EN
RU
ES

极片体电阻率

本专题涉及极片体电阻率的标准有500条。

国际标准分类中，极片体电阻率涉及到电阻器、绝缘流体、半导体材料、金属材料试验、绝缘材料、电学、磁学、电和磁的测量、有色金属产品、无机化学、导体材料、空气质量、电子元器件综合、塑料、有色金属、半导体分立器件、复合增强材料、石油和天然气工业设备、光电子学、激光设备、电站综合、电工和电子试验、涂料配料、金属的腐蚀、土质、土壤学、玻璃、陶瓷、电子电信设备用机电元件、建筑材料、化工产品、热力学和温度测量、阀门、土方工程、挖掘、地基构造、地下工程、消防、粘合剂和胶粘产品、橡胶和塑料用原料、紧固件、橡胶、电容器、试验条件和规程综合、集成电路、微电子学、印制技术、电线和电缆、电气工程综合、电子显示器件、公司(企业)的组织和管理、电子管、焊接、钎焊和低温焊、涂料和清漆、磁性材料、电池和蓄电池、电磁兼容性(EMC)。

在中国标准分类中，极片体电阻率涉及到电阻器、金属物理性能试验方法、半金属与半导体材料综合、电子技术专用材料、电磁计量、电工绝缘材料及其制品、电工材料和通用零件综合、重金属及其合金、炭素材料综合、化合物半导体材料、电工合金零件、防护设备的安全要求、元素半导体材料、石油钻采设备与仪器、特殊炭素材料、半导体发光器件、半导体二极管、微波、毫米波二、三极管、物理学与力学、基础标准与通用方法、无线电计量、半金属及半导体材料分析方法、、绝缘油、化学助剂基础标准与通用方法、玻璃纤维、连接器、工业技术玻璃、半导体分立器件综合、电子测量与仪器综合、其他、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、防火技术、标准化、质量管理、胶粘剂基础标准与通用方法、基础标准和通用方法、轻金属及其合金、地基、基础工程、冶炼设备、半金属、微电路综合、工程地质、水文地质勘察与岩土工程、合成橡胶基础标准与通用方法、焦炭、地球科学、土壤环境质量分析方法、电容器、合成食品添加剂、冶金辅助原料矿、电影、照相、缩微、复印设备综合、印刷技术、电磁兼容、氧化物、单质、半导体集成电路、炭素材料、电缆及其附件、电子元件综合、电源设备、涂料、电工用钢、半导体整流器件、火工产品、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、粉末冶金材料与制品、橡胶制品综合、钢板、钢带。

IPC - Association Connecting Electronics Industries，关于极片体电阻率的标准

IPC TM-650 5.5.4.11-1998 试片 J 和 K 导体电阻率
IPC TM-650 5.5.4.12-1998 试片 L 线电阻率
IPC TM-650 5.5.4.9-1998 试片 G 通过电阻率
IPC TM-650 2.5.17E-1998 印刷布线材料的体积电阻率和表面电阻
IPC TM-650 2.5.17D-1986 印刷布线材料的体积电阻率和表面电阻
IPC TM-650 2.5.17.1A-1994 介电材料的体积和表面电阻率

