料制品、声学和声学测量、木工设备、道路工程、飞机场建筑、地质学、气象学、水文学、试验、光学和光学测量、分析化学、陶瓷、建筑物结构、航空航天制造用材料、字符集和信息编码、医疗设备、电学、磁学、电和磁的测量、金属材料试验、电气设备元件、电子电信设备用机电元件、开放系统互连(OSI)、集成电路、微电子学、热力学和温度测量、真空技术、生物学、植物学、动物学、齿轮及齿轮传动、职业安全、工业卫生、内燃机、电阻器、燃料、印制技术、焊接、钎焊和低温焊、管道部件和管道、纺织产品、建筑构件、电工器件、塑料、煤、空气质量、橡胶、时间、速度、加速度、角速度的测量。
在中国标准分类中，表征技术 厚度涉及到材料防护、半金属及半导体材料分析方法、基础标准与通用方法、化工专用仪器仪表、、图书馆、档案、文献与情报工作、计算机图形、合成材料综合、船体及舾装维护修理、物理学与力学、综合技术、化学、输送机械、油、气处理设备、纸浆与纸板、泵、航空、航天工程、电子技术专用材料、气象仪器、物性分析仪器、仪器、仪表用材料和元件、木工机床及机用工具、金属无损检验方法、城市交通工程、电子光学与其他物理光学仪器、混凝土结构工程、热处理、航空与航天用非金属材料、光学仪器综合、电能测量和负荷控制系统、建筑卫生陶瓷、微型组件、石油开发、基础学科综合、温度与压力仪表、其他化工产品、金属物理性能试验方法、金属力学性能试验方法、长度计量、量具与量仪、劳动卫生、节目传输、电工合金零件、内燃机与附属装置、电阻器、力学计量、公路工程、印刷技术、环境条件与通用试验方法、数学、编码、字符集、字符识别、计算机外围设备、数据元表示方法、卫生、安全、劳动保护、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、半金属与半导体材料综合、控制继电器、计量综合、合成橡胶基础标准与通用方法、走行部分、建筑构配件与设备综合。
法国标准化协会，关于表征技术 厚度的标准
- NF EN 15042-2:2006 使用表面波测量涂层厚度和表面表征 - 第 2 部分：涂层厚度光度测量指南
- NF A91-139-2*NF EN 15042-2:2006 覆层厚度测量和表面波纹表征.第2部分:光热法测量覆层厚度
- NF EN 15042-1:2006 使用表面波测量涂层厚度和表面表征 - 第 1 部分：使用表面波测定薄膜弹性常数、密度和厚度的指南
- NF EN 15317:2013 无损检测 - 超声波检测 - 超声波厚度测量装置的表征和验证
- FD T16-218*FD ISO/TR 18196:2017 纳米技术 用于表征纳米物体的测量技术矩阵
- XP T16-101-6*XP CEN ISO/TS 80004-6:2021 纳米技术 词汇 第6部分：纳米物体表征
- XP T16-208*XP ISO/TR 10929:2012 纳米技术 多壁碳纳米管（MWCNT）样品的表征
- XP ISO/TR 10929:2012 纳米技术 - 多壁碳纳米管 (NWCNT) 样品的表征
- NF EN ISO 26423:2016 技术陶瓷. 凹坑研磨法测定涂层厚度
- FD X30-428*FD CEN/TR 15018:2006 废物的表征 使用碱熔技术消化废物样品
- XP CEN ISO/TS 80004-6:2021 纳米技术 - 词汇 - 第 6 部分：纳米物体的表征
- FD CEN/TR 15310-2:2007 废物表征 废物取样 第2部分：取样技术指南
- XP ISO/TS 11888:2017 纳米技术 - 多层碳纳米管的表征 - 介观形状因子
- FD T16-209:2012 纳米技术 使用透射电子显微镜表征单壁碳纳米管
- FD X30-454*FD CEN/TR 14589:2003 废物表征 最新技术文件 固体基质中的六价铬形态
- FD CEN/TR 14589:2003 废物表征 最先进的技术 固体基质中六价铬的形态
- FD X30-401-2*FD CEN/TR 15310-2:2007 废弃物的表征 废弃物的取样 第2部分：取样技术指南
