DIN EN 60749-40-2012 半导体器件.机械和气候试验方法.第40部分:使用应变仪的板级跌落试验方法(IEC 60749-40-2011). 德文版本 EN 60749-40-2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (IEC 60749-40:2011); German version EN 60749-40:2011