质谱中分子量多54

本专题涉及质谱中分子量多54的标准有181条。

国际标准分类中，质谱中分子量多54涉及到分析化学、金属材料试验、电子元器件综合、肉、肉制品和其他动物类食品、水质、捕捞和水产养殖、环保、保健和安全、道路车辆装置、食品试验和分析的一般方法、食品综合、半导体分立器件、农业和林业、金属矿、电气工程综合、废物、有机化学、土质、土壤学、地质学、气象学、水文学、制药学、与食品接触的物品与材料、医疗设备、黑色金属、有色金属产品、有色金属、导体材料、石蜡、沥青材料和其他石油产品、环境保护、润滑剂、工业油及相关产品、空气质量、残障人员用设备、陶瓷、半导体材料、涂料和清漆。

在中国标准分类中，质谱中分子量多54涉及到半金属及半导体材料分析方法、、电子元件综合、基础标准与通用方法、基础标准和通用方法、水产、渔业综合、水环境有毒害物质分析方法、食品卫生、轻金属及其合金分析方法、电子技术专用材料、环境污染物监测方法、土壤环境质量分析方法、土壤、水土保持、地球科学、化学助剂基础标准与通用方法、化学、矫形外科、骨科器械、重金属及其合金分析方法、稀有金属及其合金分析方法、其他石油产品、稀土金属及其合金、石油产品综合、合成材料综合、贵金属矿、涂料基础标准与通用方法、公共医疗设备、陶瓷、玻璃综合、元素半导体材料。

国际标准化组织，关于质谱中分子量多54的标准

ISO/TS 22933:2022 表面化学分析.二次离子质谱法.模拟离子质谱中质量分辨率的测量方法
ISO 28540:2011 水质.水中16种多环芳烃(PAH)的测定.采用质量色谱检测的气相色谱分析法
ISO 178:1975 表面化学分析.二次离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
ISO 17862:2022 表面化学分析.二次离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
ISO 17862:2013 表面化学分析——二次离子质谱法——单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
ISO 178:2019 表面化学分析.二次离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
ISO 17109:2022 表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法
ISO 17560:2002 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深仿形方法
ISO 15192:2010 土质.利用碱性消化和带光谱光度测量探测的离子色谱分析法测定土壤材料中铬(VI)含量
ISO 15192:2021 土质.利用碱性消化和带光谱光度测量探测的离子色谱分析法测定土壤材料中铬(VI)含量
ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
ISO 18635:2016 水质.水沉积物,污水污泥和悬浮(颗粒)物中短链多氯代三苯烷类(SCCP)的测定.气相色谱质谱分析法(GC-MS)和电子俘获负电离(ECNI)法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于质谱中分子量多54的标准

GB/T 37049-2018 电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定电感耦合等离子体质谱法
GB/T 39560.6-2020 电子电气产品中某些物质的测定第6部分：气相色谱-质谱仪（GC-MS）测定聚合物中的多溴联苯和多溴二苯醚
GB/T 41064-2021 表面化学分析深度剖析用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
GB/T 37160-2019 重质馏分油、渣油及原油中痕量金属元素的测定电感耦合等离子体发射光谱法

中国团体标准，关于质谱中分子量多54的标准

T/CNIA 0017-2019 多晶硅用氯硅烷中杂质含量的测定电感耦合等离子体质谱法
T/CNIA 0141-2022 多晶硅生产用氢气中金属杂质含量的测定电感耦合等离子体质谱法
T/CNIA 0064-2020 多晶硅行业用无尘擦拭布中杂质含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
T/CASAS 010-2019 氮化镓材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法
T/CNIA 0116-2021 多晶硅生产尾气净化用活性炭中杂质含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
T/CASAS 009-2019 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法
T/GRM 045-2022 碳酸盐岩中铀含量及高精度同位素比值（238U/235U）的测定多接收电感耦合等离子体质谱法
T/CSTM 00010.1-2017 钢铁多元素含量的测定火花放电原子发射光谱法（常规法）第1部分：碳素钢和中低合金钢