美国国防后勤局，关于极片体电阻率的标准

DLA A-A-59742-2002 表面安装低电阻功率芯片诱导体
DLA A-A-59742 VALID NOTICE 1-2011 电感器，芯片，功率，低电阻，表面贴装
DLA QPL-49465-16-2006 极低电阻值金属元素(功率型)固定电阻器一般规格
DLA DSCC-DWG-04032 REV A-2006 2512型1.5瓦,高功率低价值,影片固定晶片电阻器
DLA SMD-5962-88589 REV D-2008 带小功率肖肯特晶体管,正极与非门及单硅片的高级双极数字微电路
DLA SMD-5962-96658 REV C-2003 双极的低功率晶体管六角施密特触发器硅单片电路数字微电路
DLA DESC-DWG-88020 REV C-2011 电阻网络，6 针，无引线芯片载体
DLA DSCC-DWG-88036 REV B-2011 电阻网络，10 针，无引线芯片载体
DLA DSCC-DWG-87018 REV H-2012 电阻网络，16 针，无引线芯片载体
DLA DSCC-DWG-88034 REV J-2006 固定的薄膜片状低压高功率2512型电阻器
DLA MIL-M-38510/25 E VALID NOTICE 1-2010 微电路、数字、双极、TTL、低功率、计数器、单片硅
DLA MIL-M-38510/21 F VALID NOTICE 1-2010 微电路、数字、双极、TTL、低功率、触发器、单片硅
DLA MIL-M-38510/327 B VALID NOTICE 1-2008 单片硅计数器型小功率肖特基晶体管逻辑双极数字式微电路
DLA DSCC-DWG-04032 REV B-2011 电阻器，芯片，固定，薄膜，低值，高功率，1.5 瓦，2512 型
DLA SMD-5962-96751 REV A-2003 双极低功率晶体管,双J-K双稳态多谐振荡器硅单片电路数字微电路
DLA SMD-5962-95527-1994 7通道共源极功率陈列硅单片电路线型微电路
DLA DSCC-DWG-87075 REV E-2005 电阻器,固定性,胶片,晶片,凸缘架,双层制表符,大功率10瓦特
DLA DSCC-DWG-01032 REV C-2013 固定片式电阻器，薄膜，氧化铍基板，大功率，1206 型
DLA SMD-5962-87778 REV A-2001 硅单片功率晶体管线性微电路
DLA SMD-5962-87778 REV B-2011 微电路，线性，功率晶体管，单片硅
DLA SMD-5962-97547 REV A-2006 低功率4-BIT数量比较器硅单片电路数字双极微电路
DLA DESC-DWG-88016 REV C-2011 电阻网络，固定，薄膜，20 针，无引线芯片载体
DLA SMD-5962-76018 REV H-2005 硅单片锁存器肖脱基小功率TTL双极数字微型电路
DLA SMD-5962-76032 REV E-2005 硅单片计算器肖脱基小功率TTL双极数字微型电路
DLA SMD-5962-76036 REV E-2006 硅单片计算器肖脱基小功率TTL双极数字微型电路
DLA SMD-5962-77001 REV G-2005 硅单片计算器肖脱基小功率TTL双极数字微型电路
DLA SMD-5962-77010 REV G-2005 硅单片计数器肖脱基小功率TTL双极数字微型电路
DLA SMD-5962-92319 REV A-2004 硅单片,异或门,低功率肖脱基TTL,双极数字微型电路
DLA SMD-5962-95671 REV B-2006 抗辐射多种频率的高电阻运算放大器硅单片电路线型微电路
DLA MIL-M-38510/321 C VALID NOTICE 1-2008 单片硅高压集电极开路输出型配备缓冲器/驱动器的低功率晶体管晶体管逻辑数字式微电路
DLA DSCC-DWG-01032 REV A-2004 1206型,高功率的,以氧化铍衬底涂膜的固定片形电阻器
DLA DSCC-DWG-89099 REV G-2005 固定薄膜片状法兰安装单路TAB高功率10瓦特电阻器
DLA DSCC-DWG-06011 REV B-2009 电阻器，片状，固定，功率金属带，表面贴装，低值（1.0 瓦），2512 型
DLA SMD-5962-01507-2001 单片硅两极化的数字微电路高速率预测进位发生器
DLA MIL-M-38510/316 E VALID NOTICE 1-2008 单片硅级联锁存器,低功率肖特基TTL,双极数字式微电子电路
DLA DSCC-DWG-06003 REV B-2013 电阻器，片状，固定，功率金属带，表面贴装，低值（2 瓦），型号 4527
DLA DSCC-DWG-06006 REV A-2013 电阻器，片状，固定，功率金属带，表面贴装，低值（3 瓦），型号 4527
DLA SMD-5962-88596 REV D-2008 高级双极数字单硅片微电路,采用小功率肖特基晶体管-晶体管逻辑,带缓冲器/线路驱动器
DLA DSCC-DWG-06003 REV A-2006 4527型低功率(2瓦特)外部贴装的有金属电源板固定晶片电阻器
DLA DSCC-DWG-06006-2006 4527型低功率(3瓦特)外部贴装的有金属电源板固定晶片电阻器
DLA DSCC-DWG-06007-2006 0603型低功率(0.1瓦特)外部贴装的有金属电源板固定晶片电阻器
DLA DSCC-DWG-06009-2006 1206型低功率(0.25瓦特)外部贴装的有金属电源板固定晶片电阻器
DLA DSCC-DWG-06010 REV A-2007 2010型低功率(0.5瓦特)外部贴装的有金属电源板固定晶片电阻器
DLA DSCC-DWG-06011-2006 2512型低功率(1.0瓦特)外部贴装的有金属电源板固定晶片电阻器
DLA DSCC-DWG-06012-2006 2816型低功率(2.0瓦特)外部贴装的有金属电源板固定晶片电阻器
DLA SMD-5962-76014 REV G-2005 硅单片先行加法器肖脱基小功率TTL双极数字微型电路
DLA SMD-5962-76016 REV J-2005 硅单片多路复用器肖脱基小功率TTL双极数字微型电路
DLA SMD-5962-76019 REV H-2005 硅单片多路复用器肖脱基小功率TTL双极数字微型电路
DLA SMD-5962-76037 REV F-2003 硅单片多路复用器肖脱基小功率TTL双极数字微型电路
DLA SMD-5962-83022 REV J-2005 硅单片计数器,TTL肖脱基高级小功率双极数字微型电路
DLA SMD-5962-84013 REV F-2005 硅单片收发器,TTL肖脱基高级小功率双极数字微型电路
DLA SMD-5962-84154 REV D-2005 硅单片自记器,TTL肖脱基高级小功率双极数字微型电路
DLA SMD-5962-88696 REV A-1990 硅单片动态记忆体控制器双极化数字微电路
DLA SMD-5962-89748 REV A-2005 硅单片,集电极开路输出,八位总线收发器,低功率改进型肖特基TTL双极数字微型电路
DLA SMD-5962-95574 REV A-2006 双极晶体管四倍2输入阳性硅单片电路线型微电路
DLA SMD-5962-97553 REV A-2006 单稳多谐振荡器晶体管硅单片电路数字双极微电路
DLA SMD-5962-97558 REV A-2006 8输入阳性与门晶体管硅单片电路数字双极微电路
DLA DESC-DWG-87016 REV N-2012 电阻网络，固定，薄膜，表面贴装，20 针，无铅芯片载体
DLA DSCC-DWG-87015 REV F-2012 电阻网络，固定，薄膜，表面贴装，28 针，无铅芯片载体
DLA DESC-DWG-87014 REV K-2013 电阻网络，固定，薄膜，表面贴装，16 针，无铅芯片载体
DLA SMD-5962-77009 REV E-2005 硅单片十进制计数器肖脱基小功率TTL双极数字微型电路
DLA SMD-5962-78026 REV D-2004 硅单片十进制计数器,肖脱基小功率TTL双极数字微型电路
DLA SMD-5962-84145 REV D-2005 硅单片或驱动器,TTL肖脱基高级小功率双极数字微型电路
DLA SMD-5962-89687 REV C-2004 硅单片,集电极开路输出及八位总线收发器,低功率改进型肖特基TTL双极数字微型电路
DLA SMD-5962-95688 REV D-2007 抗辐射多种频率的高输入阻抗运算放大器硅单片电路线型微电路
DLA MIL-M-38510/325 D VALID NOTICE 1-2008 单片硅可串接式双稳态多谐振荡器型小功率肖特基晶体管逻辑双极数字式微电路
DLA SMD-5962-84000 REV D-2005 硅单片J-K触发器,TTL肖脱基高级小功率双极数字微型电路
DLA SMD-5962-84012 REV G-2005 硅单片透明锁存器,TTL肖脱基高级小功率双极数字微型电路
DLA SMD-5962-84030 REV E-2005 硅单片总线接收器,TTL肖脱基高级小功率双极数字微型电路
DLA SMD-5962-84135 REV E-2005 硅单片多路复用器,TTL肖脱基高级小功率双极数字微型电路
DLA SMD-5962-84143 REV F-2005 硅单片多路复用器,TTL肖脱基高级小功率双极数字微型电路
DLA SMD-5962-90503 REV C-2004 硅单片,8位存储寄存器,低功率肖脱基TTL,双极数字微型电路
DLA SMD-5962-88589 REV C-2001 硅单片阳性NAND通道低功率肖特基TTL促进双极化数字微电路
DLA SMD-5962-88590 REV B-2001 硅单片阳性NAND通道低功率肖特基TTL促进双极化数字微电路
DLA SMD-5962-88596 REV C-2001 硅单片缓冲/驱动器低功率肖特基TTL促进双极化数字微电路
DLA SMD-5962-95584 REV C-2008 微电路.电片硅数字双极晶体管-晶体管逻辑(TTL)同步4位加/减计数器
DLA SMD-5962-97560 REV A-2006 四重2输入阳性与门晶体管硅单片电路数字双极微电路
DLA SMD-5962-97561 REV A-2006 三重3输入阳性与门晶体管硅单片电路数字双极微电路
DLA MIL-M-38510/322 C VALID NOTICE 1-2008 单片硅具有三态输出的六总线驱动器的小功率肖特基晶体管逻辑双极数字式微电路
DLA MIL-M-38510/323 D VALID NOTICE 1-2008 单片硅具有三态输出的四总线缓冲门的小功率肖特基晶体管逻辑双极数字式微电路
DLA MIL-M-38510/324 D VALID NOTICE 1-2008 单片硅具有三态输出的八总线缓冲门的小功率肖特基晶体管逻辑双极数字式微电路
DLA SMD-5962-90541 REV A-2004 硅单片,进位保留全加法器,低功率肖脱基TTL,双极数字微型电路
DLA SMD-5962-96809 REV B-2003 双极互补金属氧化物半导体,3.3伏特16-BIT缓冲器或驱动器和22欧姆串联电阻器三状态输出,晶体管输入硅单片电路数字微电路
DLA SMD-5962-81023 REV L-2006 硅单片双极场效应晶体管运算扬声器,线性微型电路
DLA SMD-5962-97508 REV A-2006 双极低功率双2行到4行解码器或信号分离器硅单片电路数字微电路
DLA SMD-5962-85126 REV C-2005 硅单块缓冲器低频率肖脱基晶体管-晶体管逻辑电路,双极数字微型电路
DLA SMD-5962-83019 REV G-2005 硅单片双稳多谐振荡器,TTL肖脱基高级小功率双极数字微型电路
DLA SMD-5962-84001 REV K-2005 硅单片双稳多谐振荡器,TTL肖脱基高级小功率双极数字微型电路
DLA SMD-5962-84010 REV D-2005 硅单片双稳多谐振荡器,TTL肖脱基高级小功率双极数字微型电路
DLA SMD-5962-84136 REV E-2005 硅单片双稳多谐振荡器,TTL肖脱基高级小功率双极数字微型电路
DLA SMD-5962-88727 REV C-2008 单片硅八路总线收发器改进的低功率肖特基TTL双极数字微电路

