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薄膜 测量密度
本专题涉及薄膜 测量密度的标准有282条。
国际标准分类中，薄膜 测量密度涉及到分析化学、摄影技术、橡胶和塑料制品、长度和角度测量、土质、土壤学、货物的包装和调运、建筑材料、土方工程、挖掘、地基构造、地下工程、涂料和清漆、磁性材料、文献成像象技术、词汇、表面处理和镀涂、电学、磁学、电和磁的测量、有机化学、罐、听、管、包装材料和辅助物、体积、质量、密度和粘度的测量、电子设备用机械构件、麻袋、袋子、墨水、油墨、塑料、光学和光学测量、非金属矿、玻璃、导体材料、陶瓷、热力学和温度测量、无损检测、半导体分立器件、电阻器、消防、橡胶和塑料工业、纸制品、密封件、密封装置、集成电路、微电子学、金属材料试验、力、重力和压力的测量、道路工程、纸和纸板、印制技术、橡胶和塑料工业的生产工艺、辐射测量、电工器件、燃料、技术制图、电子电信设备用机电元件、涂料涂覆工艺。
在中国标准分类中，薄膜 测量密度涉及到基础标准与通用方法、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、金属理化性能试验方法综合、日用塑料制品、、工程地质、水文地质勘察与岩土工程、仓储设备、装卸机械、包装工具、屋面、铺面防水与防潮材料、颜色、长度计量、涂料、土壤、肥料综合、纸浆与纸板、塑料型材、材料防护、电磁计量、有机化工原料综合、包装材料与容器、物理学与力学、工业技术玻璃、电工材料和通用零件综合、特种陶瓷、合成树脂、塑料、半导体分立器件综合、电阻器、激光器件、基础标准和通用方法、造纸综合、其他橡胶制品、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、金属物理性能试验方法、纸制品、光学计量、核仪器与核探测器综合、纸、电子技术专用材料、包装方法。
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于薄膜 测量密度的标准
- GB/T 36053-2018 X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告
- GB/T 33051-2016 光学功能薄膜 表面硬化薄膜 硬化层厚度测定方法
- GB/T 33399-2016 光学功能薄膜 聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜 厚度测定方法
- GB/T 33826-2017 玻璃衬底上纳米薄膜厚度测量 触针式轮廓仪法
- GB/T 33396-2016 光学功能薄膜 三醋酸纤维素酯(TAC)膜 卤素含量测定方法
CO-ICONTEC，关于薄膜 测量密度的标准
- ICONTEC 1546-1980 塑料，薄膜宽度的测量
- ICONTEC 3304-1992 塑料．塑料薄膜的亮度测量
IN-BIS，关于薄膜 测量密度的标准
- IS 2508-1984 低密度聚乙烯薄膜规范
- IS 10889-1984 高密度聚乙烯薄膜规范
- IS 9044-1979 测量云母块、薄片、薄膜和云母片厚度的方法
- IS 9698-1980 低密度聚乙烯薄膜根管内衬操作规范
韩国科技标准局，关于薄膜 测量密度的标准
- KS M ISO 5989:2002 塑料.薄膜和薄板.电晕处理薄膜的水接触角度的测量
- KS F 2347-2007 利用橡胶薄膜法的土壤现场密度测试方法
- KS F 2347-1982 利用橡胶薄膜法的土壤现场密度测试方法
- KS C 6111-5-2023 微波频率下超导薄膜厚度的测量
- KS M ISO 4592:2007 塑料.薄片和薄膜.长度和宽度的测定
- KS M ISO 4592-2007(2017) 塑料薄膜和薄板长度和宽度的测定
- KS M ISO 4592-2007(2022) 塑料薄膜和薄板长度和宽度的测定
- KS M ISO 4593:2002 塑料.薄膜和薄板.机械扫描测定厚度
- KS M ISO 4593-2002(2022) 塑料薄膜和薄板机械扫描法测定厚度
- KS M ISO 4593-2002(2017) 塑料薄膜和薄板厚度的机械扫描测定法
- KS M ISO 4592-2023 塑料 薄膜和片材 长度和宽度的测定
- KS M 3089-2009 塑料薄膜和片材的厚度测定法
- KS M ISO 4591:2007 塑料.薄片和薄膜.以重量分析技术(重量分析厚度)测定试样的平均厚度和一卷的量和平均厚度
- KS L 2108-2001(2016) 测试方法为玻璃基板上的薄膜的密合性