国家质检总局，关于质谱中分子量多54的标准

GB/T 29784.2-2013 电子电气产品中多环芳烃的测定第2部分: 气相色谱-质谱法
GB/T 29784.3-2013 电子电气产品中多环芳烃的测定第3部分:液相色谱-质谱法
GB/T 42274-2022 氮化铝材料中痕量元素（镁、镓）含量及分布的测定二次离子质谱法
GB/T 12690.13-2003 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法钼、钨量的测定电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱法
GB/T 12690.12-2024 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法第12部分：钍、铀量的测定电感耦合等离子体质谱法
GB/T 12690.11-2003 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法镁量的测定火焰原子吸收光谱法
GB/T 12690.8-2003 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法钠量的测定火焰原子吸收光谱法
GB/T 12690.12-2003 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法钍量的测定偶氮胂III分光光度法和电感耦合等离子体质谱法
GB/T 42732-2023 纳米技术水相中无机纳米颗粒的尺寸分布和浓度测量单颗粒电感耦合等离子体质谱法
GB/T 17418.7-2010 地球化学样品中贵金属分析方法第7部分：铂族元素量的测定镍锍试金-电感耦合等离子体质谱法

行业标准-商品检验，关于质谱中分子量多54的标准

SN/T 2593.2-2010 电子电气产品中多环芳烃的测定第2部分：气相色谱-质谱法
SN/T 2005.2-2005 电子电气产品中多溴联苯和多溴联苯醚的测定第1部分:气相色谱-质谱法
SN/T 2005.5-2006 电子电气产品中多溴联笨和多溴二笨醚的测定.第5部分:高效液相色谱-串联质谱法
SN/T 3541-2013 出口食品中多种醚类除草剂残留量检测方法气相色谱 -负化学离子源-质谱法

吉林省食品地方标准，关于质谱中分子量多54的标准

DBS22/ 005-2012 粮食中多组分除草剂残留量的测定液相色谱-串联质谱法

浙江省标准，关于质谱中分子量多54的标准

DB33/T 2411-2021 渔业环境中除草剂农药多组分残留量测定气相色谱-质谱法
DB33/T 2410-2021 渔业环境中有机磷农药多组分残留量测定气相色谱-串联质谱法
DB33/T 2412-2021 渔业环境中拟除虫菊酯类农药多组分残留量测定气相色谱-串联质谱法

福建省地方标准，关于质谱中分子量多54的标准

DB35/T 1656-2017 渔业环境中除草剂农药多组分残留量的测定气相色谱-质谱法

韩国科技标准局，关于质谱中分子量多54的标准

KS C IEC 62321-10:2021 电工产品中某些物质的测定 - 第10部分:气相色谱 - 质谱（GC-MS）在聚合物和电子学中的多环芳烃（PAHs）
KS D ISO 17560:2003 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深仿形方法
KS D ISO 18118-2020 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均质材料定量分析中实验确定的相对灵敏度因子的使用指南

KR-KS，关于质谱中分子量多54的标准

KS C IEC 62321-10-2021 电工产品中某些物质的测定 - 第10部分:气相色谱 - 质谱（GC-MS）在聚合物和电子学中的多环芳烃（PAHs）

国际电工委员会，关于质谱中分子量多54的标准

IEC 62321-10:2020 电工产品中某些物质的测定 - 第10部分:气相色谱 - 质谱（GC-MS）在聚合物和电子学中的多环芳烃（PAHs）

国家质量监督检验检疫总局，关于质谱中分子量多54的标准

SN/T 3850.1-2014 出口食品中多种糖醇类甜味剂的测定第1部分：液相色谱串联质谱法和离子色谱法

安徽省标准，关于质谱中分子量多54的标准

DB34/T 2432-2015 高分子基膜、袋中光引发剂迁移量的测定液相色谱-串联质谱法
DB34/T 2127.4-2014 区域地球化学调查样品分析方法第4部分：等离子体质谱法多元素含量的测定
DB34/T 3368.5-2019 印制电路板中有害物质分析方法第5部分：汞含量的测定电感耦合等离子体光谱法