国家质检总局，关于极片体电阻率的标准

GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定扩展电阻探针法
GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定扩展电阻探针法
GB/T 6616-2023 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试非接触涡流法
GB/T 6616-1995 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定非接触涡流法
GB/T 1410-2006 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法
GB/T 1410-1989 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法
GB/T 6616-2009 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法非接触涡流法
GB/T 36356-2018 功率半导体发光二极管芯片技术规范
GB/T 11073-1989 硅片径向电阻率变化的测量方法
GB/T 11073-2007 硅片径向电阻率变化的测量方法
GB/T 1672-1988 液体增塑剂体积电阻率的测定
GB/T 36357-2018 中功率半导体发光二极管芯片技术规范
GB/T 41708-2022 玻璃熔体电阻率试验方法
GB/T 10581-1989 固体绝缘材料在高温下绝缘电阻和体积电阻率的试验方法
GB/T 15662-1995 导电、防静电塑料体积电阻率测试方法
GB/T 19289-2003 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法
GB/T 3048.2-1994 电线电缆电性能试验方法金属导体材料电阻率试验
GB/T 5654-2007 液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量
GB/T 3048.3-1994 电线电缆电性能试验方法半导电橡塑材料体积电阻率试验
GB/T 5654-1985 液体绝缘材料工频相对介电常数、介质损耗因数和体积电阻率的测量
GB/T 3048.3-2007 电线电缆电性能试验方法.第3部分:半导电橡塑材料体积电阻率试验
GB/T 36359-2018 半导体光电子器件小功率发光二极管空白详细规范
GB/T 36360-2018 半导体光电子器件中功率发光二极管空白详细规范

中国团体标准，关于极片体电阻率的标准

T/CEMIA 028-2022 片式电阻用面电极浆料规范
T/CEMIA 027-2022 片式电阻用背电极浆料规范
T/IAWBS 011-2019 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法
T/IAWBS 013-2019 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法
T/CSTM 00252-2020 碳纤维体积电阻率试验方法四探针法
T/SBX 027-2019 向列相热致液晶单体电阻率的测定直流电压法
T/CASAS 019-2021 微纳米金属烧结体电阻率测试方法四探针法

PL-PKN，关于极片体电阻率的标准

PN T01504 ArkusZ26-1974 晶体管．基极电阻预算制高频率的测量方法
PN C82055-21-1992 成型碳产品的试验方法，在电极上测定电阻率
PN E04410-21-1986 电绝缘清漆．试验方法．测试体积电阻率

国家计量检定规程，关于极片体电阻率的标准

JJG 48-2004 硅单晶电阻率标准样片
JJG 48-1990 硅单晶电阻率标准样片检定规程

SE-SIS，关于极片体电阻率的标准

SIS SS IEC 93:1983 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率测试方法
SIS SS-CECC 40400-1990 分规范．固定低功率表面安装（片状）电阻
SIS SS-CECC 40401-1990 空白详细规范．固定低功率非绕线表面安装（片状）电阻

国际电工委员会，关于极片体电阻率的标准

IEC 60093:1980 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法
IEC 61788-4:2001 超导第4部分：剩余电阻率测量 Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
IEC 62631-3-1:2023 RLV 固体绝缘材料的介电和电阻财产.第3-1部分:电阻财产的测定（直流法）.体积电阻和体积电阻率.通用方法
IEC 62631-3-1:2023 固体绝缘材料的介电和电阻财产.第3-1部分:电阻财产的测定（直流法）.体积电阻和体积电阻率.通用方法
IEC 62631-3-4:2019 固体绝缘材料的介电和电阻特性第3-4部分:电阻特性的测定（直流法）高温下的体积电阻和体积电阻率
IEC 61788-11:2011 超导性.第11部分:剩余电阻率的测量.Nb3Sn复合超导体的剩余电阻率
IEC 62631-3-1:2016 固体绝缘材料的介电和电阻特性. 第3-1部分: 电阻特性的测定 (直流方法). 体积电阻和体积电阻率. 通用方法
IEC 61788-4:2007 超导性.第4部分:剩余电阻率的测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
IEC 61788-4:2011 超导性.第4部分:剩余电阻率的测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
IEC 62631-3-11:2018 固体绝缘材料的介电和电阻性能 - 第3-11部分:电阻性能的测定（Dc方法） - 体积电阻和体积电阻率浸渍和涂层材料的方法
IEC 61788-4:2016 超导性.第4部分:剩余电阻率的测量.Nb-Ti与Nb3Sn复合超导体的剩余电阻率
IEC 61788-11:2003 超导性.第11部分:剩余电阻率的测量.Nb<下标3>Sn复合超导体的剩余电阻率
IEC 62631-3-2:2015 固体绝缘材料的介电和电阻性能. 第3-2部分: 电阻性能的测定 (DC法). 表面电阻和表面电阻率
IEC 60247:1978 绝缘液体的相对电容率、电介质损耗因数和直流电阻率的测量
IEC 60247:2004 液体绝缘材料.相对电容率、电介质损耗因数(tan<δ>)和直流电阻率的测量
IEC 61788-4:2020 超导性 - 第4部分:残余电阻率测量 - Nb-Ti和Nb3sn复合超导体的残余电阻比
IEC 61340-2-3:2016 RLV 静电学.第2-3部分:测定用于避免静电电荷积聚的固体材料的电阻和电阻率的试验方法
IEC 60747-5-8:2019 半导体器件第5-8部分:光电子器件发光二极管发光二极管光电效率试验方法
IEC 61788-7:2002 超导性.第7部分:电特性测量.微波频率下超导体的表面电阻
IEC 61788-7:2006 超导性.第7部分:电特性测量.微波频率下超导体的表面电阻
IEC 60404-13:1995 磁性材料第13部分:电工钢片和钢带的密度、电阻率和叠层因数的测量方法

韩国科技标准局，关于极片体电阻率的标准

KS C 0256-2002(2022) 硅晶体和硅片电阻率的四点探针测试方法
KS C IEC 60093:2014 固体电绝缘材料的体积电阻率和表面电阻率测试方法
KS C 2603-1980 金属电阻材料的导体电阻及电阻率试验法
KS C 2603-1980(2020) 金属电阻材料的导体电阻和电阻率测试方法
KS C 0256-2002(2017) 具有四点探针的硅晶体和硅晶片的电阻率测试方法
KS C 2607-1974(2000) 如何测量半导体的电阻率
KS L ISO 13931:2018 碳纤维 - 体积电阻率的测定
KS C 2607-1980 如何测量半导体的电阻率
KS C IEC 62631-3-1-2017(2022) 固体绝缘材料的介电和电阻特性.第3-1部分:电阻特性的测定（直流法）.体积电阻和体积电阻率.一般方法
KS C IEC 62631-3-4:2020 固体绝缘材料的介电和电阻特性第3-4部分:电阻特性的测定（直流法）高温下的体积电阻和体积电阻率
KS C IEC 62631-3-1:2017 固体绝缘材料的介电和电阻性能 - 第3-1部分:电阻性质的测定（Dc方法） - 体积电阻和体积电阻率 - 一般方法
KS M ISO 11713-2004(2009) 铝生产用碳质材料阴极块和焙烧阳极室温电阻率的测定
KS C IEC 61788-11:2005 超导性.第11部分:剩余电阻率的测量.Nb3Sn复合超导体的剩余电阻率
KS D 0260-1999 四点探针法测试单晶硅片电阻率的方法
KS M 6773-2014 导电橡塑材料体积电阻率测试方法
KS C IEC 62631-3-11:2021 固体绝缘材料的介电和电阻特性.第3-11部分:电阻特性的测定（直流法）.体积电阻和体积电阻率.浸渍和涂层材料的方法
KS M ISO 10143-2004(2019) 铝生产用碳质材料电极用煅烧焦炭颗粒电阻率的测定
KS D 0260-1989(1994) 具有四点探针的单晶硅片的电阻率测试方法
KS C 2005-2003 固体电绝缘材料绝缘电阻率的试验方法
KS M ISO 10143:2004 铝生产用含碳材料.电极用煅烧焦炭.小颗粒电阻率的测定
KS C IEC 62631-3-2:2017 固体绝缘材料的介电和电阻性能 - 第3-2部分:电阻性质的测定（Dc方法） - 表面电阻和表面电阻率
KS C IEC 62631-3-2-2017(2022) 固体绝缘材料的介电和电阻特性.第3-2部分:电阻特性的测定（直流法）.表面电阻和表面电阻率
KS M 6773-2014(2019) 测试方法导电橡胶和塑料材料体积电阻率
KS C 5115-43-2001 电子仪器的固定电阻器.第4部分:空白详细规范:散热片式固定功率电阻器评估标准F
KS C IEC 61340-2-3:2004 静电学.第2-3部分:避免静电放电积累用固体二维材料的电阻和电阻率测定方法
KS C IEC 61340-2-3:2014 静电学第2-3部分：避免静电放电积累用固体二维材料的电阻和电阻率测定方法
KS C 6111-4-2007(2017) 均匀性在微波频率大高温超导体膜的表面电阻
KS C IEC 61788-16:2020 超导电性 - 第16部分:电子特性测量 - 微波频率下超导体与功率相关的表面电阻
KS C IEC 60404-13-2002(2017) 磁性材料第13部分:电工钢片和钢带密度、电阻率和堆积系数的测量方法
KS C IEC 60404-13-2002(2022) 磁性材料第13部分:电工钢片和钢带的密度、电阻率和堆积系数的测量方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于极片体电阻率的标准