- NF EN ISO 18452:2016 技术陶瓷 使用接触式轮廓仪测定陶瓷薄膜的厚度
- XP T16-200*XP ISO/TS 10867:2020 纳米技术 使用近红外光致发光光谱表征单壁碳纳米管
- XP ISO/TS 10867:2020 纳米技术 - 使用近红外光致发光光谱表征单壁碳纳米管
- NF S94-062-3*NF ISO 13779-3:2019 手术植入物 羟基磷灰石 第3部分：结晶度比和相纯度的化学分析和表征
- NF EN ISO 13383-1:2016 技术陶瓷 微观结构表征 第1部分：晶粒尺寸和分布的测定
- NF EN 16848:2016 生物基产品 - 使用技术表在特征公司之间进行沟通的要求
- NF EN ISO 128-2:2022 技术产品文档 (TPD) - 表示的一般原则 - 第 2 部分：特征的基本约定
- NF EN ISO 18754:2022 技术陶瓷 密度和表观孔隙率的测定
- P15-437:1987 液压粘合剂 测试技术 通过砂浆振动下的流动性测量表征水泥
- XP T16-104*XP CEN/TS 17010:2017 纳米技术 用于表征纳米物体和包含它们的材料的被测量指南
- XP CEN ISO/TS 21356-1:2022 纳米技术 - 石墨烯的结构表征 - 第 1 部分：粉末和分散体中的石墨烯
- NF EN ISO 10808:2011 纳米技术 - 通过暴露进行吸入毒性测试来表征垫片中的纳米颗粒
- NF A92-811*NF EN ISO 26423:2016 精细陶瓷（高级陶瓷、高级技术陶瓷）-弧坑磨削法测定涂层厚度
- FD T16-304*FD ISO/TR 13014:2012 纳米技术 用于毒理学评估的工程纳米级材料的物理化学表征指南
- XP T16-226-1*XP CEN ISO/TS 21356-1:2022 纳米技术 石墨烯的结构表征 第1部分：来自粉末和分散体的石墨烯
- NF EN 302498-1:2011 电磁兼容性和无线电频谱 (ERM) - 短程设备 (SRD) - 使用超宽带 (UWB) 技术的 SRD 技术特性 - 表征和鉴别应用...
- NF EN 302498-2:2011 电磁兼容性和无线电频谱 (ERM) - 短程设备 (SRD) - 使用超宽带 (UWB) 技术的 SRD 技术特性 - 表征和鉴别应用...
- NF E04-118-3*NF EN ISO 6412-3:2018 技术产品文件-管道的简化表示-第3部分：通风和排水系统的终端特征
欧洲标准化委员会，关于表征技术 厚度的标准
- EN 15042-2:2006 覆层厚度测量和表面波纹表征.第2部分:光热法测量覆层厚度
- EN 15042-1:2006 覆层厚度测量和表面波纹表征.第1部分:采用激光感应表面声波法对各膜层的弹性常数,密度和厚度的测定指南
- CEN/TR 15018:2005 废物表征 使用碱熔技术消解废物样品
- EN ISO 14232-1:2017 热喷涂粉末1和供货技术条件的表征(ISO 14232-1:2017)
- CEN ISO/TS 80004-6:2021 纳米技术 词汇 第6部分：纳米物体表征（ISO/TS 80004-6:2021）
- EN ISO 13383-1:2016 精细陶瓷(高级陶瓷,高技术陶瓷)-微观结构表征第1部分:粒度和粒度分布的测定(ISO 13383-1:2012)
- EN ISO 10808:2010 纳米技术.纳米粒子在吸入暴露室的吸入毒性测试表征
- EN ISO 25178-601:2010 产品几何技术规范(GPS).表面纹理.平面.接触式(触针)仪器的标称特征
德国标准化学会，关于表征技术 厚度的标准
- DIN EN 15042-2:2006 覆层厚度测量和表面波纹表征.第2部分:光热法测量覆层厚度
- DIN EN 15042-2:2006-06 涂层厚度测量和表面波表面表征第2部分：光热法涂层厚度测量指南
- DIN EN 15042-1:2006-06 涂层厚度测量和表面波表征 第1部分：激光诱导表面声波测定薄膜弹性常数、密度和厚度指南
