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电子探针x射线微量分析
本专题涉及电子探针x射线微量分析的标准有135条。
国际标准分类中，电子探针x射线微量分析涉及到分析化学、光学设备、词汇、航空航天制造用材料、试验条件和规程综合、金属材料试验、光学和光学测量、医学科学和保健装置综合、医疗设备、陶瓷、物理学、化学、犯罪行为防范、纸和纸板、无损检测。
在中国标准分类中，电子探针x射线微量分析涉及到化学、基础标准与通用方法、物理学与力学、电子光学与其他物理光学仪器、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、颜料、电化学、热化学、光学式分析仪器、电子元件综合、钢铁与铁合金分析方法、光学测试仪器、贵金属及其合金分析方法、工艺美术品、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、医用射线设备、特种陶瓷、造纸综合、犯罪鉴定技术、纸。
法国标准化协会，关于电子探针x射线微量分析的标准
- NF X21-003:2006 微光束分析.电子探针显微分析.波长分布X射线光谱测量法定量分析指南
- NF X21-006:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法进行块状样品的定量点分析
- NF X21-009:2008 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇
- NF ISO 11938:2012 微束分析 电子微探针分析（铸件微探针） 使用波长色散光谱法的元素映射分析方法
- NF X21-007:2008 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢中碳含量的指南
- NF X21-013*NF ISO 11938:2012 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).应用波长色散光谱学进行元素映射分析方法
- NF X21-002:2007 微光束分析.电子探针微量分析.波长色散光谱学用实验参数测定指南
- NF X21-008:2012 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规格
- FD T16-203:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析法表征单壁碳纳米管
- NF EN 1071-4:2006 先进技术陶瓷 陶瓷涂层的测试方法 第4部分：电子探针微量分析法（MASE）测定化学成分
- NF EN 62220-1-2:2007 电子医疗设备 - 数字 X 射线成像设备的特性 - 第 1-2 部分：量子检测效率的确定 - 乳腺 X 线摄影中使用的探测器
国际标准化组织，关于电子探针x射线微量分析的标准
- ISO 17470:2004 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法分析质量点的指南
- ISO 17470:2014 微束分析. 电子探针微量分析. 用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
- ISO 22489:2006 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- ISO 23833:2013 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇
- ISO 23833:2006 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇
- ISO 11938:2012 微束分析. 电子探针微量分析. 使用波长色散光谱对元素映射的分析方法
- ISO/PRF 14595 微束分析“电子探针微量分析”认证标准物质（CRM）规范指南
- ISO 14595:2023 微束分析 电子探针微量分析 有证标准物质（CRM）规范指南
- ISO 16592:2006 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢的碳含量的指南
- ISO 16592:2012 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢的碳含量的指南
- ISO/DIS 14594 微束分析“电子探针微量分析”波长色散光谱实验参数确定指南
- ISO 19463:2018 微光束分析.电子探针显微分析仪（EPMA）.执行质量保证程序的指南
- ISO 23692:2021 微束分析.电子探针显微分析.连续铸钢产品中Mn树枝状偏析的定量分析
- ISO 15632:2021 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
- ISO 15632:2012 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
- ISO 15632:2002 微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范
- ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的指南
- ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
- ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
日本工业标准调查会，关于电子探针x射线微量分析的标准
- JIS K 0190:2010 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法对质量点分析用指南
- JIS K 0189:2013 微束分析.电子探针显微分析.波长色散X射线光谱学用实验参数的测定
- JIS K 0145:2002 表面化学分析.X射线光电子分光计.能量刻度的校准
韩国科技标准局，关于电子探针x射线微量分析的标准
- KS D ISO 22489:2012 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- KS D ISO 22489:2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 使用波长色散X射线光谱法的批量样品的定量点分析
- KS D ISO 23833:2018 微束分析 - 电子探针微量分析（Epma） - 词汇
- KS D ISO 15632:2018 微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数
- KS D ISO 16592-2011(2021) 微束分析－电子探针微量分析－用校准曲线法测定钢中碳含量的指南
- KS D ISO 16592:2011 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢碳含量的指南
- KS D ISO 16592-2011(2016) 微束分析－电子探针显微分析－用校准曲线法测定钢中碳含量的指南
- KS D ISO 14595:2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 认证参考材料（CRM）规范指南
- KS D ISO 14594:2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 波长色散光谱实验参数测定指南