GB/T 33970-2017 电阻焊电极用Al2O3弥散强化铜片材
GB/T 32993-2016 碳纤维体积电阻率的测定
GB/T 22586-2018 电子学特性测量超导体在微波频率下的表面电阻

英国标准学会，关于极片体电阻率的标准

BS 6233:1982 固体电绝缘材料的体积电阻率与表面电阻率试验方法
BS ISO 13931:2013 碳纤维.体积电阻率测定
BS EN 61788-11:2003 超导性.剩余电阻率的测量.Nb3Sn复合超导体的剩余电阻率
BS EN 61788-4:2007 超导性.剩余电阻率的测量.Nb-Ti复合超导电体的剩余电阻率
BS EN 62631-3-1:2016 固体绝缘材料的介电和电阻特性.电阻特性的测定(直流方法).体积电阻和体积电阻率.通用方法
BS EN IEC 62631-3-4:2019 固体绝缘材料的介电和电阻特性电阻特性的测定（直流方法）高温下的体积电阻和体积电阻率
BS EN IEC 62631-3-1:2023 跟踪更改固体绝缘材料的介电和电阻特性电阻特性的测定（直流方法）体积电阻和体积电阻率一般方法
BS EN IEC 62631-3-11:2018 固体绝缘材料的介电和电阻特性电阻特性的测定（直流方法）体积电阻和体积电阻率浸渍和涂覆材料的方法
BS EN IEC 61788-23:2021 跟踪更改超导剩余电阻比测量腔体级铌超导体的残余电阻率
BS EN 62631-3-2:2016 固体绝缘材料的介电和电阻特性.电阻特性的测定(直流方法).表面电阻和表面电阻率
19/30371735 DC BS EN IEC 62631-3-1 固体绝缘材料的介电和电阻特性第3-1部分电阻特性的测定（直流方法）体积电阻和体积电阻率一般方法
BS ISO 10143:2014 铝生产用碳质材料. 电极用煅烧焦颗粒. 颗粒电阻率的测定
21/30434324 DC BS EN IEC 62631-3-12 固体绝缘材料的介电和电阻特性第3-12部分电阻特性的测定（直流方法）体积电阻和体积电阻率浇铸树脂的方法
BS EN 60247:2004 绝缘液体.相对电容率、电介质损耗因数(tan<δ>)和直流电阻率的测量
23/30473276 DC BS EN IEC 61788-23 超导性第 23 部分残余电阻比测量腔体级铌超导体的残余电阻率
19/30390197 DC BS EN 61788-23 超导第23部分：剩余电阻比测量铌超导体的残余电阻率
BS 6043-3.6:2000 铝制造中使用的碳质材料的取样和测试方法电极环境温度下阴极块和预烘烤阳极电阻率的测定
BS EN 61340-2-3:2000 静电学.用于防止静电电荷积累的固态平面材料的电阻和电阻率的试验方法.第3节:用于防静电电荷的固体平面材料的电阻和电阻率的测定试验方法
19/30402599 DC BS EN IEC 61788-23 超导第23部分：剩余电阻比测量铌超导体的残余电阻率
BS IEC 60747-5-8:2019 半导体器件光电器件发光二极管发光二极管光电效率的测试方法
BS ISO 10143:2019 跟踪更改用于生产铝的碳质材料电极用煅烧焦颗粒电阻率的测定
BS QC 400200:1983 电子元器件质量评定协调体系.电气设备用固定电阻.分规范:固定式功率电阻器
BS EN 61788-7:2002 超导性.电子特性测量.微波频率下超导体的表面电阻
BS EN 61788-7:2007 超导性电子特性测量微波频率下超导体的表面电阻
BS EN 61340-2-3:2016 跟踪更改静电测定用于避免静电电荷积累的固体材料的电阻和电阻率的测试方法
BS EN 60404-13:2007 磁性材料.电工钢片和钢带的密度、电阻率和叠层因数的测量方法
BS ISO 14309:2011 橡胶,硫化或热塑性的.体积和表面电阻率的测定
BS EN IEC 61788-7:2020 超导性电子特性测量微波频率下高温超导体的表面电阻
BS EN 61788-16:2013 超导性. 电子特性测量. 微波频率下超导体的动力表面电阻
PD IEC TR 60747-5-12:2021 半导体器件光电器件发光二极管 LED效率测试方法
BS QC 400600:1990 电子元器件质量评估的协调体系.电子设备用固定电阻器.分规范:面安装用(片状)固定电阻器
BS 6404-13:1996 磁性材料.第13部分:电工钢片和刚带密度、电阻率和叠层系数的测量方法
BS EN IEC 60404-13:2018 跟踪更改磁性材料电工钢带和片的电阻率、密度和堆积系数的测量方法
BS EN 61788-7:2006 超导性.第3部分:电子特性测量.微波频率下超导体表面电阻

KR-KS，关于极片体电阻率的标准

KS C IEC 60093-2014 固体电绝缘材料的体积电阻率和表面电阻率测试方法
KS L ISO 13931-2018 碳纤维 - 体积电阻率的测定
KS L ISO 13931-2018(2023) 碳纤维体积电阻率的测定
KS C IEC 62631-3-1-2017 固体绝缘材料的介电和电阻性能 - 第3-1部分:电阻性质的测定（Dc方法） - 体积电阻和体积电阻率 - 一般方法
KS C IEC 62631-3-4-2020 固体绝缘材料的介电和电阻特性第3-4部分:电阻特性的测定（直流法）高温下的体积电阻和体积电阻率
KS C IEC 62631-3-11-2021 固体绝缘材料的介电和电阻特性.第3-11部分:电阻特性的测定（直流法）.体积电阻和体积电阻率.浸渍和涂层材料的方法
KS C IEC 62631-3-2-2017 固体绝缘材料的介电和电阻性能 - 第3-2部分:电阻性质的测定（Dc方法） - 表面电阻和表面电阻率
KS C IEC 61788-16-2020 超导电性 - 第16部分:电子特性测量 - 微波频率下超导体与功率相关的表面电阻

