高分辨电子显微镜
本专题涉及高分辨电子显微镜的标准有101条。
国际标准分类中，高分辨电子显微镜涉及到光学和光学测量、分析化学、词汇、光学设备、空气质量、教育、金属材料试验、复合增强材料、犯罪行为防范、钢铁产品、橡胶和塑料用原料。
在中国标准分类中，高分辨电子显微镜涉及到基础标准与通用方法、光学仪器综合、电子光学与其他物理光学仪器、放大镜与显微镜、光电子器件综合、技术管理、教学专用仪器、记录仪器及光线示波器、光学设备、教育、学位、学衔、化学试剂综合、石油地质勘探、石油勘探、开发与集输工程综合、金相检验方法、油页岩、、犯罪鉴定技术、物质成份分析仪器与环境监测仪器、钢铁与铁合金分析方法、火工产品、炭黑、电化学、热化学、光学式分析仪器。
国家质检总局，关于高分辨电子显微镜的标准
- GB/Z 21738-2008 一维纳米材料的基本结构.高分辨透射电子显微镜检测方法
- GB/T 18907-2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
- GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
- GB/T 18295-2001 油气储层砂岩样品 扫描电子显微镜分析方法
- GB/T 19267.6-2003 刑事技术微量物证的理化检验 第6部分;扫描电子显微镜法
- GB/T 17507-1998 电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样通用技术条件
- GB/T 18873-2002 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线 能谱定量分析通则
- GB/T 18873-2008 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则
- GB/T 17361-2013 微束分析 沉积岩中自生粘土矿物鉴定 扫描电子显微镜及能谱仪方法
- GB/T 19267.6-2008 刑事技术微量物证的理化检验 第6部分:扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GB/T 17507-2008 透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件
行业标准-机械，关于高分辨电子显微镜的标准
- JB/T 5585-1991 透射电子显微镜分辨力测试方法
- JB/T 5586-1991 透射电子显微镜分类和基本参数
英国标准学会，关于高分辨电子显微镜的标准
- BS ISO 23420:2021 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱分析能量分辨率的测定方法
- 20/30380369 DC BS ISO 23420 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱分析能量分辨率的测定方法
- BS ISO 25498:2018 跟踪更改 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜（TIFF/SEM）的标记图像文件格式
- BS ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.图像放大校准指南
- BS ISO 25498:2010 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
- BS ISO 21466:2019 微束分析 扫描电子显微镜 CDSEM评估关键尺寸的方法
- BS ISO 24639:2022 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱元素分析能量标度的校准程序
- BS ISO 16700:2016 跟踪更改 微束分析 扫描电子显微镜 校准图像放大率的指南
- 18/30344520 DC BS ISO 21466 微束分析 扫描电子显微镜 CD-SEM 评估关键尺寸的方法
- 21/30404763 DC BS ISO 24639 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱元素分析能量标度的校准程序
- BS ISO 19749:2021 纳米技术 用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- BS ISO 20263:2017 微束分析 分析电子显微镜 层状材料横截面图像中界面位置的确定方法
- BS EN ISO 21363:2022 纳米技术 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- BS EN ISO 19749:2023 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- BS ISO 21363:2020 纳米技术 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- 18/30351714 DC BS ISO 21363 纳米技术 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- 18/30351679 DC BS ISO 19749 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
国际标准化组织，关于高分辨电子显微镜的标准
- ISO 23420:2021 微束分析.分析电子显微镜.电子能量损失谱分析用能量分辨率的测定方法
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
- ISO 15932:2013 微光束分析.分析电子显微镜.词汇
- ISO 11884-2:2007 光学和光子学.立体显微镜的最低要求.第2部分:高性能显微镜
- ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析电子显微镜 透射电子显微镜测定线状晶体表观生长方向的方法
- ISO 22493:2008 微光束分析.扫描电子显微镜方法.词汇
- ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- ISO 16700:2016 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- ISO 25498:2010 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
- ISO 25498:2018 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
- ISO 19214:2017 微束分析. 分析电子显微术. 采用透射电子显微镜术测定丝状晶体显著增长方向的方法
- ISO/TS 24597:2011 微光束分析.扫描电子显微镜检查法.图像清晰度评价法
- ISO 21466:2019 微束分析.扫描电子显微镜.用CD-SEM评定临界尺寸的方法
- ISO 21363:2020 纳米技术 - 通过透射电子显微镜测定粒度分布的方案
- ISO 24639:2022 微束分析.分析电子显微镜.用电子能量损失光谱法进行元素分析的能量标度校准程序
- ISO 19749:2021 纳米技术.用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的指南
- ISO 20263:2017 微束分析 - 分析透射电子显微镜 - 分层材料横截面图像中界面位置的测定方法