SCC，关于质谱中分子量多54的标准

ANSI/NEMA 62321-10-2020 电工产品中某些物质的测定第10部分：聚合物和电子产品中的多环芳烃 (PAH) 采用气相色谱-质谱法 (GC-MS)
NS-EN 13615:2001 锡锭分析方法原子光谱法测定99.90%和99.85%锡中杂质元素含量
ISO 17109:2015/DAmd 1 表面化学分析深度分析 X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中使用单层和多层薄膜的溅射速率测定方法 A...
DANSK DS/EN 13615:2002 锡锭分析方法原子光谱法测定99.90%和99.85%锡级中杂质元素含量
DIN EN 62321-10 E:2016 电工产品中某些物质的测定第10部分：通过气相色谱质谱法 (GC-MS) 测定聚合物和电子产品中的多环芳烃 (PAH) (IEC 111/424/CD:2016) 草案
AWWA WQTC58782 使用离子色谱质谱法对含有高总溶解固体的饮用水中的亚 ppb 级高氯酸盐进行定量分析
VDI 2267 BLATT 7-1988 室外空气中颗粒物中物质的测定使用原子吸收光谱法测量尘埃沉淀成分中的铊及其无机化合物
VDI 2267 BLATT 16-2007 室外空气颗粒物中物质的测定使用原子吸收光谱法（AAS）测量灰尘沉淀成分中As、Cd、Co、Cr、Cu、Ni、Pb、Sb、V和Zn的质量浓度
09/30179897 DC BS ISO 15192 土壤质量用碱性消化和离子色谱法结合分光光度检测法测定固体物质中的六价铬
05/30136951 DC EN 15308 废物特性分析使用带电子捕获或质谱检测的毛细管气相色谱法测定固体废物、土壤和污泥中的选定多氯联苯 (PCB)
DIN 51456 E:2012 半导体技术材料测试使用电感耦合等离子体质谱 (ICP-MS) 通过水分析溶液中的多元素测定对硅晶片进行表面分析草案
VDI 2267 BLATT 16-2007 室外空气颗粒物中物质的测定使用原子吸收光谱法（AAS）测量灰尘沉淀成分中As、Cd、Co、Cr、Cu、Ni、Pb、Sb、V和Zn的质量浓度
DIN 50451-4 E:2024 半导体技术材料测试液体中痕量元素的测定第4部分：用电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）测定超纯水中的 34 种元素草案
NS-EN 15991:2011 陶瓷和基础材料的测试通过电感耦合等离子体发射光谱法（ICP OES）和电热汽化（ETV）直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质的质量分数
NS-EN 15991:2015 陶瓷和基础材料的测试通过电感耦合等离子体发射光谱法（ICP OES）和电热汽化（ETV）直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质的质量分数
DANSK DS/EN 15991:2015 陶瓷和基础材料的测试通过电热汽化 (ETV) 的电感耦合等离子体发射光谱 (ICP OES) 直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质的质量分数
DIN 51852-3:2024 内燃机冷却剂试验方法第3部分：用电感耦合等离子体发射光谱分析法（ICP OES）直接测定添加剂和杂质中的元素含量
DIN 51457 E:2016 陶瓷原材料和基本材料的测试通过电感耦合等离子体 (ICP-OES) 光学发射光谱法和电沉积法直接测定石墨粉末、颗粒和块中微量杂质的质量分数草案

美国材料与试验协会，关于质谱中分子量多54的标准

ASTM D8469-22 电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）分析大麻基质中多种元素的标准试验方法
ASTM D846-84 电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）分析大麻基质中多种元素的标准试验方法
ASTM F1593-97 应用高质量分辩率辉光放电质谱计测定电子级铝中微量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1593-97(2002) 应用高质量分辩率辉光放电质谱计测定电子级铝中微量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1710-08 应用高质量分辩率辉光放电质谱计测定电子级钛中微量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1593-08(2016) 使用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级铝中痕量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1710-08(2016) 使用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级钛中痕量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1593-08 应用高质量分辩率辉光放电质谱计测定电子级铝中微量金属杂质的标准试验方法
ASTM UOP1037-20 通过电感耦合等离子体质谱法分析液化石油气中的痕量金属
ASTM F1710-97 使用高分辨率发光质谱仪测试电子级钛中痕量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1710-97(2002) 使用高分辨率发光质谱仪测试电子级钛中痕量金属杂质的标准试验方法
ASTM F1845-08(2016) 采用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级铝铜, 铝硅和铝铜硅合金中的痕量金属杂质的标准试验方法
ASTM E3427-24 使用激光放大检测/功率谱分析 (LAD/PSA) 技术测量悬浮液中纳米颗粒的强度、多分散性、尺寸、Zeta 电位、分子量和浓度的标准指南
ASTM F2853-10(2023) 使用多个单色激发光束的能量分散X射线荧光光谱法测定油漆层和类似涂层或基底和均质材料中铅的标准试验方法