法国标准化协会，关于极片体电阻率的标准

NF C26-915:1967 绝缘清漆试验方法.体电阻率和表面电阻率
NF EN ISO 20168:2021 电阻焊 - 用于电极支架和电极头的夹紧锥体
NF C26-215:1982 绝缘材料的试验方法.固体电绝缘材料的体积电阻率和表面电阻率的试验方法
NF C26-631-3-4*NF EN IEC 62631-3-4:2019 固体绝缘材料的介电和电阻特性第 3-4 部分：电阻特性的测定（直流法）高温下的体积电阻和体积电阻率
NF EN IEC 62631-3-1:2023 固体绝缘材料的介电和电阻性能第3-1部分：电阻性能的测定（直流法）体积电阻和体积电阻率通用方法
NF C31-888-4:2012 超导性.第4部分:剩余电阻率测量.铌-钛复合超导体的剩余电阻率
NF C26-631-3-1*NF EN 62631-3-1:2016 固体绝缘材料的介电和电阻特性第3-1部分：电阻特性的测定（直流方法）体积电阻和体积电阻率通用方法
NF EN ISO 8430-2:2016 电阻点焊 - 电极支架 - 第 2 部分：莫氏锥体固定
NF EN ISO 8430-1:2016 电阻点焊 - 电极支架 - 第 1 部分：连接锥体 1:10
NF C27-210:1979 相对电容率电介质损耗和绝缘流体直流电阻率的测量
NF C26-631-3-11*NF EN IEC 62631-3-11:2018 固体绝缘材料的介电和电阻特性第 3-11 部分：电阻特性的测定（直流法）体积电阻和体积电阻率浸渍和涂层材料的方法
NF EN ISO 5829:2021 电阻点焊 - 可拆卸尖端电极加长件（1/10 内锥体）
NF C31-888-11:2003 超导性.第11部分:剩余电阻率的测量.铌<下标3>锡复合超导体的剩余电阻率
NF C31-888-11:2011 超导性.第11部分:剩余电阻率的测量.铌<下标3>锡复合超导体的剩余电阻率
NF C26-631-3-2*NF EN 62631-3-2:2016 固体绝缘材料的介电和电阻性能.第3-2部分:电阻性能的测定(DC法).表面电阻和表面电阻率
NF EN 62631-3-2:2016 固体绝缘材料的介电和电阻特性第3-2部分：电阻特性的测定（直流方法）表面电阻和表面电阻率
NF C27-210*NF EN 60247:2004 绝缘液体相对电容率、电介质损耗因数（tanδ）和直流电阻率的测量
NF C83-241-801/A1*NF EN 140401-801/A1:2014 详细规格：固定低功率薄膜贴片电阻器矩形稳定类0.1;0.25;0.5;1
NF C83-241-802/A2*NF EN 140401-802/A2:2014 详细规格：固定低功率薄膜贴片电阻器矩形稳定类1;2
NF EN 61340-2-3:2017 静电 - 第 2-3 部分：测定旨在避免静电荷的固体材料的电阻和电阻率的测试方法
NF C20-790-2-3:2001 静电.第2-3部分:防止静电荷积聚用固体平面材料电阻和电阻率测定的试验方法
NF C31-888-16*NF EN 61788-16:2013 超导性第16部分：电气特性测量微波频率下超导体的功率依赖表面电阻
NF C20-790-2-3*NF EN 61340-2-3:2017 静电学第 2-3 部分：确定用于避免静电荷积累的固体材料的电阻和电阻率的测试方法
NF T51-731:1980 塑料制品.乙烯基增塑化合物.低电压下体积电阻率的测定
NF C83-210:1981 电子元器件质量评估协调体系.分规范.大功率固定电阻器
NF EN IEC 60404-13:2018 磁性材料第13部分：电工钢带和片的电阻率、密度和膨胀系数的测量方法
NF EN 60247:2004 绝缘液体 - 相对介电常数、介电损耗因数 (tan δ) 和直流电阻率的测量
NF C28-901-13:2008 磁性材料.第13部分:电工钢片和钢带的密度、电阻率和叠层因数的测量方法
NF C28-901-13*NF EN IEC 60404-13:2018 磁性材料第13部分：电工钢带和薄片的电阻率、密度和堆积系数的测量方法

德国标准化学会，关于极片体电阻率的标准

DIN 51919:1999 碳质材料试验.用电流电压法测定电极的电阻率.固体材料
DIN 51919:2013 炭素材料的试验. 用电流电压法测定电极的电阻率. 固体材料
DIN 51919:2013-05 碳质材料的测试根据电流-电压法测定电极的电阻率固体材料
DIN IEC 60093:1993 电气绝缘材料试验方法.固体电气绝缘材料的体积电阻率和表面电阻率
DIN 50435:1988 半导体材料试验:采用四探针/直流法测量硅片和锗片电阻率的径向变化
DIN 50445:1992 半导体工艺材料检验.用涡流法无接触测定电阻率.均匀掺杂半导体片
DIN EN 61788-11:2012 超导性.第11部分:剩余电阻率的测量.Nb3Sn复合超导体的剩余电阻率
DIN EN 61788-4:2012 超导性.第4部分:剩余电阻率的测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
DIN EN 61788-4:2008 超导性.第4部分:剩余电阻率的测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
DIN 50448:1998 半导体工艺材料试验.使用电容式探测器对半绝缘半导体切片电阻率的无接触测定
DIN EN 60247:2005 绝缘液体.相对电容率、电介质损耗因数(tanδ)和直流电阻率的测量
DIN EN 62631-3-1 Berichtigung 1:2018 固体绝缘材料的介电和电阻特性第 3-1 部分：电阻特性的测定（直流法）体积电阻和体积电阻率通用方法（IEC 62631-3-1:2016）；德文版 EN 62631-3-1:2016；更正
DIN EN 62631-3-1:2017 固体绝缘材料的介电和电阻特性.第3-1部分:电阻特性的测定(直流方法).体积电阻和体积电阻率.通用方法(IEC 62631-3-1-2016).德文版本EN 62631-3-1-2016
DIN 51911:2020 含碳材料的试验. 用电流-电压法测定电阻率. 固体材料
DIN EN 62631-3-2:2016 固体绝缘材料的介电和电阻特性.电阻特性的测定(直流方法).表面电阻和表面电阻率(IEC 62631-3-2-2015).德文版本EN 62631-3-2-2016
DIN EN IEC 60404-13:2020-06 磁性材料第13部分：电工钢带和片的电阻率、密度和堆积系数的测量方法

CZ-CSN，关于极片体电阻率的标准

CSN IEC 93:1993 固体电气绝缘材料的体积电阻率及表面电阻率测试方法
CSN 35 8757 Cast.5-1985 晶体管．集电极和发射极阻隔层电容的测量方法
CSN 67 3150 Cast.13-1975 钢化清漆膜的体积电阻率
CSN 35 8737-1975 半导体设备．二极管．微分电阻的测量

AENOR，关于极片体电阻率的标准

UNE 21303:1983 固体电绝缘材料的体积电阻率和表面电阻率的测试方法
UNE-EN 61340-2-3:2001 静电学第 2-3 部分：确定用于避免静电荷积累的固体平面材料的电阻和电阻率的测试方法
UNE-EN 60247:2004 绝缘液体相对介电常数、介电损耗因数（tan d）和直流电阻率的测量

行业标准-电子，关于极片体电阻率的标准

SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
SJ/T 11398-2009 功率半导体发光二极管芯片技术规范
SJ/T 1146-1993 电容器用有机薄膜体积电阻率试验方法
SJ/T 11042-1996 电子玻璃体积电阻率为100MΩ·cm时的温度（Tk-100）的测试方法
SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法第5部分:串联电阻
SJ/T 11393-2009 半导体光电子器件功率发光二极管空白详细规范
SJ/T 11400-2009 半导体光电子器件小功率发光二极管空白详细规范
SJ 2658.5-1986 半导体红外发光二极管测试方法.正向串联电阻的测试方法

