DIN EN 60749-9-2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记耐久性

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2002); German version EN 60749-9:2002

 

 

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标准号
DIN EN 60749-9-2003
发布日期
2003年04月
实施日期
2003年04月01日
废止日期
无
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
发布单位
DE-DIN
代替标准
DIN EN 60749-9-2017
被代替标准
DIN EN 60749-2002
适用范围
The purpose of this part of DIN EN 60749 is to test and verify that the markings on semiconductor devices will not become illegible when subject to solvents or cleaning solutions commonly used during the removal of solder flux residue from the printed circuit board assembly process.

DIN EN 60749-9-2003系列标准

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