- DIN 50455-1:2009-10 半导体技术材料测试 光刻胶表征方法 第1部分：用光学方法测定涂层厚度
- DIN 50455-1:2009 半导体技术用材料的试验.表征光阻剂方法.第1部分:涂层厚度的光学法测定
- DIN 58960-3:1988-05 用于分析测试的光度计；吸收光度计技术特性表征的概念
- DIN CEN ISO/TS 80004-6:2021-09 纳米技术 词汇 第6部分：纳米物体表征
- DIN EN ISO 14232-1:2017 热喷涂 粉末 第1部分：表征和技术供应条件（ISO 14232-1:2017）
- DIN 2253:2006 产品几何量技术规范(GPS).1mm～315mm标称尺寸厚度基准量规
- DIN EN ISO 10808:2011-04 纳米技术 用于吸入毒性测试的吸入暴露室中纳米颗粒的表征
- DIN CEN ISO/TS 21356-1:2022-08 纳米技术 石墨烯的结构表征 第1部分：粉末和分散体中的石墨烯
- DIN 50455-2:1999 半导体技术用材料的试验.表征光敏抗蚀剂的方法.第2部分:阳极光敏抗蚀剂的光敏度的测定
- DIN EN ISO 6412-3:2018-06 技术产品文档 管道的简化表示 第3部分：通风和排水系统的终端特征
丹麦标准化协会，关于表征技术 厚度的标准
- DS/EN 15042-2:2006 涂层厚度测量和表面波表面表征 第2部分：光热法涂层厚度测量指南
- DS/EN 15042-1:2006 涂层厚度测量和表面波表面表征 第1部分：通过激光诱导表面声波测定薄膜的弹性常数、密度和厚度的指南
- DS/ISO/TR 10929:2012 纳米技术 多壁碳纳米管（MWCNT）样品的表征
- DS/ISO/TS 80004-6:2021 纳米技术“词汇”第6部分：纳米物体表征
- DS/CEN/TR 15018:2006 废物的表征 使用碱熔技术消化废物样品
- DS/ISO/TS 11308:2012 纳米技术 使用热重分析法表征单壁碳纳米管
- DS/ISO/TS 11888:2012 纳米技术 多壁碳纳米管的表征 细观形状因子
- DS/ISO/TS 21346:2021 纳米技术 个性化纤维素纳米纤维样品的表征
- DS/IEC/TR 63258:2021 纳米技术 – 椭圆光度法应用评估纳米级薄膜厚度的指南
- DS/ISO/TS 10797:2012 纳米技术 使用透射电子显微镜表征单壁碳纳米管
- DS/CEN ISO/TS 80004-6:2021 纳米技术“词汇”第6部分：纳米物体表征（ISO/TS 80004-6:2021）
- DS/CEN/TR 14589:2003 废物表征 最新技术文件 固体基质中的六价铬规范
- DS/ISO/TS 10867:2011 纳米技术 使用近红外光致发光光谱表征单壁碳纳米管
- DS/EN ISO 10808:2011 纳米技术 用于吸入毒性测试的吸入暴露室中纳米粒子的表征
- DS/ISO 13779-3:2021 手术植入物“羟基磷灰石”第3部分：结晶度比和相纯度的化学分析和表征“修正案 1”
- DS/EN ISO 6412-3:1997 技术制图 管道的简化表示 第3部分：通风和排水系统的末端特征
- DS/ISO/TS 10868:2011 纳米技术 使用紫外-可见-近红外（UV-Vis-NIR）吸收光谱表征单壁碳纳米管
- DS/ISO/TR 13014/Cor 1:2012 纳米技术 用于毒理学评估的工程纳米级材料的物理化学表征指南
- DS/ISO/TR 13014:2012 纳米技术 用于毒理学评估的工程纳米级材料的物理化学表征指南
- DS/ISO 23033:2021 生物技术 分析方法 细胞治疗产品测试和表征的一般要求和注意事项
立陶宛标准局，关于表征技术 厚度的标准
- LST EN 15042-2-2006 涂层厚度测量和表面波表面表征 第2部分：光热法涂层厚度测量指南