- KS M ISO 4591-2007(2022) 塑料－薄膜和薄板－用重量分析法测定样品的平均厚度、卷的平均厚度和成品率（重量分析厚度）
- KS M ISO 8570:2014 塑料 薄膜和片材 冷裂温度的测定
- KS M ISO 8570-2014(2019) 塑料薄膜和片材冷裂温度的测定
- KS M ISO 8570-2019 塑料薄膜和片材冷裂温度的测定
- KS M ISO 4591-2007(2017) 塑料－薄膜和薄板－用重量分析技术测定样品的平均厚度和卷的平均厚度和成品率（重量分析厚度）
- KS C 6111-5-2008 利用微波测定高温超导薄膜的厚度
- KS M ISO 4593-2022 塑料 薄膜和片材 机械扫描厚度测定
- KS C IEC 61788-17:2020 超导性 - 第17部分:电子特性测量 - 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
- KS M ISO 12625-3:2006 薄纸和薄纸制品.第3部分:厚度、膨松厚度和表观体密度的测定
- KS M ISO 12625-3:2016 薄纸和薄纸制品 第3部分：厚度、膨松厚度和表观体密度的测定
- KS M ISO 4591-2023 塑料 薄膜和片材 通过重量技术测定样品的平均厚度以及卷的平均厚度和产量（重量厚度）
- KS M ISO 15184:2002 涂料和清漆.使用铅笔试验测定薄膜硬度
- KS M ISO 15184:2013 颜料和清漆.使用铅笔试验测定薄膜硬度
- KS A ISO/ASTM 51275:2005 放射性铬薄膜剂量测定系统使用规程
国际标准化组织，关于薄膜 测量密度的标准
- ISO 15989:2004 塑料.薄膜和薄板.电晕处理薄膜的水接触角度的测量
- ISO 4592:1979 塑料.薄膜和薄板.长度和宽度的测定
- ISO 4592:1992 塑料 薄膜和薄板 长度和宽度的测定
- ISO 8570:1991 塑料 薄膜和薄板 冻裂温度测定
- ISO 6200:1979 缩微摄影技术.银明胶型薄膜的密度
- ISO 4593:1993 塑料 薄膜和薄板 机械扫描测定厚度
- ISO 4593:1979 塑料.薄膜和薄板.机械扫描测定厚度
- ISO 4591:1992 塑料薄膜和薄片.样品平均厚度,卷平均厚度及单位质量面积的测定称量法(称量厚度)
- ISO 15989:2004/cor 1:2007 塑料.薄膜和薄片.电晕处理薄膜水接触角的测量.技术勘误1
- ISO 5972:1978 云母块、薄片、薄膜和劈裂叠层.厚度的测定
- ISO 4591:1979 塑料.薄膜和薄板.用重量分析技术（重量分析厚度）测定样品的平均厚度和卷的平均厚度和产量
- ISO/TTA 4:2002 硅基质上薄膜导热性的测量
- ISO 12992:1995 塑料 塑料薄膜和薄板垂直燃烧蔓延程度的测定
- ISO 15184:1998 色漆和清漆 使用铅笔测定薄膜硬度
- ISO 2960:1974 纺织品.胀破强度和胀破扩张度的测定.薄膜法
- ISO 12625-3:2005 薄纸和薄纸制品.第3部分:厚度、膨松厚度和表观体密度的测定
- ISO/ASTM 51275:2002 放射性铬薄膜剂量测定系统使用规程
- ISO/ASTM 51275:2004 放射性铬薄膜剂量测定系统使用规程
- ISO/ASTM 51275:2013 放射性铬薄膜剂量测定系统使用规程
- ISO 12625-3:2014 薄纸和薄纸制品. 第3部分: 厚度, 蓬松厚度, 表观体密度和体积的测定
国家质检总局，关于薄膜 测量密度的标准
- GB/T 6672-2001 塑料薄膜和薄片厚度测定 机械测量法
- GB/T 6673-2001 塑料薄膜和薄片长度和宽度的测定
- GB/T 38518-2020 柔性薄膜基体上涂层厚度的测量方法
- GB/T 20220-2006 塑料薄膜和薄片 .样品平均厚度、卷平均厚度及单位质量面积的测定.称量法(称量厚度)
- GB/T 41792-2022 塑料制品 薄膜和薄片 冷裂温度的测定
- GB/T 30447-2013 纳米薄膜接触角测量方法
- GB/T 25257-2010 光学功能薄膜 翘曲度测定方法
- GB/T 30693-2014 塑料薄膜与水接触角的测量
- GB/T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法
- GB/T 42674-2023 光学功能薄膜 微结构厚度测试方法
- GB/T 30412-2013 塑料薄膜和薄片水蒸气透过率的测定 湿度传感器法
