EN
RU
ES
表面分析 光
本专题涉及表面分析 光的标准有133条。
国际标准分类中，表面分析 光涉及到分析化学、声学和声学测量、道路工程、词汇、光学和光学测量。
在中国标准分类中，表面分析 光涉及到投影器、幻灯机、基础标准与通用方法、公路工程、化学、物理学与力学、实验室基础设备、电子光学与其他物理光学仪器、材料防护。
美国国防后勤局，关于表面分析 光的标准
- DLA A-A-50767 VALID NOTICE 3-2006 表面光洁度分析仪
- DLA A-A-50767 VALID NOTICE 2-2001 表面光洁度分析仪
- DLA A-A-50767 VALID NOTICE 1-1995 表面光洁度分析仪
- DLA A-A-50767-1983 表面光洁度分析仪
国际标准化组织，关于表面分析 光的标准
- ISO/TS 15338:2020 表面化学分析 - 辉光放电质谱 - 操作程序
- ISO 18337:2015 表面化学分析. 表面特征. 共焦荧光显微镜横向分辨率的测量
- ISO/TS 13473-4:2008 表面外观路面结构的特性.第4部分:表面轮廓的光谱分析
- ISO/CD 13473-4 利用表面轮廓表征路面结构 第4部分：表面轮廓的光谱分析
- ISO/TS 15338:2009 表面化学分析.辉光放电质谱测定法(GD-MS).使用介绍
- ISO 14707:2015 表面化学分析 辉光释放光传播光谱测定法(GD-OES) 使用说明
- ISO 14707:2000 表面化学分析 辉光释放光传播光谱测定法(GD-OES) 使用说明
- ISO 14707:2021 表面化学分析. 辉光释放光传播光谱测定法(GD-OES). 使用说明
- ISO 10810:2019 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南
- ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱学.分析导则
- ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准
- ISO 15472:2001 表面化学分析 X射线光电谱仪 能量刻度表校准
- ISO/TS 25138:2010 表面化学分析.用辉光放电发射光谱测定法分析金属氧化物薄膜
- ISO/TR 18392:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序
- ISO 13424:2013 表面化学分析——X射线光电子能谱；薄膜分析结果的报告
- ISO/TS 25138:2019 表面化学分析 - 通过辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜
- ISO 16962:2005 表面化学分析.用辉光放电光发射光谱测定法分析锌和/或铝基金属涂层
- ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 射线光电子能谱 确定背景的程序
- ISO/TR 23173:2021 表面化学分析.电子光谱法.纳米颗粒涂层厚度和成分的测量
- ISO 24417:2022 表面化学分析.用辉光放电光学发射光谱法分析铁基衬底上的金属纳米层
- ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
- ISO 16962:2017 表面化学分析. 采用辉光放电光发射光谱法分析锌和/或铝基金属涂层
- ISO/TR 18394:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法.化学信息的推导
- ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
- ISO 15470:2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- ISO 24237:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱法.强度的可重复性和稳定性
- ISO 15470:2017 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
- ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- ISO 18115-3:2022 表面化学分析.词汇.第3部分:光学界面分析中使用的术语
- ISO/TR 19319:2013 表面化学分析.基于光束方法中横向分辨率和清晰度的测定基础方法
- ISO 11505:2012 表面化学分析.通过辉光放电光发射光谱法来定量成分深度剖面的通用规程
- ISO 19318:2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
- ISO 19318:2021 表面化学分析. X射线光电光谱法. 电荷控制和电荷校正方法的报告
- ISO 24236:2005 表面化学分析.螺旋电子光谱法.强度标的重复性和持久性
- ISO 15471:2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- ISO 15471:2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
英国标准学会，关于表面分析 光的标准
- PD ISO/TS 15338:2020 表面化学分析 辉光放电质谱分析 运营流程
- BS ISO 18337:2015 表面化学分析. 表面特征. 共焦荧光显微镜横向分辨率的测量
- BS ISO 14707:2015 表面化学分析.辉光放电发射光谱.使用介绍
- BS ISO 14707:2000 表面化学分析.辉光放电发射光谱.使用介绍
- BS DD ISO/TS 25138:2011 表面化学分析.辉光放电发射光谱法分析金属氧化膜
- BS DD ISO/TS 15338:2009 表面化学分析.辉光放电质谱法(GD-MS).用法介绍
- BS ISO 14707:2021 表面化学分析 辉光放电发射光谱法(GD-OES)使用介绍
- BS ISO 13424:2013 表面化学分析.X射线光谱.薄膜分析报表
- BS ISO 18115-3:2022 表面化学分析 词汇 光学界面分析中使用的术语
- PD ISO/TS 25138:2019 表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物薄膜
- BS ISO 11505:2012 表面化学分析 辉光放电发射光谱定量成分深度分析的一般程序
- BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- BS ISO 18115-1:2010 表面化学分析.词汇表.一般术语和光谱学术语
- BS ISO 18115-1:2013 表面化学分析.词汇表.一般术语和光谱学术语
- BS ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析指南
- BS ISO 18115-1:2023 表面化学分析。词汇。光谱学中使用的通用术语和术语
- BS ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电子分光计.能量等级的校准
- BS PD ISO/TR 23173:2021 表面化学分析 电子光谱学 纳米颗粒涂层厚度和成分的测量
- BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
- BS ISO 16962:2017 表面化学分析. 采用辉光放电光发射光谱法分析锌和/或铝基金属涂层
- BS PD ISO/TR 18394:2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.化学信息的推导
- BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
- BS ISO 15470:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- BS ISO 15470:2017 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- BS ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- BS ISO 24417:2022 表面化学分析 通过辉光放电发射光谱法分析铁基基底上的金属纳米层
- 15/30291643 DC BS ISO 18516 表面化学分析 基于光束的方法中横向分辨率和清晰度的确定
- BS ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子和俄歇电子光谱仪.强度标的线性度
- BS ISO 24237:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱学.强度标的可重复性和稳定性
- BS ISO 19318:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
