RFID综合测试平台在杭州中心建成投入使用

2011-11-25 01:02 来源: 中国科学院
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  中科院上海微系统与信息技术研究所中科院杭州射频识别技术研发中心建设的RFID综合测试平台于2011年11月在杭州正式建成投入使用,该平台由天线测试系统、RFID标签阅读器测试与射频系统测试三大部分组成,可满足RFID硬件开发的各项测试需求。作为目前浙江省唯一的RFID测试平台,也是华东地区规模最大、功能最齐全的RFID测试平台,它的建成具有重要意义。

  射频识别技术(RFID)是物联网的关键技术之一,同时具有良好的产业基础和广阔的市场前景。研究显示,2011年全球RFID市场规模可达148亿美元,未来五年将继续保持高速增长,而中国将成为全球最大的RFID市场。由于RFID技术应用的扩展,相关RFID企业必然有扩展产品和技术领域的需求,RFID综合测试平台主要解决HF、UHF和RF频段的RFID产品在研发和应用中的测试技术问题,为相关企业的研发和生产服务,带动区域RFID产业的提升,有利于提高杭州在全国物联网行业的标杆作用,引领物联网相关先进测试技术发展。

  RFID综合测试平台具有鲜明的特色和优势:天线测试平台引进法国近场球面扫描系统,频率覆盖400 MHz-6 GHz。可满足:天线增益、波束宽度、旁瓣幅度、天线效率以及一维、二维和三维辐射方向图和任意极化方式的方向图,同时满足TRP,TIS,EIRP,EIS等测试指标。

  射频识别(RFID)标签及阅读器测试系统主要基于NI-VISN-100 RFID/NFC综测仪,能够精确、快速的对标签和阅读器进行测试。支持的RFID测试协议:ISO18000-6B和ISO18000-6C/EPC UHF Class1 Gen2。具有标签与读卡器一致性测试、标签与读卡器性能测试、标签与读卡器的互操作性测试的能力。

  射频测试平台由德国Rohde&Schwarz公司的FSVR7实时频谱分析仪、SMBV100A矢量信号源和ZVB8矢量网络分析仪仪器组成,可解决射频元件与模块的测试问题,提供完整的射频参数测试服务。

  结合实际需求,杭州中心将积极创新,自主研发,不断提升RFID及相关测试技术水平,加强企业合作,为推动杭州物联网产业的发展做出应有贡献,并积极为上海微系统所”十二.五”战略目标服务,推动宽带无线传感网技术发展。

天线测试平台

射频识别(RFID)标签及阅读器测试系统1

射频识别(RFID)标签及阅读器测试系统2