- GB/T 25898-2010(英文版) 仪器化纳米压痕试验 薄膜的压痕硬度和模量
ZA-SANS，关于薄膜 测量密度的标准
- SANS 4593:2003 塑料薄膜和薄片厚度测定．机械测量法
- SANS 4591:2003 塑料薄膜和薄片样品平均厚度，卷平均厚度及单位质量面积的测定称量法（称量厚度）
美国材料与试验协会，关于薄膜 测量密度的标准
- ASTM E252-05 质量测量法测定薄箔、薄板和薄膜厚度的标准试验方法
- ASTM E252-04 用质量测量法测定薄箔和薄膜厚度的标准试验方法
- ASTM E252-06 质量测量法测定箔片、薄板和薄膜厚度的标准试验方法
- ASTM E2444-05 反射薄膜测量术语
- ASTM E252-06(2013) 采用质量测量的箔片, 薄板和薄膜厚度的标准试验方法
- ASTM E2444-11 反射薄膜测量相关术语
- ASTM E252-06(2021)e1 通过质量测量的箔 薄片和膜的厚度的标准测试方法
- ASTM D4635-01 通用和包装用低密度聚乙烯薄膜标准规范
- ASTM D4635-95 通用和包装用低密度聚乙烯薄膜标准规范
- ASTM D4635-08a 通用和包装用低密度聚乙烯薄膜标准规范
- ASTM E2244-05 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
- ASTM E2244-11 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
- ASTM E2244-11(2018) 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
- ASTM E2444-11(2018) 标准术语 涉及对薄膜 反射膜的测量
- ASTM F1151-88(1998) 测定薄膜薄煎饼硬度变化的标准试验方法
- ASTM F692-97 测量可焊薄膜与基底粘合强度的标准试验方法
- ASTM D1746-97 塑料薄膜透明度的标准测试方法
- ASTM D1746-03 塑料薄膜透明度的标准测试方法
- ASTM D1746-23 塑料薄膜透明度的标准测试方法
- ASTM E2444-05e1 与反射薄膜上测量的相关术语
- ASTM E2444-11e1 与反射薄膜上测量的相关术语
- ASTM D6988-13 测定塑料薄膜试样厚度的标准指南
- ASTM D6988-21 塑料薄膜试样厚度测定的标准指南
- ASTM E2246-02 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
- ASTM E2246-05 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
- ASTM E2244-02 用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法
- ASTM E2246-11 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
- ASTM D4635-08 通用和包装用低密度聚乙烯制聚乙烯薄膜的标准规范
- ASTM D6988-07 塑料薄膜试样厚度的测定用标准指南
- ASTM E252-84(1999) 称重法测定薄膜厚度的标准试验方法
- ASTM D6988-08 塑料薄膜试样的厚度测定的标准指南
- ASTM D5796-03 用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法
- ASTM D5796-03(2010) 用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法
- ASTM D5796-10 用钻孔装置进行破坏法测量薄膜涂覆系统的干膜厚度的标准试验方法
- ASTM D3363-05(2011)e1 通过铅笔测试的薄膜硬度的标准测试方法
- ASTM D3363-00 通过铅笔测试的薄膜硬度的标准测试方法
- ASTM D3363-20 通过铅笔测试的薄膜硬度的标准测试方法
- ASTM D4321-04 塑料薄膜包装产量的标准测试方法
- ASTM E2244-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法
- ASTM E2246-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
- ASTM D6988-03 塑料薄膜试验样品的厚度测定标准指南