- LST EN 15042-1-2006 涂层厚度测量和表面波表面表征 第1部分：通过激光诱导表面声波测定薄膜的弹性常数、密度和厚度的指南
- LST CEN ISO/TS 80004-6:2021 纳米技术 词汇 第6部分：纳米物体表征（ISO/TS 80004-6:2021）
- LST EN ISO 10808:2011 纳米技术 用于吸入毒性测试的吸入暴露室中纳米粒子的表征（ISO 10808:2010）
AENOR，关于表征技术 厚度的标准
- UNE-EN 15042-2:2007 涂层厚度测量和表面波表面表征 第2部分：光热法涂层厚度测量指南
- UNE-EN 15042-1:2007 涂层厚度测量和表面波表面表征 第1部分：通过激光诱导表面声波测定薄膜的弹性常数、密度和厚度的指南
- UNE-ISO 4591:2010 塑料 薄膜和片材 用重量分析技术测定样品的平均厚度、卷的平均厚度和成品率（重量分析厚度）
- UNE-EN ISO 14232-1:2017 热喷涂 粉末 第1部分：表征和技术供应条件（ISO 14232-1:2017）
SCC，关于表征技术 厚度的标准
- NS-EN 15042-2:2006 涂层厚度测量和表面波表面表征 第2部分：光热法涂层厚度测量指南
- DANSK DS/EN 15042-2:2006 涂层厚度测量和表面波表面表征 第2部分：光热法涂层厚度测量指南
- NS-EN 15042-1:2006 涂层厚度测量和表面波表征 第1部分：激光诱导表面声波测定薄膜弹性常数、密度和厚度指南
- DANSK DS/EN 15042-1:2006 涂层厚度测量和表面波表征 第1部分：激光诱导表面声波测定薄膜弹性常数、密度和厚度指南
- DIN 50455-1 E:2008 半导体技术材料测试 光刻胶表征方法 第1部分：用光学方法测定涂层厚度 草案
- BS PD ISO/IEC TR 29198:2013 信息技术 生物识别技术 技术评估指纹数据库难度的表征和测量
- BS PD CEN ISO/TS 80004-6:2015 纳米技术 词汇纳米对象表征
- BS PD ISO/TS 80004-6:2013 纳米技术 词汇 纳米物体表征
- DANSK DS/ISO/IEC TR 29198:2014 信息技术 生物识别技术 用于技术评估的指纹数据库难度的表征和测量
- DIN EN 15317 E:2013 无损检测 超声波检测 超声波厚度测量设备的表征和验证 草案
- BS PD ISO/TR 18196:2016 纳米技术 用于表征纳米物体的测量技术矩阵
- DANSK DS/ISO/TR 18196:2016 纳米技术 用于表征纳米物体的测量技术矩阵
- DANSK DS/ISO/TR 19716:2016 纳米技术 纤维素纳米晶体的表征
- BS PD 6598:1996 欧洲微型测试芯片表征的测量技术
- BS PD ISO/TR 23015:2020 精细气泡技术 用于表征细小气泡的测量技术矩阵
- DANSK DS/ISO/TS 80004-6:2021 纳米技术 词汇 第6部分：纳米物体表征
- BS PD ISO/TR 10929:2012 纳米技术 多壁碳纳米管 (MWCNT) 样品的表征
- DANSK DS/ISO/TR 10929:2012 纳米技术 多壁碳纳米管 (MWCNT) 样品的表征
- SN-CEN/TR 15018:2005 废物的表征 使用碱熔技术消解废物样品
- BS PD CEN/TR 15018:2004 废物的表征 使用碱熔技术消解废物样品
- DANSK DS/ISO/TS 11308:2020 纳米技术 使用热重分析表征碳纳米管样品
- BS PD ISO/TS 11888:2017 纳米技术 多壁碳纳米管的表征 细观形状因素
- DANSK DS/ISO/TS 11888:2012 纳米技术 多壁碳纳米管的表征 介观形状因素
- BS PD ISO/PAS 15339-2:2015 图形技术 跨多种技术的数字数据打印 表征参考打印条件 CRPC1-CRPC7
- DANSK DS/ISO/TS 21346:2021 纳米技术 个性化纤维素纳米原纤维样品的表征