- 21/30405786 DC BS ISO 24417 表面化学分析 通过辉光放电发射光谱法分析铁基基底上的金属纳米层
- 21/30385921 DC BS ISO 18115-3 表面化学分析 词汇 第3部分. 光学界面分析中使用的术语
- BS ISO 15471:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- BS ISO 24236:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.强度标的可重复性和一致性
- BS ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- BS ISO 11505:2013 表面化学分析. 采用辉光放电光学发射光谱法量化组成深度描述的通用规程
国家质检总局，关于表面分析 光的标准
- GB/T 19502-2004 表面化学分析-辉光放电发射光谱方法通则
- GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- GB/T 29559-2013 表面化学分析 辉光放电原子发射光谱 锌和/或铝基合金镀层的分析
- GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
- GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
- GB/T 28892-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.选择仪器性能参数的表述
- GB/T 28633-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.强度标的重复性和一致性
- GB/T 25185-2010 表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告
法国标准化协会，关于表面分析 光的标准
- NF ISO 14707:2006 表面化学分析 辉光放电发射光谱法 用途简介
- NF X21-053*NF ISO 14707:2006 表面化学分析 辉光放电光发射光谱测定法（GD-OES）使用说明
- NF X21-071:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析用导则
- NF X21-055:2006 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准
- NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 射线光电子能谱(XPS)中的数据记录和报告
- NF X21-059*NF ISO 24236:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法.强度等级的重复性和持久性
- NF X21-061:2008 表面化学分析.螺旋电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
KR-KS，关于表面分析 光的标准
- KS D ISO 14707-2003(2023) 表面化学分析-辉光放电发射光谱仪（GD-OES）-简介
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准
- KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化学分析-全反射X射线荧光分析仪测定硅晶片表面元素杂质
德国标准化学会，关于表面分析 光的标准
- DIN ISO/TS 13473-4:2009-02 使用表面轮廓表征路面纹理 第4部分：表面轮廓的光谱分析
- DIN ISO/TS 13473-4:2009 通过使用表面轮廓表征路面结构.第4部分:表面轮廓的光谱分析
- DIN ISO 14707:2018 表面化学分析 辉光放电发射光谱法（GD-OES） 使用介绍（ISO 14707:2015）
- DIN ISO 14707:2023-05 表面化学分析 - 辉光放电发射光谱法 (GD-OES) - 使用简介 (ISO 14707:2021)
- DIN ISO 14707:2023 表面化学分析 辉光放电发射光谱法 (GD-OES) 使用简介 (ISO 14707:2021)
- DIN ISO 11505:2018-02 表面化学分析 通过辉光放电发射光谱法定量成分深度分析的一般程序
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)
- DIN ISO 16962:2018 表面化学分析 通过辉光放电光发射光谱法分析锌基和/或铝基金属涂层（ISO 16962:2017）
- DIN ISO 15472:2020 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能标校准（ISO 15472:2010）；英文文本
- DIN ISO 11505:2018 表面化学分析 通过辉光放电光发射光谱法进行定量成分深度剖析的一般程序（ISO 11505:2012）
韩国科技标准局，关于表面分析 光的标准
- KS D ISO 14707-2003(2018) 表面化学分析-辉光友邦前发射分光器（GD-OES）-介绍书
- KS D ISO 14707:2003 表面化学分析.辉光放电光发射光度测定法(GD-OES).使用说明
- KS D ISO 15472-2003(2018) 表面化学分析-X射线光电子分光器-能量刻度矫正
- KS D ISO 15472:2003 表面化学分析.X射线光电光谱仪.能量刻度的校正
- KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪部分性能参数说明
- KS D ISO 15470:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- KS D ISO 19318:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
- KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化学分析-全反射X-射线荧光分析仪测定硅片表面元素杂质
- KS D ISO 19318-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱电荷控制和电荷校正方法报告
- KS D ISO 15471:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于表面分析 光的标准
- GB/T 32996-2016 表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜
- GB/T 32997-2016 表面化学分析 辉光放电发射光谱定量成分深度剖析的通用规程
- GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
- GB/T 33502-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求
日本工业标准调查会，关于表面分析 光的标准
- JIS K 0144:2001 表面化学分析.辉光放电发射光谱测定法(GD-OES).使用说明
- JIS K 0144:2018 表面化学分析.辉光放电发射光谱测定法(GD-OES).使用说明
- JIS K 0145:2002 表面化学分析.X射线光电子分光计.能量刻度的校准
- JIS K 0150:2009 表面化学分析.用辉光放电光发射光谱测定法分析锌和/或铝基金属涂层
- JIS K 0152:2014 表面化学分析. X射线光电子能谱分析. 强度标的重复性和一致性
- JIS K 0162:2010 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- JIS K 0161:2010 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于表面分析 光的标准
- GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
- GB/T 41072-2021 表面化学分析 电子能谱 紫外光电子能谱分析指南
澳大利亚标准协会，关于表面分析 光的标准
- AS ISO 15472:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．能量标度的校准
- AS ISO 15470:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．选定仪器性能参数的描述
- AS ISO 24237:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱学．强度标的可重复性和恒定性
- AS ISO 19318:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱学．电荷控制和电荷调整用报告法