未注明发布机构，关于质谱中分子量多54的标准

ASTM RR-D37-2001 2022 D8469-通过电感耦合等离子体质谱 (ICP-MS) 分析大麻基质中多种元素的测试方法
DIN ISO 28540 E:2013-03 水质水中16种多环芳烃(PAH)的测定采用质量色谱检测的气相色谱分析法(GC-MS)的方法
DIN EN ISO 12010 E:2018-03 水质水中短链多氯代三苯烷类(SCCP)的测定气相色谱质谱分析法(GC-MS)和负离子化学电离法(NCI)（草案）
DIN EN ISO 12010 E:2013-12 水质水中短链多氯代三苯烷类(SCCP)的测定气相色谱质谱分析法(GC-MS)和负离子化学电离法(NCI)（草案）
ASTM RR-F01-1013 1996 F1593-用高分辨率辉光放电质谱仪测定电子级铝中痕量金属杂质的测试方法
DIN EN ISO 18635 E:2014-12 水质水沉积物,污水污泥和悬浮(颗粒)物中短链多氯代三苯烷类(SCCP)的测定气相色谱质谱分析法(GC-MS)和电子俘获负电离(ECNI)法（草案）
DIN 50451-3 E:2012-11 半导体工艺用材料测试液体中痕量元素测定第3部分：用电感耦合等离子体质谱法测定硝酸中铝(AL)、钴(Co)、铜(Cu)、钠(Na)、镍(Ni)和锌(Zn)的含量
DIN EN 15991 E:2014-07 陶瓷原料和基本材料的试验电热蒸发 (ETV) 电感耦合等离子体发射光谱法 (ICP-OES) 直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数（草案）
DIN 51457 E:2016-11 陶瓷原材料和基础材料的测试通过电感耦合等离子体 (ICP OES) 光学发射光谱法和电热汽化法直接测定石墨粉末、颗粒和块中痕量杂质的质量分数
DIN 51457 E:2015-05 陶瓷原材料和基础材料的测试通过电感耦合等离子体 (ICP OES) 光学发射光谱法和电热汽化法直接测定石墨粉末、颗粒和块中痕量杂质的质量分数

法国标准化协会，关于质谱中分子量多54的标准

NF T90-046:2014 水质. 水中短链多氯代三苯烷类 (SCCP) 的测定. 气相色谱质谱分析法 (GC-MS) 和负离子化学电离法 (NCI)
NF EN 13615:2002 锡锭分析方法原子光谱法测定99.90%和99.85%锡中杂质含量
NF EN IEC 62321-12:2023 电子产品中某些物质的测定第12部分：同时测定聚合物中多溴联苯、多溴二苯醚和邻苯二甲酸酯的气相色谱-光谱仪...
NF ISO 14237:2010 表面化学分析二次离子质谱分析使用均匀掺杂材料的硅中硼原子的剂量
NF ISO 17560:2006 表面化学分析二次离子质谱分析通过厚度分析确定硅中硼的剂量
NF X21-051*NF ISO 17560:2006 表面化学分析再生离子质量的光谱测定硅中硼的深仿形方法
NF X31-171:2011 土质.利用碱性消化和带光谱光度测量探测的离子色谱分析法测定土壤材料中铬(VI)含量.
NF A06-903*NF EN 13615:2002 锡锭的分析方法.用原子光谱法测定等级99.90%和99.85%锡中的杂质元素含量
NF M60-805-4:2005 核能环境放射性测量水第4部分：水中用感应耦合等离子体质谱探测法测量铀
NF EN 17374:2020 动物饲料取样和分析方法用阴离子交换高效液相色谱法和高频诱导等离子体质谱法测定动物饲料中无机砷含量
NF C05-100-3-2*NF EN 62321-3-2:2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第3-2部分: 筛选. 使用燃烧法测定聚合物和电子产品中的总溴量. 离子色谱法
NF M07-148*NF EN 16143:2013 石油产品 - 填充油中苯并芘 (BaP) 和选定的多环芳香烃 (PAH)含量的测定 - 使用双液相 (LC) 清洗和气相色谱/质谱 (GC/MS) 分析规程
NF EN 15591:2016 陶瓷和基础材料的测试 - 通过高频诱导等离子体发射光谱法（ICP OES...直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质的质量分数
NF B41-106:2011 陶瓷原料和基本材料的测试.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数.
NF B41-106*NF EN 15591:2016 陶瓷和基础材料的测试通过电感耦合等离子体发射光谱法（ICP OES）和电热汽化（ETV）直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质的质量分数