日本工业标准调查会，关于极片体电阻率的标准

JIS C 2525:1994 金属电阻材料的导体电阻及体积电阻率的试验方法
JIS B 9915:1989 灰尘电阻率的测量方法(用平行电极)
JIS C 2525:1999 金属电阻材料的导体电阻及电阻率的检验方法
JIS H 0602:1995 用四点探针法对硅晶体和硅片电阻率的测试方法
JIS H 7312:2007 超导电性.剩余电阻率的测量.Nb3Sn复合超导电体的剩余电阻率
JIS R 7609:2007 碳纤维.体积电阻率的测定
JIS C 2139-3-1:2018 固体绝缘材料的介电和电阻性能. 第3-1部分:电阻特性的测定(直流法)体积电阻和体积电阻率
JIS H 0612:1975 硅单晶片电阻率的测定方法.四探针法
JIS K 6271-1:2015 硫化或热塑橡胶. 电阻率的测定. 第1部分: 屏蔽电极系统
JIS C 2139-3-2:2018 固体绝缘材料的介电和电阻性能. 第3-2部分:电阻特性的测定(直流法)表面电阻和表面电阻率
JIS K 6271-2:2015 硫化或热塑橡胶. 电阻率的测定. 第2部分: 并行终端电极系统
JIS K 6271-1:2022 硫化橡胶或热塑性橡胶电阻率的测定第1部分：保护电极系统
JIS C 2170:2004 静电学.用于防止静电电荷累积的固体平面材料的电阻和电阻率测定的试验方法
JIS C 7231:1978 有可靠性保证的反向阻断器三极晶体闸流管(小电流)
JIS K 6271:2001 硫化橡胶或热塑性塑料.体积和表面电阻率测定
JIS C 7232:1978 有可靠性保证的反向阻断型三极晶体闸流管(中、大电流)
JIS K 6271:2008 硫化橡胶或热塑性橡胶.体积和表面电阻率的测定
JIS H 7307:2005 超导性.第7部分:电特性测量.微波频率下超导体的表面电阻
JIS H 7307:2010 超导性.第7部分:电特性测量.微波频率下超导体的表面电阻

UY-UNIT，关于极片体电阻率的标准

UNIT 119-1957 电路导体电阻率的测量

IN-BIS，关于极片体电阻率的标准

IS 6103-1971 电绝缘液体比电阻（电阻率）的测试方法
IS 3396-1979 固体电绝缘材料的体积和表面电阻率测试方法
IS 3400 Pt.15-1971 硫化橡胶的试验方法第ⅩⅤ部分导电和抗静电橡胶的体积电阻率

IT-UNI，关于极片体电阻率的标准

UNI 4288-1972 塑料材料试验．表面电阻率和体积电阻率的测定

立陶宛标准局，关于极片体电阻率的标准

LST HD 429 S1-2002 固体电绝缘材料体积电阻率和表面电阻率的测试方法（IEC 60093:1980）
LST EN 61788-11-2011 超导性第11部分：剩余电阻率测量 Nb3Sn复合超导体的剩余电阻率（IEC 61788-11:2011）
LST EN 61788-4-2011 超导性第4部分：残余电阻率测量 Nb-Ti复合超导体的残余电阻率（IEC 61788-4:2011）

美国电子电路和电子互连行业协会，关于极片体电阻率的标准

IPC TM-650 5.5.2.3-1998 试验方法2.5.17体积电阻率和外部电阻
IPC TM-650 5.1.450-1975 体积电阻率去离子为分析
IPC TM-650 2.5.17-1998 印刷线路材料的体积电阻率和外部电阻修订版E
IPC TM-650 2.5.17.1-1994 介质材料的体积和外部电阻率修订版A 1994年12月

欧洲电工标准化委员会，关于极片体电阻率的标准

HD 429 S1-1983 固体电绝缘材料体积电阻率和表面电阻率的试验方法[:CENELEC EN 62631-1]
EN 61788-11:2011 超导性.第11部分:剩余电阻率测量.Nb3Sn复合超导体的剩余电阻率
EN 62631-3-1:2016 固体绝缘材料的介电和电阻特性第 3-1 部分：电阻特性的测定（直流法）体积电阻和体积电阻率一般方法
EN 61788-4:2011 超导性.第4部分:剩余电阻率测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
EN 61788-4:2016 超导性.第4部分:剩余电阻率测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
EN 62631-3-2:2016 固体绝缘材料的介电和电阻特性第 3-2 部分：电阻特性的测定（直流法）表面电阻和表面电阻率
EN 60247:2004 绝缘液体.相对电容率,电介质损耗因数(tan $)和直流电阻率的测量 IEC 60247-2004
EN 61788-16:2013 超导性第16部分：电子特性测量微波频率下超导体的功率相关表面电阻
EN 61788-7:2006 超导性.第7部分:电特性测量.微波频率下超导体的表面电阻
EN 60404-13:2007 磁性材料.第13部分:电工钢片和钢带的密度,电阻率和叠层因数的测量方法

马来西亚标准，关于极片体电阻率的标准

MS 1465 Pt.2-1999 塑料电阻率测定的试验方法：第2部分：体积电阻率

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于极片体电阻率的标准

GB/T 31838.2-2019 固体绝缘材料介电和电阻特性第2部分：电阻特性(DC方法) 体积电阻和体积电阻率
GB/T 31838.7-2021 固体绝缘材料介电和电阻特性第7部分：电阻特性(DC方法) 高温下测量体积电阻和体积电阻率
GB/T 31838.5-2021 固体绝缘材料介电和电阻特性第5部分：电阻特性(DC方法) 浸渍和涂层材料的体积电阻和体积电阻率
GB/T 31838.3-2019 固体绝缘材料介电和电阻特性第3部分：电阻特性(DC方法) 表面电阻和表面电阻率
GB/T 19289-2019 电工钢带（片）的电阻率、密度和叠装系数的测量方法
GB/T 37977.23-2019 静电学第2-3部分：防静电固体平面材料电阻和电阻率的测试方法
GB/T 39978-2021 纳米技术碳纳米管粉体电阻率四探针法
GB/T 36358-2018 半导体光电子器件功率发光二极管空白详细规范
GB/T 40719-2021 硫化橡胶或热塑性橡胶体积和/或表面电阻率的测定

RU-GOST R，关于极片体电阻率的标准

GOST R 50499-1993 固态电绝缘材料.体积电阻率和表面电阻率的测试方法
GOST 20398.13-1980 场效应晶体管.漏极－源极电阻测量方法
GOST 19656.15-1984 超高频半导体二极管.转移体的热电阻和脉冲热电阻测量方法
GOST 18604.10-1976 双极型晶体管.输入电阻测量方法
GOST R ISO 13931-2015 碳纤维. 体积电阻率的测定方法
GOST 28106-1989 铜阴极.取样及样品的制备，测定电阻率的试样
GOST 30501-1997 固体电绝缘材料。在温度提高时电阻及电阻率的测量方法
GOST R ISO 11713-2014 铝生产用碳质材料. 阴极块和焙制阳极. 环境温度下电阻率的测定
GOST R ISO 10143-2016 铝生产用碳质材料. 电极用煅烧焦炭. 颗粒电阻率的测定
GOST 18604.27-1986 大功率高电压双极型的晶体管.在发射极（集电极）为零电流时的集电极－基极（发射极－基极）击穿电压的测量方法
GOST 18986.14-1985 半导体二极管.微分与动态电阻测量方法
GOST R IEC 60247-2013 绝缘液体. 相对电容率, 介质损耗因数(tan d)和直流电阻率的测量
GOST 19438.3-1974 连续耗散阳极功率在25W以内的收讯－放大与振荡管.极间绝缘电阻以及管的其他零件间的绝缘电阻的测量方法
GOST 19656.3-1974 超高频混频半导体二极管.中频输出电阻测量方法
GOST 19656.10-1988 超高频限幅半导体开关二极管.耗损电阻测定方法
GOST R 53734.2.3-2010 静电.第2.3部分.测定避免静电荷积累的固体平面材料的电阻和电阻率的试验方法
GOST 18604.9-1982 双极型晶体管.电流传输系数截止频率和临界频率的测量方法
GOST 18604.24-1981 高频振荡双极型晶体管.输出功率测量方法及功率放大系数和集电极有效作用系数的测定
GOST 26169-1984 无线电电子设备的电磁兼容性.大功率高频线性双极型晶体三极管组合成份系数规范