- ASTM D5946-04 用水触点角度测量法测定电晕处理聚合物薄膜的标准试验方法
- ASTM E2246-11(2018) 使用光学干涉仪的薄的反射膜的应变梯度测量的标准测试方法
- ASTM D5796-99 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
- ASTM D5796-20 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
- ASTM D5796-10(2015) 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
- ASTM F2592-16 测量薄膜开关力位移的标准试验方法
- ASTM F2592-08 测量薄膜开关力位移的标准试验方法
- ASTM D4635-16 一般用途和包装应用的低密度聚乙烯和线性低密度聚乙烯制成的塑料薄膜标准规格
- ASTM F1843-97 薄膜开关涂覆层上抛光光泽测量用透明塑料薄膜的样品制备的标准指南
- ASTM F1843-97(2002) 薄膜开关涂覆层上抛光光泽测量用透明塑料薄膜的样品制备的标准指南
- ASTM D3363-22 铅笔试验法测定薄膜硬度的标准试验方法
(美国)福特汽车标准，关于薄膜 测量密度的标准
- FORD FLTM EU-BQ 010-1-2000 阳极氧化铝的薄膜厚度测量
- FORD FLTM EU-BQ 010-01-2000 阳极化铝的薄膜厚度测定
- FORD FLTM EU BN 050-07-2001 塑料薄膜的厚度测定．称重法
- FORD WSB-M4G276-C-1990 最小薄膜厚度0.25 MM的耐开裂可印刷乙烯基密封剂
- FORD ESA-M99D52-A-2008 低密度聚乙烯薄膜．伸展性能***与标准FORD WSS-M99P1111-A一起使用***
丹麦标准化协会，关于薄膜 测量密度的标准
- DS 2066:1975 无色低密度聚乙烯覆盖薄膜
- DS/EN IEC 61788-17:2021 超导性 第17部分：电子特性测量 大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
- DS/EN 15042-1:2006 涂层厚度测量和表面波表面表征 第1部分：通过激光诱导表面声波测定薄膜的弹性常数、密度和厚度的指南
- DS/EN 61788-17:2013 超导性 第17部分：电子特性测量 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
- DS/EN ISO 12625-3:2005 薄纸和薄纸制品 第3部分：厚度、膨松厚度和表观松密度的测定
- DS/ISO 6383/1:1985 塑料．薄膜和薄片．抗扯强度的测定．第1部分：裤形撕裂法
- DS/EN ISO 6383-1:2004 塑料 薄膜和薄片 抗撕裂强度的测定 第1部分：裤型撕裂法
- DS/EN 13523-1:2010 卷材涂层金属 测试方法 第1部分：薄膜厚度
行业标准-轻工，关于薄膜 测量密度的标准
- QB/T 1128-1991 单向拉伸高密度聚乙烯薄膜
轻工业部，关于薄膜 测量密度的标准
- QB 1128-1991 单向拉伸高密度聚乙烯薄膜
法国标准化协会，关于薄膜 测量密度的标准
- NF X31-502:1992 土壤质量 物理方法 堆积密度的测量 膜密度计
- NF P84-515:1998 土工膜.常规紧密度级测量
- NF T30-122:1974 涂料.干性薄膜厚度的测定.标度量规法
- NF T30-121:1974 涂料.干性薄膜厚度的测定.千分尺测量法
- NF T30-124:1991 涂料和清漆 .干性薄膜厚度测量.磁通量无损测量法
- NF T30-125:1974 涂料.湿性薄膜厚度的测定
- NF A91-156*NF ISO 23216:2021 碳基薄膜 用椭圆光度法测定无定形碳薄膜的光学性质
- NF EN ISO 23216:2022 碳基薄膜 用光谱椭圆光度法测定非晶碳薄膜的光学性能
- NF EN 15042-1:2006 使用表面波测量涂层厚度和表面表征 - 第 1 部分：使用表面波测定薄膜弹性常数、密度和厚度的指南
- NF P84-505:1993 地膜."标准覆地薄膜砂"直接剪切角的测量
- FD T90-012:2021 水质 金属含量的测定 薄膜扩散梯度被动采样法测量金属浓度的方法
- NF T54-199:1999 塑料.工业用聚合物制成的薄膜和薄片.着色薄膜或薄片的光投射缩小比测量.