- KS D ISO 15632:2012 微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范
- KS D ISO 15472-2003(2018) 表面化学分析-X射线光电子分光器-能量刻度矫正
- KS C IEC 62220-1-2005(2016) 医用电气设备数字X射线成像设备特性第1部分:探测量子效率的测定
- KS C IEC 62220-1-2:2020 医疗电气设备 - 数字X射线成像设备的特性 - 第1-2部分:探测量子效率的测定 - 乳房X光检查中使用的探测器
- KS C IEC 62220-1-1:2020 医疗电气设备 - 数字X射线成像设备的特性 - 第1-1部分:探测量子效率的确定 - 用于放射成像的探测器
KR-KS，关于电子探针x射线微量分析的标准
- KS D ISO 22489-2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 使用波长色散X射线光谱法的批量样品的定量点分析
- KS D ISO 22489-2018(2023) 微束分析.电子探针微量分析.用波长色散x射线光谱法对大块样品进行定量点分析
- KS D ISO 23833-2018 微束分析 - 电子探针微量分析（Epma） - 词汇
- KS D ISO 15632-2018 微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数
- KS D ISO 14595-2018(2023) 微束分析.电子探针微量分析.标准物质规范指南
- KS D ISO 14595-2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 认证参考材料（CRM）规范指南
- KS D ISO 14594-2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 波长色散光谱实验参数测定指南
- KS D ISO 14594-2018(2023) 微束分析.电子探针微量分析.波长色散光谱法实验参数测定指南
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准
- KS C IEC 62220-1-2-2020 医疗电气设备 - 数字X射线成像设备的特性 - 第1-2部分:探测量子效率的测定 - 乳房X光检查中使用的探测器
- KS C IEC 62220-1-1-2020 医疗电气设备 - 数字X射线成像设备的特性 - 第1-1部分:探测量子效率的确定 - 用于放射成像的探测器
国家质检总局，关于电子探针x射线微量分析的标准
- GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则
- GB/T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
- GB/T 15247-2008 微束分析.电子探针显微分析.测定钢中碳含量的校正曲线法
- GB/T 28634-2012 微束分析.电子探针显微分析.块状试样波谱法定量点分析
- GB/T 15246-2022 微束分析 硫化物矿物的电子探针定量分析方法
- GB/T 18873-2002 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线 能谱定量分析通则
- GB/T 18873-2008 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则
- GB/T 17363.1-2009 黄金制品金含量无损测定方法.第1部分:电子探针微分析法
- GB/T 17507-2008 透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件
- GB/T 17507-1998 电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样通用技术条件
- GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
- GB/T 15247-1994 碳钢和低合金钢中碳的电子探针的定量分析方法 灵敏度曲线法(检量线法)
- GB/T 2679.11-2008 纸和纸板 无机填料和无机涂料的定性分析.电子显微镜/X射线能谱法
- GB/T 19267.6-2008 刑事技术微量物证的理化检验 第6部分:扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GB/T 2679.11-1993 纸和纸板中无机填料和无机涂料的定性分析 电子显微镜/X射线能谱法
英国标准学会，关于电子探针x射线微量分析的标准
- BS ISO 22489:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
- BS ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
- 19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于电子探针显微镜或电子探针微量分析仪(EPMA)的能量色散 X 射线光谱仪的规格和检查的选定仪器性能参数
- BS ISO 17470:2014 微束分析. 电子探针显微分析. 采用波长分散X射线光谱测定法的定性点分析指南
- BS ISO 23833:2013 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇
- BS ISO 15632:2012 微束分析. 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
- BS ISO 15632:2021 微束分析 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
- BS ISO 16592:2012 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢碳含量的指南
- BS ISO 14595:2023 微束分析 电子探针微量分析 有证标准物质 (CRM) 规范指南
- BS ISO 19463:2018 微束分析 电子探针微量分析仪（EPMA） 执行质量保证程序的指南
- BS ISO 23692:2021 微束分析 电子探针微量分析 连铸钢产品中Mn树枝状偏析的定量分析
- BS ISO 11938:2013 微束分析.电子探针显微分析.使用波长色散光谱对元素映射的分析方法
- 20/30393735 DC BS ISO 23692 微束分析 电子探针微量分析 连铸钢产品中Mn枝晶偏析的定量分析
- 22/30430960 DC BS ISO 14595 微束分析 电子探针微量分析 有证标准物质 (CRM) 规范指南
- BS ISO 11938:2012 微束分析 电子探针微量分析 使用波长色散光谱进行元素图谱分析的方法
- 23/30425940 DC BS ISO 14594 微束分析 电子探针微量分析 波长色散光谱实验参数确定指南
- BS ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电子分光计.能量等级的校准
- BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
- BS EN 1071-4:2006 高级工业陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.用电子探针微量分析(EPMA)测定化学成分