国际标准化组织，关于极片体电阻率的标准

ISO 13931:2013 碳纤维.体积电阻率测定
ISO 10143:2014 铝生产用碳素材料电极用煅烧焦颗粒电阻率的测定
ISO 10143:1995 铝生产用碳素材料电极用煅烧焦颗粒电阻率的测定
ISO 11713:2000 铝生产用碳素材料阴极碳块和焙烧阳极室温下电阻率的测定
ISO 10143:2019 用于生产铝的碳质材料 - 电极煅烧焦炭 - 测定颗粒的电阻率
ISO/CD 11713:2023 铝生产中使用的碳质材料阴极块和烘烤阳极环境温度下电阻率的测定
ISO 14309:2019 硫化或热塑性橡胶.体积和/或表面电阻率的测定
ISO 14309:2011 硫化橡胶或热塑性橡胶.体积和/或表面电阻率的测定

行业标准-石油，关于极片体电阻率的标准

SY/T 6905-2012 液体电阻率仪校准方法
SY 6905-2012 液体电阻率仪校准方法

美国材料与试验协会，关于极片体电阻率的标准

ASTM D1169-19 电绝缘液体比电阻（电阻率）的标准试验方法
ASTM D1169-19a 电绝缘液体比电阻（电阻率）的标准试验方法
ASTM D1169-02e1 电绝缘液体电阻率(电阻系数)的标准测试方法
ASTM D1169-02 电绝缘液体电阻率(电阻系数)的标准测试方法
ASTM D1169-95 电绝缘液体电阻率(电阻系数)的标准测试方法
ASTM D116-86(1999) 电绝缘液体电阻率(电阻系数)的标准测试方法
ASTM D116-86(2011) 电绝缘液体电阻率(电阻系数)的标准试验方法
ASTM D1169-09 电绝缘液体电阻率(电阻系数)的标准试验方法
ASTM D1169-11 电绝缘液体电阻率(电阻系数)的标准试验方法
ASTM C1876-19 混凝土的体积电阻率或体积电导率的标准试验方法
ASTM D6120-97(2002) 阳极和阴极碳材料在室温下的电阻率的标准测试方法
ASTM D6120-97(2017)e1 阳极和阴极碳材料在室温下的电阻率的标准测试方法
ASTM F673-90(1996)e1 用非接触涡流仪测定半导体膜片的电阻率的标准试验方法
ASTM G57-95a(2001) 使用Wenner四电极法测量土壤电阻率的标准测试方法
ASTM G57-95A 使用Wenner四电极法测量土壤电阻率的标准测试方法
ASTM G57-20 用温纳四电极法测量土壤电阻率的标准试验方法
ASTM D2739-97 导电胶粘剂的体电阻率的测试方法
ASTM B193-02 导电体材料电阻率的标准测试方法
ASTM B193-00 导电体材料电阻率的标准测试方法
ASTM B193-01 导电体材料电阻率的标准测试方法
ASTM B193-87(1992) 电导体材料电阻率的标准测试方法
ASTM B193-19 电导体材料电阻率的标准测试方法
ASTM B193-87 电导体材料电阻率的标准测试方法
ASTM B193-20 电导体材料电阻率的标准测试方法
ASTM B193-02(2008) 导电体材料电阻率的标准试验方法
ASTM B193-02(2014) 导电体材料电阻率的标准试验方法
ASTM B193-16 电导体材料电阻率的标准试验方法
ASTM G57-06(2012) 使用Wenner4电极法现场测量土壤电阻率的标准试验方法
ASTM G187-18 用双电极土壤箱法测量土壤电阻率的标准试验方法
ASTM F81-00 硅片径向电阻率变化测量的标准试验方法
ASTM A717/A717M-12 单片样品表面绝缘电阻率的标准试验方法
ASTM G57-06 用温纳四电极法现场测量泥土电阻率的标准试验方法
ASTM G187-05 使用双电极土壤箱法测量泥土电阻率的标准试验方法
ASTM G187-12 使用双电极土壤箱法测量土壤电阻率的标准试验方法
ASTM G187-12a 使用双电极土壤箱法测量土壤电阻率的标准试验方法
ASTM D2739-97(2017) 导电粘合剂体积电阻率的标准试验方法
ASTM D2739-97(2004) 导电粘合剂的体积电阻率的标准试验方法
ASTM D2739-97(2010) 导电胶粘剂的体积电阻率的标准试验方法
ASTM C657-93(2008) 玻璃D-C体积电阻率的标准试验方法
ASTM F672-88(1995)e1 用分布电阻探头测量硅晶片垂直于表面的纵断面电阻率的标准试验方法
ASTM C657-93(1998) 玻璃的D-C体积电阻率的标准测试方法
ASTM C657-19 玻璃的D-C体积电阻率的标准测试方法
ASTM C657-93(2013) 玻璃的D-C体积电阻率的标准测试方法
ASTM D5682-95 液体涂料及有关材料电阻率的标准试验方法
ASTM D5682-95(2002) 液体涂料及有关材料电阻率的标准试验方法
ASTM D5682-08(2012) 液体涂料及有关材料电阻率的标准试验方法
ASTM D5682-18 液体涂料及相关材料的电阻率标准测试方法
ASTM D5682-18(2023) 液体涂料及相关材料电阻率的标准测试方法
ASTM D5682-08 液体涂料及有关材料电阻率的标准试验方法
ASTM F76-86(1996)e1 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
ASTM F76-86(2002) 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
ASTM F76-08 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
ASTM D7148-19 用电解液浴测量系统中的碳电极测定碱性电池分离器离子电阻率的标准试验方法
ASTM D7148-19a 用电解液浴测量系统中的碳电极测定碱性电池分离器离子电阻率的标准试验方法
ASTM D991-89(2000)e1 橡胶性能的标准试验方法&x2014；导电和抗静电产品的体积电阻率
ASTM D991-89(2020) 橡胶性能的标准试验方法&x2014；导电和抗静电产品的体积电阻率

行业标准-航天，关于极片体电阻率的标准

QJ 2220.2-1992 涂层电绝缘性能测试方法绝缘电阻、表面电阻率、体积电阻率的测试方法

国家计量技术规范，关于极片体电阻率的标准

JJF 1760-2019 硅单晶电阻率标准样片校准规范
JJF 1618-2017 绝缘油介质损耗因数及体积电阻率测试仪校准规范

贵州省地方标准，关于极片体电阻率的标准

DB52/T 843-2013 RR6363型大功率片式厚膜固定电阻器
DB52/T 928-2014 CA45S 型底面电极片式固体电解质钽固定电容器

行业标准-电力，关于极片体电阻率的标准

DL/T 421-2009 电力用油体积电阻率测定法
DL 421-1991 绝缘油体积电阻率测定法

台湾地方标准，关于极片体电阻率的标准

CNS 13727-1996 导电胶之体积电阻率量测法
CNS 14811-2004 现场土壤电阻率之维纳（Wenner）四极测定法
CNS 13623-1995 单芯片之电阻率、霍尔系数及霍尔移动率之测定法（范德普法）
CNS 7012-1981 晶体管集基时间常数与共射极输入阻抗电阻部分检验法
CNS 5129-1988 非铁金属材料之体积电阻系数及导电率测定法