- DANSK DS/IEC/TR 63258:2021 纳米技术 椭圆光度法应用评估纳米级薄膜厚度的指南
- BS ISO 13779-3:2018 用于手术的植入物 羟基磷灰石 化学分析及结晶度和相纯度表征
- SN-CEN ISO/TS 80004-6:2021 纳米技术 词汇 第6部分：纳米物体表征 (ISO/TS 80004-6:2021)
- DANSK DS/CEN ISO/TS 80004-6:2021 纳米技术 词汇 第6部分：纳米物体表征 (ISO/TS 80004-6:2021)
- SN-CEN ISO/TS 80004-6:2015 纳米技术 词汇 第6部分：纳米物体表征 (ISO/TS 80004-6:2013)
- DANSK DS/ISO/TS 10797:2012 纳米技术 使用透射电子显微镜表征单壁碳纳米管
- BS PD ISO/TS 10797:2012 纳米技术 使用透射电子显微镜表征单壁碳纳米管
- SN-CEN/TR 15310-2:2006 废物的表征 废物材料的取样 第2部分：取样技术指南
- BS PD IEC TS 63070:2019 超声波 场表征 用于确定静止空气中模拟组织材料和换能器辐射表面温度升高的红外成像技术
- DANSK DS/IEC TS 63070:2019 超声波 场表征 红外成像技术 用于确定静止空气中模拟组织材料和换能器辐射表面的温度升高
- DANSK DS/ISO/TS 10867:2019 纳米技术 使用近红外光致发光光谱表征单壁碳纳米管
- BS PD ISO/TS 10867:2019 纳米技术 使用近红外光致发光光谱表征单壁碳纳米管
- BS PD ISO/TS 20175:2018 真空技术 真空计 用于分压测量的四极杆质谱仪的表征
- BS PD CEN ISO/TS 21356-1:2022 纳米技术 石墨烯的结构表征 粉末和分散体中的石墨烯
- DANSK DS/ISO 13779-3:2014 手术植入物 羟基磷灰石 第3部分：化学分析以及结晶度和相纯度的表征
- DANSK DS/ISO 13779-3/AMD 1:2018 手术植入物 羟基磷灰石 第3部分：化学分析以及结晶度和相纯度的表征
- DANSK DS/EN 13036-1:2010 道路和机场表面特征 测试方法 第1部分：使用体积补丁技术测量路面宏观纹理深度
- NS-EN 1071-1:2003 先进技术陶瓷 陶瓷涂层试验方法 第1部分：用接触式探针测厚仪测定涂层厚度
- VDI 2083 BLATT 9.1-2021 洁净室技术 洁净度和表面洁净度的适用性
- BS PD CEN/TS 17010:2016 纳米技术 用于表征纳米物体和包含它们的材料的被测量指南
- DANSK DS/EN ISO 10808:2011 纳米技术 用于吸入毒性测试的吸入暴露室中纳米颗粒的表征
- BS ISO 17321-1:2006 图形技术和摄影 数码相机 (DSC) 的颜色表征 刺激、计量和测试程序
- BS DD ENV 1071-2:1994 高级技术陶瓷 陶瓷涂层试验方法 用盖磨法测定涂层厚度
- BS PD ISO/TR 13014:2012 纳米技术 用于毒理学评估的工程纳米材料的物理化学表征指南
- DANSK DS/ISO/TS 21356-1:2021 纳米技术 石墨烯的结构表征 第1部分：粉末和分散体中的石墨烯
- DANSK DS/EN ISO 26423:2016 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷） 月坑研磨法测定涂层厚度
- SN-CEN/TS 17010:2016 纳米技术 用于表征纳米物体和包含纳米物体的材料的被测量指南
- BS PD ISO/TS 10868:2017 纳米技术 使用紫外 可见 近红外 (UV-Vis-NIR) 吸收光谱表征单壁碳纳米管
- BS PD ISO/TR 20489:2018 纳米技术 用于表征水样中金属和金属氧化物纳米物体的样品制备