英国标准学会，关于质谱中分子量多54的标准

BS ISO 12010:2012 水质.水中短链多氯化烷烃(SCCPs)的测定.利用气相色谱-质谱分析法(GC-MS)和负离子化学电离法(NCI)测定
BS ISO 17862:2022 表面化学分析二次离子质谱分析单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
19/30342888 DC BS EN 62321-10 电工产品中某些物质的测定第 10 部分：聚合物和电子产品中的多环芳烃 (PAH) 采用气相色谱-质谱法 (GC-MS)
BS ISO 17560:2002 表面化学分析.再生离子质量光谱测定.硅中硼的深仿形分析法
BS ISO 17560:2014 表面化学分析.再生离子质量光谱测定.硅中硼的深仿形分析法
BS ISO 17109:2022 表面化学分析深度剖析使用单层和多层薄膜的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率的测定方法...
20/30409963 DC BS ISO 17862 表面化学分析二次离子质谱分析单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
BS EN 15527:2008 废弃物的特性.用气相色谱质量分析(GC/MS)测定废弃物中的多环芳烃(PAH)
BS EN ISO 15192:2021 土质利用碱性消化和带光谱光度测量探测的离子色谱分析法测定土壤材料中铬（VI）含量
BS ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
BS EN 13615:2001(2002) 锡锭的分析方法用原子光谱法测定锡等级 99.90% 和 99.85% 中的杂质元素含量
BS EN ISO 18635:2016 水质. 水沉积物, 污水污泥和悬浮 (颗粒) 物中短链多氯代三苯烷类 (SCCP) 的测定. 气相色谱质谱分析法 (GC-MS) 和电子俘获负电离 (ECNI) 法
BS ISO 22415:2019 表面化学分析二次离子质谱分析有机材料氩簇溅射深度剖析中产量体积的测定方法
BS ISO 16740:2005 工作场所空气.空中漂浮颗粒物质中六价铬的测定.使用二苯卡巴肼的离子色谱法和分光光度计测量法
BS EN 15991:2011 陶瓷原料和基本材料的测试.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数
BS EN 15991:2015 陶瓷原料和基本材料的测试.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数

德国标准化学会，关于质谱中分子量多54的标准

DIN ISO 28540:2014 水质. 水中16种多环芳烃(PAH)的测定. 采用质量色谱检测的气相色谱分析法(GC-MS)的方法(ISO 28540-2011)
DIN EN ISO 12010:2014 水质. 水中短链多氯代三苯烷类(SCCP)的测定. 气相色谱质谱分析法(GC-MS)和负离子化学电离法(NCI)(ISO 12010-2012); 德文版本EN ISO 12010-2014
DIN EN 13615:2002-04 锡锭分析方法原子光谱法测定99.90%和99.85%锡品位中杂质元素含量德文版 EN 13615:2001
DIN EN 15991:2016-02 陶瓷和基础材料的测试电感耦合等离子体发射光谱法直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质的质量分数
DIN EN ISO 18635:2016 水质.水沉积物,污水污泥和悬浮(颗粒)物中短链多氯代三苯烷类(SCCP)的测定.气相色谱质谱分析法(GC-MS)和电子俘获负电离(ECNI)法(ISO 18635-2016).德文版本EN ISO 18635-2016
DIN 51456:2013-10 半导体技术材料测试使用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)在水性分析溶液中进行多元素测定对硅晶片进行表面分析
DIN 50451-4:2024-01 半导体技术材料测试液体中微量元素的测定第 4 部分：电感耦合等离子体质谱法 (ICP-MS) 测定超纯水中 34 种元素
DIN 50451-4:2007-02 半导体技术材料测试液体中痕量元素的测定第4部分：采用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)测定超纯水中的 34 种元素
DIN 51457:2017 陶瓷原材料和基础材料试验. 采用电感耦合等离子体(ICP OES)光发射光谱法和电热蒸发直接测定石墨粉末, 颗粒和团块中痕量杂质的质量分数
DIN 51457:2023-11 陶瓷原材料和陶瓷材料的测试通过电感耦合等离子体 (ICP OES) 和电热发射光谱法直接测定粉末、颗粒和块状石墨中微量杂质的质量分数
DIN 50451-3:2003 半导体工艺用材料测试.液体中痕量元素测定.第3部分:用电感耦合等离子体质谱法测定硝酸中铝(AL)、钴(Co)、铜(Cu)、钠(Na)、镍(Ni)和锌(Zn)的含量
DIN 50451-3:2014 半导体工艺用材料测试. 液体中痕量元素测定. 第3部分: 使用电感耦合等离子体质谱法 (ICP-MS) 测定高纯度硝酸中的31种元素
DIN EN 62321-3-2:2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第3-2部分: 筛选. 使用燃烧法测定聚合物和电子产品中的总溴量. 离子色谱法 (IEC 62321-3-2-2013); 德文版本EN 62321-3-2-2014
DIN 51852-3:2023-05 内燃机冷却剂 - 试验方法 - 第 3 部分：通过电感耦合等离子体发射光谱分析 (ICP OES) 直接测定添加剂和杂质中的元素含量
DIN 51457:2017-05 陶瓷原材料和基础材料的测试 - 通过电感耦合等离子体 (ICP OES) 光学发射光谱法和电热汽化法直接测定石墨粉末、颗粒和块中痕量杂质的质量分数