工业和信息化部，关于极片体电阻率的标准

SJ/T 11627-2016 太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法

(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于极片体电阻率的标准

JEDEC JESD24-11-1996 JESD24的补遗－功率MOSFET 等值系列栅极电阻测试

工业和信息化部/国家能源局，关于极片体电阻率的标准

JB/T 13537-2018 电磁屏蔽用导电粉体体积电阻率测试方法

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization，关于极片体电阻率的标准

EN 61788-11:2003 超导性.第11部分:剩余电阻率测量.Nb3Sn复合超导体的剩余电阻率
EN IEC 62631-3-4:2019 固体绝缘材料的介电和电阻特性第 3-4 部分：电阻特性的测定（直流法）高温下的体积电阻和体积电阻率
EN 61788-4:2001 超导性.第4部分:剩余电阻率测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
EN 61788-4:2007 超导性.第4部分:剩余电阻率测量.Nb-Ti复合超导体的剩余电阻率
EN IEC 62631-3-11:2018 固体绝缘材料的介电和电阻特性第 3-11 部分：电阻特性的测定（直流法）体积电阻和体积电阻率浸渍和涂层材料的方法
PREN 50359-1-2-2000 高级技术陶瓷第 1-2 部分：电气特性 20 摄氏度至 800 摄氏度温度范围内表面电阻率和体积电阻率的测定
EN 61788-7:2002 超导性.第7部分:电特性测量.微波频率下超导体的表面电阻
EN IEC 60404-13:2018 磁性材料第13部分：电工钢带和薄片的电阻率密度和堆积系数的测量方法

国家军用标准-总装备部，关于极片体电阻率的标准

GJB 8681-2015 固体火炸药电导率、体电阻测试仪检定规程
GJB 737.3-1989 火工品药剂试验方法体、面电阻率测定
GJB 1432/1-2011 RMK3216型有失效率等级的片式膜固定电阻器详细规范
GJB 1432/2-2011 RMK2012型有失效率等级的片式膜固定电阻器详细规范

HU-MSZT，关于极片体电阻率的标准

MSZ 4803/33.lap-1969 测试绝缘清漆．体积电阻率测定

河北省标准，关于极片体电阻率的标准

DB13/T 5026.3-2019 石墨烯导电浆料物理性质的测定方法第3部分：浆料极片电阻率的测定四探针法
DB13/T 5537-2022 向列相热致液晶单体电阻率的测定直流电压法

ES-UNE，关于极片体电阻率的标准

UNE-EN 62631-3-1:2016 固体绝缘材料的介电和电阻特性第3-1部分：电阻特性的测定（直流方法）体积电阻和体积电阻率通用方法
UNE-EN 62631-3-2:2016 固体绝缘材料的介电和电阻特性 - 第 3-2 部分：电阻特性的测定（直流方法） - 表面电阻和表面电阻率
UNE-EN 61340-2-3:2016 静电第2-3部分：确定用于避免静电电荷积累的固体材料的电阻和电阻率的测试方法
UNE-EN 61788-16:2013 超导性第16部分：电子特性测量微波频率下超导体的功率相关表面电阻
UNE-EN 60247:2004 ERRATUM:2005 绝缘液体相对介电常数、介电损耗因数(tan d)和直流电阻率的测量

RO-ASRO，关于极片体电阻率的标准

STAS 6107-1981 固态绝缘材料．体积和表面电阻率以及绝缘电阻测定
STAS 11543-1982 电气设备材料在高温下绝缘电阻和体积电阻率的测试方法
STAS 12123/2-1983 半导体设备小功率信号二极管，包括开关二极管的电气特性的测量方法

丹麦标准化协会，关于极片体电阻率的标准

DS/EN 28 430-1:1992 电阻点焊．电极握杆．第1部分：锥体配合1:10
DS/EN 61788-16:2013 超导性第16部分：电子特性测量微波频率下超导体的功率相关表面电阻
DS/EN 61340-2-3:2001 静电学第 2-3 部分：确定用于避免静电荷积累的固体平面材料的电阻和电阻率的测试方法
DS/EN 60247:2004 绝缘液体相对介电常数、介电损耗因数（tan phi）和直流电阻率的测量

行业标准-船舶，关于极片体电阻率的标准

CB/Z 166-1979 压电陶瓷材料体积电阻率ρv测量方法

行业标准-地震，关于极片体电阻率的标准

DB/T 33.1-2009 地震地电观测方法地电阻率观测第1部分：单极距观测
DB/T 33.2-2009 地震地电观测方法地电阻率观测第2部分：多极距观测

行业标准-石油化工，关于极片体电阻率的标准

SH/T 0019-1990 石油蜡和石油脂体积电阻率测定法

行业标准-地质，关于极片体电阻率的标准

DZ/T 0276.16-2015 岩石物理力学性质试验规程第16部分:岩石体积电阻率和表面电阻率试验

AT-OVE/ON，关于极片体电阻率的标准

OVE EN IEC 62631-3-1:2021 固体绝缘材料的介电和电阻性能-第3-1部分：电阻性能的测定（直流法）-体积电阻和体积电阻率-通用方法（IEC 112/504/CDV）（英文版）

行业标准-机械，关于极片体电阻率的标准

JB/T 9437-1999 静电复印干式显影剂载体电阻率试验方法
JB/T 9437-2013 静电复印干式显影剂载体电阻率试验方法

澳大利亚标准协会，关于极片体电阻率的标准

IEC 62631-3-2:2023 固体绝缘材料的介电性能和电阻性能第3-2部分：电阻性能的测定（直流法）表面电阻和表面电阻率
IEC 62631-3-2:2023 CMV 固体绝缘材料的介电性能和电阻性能第3-2部分：电阻性能的测定（直流法）表面电阻和表面电阻率
IEC 61340-2-3:2016/COR1:2023 勘误表 1 - 静电 - 第 2-3 部分：确定用于避免静电荷积累的固体材料的电阻和电阻率的测试方法

美国绝缘电缆工程师协会，关于极片体电阻率的标准

ICEA T-25-425-2015 建立功率计的半导体聚合物元件的体积电阻率稳定性的指南

ICEA - Insulated Cable Engineers Association Inc.，关于极片体电阻率的标准

T-25-425-2015-2015 建立功率计的半导体聚合物元件的体积电阻率稳定性的指南

CU-NC，关于极片体电阻率的标准

NC 66-94-1987 电工和电工技术工业．低频率和大功率双极晶体管．质量规格
NC 66-93-1987 电工和电工技术工业．低频率和中等功率双极晶体管．质量规格
NC 66-17-1987 电工和电子行业．高压和中功率双极性晶体管．质量规范
NC 66-15-1987 电子和电气技术词汇．低频和双极功率晶体管．质量规范
NC 66-26-1984 电子线路．高功率双极性转换晶体管，BU208型．质量规范
NC 66-16-1987 电子线路和电工行业低噪音功率双极性晶体管．质量规范
NC 66-23-1984 电子线路．大功率和低频双极性晶体管2N 3055．质量规范

AASHTO - American Association of State Highway and Transportation Officials，关于极片体电阻率的标准

TP 119-2015 在单轴电阻测试中测试的混凝土圆柱体电阻率的标准测试方法

美国公路与运输员工协会，关于极片体电阻率的标准

AASHTO TP 119-2015 在单轴电阻测试中测试的混凝土圆柱体电阻率的标准测试方法
AASHTO TP 119-2021 在单轴电阻测试中测试的混凝土圆柱体电阻率的标准测试方法

行业标准-有色金属，关于极片体电阻率的标准

YS/T 63.2-2006 铝用炭素材料检测方法　第2部分：阴极炭块和预焙阳极　室温电阻率的测定
YS/T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法.第6部分：粉末电阻率的测定

德国机械工程师协会，关于极片体电阻率的标准

DVS 0403-1971 涂层棒电极的沉积效率、金属沉积因子、回收率和体积性能
DVS 0909-1974 气体保护金属电弧焊；实心线电极生产性能及回收率的测定

国家军用标准-国防科工委，关于极片体电阻率的标准

GJB 5891.7-2006 火工品药剂试验方法第7部分：体、面电阻率测定

美国国家标准学会，关于极片体电阻率的标准

ANSI/ASTM D7148:2013 用电解槽测量系统中用碳极测定碱性蓄电池隔板的离子电阻率用试验方法

ES-AENOR，关于极片体电阻率的标准

UNE 21-317-1989 绝缘液体的介电常数，绝缘损失常熟（tg5）和电阻率（直流电）的测量

TR-TSE，关于极片体电阻率的标准

TS 2154-1975 滤波器晶体装置无用谐振频率和等效电阻测量方法