- DANSK DS/CEN/TS 17010:2016 纳米技术 用于表征纳米物体和包含纳米物体的材料的被测量指南
- DANSK DS/ISO/TS 10868:2017 纳米技术 使用紫外 可见 近红外 (UV-Vis-NIR) 吸收光谱表征单壁碳纳米管
- DANSK DS/ISO/TR 20489:2018 纳米技术 用于表征水样中金属和金属氧化物纳米物体的样品制备
- DANSK DS/ISO/TR 13014/COR 1:2012 纳米技术 用于毒理学评估的工程纳米级材料的物理化学表征指南
- NS-EN ISO 10808:2010 纳米技术 用于吸入毒性测试的吸入暴露室中纳米颗粒的表征（ISO 10808:2010）
- BS PD CEN ISO/TS 23302:2022 纳米技术 表征纳米物体及其所含材料的测量对象的识别要求和建议
- BS PD ISO/TR 23463:2022 纳米技术 碳纳米管和碳纳米纤维气溶胶与吸入毒性试验的关系表征
- BS PD ISO/TS 23302:2021 纳米技术 表征纳米物体及其所含材料的测量对象的识别要求和建议
- DANSK DS/ISO/TS 23302:2022 纳米技术 -对表征纳米物体及其所含材料的测量值的识别要求和建议
- DANSK DS/ISO/TR 23463:2022 纳米技术 用于吸入毒性测试的碳纳米管和碳纳米纤维气溶胶的表征
- DANSK DS/ISO 23033:2021 生物技术 分析方法 细胞治疗产品测试和表征的一般要求和注意事项
国际标准化组织，关于表征技术 厚度的标准
- ISO/IEC TR 29198:2013 信息技术——生物特征学——指纹数据库技术评价难度的表征与度量
- ISO 1302:1992 技术制图.表面特征表示方法
- ISO/TR 23015:2020 细气泡技术细气泡表征的测量技术矩阵
- ISO 6342:2003 缩微摄影技术.开窗卡.增厚区厚度的测量方法
- ISO 6342:1993 缩微摄影技术 开窗卡 增厚区厚度的测量方法
- ISO 3543:2000/Cor 1:2003 金属和非金属涂层.厚度测量.射线反向散射法 技术勘误表1
- ISO/TR 10929:2012 纳米技术.多壁碳纳米管(MWCNT)试样的表征
- ISO 583-1:1999/Cor 1:2006 织物芯输送带.总厚度和织物厚度.第1部分:试验方法.技术勘误1
- ISO 13704:2007/cor 1:2008 石油，石化和天然气工业.炼油厂加热管厚度的计算;技术勘误表1
- ISO/CD 20223:2011 技术产品文档（TPD） 情景特征的表示和识别
- ISO 4591:1979 塑料.薄膜和薄板.用重量分析技术（重量分析厚度）测定样品的平均厚度和卷的平均厚度和产量
- ISO 24261-2:2021 细气泡技术.样品表征的消除方法.第2部分：细气泡消除技术
- ISO/TS 21346:2021 纳米技术.个性化纤维素纳米纤维样品的表征
- ISO/TS 11308:2020 纳米技术 - 使用热重分析对碳纳米管进行表征
- ISO/IEC DIS 30107-1 信息技术《生物特征表示攻击检测》第1部分：框架
- ISO 24261-1:2020 微孔技术. 样品表征的消去法. 第1部分: 评估程序
- ISO 9339-2:1998/Cor 1:2000 光学和光学仪器 接触镜 厚度的测定 第2部分:水凝胶接触镜 技术勘误表1
- IEC TR 63258:2021 纳米技术.评估纳米薄膜厚度的椭偏仪应用指南
- IEC/TR 63258:2021 纳米技术.评估纳米薄膜厚度的椭偏仪应用指南
- ISO/IEC 30107-2:2017 信息技术.生物特征表示攻击检测.第2部分：数据格式
- ISO 4468:2009/Cor 1:2009 齿轮盘 - 精度要求 技术勘误表1
- ISO 13779-3:2018 手术植入物 - 羟基磷灰石 - 第3部分:结晶度比和相纯度的化学分析和表征