RU-GOST R，关于质谱中分子量多54的标准

GOST 34248-2017 铜矿和多金属矿电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铜及杂质的重量分数
GOST R ISO 13899-2-2009 钢.合金钢中钼,铌,W含量的测定.感应偶和等离子体原子发射质谱法.第2部分:铌含量的测定

日本工业标准调查会，关于质谱中分子量多54的标准

JIS K 0155:2018 表面化学分析二次离子质谱法单离子计数时间飞行质量分析仪中强度刻度的线性度
JIS K 0164:2010 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深压型用方法
JIS K 5601-3-1 ERRATUM 1:2002 涂料组分的试验方法.第3部分:溶剂不可溶物质中的组分分析.第1节:总铅量(火焰原子吸收光谱法)(勘误1)
JIS K 0307:2008 尿失禁者用吸尿器.空气中可吸入的聚丙烯酸酯超吸收物质的测量. 用钠原子吸收光谱分析法测定收集盒中的粉剂

AT-OVE/ON，关于质谱中分子量多54的标准

OVE EN IEC 62321-10:2020 电工产品中某些物质的测定第10部分：气相色谱-质谱法 GC-MS IEC 111/575F 英文版聚合物和电子产品中多环芳烃 PAHs 的测定

ES-UNE，关于质谱中分子量多54的标准

UNE-EN 13615:2001 锡锭分析方法原子光谱法测定99.90%和99.85%锡级中杂质元素含量
UNE-EN 13615:2001/AC:2002 锡锭分析方法用原子光谱法测定 99,90 % 和 99,85 % 锡品位中杂质元素含量
UNE-EN 15991:2015 陶瓷和基础材料的测试电感耦合等离子体发射光谱法直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质的质量分数

澳大利亚标准协会，关于质谱中分子量多54的标准

AS ISO 17560:2006 表面化学分析．次级离子质谱测量法．硅中注入硼的深度分布分析法
AS ISO 14237:2006 表面化学分析．次级离子质谱测量法．使用均一的绝缘材料测定硅中的硼原子浓度
AS ISO 18118:2006 表面化学分析．俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法．均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南

内蒙古自治区标准，关于质谱中分子量多54的标准

DB15/T 1239-2017 多晶硅生产净化氢气用活性炭中杂质含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法

欧洲标准化委员会，关于质谱中分子量多54的标准

EN ISO 15192:2021 土质.利用碱性消化和带光谱光度测量探测的离子色谱分析法测定土壤材料中铬(VI)含量
EN 15991:2011 陶瓷原料和基本材料的测试.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数