- ISO 29301:2017 微光束分析.分析电子显微镜法.具有周期性结构的基准物质校准图像放大的方法
法国标准化协会，关于高分辨电子显微镜的标准
- NF ISO 15932:2014 微束分析 分析电子显微镜 词汇
- NF X21-005:2006 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 扫描电子显微镜 评价图像清晰度的方法
- NF T16-404:2020 纳米技术. 通过透射电子显微镜测量粒度和形状分布
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量粒径和形状分布
- NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 纳米技术 通过透射电子显微镜测量粒径和形状分布
- NF T25-111-4:1991 碳纤维-织构和结构-第4部分：扫描电子显微镜断口法
韩国科技标准局，关于高分辨电子显微镜的标准
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析扫描电子显微镜词汇
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
- KS B ISO 11884-2-2011(2016) 光学和光子学立体显微镜最低要求第2部分:高性能显微镜
- KS B ISO 11884-2-2011(2021) 光学和光子学立体显微镜最低要求第2部分:高性能显微镜
- KS B ISO 11884-2:2011 光学和光子学.立体显微镜的最低要求.第2部分:高性能显微镜
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.扫描电子显微镜.术语
- KS D ISO 16700:2013 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- KS D ISO 16700-2013(2018) 微束分析－扫描电子显微镜－图像放大率校准指南
KR-KS，关于高分辨电子显微镜的标准
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于高分辨电子显微镜的标准
- GB/T 33834-2017 微束分析 扫描电子显微术 生物试样扫描电子显微镜分析方法
- GB/T 34831-2017 纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法
日本工业标准调查会，关于高分辨电子显微镜的标准
- JIS K 3850-1:2006 空中纤维分子的测定.第1部分:光学显微镜法和扫描电子显微镜法
- JIS K 3850-1:2000 空气中纤维粒子的测量方法.第1部分:光学显微镜法和扫描电子显微镜法
- JIS K 0149-1:2008 微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南
- JIS K 3850-3:2000 空气中纤维粒子的测量方法.第3部分:间接传递透射电子显微镜法
- JIS K 3850-2:2000 空气中纤维粒子的测量方法.第2部分:直接传递透射电子显微镜法
行业标准-教育，关于高分辨电子显微镜的标准
- JY/T 0581-2020 透射电子显微镜分析方法通则
- JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则
- JY/T 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于高分辨电子显微镜的标准
- GB/T 35098-2018 微束分析 透射电子显微术 植物病毒形态学的透射电子显微镜鉴定方法
行业标准-石油，关于高分辨电子显微镜的标准
- SY/T 5162-2014 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
- SY/T 5162-1997 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
- SY 5162-2014 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
国家能源局，关于高分辨电子显微镜的标准
- SY/T 5162-2021 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
工业和信息化部，关于高分辨电子显微镜的标准
- YB/T 4676-2018 钢中析出相的分析 透射电子显微镜法
中国团体标准，关于高分辨电子显微镜的标准
- T/CSTM 00166.3-2020 石墨烯材料表征 第3部分 透射电子显微镜法
PH-BPS，关于高分辨电子显微镜的标准
- PNS ISO 21363:2021 纳米技术.用透射电子显微镜测量粒度和形状分布
欧洲标准化委员会，关于高分辨电子显微镜的标准
- EN ISO 21363:2022 纳米技术 - 通过透射电子显微镜测定粒度分布的方案
- EN ISO 19749:2023 纳米技术.用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- prEN ISO 21363:2021 纳米技术 通过透射电子显微镜测量粒径和形状分布（ISO 21363:2020）
丹麦标准化协会，关于高分辨电子显微镜的标准
- DS/ISO 19749:2021 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量粒径和形状分布
美国材料与试验协会，关于高分辨电子显微镜的标准
- ASTM E2142-08 用扫描电子显微镜分级和分类铁中内含物的标准试验方法
- ASTM D3849-02 炭黑的标准试验方法.用电子显微镜分析炭黑的形态特征
- ASTM D3849-04 炭黑的标准试验方法.用电子显微镜分析炭黑的形态特征
- ASTM E2142-08(2015) 用扫描电子显微镜评定和分类钢中夹杂物的标准试验方法
国家军用标准-国防科工委，关于高分辨电子显微镜的标准
- GJB 5384.22-2005 烟火药性能试验方法 第21部分:烟雾固态微粒粒子数浓度测定 电子显微镜法
- GJB 5384.23-2005 烟火药性能试验方法 第23部分:烟雾固态微粒粒度颁布测定 电子显微镜法
国家军用标准-总装备部，关于高分辨电子显微镜的标准
- GJB 8684.22-2015 烟火药性能试验方法 第22部分：烟雾固态微粒粒子数浓度测定 电子显微镜法
- GJB 8684.23-2015 烟火药性能试验方法 第23部分：烟雾固态微粒粒度分布测定 电子显微镜法
ES-UNE，关于高分辨电子显微镜的标准
- UNE-EN ISO 21363:2022 纳米技术 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- UNE-EN ISO 19749:2023 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
AT-ON，关于高分辨电子显微镜的标准
- OENORM EN ISO 21363:2021 纳米技术 通过透射电子显微镜测量粒径和形状分布（ISO 21363:2020）
行业标准-公共安全标准，关于高分辨电子显微镜的标准
- GA/T 1521-2018 法庭科学 塑料元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GA/T 1519-2018 法庭科学 墨粉元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