- ISO 13565-2:1996/cor 1:1998 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 具有分层功能特性的表面 第2部分:利用线性材料比率曲线描述高度特征 技术勘误1
- ISO/CD 21910-2:2023 细气泡技术 微气泡的表征 第2部分：原位动态图像分析方法
- ISO 463:2006/Cor 1:2007 产品几何量技术规范(GPS).尺寸测量设备.机械千分表设计和计量学特征.技术勘误1
- ISO/IEC 19794-8:2011/Cor 1:2012 信息技术.生物特征识别数据交换格式.第8部分:指纹图像骸骨数据.技术勘误表1
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- KS J 0008-2017(2022) 生物技术－通过基因组修饰分析来表征转基因生物的指南
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- KS A ISO 3274:2002 产品几何技术规范(GPS).表面特征:轮廓法.接触尖笔式记录仪的一般特性
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CZ-CSN，关于表征技术 厚度的标准
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- CSN ISO 7570:1994 木工机床．表面刨平和厚度机械．术语与验收条件
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- CSN 30 5103-1986 汽车速度表．技术要求和试验方法
- CSN 49 0212-1988 木材的表面粗糙度比较范例．技术要求
- CSN 35 6110-1988 单相和3相电度表．技术要求和测试方法
GSO，关于表征技术 厚度的标准
- GSO ISO/TR 18196:2021 纳米技术 用于表征纳米物体的测量技术矩阵
- BH GSO ISO/TR 18196:2022 纳米技术 用于表征纳米物体的测量技术矩阵
- GSO ISO/TR 19716:2021 纳米技术 纤维素纳米晶体的表征
- BH GSO ISO/TR 19716:2022 纳米技术 纤维素纳米晶体的表征
- OS GSO ISO/TS 80004-6:2015 纳米技术 词汇 第6部分：纳米物体表征
- BH GSO ISO/TS 80004-6:2017 纳米技术 词汇 第6部分：纳米物体表征
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- OS GSO ISO 4591:2013 塑料 薄膜和片材 通过重量分析技术测定样品的平均厚度以及卷的平均厚度和产量（重量分析厚度）
- GSO ISO 4591:2013 塑料 薄膜和片材 通过重量分析技术测定样品的平均厚度以及卷的平均厚度和产量（重量分析厚度）
- GSO ISO/IEC 10164-3:2013 信息技术 开放系统互连 系统管理：表示关系的特征
- GSO ISO/TS 10867:2013 纳米技术 使用近红外光致发光表征单壁碳纤维的性能
- BH GSO ISO/TS 10867:2016 纳米技术 使用近红外光致发光光谱表征单壁碳纳米管
- GSO ISO 10808:2013 纳米技术 用于吸入毒性测试的吸入室中纳米颗粒的表征
- OS GSO ISO 12642-2:2015 图形技术 四色印刷表征的输入数据 第2部分：扩展数据集
- BH GSO ISO 12642-2:2017 图形技术 四色印刷表征的输入数据 第2部分：扩展数据集
- OS GSO ISO/TS 19911:2013 塑料管道和配件 用于表征 PE 插口端配件的技术文件格式
- GSO ISO 12642-2:2015 图形技术 -四色顺序印刷表征的输入数据 - 第2部分：扩展数据集