河北省标准，关于质谱中分子量多54的标准

DB13/T 5127.13-2019 植入性医疗器械高分子材料浸提液中有毒有害物质的测定甲醛迁移量气相色谱质谱联用法
DB13/T 5127.15-2019 植入性医疗器械高分子材料浸提液中有毒有害物质的测定铅、砷、镉、铬、铜、锑、钡、铝、锌、锡迁移量电感耦合等离子体质谱法
DB13/T 5127.9-2019 植入性医疗器械高分子材料浸提液中有毒有害物质的测定乙醇迁移量气相色谱法
DB13/T 5127.6-2019 植入性医疗器械高分子材料浸提液中有毒有害物质的测定丙酮迁移量气相色谱法
DB13/T 5127.7-2019 植入性医疗器械高分子材料浸提液中有毒有害物质的测定丙交酯迁移量气相色谱法
DB13/T 5127.10-2019 植入性医疗器械高分子材料浸提液中有毒有害物质的测定环氧乙烷迁移量气相色谱法
DB13/T 5127.11-2019 植入性医疗器械高分子材料浸提液中有毒有害物质的测定戊二醛迁移量高效液相色谱法
DB13/T 5127.12-2019 植入性医疗器械高分子材料浸提液中有毒有害物质的测定异氰酸酯迁移量高效液相色谱法
DB13/T 5127.8-2019 植入性医疗器械高分子材料浸提液中有毒有害物质的测定对苯二甲酸迁移量高效液相色谱法

海关总署，关于质谱中分子量多54的标准

SN/T 5323-2021 食品接触材料高分子材料塑料中对羟基苯甲酸酯类物质迁移量的测定液相色谱串联质谱法

行业标准-有色金属，关于质谱中分子量多54的标准

YS/T 34.1-2011 高纯砷化学分析方法.电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）测定高纯砷中杂质含量
YS/T 1075.14-2023 钒铝、钼铝中间合金化学分析方法第14部分：痕量杂质元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法

PL-PKN，关于质谱中分子量多54的标准

PN C45300-08-1989 多环芳烃试验方法，通过气相色谱分析和评估甲苯含量测定甲苯中的杂质

国家食品药品监督管理局，关于质谱中分子量多54的标准

YY/T 1507.2-2016 外科植入物用超高分子量聚乙烯粉料中杂质元素的测定第2部分：离子色谱法测定氯（Cl）元素含量

丹麦标准化协会，关于质谱中分子量多54的标准

DS/EN 13615/AC:2003 锡锭的分析方法用原子光谱法测定锡等级 99.90% 和 99.85% 中的杂质元素含量
DS/EN 13615:2002 锡锭的分析方法用原子光谱法测定锡等级 99.90% 和 99.85% 中的杂质元素含量
DS/EN 15991:2011 陶瓷和基础材料的测试通过电感耦合等离子体发射光谱法（ICP OES）和电热汽化（ETV）直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质的质量分数

立陶宛标准局，关于质谱中分子量多54的标准

LST EN 13615-2002 锡锭的分析方法用原子光谱法测定锡等级 99.90% 和 99.85% 中的杂质元素含量
LST EN 13615-2002/AC-2003 锡锭的分析方法用原子光谱法测定锡等级 99.90% 和 99.85% 中的杂质元素含量
LST EN 62321-3-2-2014 电工技术产品中某些物质的测定. 第3-2部分: 筛选. 使用燃烧法测定聚合物和电子产品中的总溴量. 离子色谱法(IEC 62321-3-2-2013)
LST EN 15991-2011 陶瓷和基础材料的测试通过电感耦合等离子体发射光谱法（ICP OES）和电热汽化（ETV）直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质的质量分数

GSO，关于质谱中分子量多54的标准

OS GSO ISO 15192:2013 土壤质量碱消解和离子色谱分光光度检测法测定固体材料中的六价铬
GSO ISO 3856-4:2006 色漆和清漆中溶解矿物质的测定第4部分：镉含量的测定火焰原子吸收光谱法

ZA-SANS，关于质谱中分子量多54的标准

SANS 163-2:1995 水质．溶解阴离子含量的液相色谱法测定．第2部分：废水中溴离子、氯离子、硝酸根离子、亚硝酸根离子、正磷酸根离子含量的测定

ETSI - European Telecommunications Standards Institute，关于质谱中分子量多54的标准

TS 102 250-8-1-2018 语音和多媒体传输质量（STQ）；移动网络中流行服务的 QoS 方面；第8部分：服务质量参数的形式化定义及其计算；子部分 1：一般方面和术语（V1.1.1）