- DD ISO/TS 10798:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析表征单壁碳纳米管
- BS DD ISO/TS 10798:2011 毫微技术.利用扫描电子显微镜和能量色散X射线光谱法分析得出单层碳纳米管的表示特征
- BS ISO 14701:2018 跟踪更改 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
福建省地方标准，关于电子探针x射线微量分析的标准
- DB35/T 110-2000 油漆物证检测电子探针和扫描电镜X射线能谱分析方法
行业标准-航空，关于电子探针x射线微量分析的标准
- HB 8422-2014 合金中微量元素电子探针定量分析方法
美国电子元器件、组件及材料协会，关于电子探针x射线微量分析的标准
- ECA TEP 170-1972 微波电子管X射线探测和测量的推荐做法
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于电子探针x射线微量分析的标准
- GB/T 17360-2020 微束分析 钢中低含量硅、锰的电子探针定量分析方法
德国标准化学会，关于电子探针x射线微量分析的标准
- DIN ISO 16592:2015 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢的碳含量的指南(ISO 16592-2012)
- DIN ISO 15632:2015 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范(ISO 15632-2012)
- DIN EN 62220-1-2:2009 医疗电气设备.数字X射线成像装置特性.第1-2部分:探测量子效率的测定.用于X射线照相法的探测器
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)
- DIN EN 62220-1-2:2009-02 医用电气设备 数字 X 射线成像设备的特性 第1-2部分：探测量子效率的确定 乳腺 X 线摄影中使用的探测器
- DIN EN 62220-1-1:2021-11 医用电气设备 数字 X 射线成像设备的特性 第1-1部分：探测量子效率的测定 射线照相成像中使用的探测器
- DIN EN 1071-4:2006-05 先进技术陶瓷-陶瓷涂层的测试方法-第4部分：通过电子探针微量分析（EPMA）测定化学成分
美国材料与试验协会，关于电子探针x射线微量分析的标准
- ASTM E1588-10e1 扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法射击残留物分析的标准指南
- ASTM E1588-16 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准指南
- ASTM E1588-16a 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准实施规程
- ASTM E1588-17 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准实施规程
- ASTM E1588-07e1 用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南
- ASTM E1588-07 用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南
- ASTM E1588-20 通过扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱法进行枪支残留分析的标准实践
国际电工委员会，关于电子探针x射线微量分析的标准
- IEC 62220-1-2:2007 医疗电气设备.数字X射线成像装置的特性.第1-2部分:侦探量子效率的测定.X射线测定法用探测器
行业标准-医药，关于电子探针x射线微量分析的标准
- YY/T 0590.2-2010 医用电气设备 数字X射线成像装置特性 第1-2部分：量子探测效率的测定 乳腺X射线摄影用探测器
- YY/T 0457.5-2003 医用电气设备.光电X射线影像增强器特性.第5部分:探测量子效率的测定
- YY/T 0590.1-2005 医用电气设备.数字X射线成像装置特性.第1部分:量子探测效率的测定
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于电子探针x射线微量分析的标准
- GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
澳大利亚标准协会，关于电子探针x射线微量分析的标准
- AS ISO 15472:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．能量标度的校准
立陶宛标准局，关于电子探针x射线微量分析的标准
- LST EN 62220-1-1-2015 医用电气设备. 数字X射线成像装置特性. 第1部分: 探测量子效率的测定. 射线成像用探测器(IEC 62220-1-1-2015)
- LST EN 1071-4-2006 高级技术陶瓷 陶瓷涂层的测试方法 第4部分：通过电子探针微量分析（EPMA）测定化学成分
丹麦标准化协会，关于电子探针x射线微量分析的标准
- DS/ISO/TS 10798:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析法表征单壁碳纳米管
- DS/EN 61262-5:2013 医用电气设备 电光 X 射线图像增强器的特性 第5部分：探测量子效率的测定
- DS/EN 1071-4:2006 高级技术陶瓷 陶瓷涂层的测试方法 第4部分：通过电子探针微量分析（EPMA）测定化学成分
- DS/EN 62220-1:2004 医用电气设备 数字 X 射线成像设备的特性 第1部分：探测量子效率的测定
欧洲电工标准化委员会，关于电子探针x射线微量分析的标准
- EN 62220-1-2:2007 医用电气设备.数字X射线成像装置的特性.第1-2部分:探测量子效率的测定.乳腺X射线摄影用检测器
RU-GOST R，关于电子探针x射线微量分析的标准
- GOST IEC 61262-5-2011 医用电气设备.光电X射线影像增强器特性.第5部分:量子探测效率的测定
- GOST R IEC 61262-5-1999 医疗电气装置.光电X射线影像增强器的特性.第5部分:探测器量子效应的测定
- GOST IEC 62220-1-2011 医疗电气设备.数字X射线成像装置的特性.第1部分:探测量子效率的测定
- GOST R IEC 62220-1-3-2013 医疗电气设备. X射线数字成像设备的特性. 第1-3部分. 量子探测效率的测定
未注明发布机构，关于电子探针x射线微量分析的标准
- YY 0457.5-2003 医用电气设备.光电X射线影像增强器特性.第5部分:探测量子效率的测定
ES-UNE，关于电子探针x射线微量分析的标准
- UNE-EN 62220-1-1:2015 医疗电气设备 数字 X 射线成像设备的特性 第1-1部分：探测量子效率的测定 射线照相成像中使用的探测器
- UNE-EN 1071-4:2006 先进技术陶瓷 陶瓷涂层的测试方法 第4部分：通过电子探针微量分析(EPMA)测定化学成分
AENOR，关于电子探针x射线微量分析的标准
- UNE-EN 62220-1:2004 医用电气设备 数字 X 射线成像装置的特性 第1部分：探测量子效率的测定