- OS GSO ISO 12642-1:2015 图形技术 四色套色印刷表征的输入数据 第1部分：初始数据集
- OS GSO ISO 10808:2013 纳米技术 用于吸入毒性测试的吸入暴露室中纳米颗粒的表征
- BH GSO ISO 12642-1:2017 图形技术 四色套色印刷表征的输入数据 第1部分：初始数据集
- BH GSO ISO 10808:2016 纳米技术 用于吸入毒性测试的吸入暴露室中纳米颗粒的表征
- GSO ISO 6412-3:2016 技术图纸 管道的简化表示 第3部分：通风和排水系统的终端特征
- GSO ISO/TS 10868:2013 纳米技术 使用紫外 可见 近红外吸收光谱表征单壁碳纤维的性能
- BH GSO ISO 6412-3:2017 技术图纸 管道的简化表示 第3部分：通风和排水系统的终端特征
- OS GSO ISO 6412-3:2016 技术图纸 管道的简化表示 第3部分：通风和排水系统的终端特征
- GSO ISO 26423:2016 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷） 月坑研磨法测定涂层厚度
- OS GSO ISO 26423:2016 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷） 月坑研磨法测定涂层厚度
- GSO ISO 1803:2007 建筑结构 公差 尺寸精度的表达 原则和技术术语
- OS GSO ISO/TS 10868:2013 纳米技术 使用紫外 可见 近红外（UV-Vis-NIR）吸收光谱表征单壁碳纳米管
- BH GSO ISO/TS 10868:2016 纳米技术 使用紫外 可见 近红外（UV-Vis-NIR）吸收光谱表征单壁碳纳米管
湖北省地方标准，关于表征技术 厚度的标准
- DB42/T 1774-2021 等厚度水泥土搅拌墙技术规程
中国团体标准，关于表征技术 厚度的标准
- T/SHDSGY 040-2022 LIN-36型表情特征分析系统技术规范
- T/JDZCA 0005-2023 陶瓷艺术品特征提取方法 表面色彩学色度与白度分析方法
- T/JSJTQX 20-2021 电磁感应法钢筋保护层厚度检测技术规程
- T/ZZXJX 050-2021 钢筋保护层厚度及钢筋直径检测技术规程
- T/TMHIA 006-2022 大厚度全深式低碳就地冷再生施工技术规范
- T/HNCAA 039-2022 公路工程预制构件混凝土保护层厚度检测技术标准
- T/CCIAA 15-2021 焦炉炉顶表面温度测定技术规范
- T/CAB 0122-2021 纸包装印刷品表面爽滑度技术要求
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- JIS Z 2355:2005 用超音波脉冲回波技术测定厚度的方法
- JIS B 0651 ERRATUM 2:2002 产品几何量技术规范(GPS).表面特征:轮廓法.接触(触针)设备的标称特征(勘误2)
- JIS B 0671-3:2002 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.有分层功能特性的表面.第3部分:利用材料概率曲线显现高度特征
- JIS B 0671-2:2002 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.有分层功能特性的表面.第2部分:利用线性材料比率曲线显现高度特征
- JIS B 0632:2001 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.相位校正过滤器的计量特征
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- AAMI TIR29:2012 医疗器械辐射灭菌过程表征和控制技术信息报告指南
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