- NF C31-888-17*NF EN 61788-17:2013 超导性 第17部分：电气特性测量值 大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
- NF T48-102:1994 密封用石棉和橡胶压缩薄板.密度的测定
- NF C31-888-17*NF EN IEC 61788-17:2021 超导性 第17部分：电子特性测量 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
- NF EN IEC 61788-17:2021 超导性 - 第 17 部分：电子特性的测量 - 大表面超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
- NF T30-123:1974 涂料.干性薄膜厚度的测定.显微镜方法
- NF Q34-030-3:2005 薄纸和薄纸制品.第3部分:厚度、膨松厚度和表观体密度的测定
- NF Q34-030-3*NF EN ISO 12625-3:2014 薄纸和薄纸制品 第3部分：厚度、蓬松厚度、表观体密度和体积的测定
行业标准-机械，关于薄膜 测量密度的标准
- JB/T 53253-1999 包装用高密度聚乙烯超薄薄膜吹塑机组 产品质量分等
- JB/T 7547-1994 包装用高密度聚乙烯超薄薄膜吹塑机组
行业标准-化工，关于薄膜 测量密度的标准
- HG/T 4951-2016 光学功能薄膜 对比度测量方法
- HG/T 2348-1992 磁带用聚酯薄膜表面粗糙度的测量 触针法
- HG/T 4608-2014 光学功能薄膜 颜色的测量方法
河北省标准，关于薄膜 测量密度的标准
- DB/T1300 Y28 4-1988 包装用高密度聚乙烯吹塑薄膜
AT-ON，关于薄膜 测量密度的标准
- ONORM A 1310-1991 缩微图形学．银．明胶型薄膜密度
RU-GOST R，关于薄膜 测量密度的标准
- GOST 17035-1986 塑料.薄膜和薄板厚度测定法
- GOST 31993-2013 颜料.薄膜厚度的测定
- GOST R 51694-2000 油漆和清漆.薄膜厚度的测定
- GOST R 8.829-2013 确保测量一致性的国家系统. 高分子板和薄膜的光学密度 (透射系数) 和雾度的测定方法
- GOST 26128-1984 聚合物薄膜.抗撕裂强度测定法
- GOST 15139-1969 塑料.密度(质量密度)的测定方法
- GOST 24701-1981 泥煤.密度测量法
- GOST 2.701-1984 泥煤 密度测量法
德国标准化学会，关于薄膜 测量密度的标准
- DIN SPEC 55661:2013 使用超声波测量计测定涂层薄膜厚度
- DIN 55530:2011-05 包装薄膜 由低密度聚乙烯(PE-LD)薄膜制成并可回收的阻隔材料
- DIN 53366:2007 塑料薄膜和膜片的测试.粘连强度的测定
- DIN 55530:1987 包装用塑料薄膜.低密度聚乙烯隔挡材料
- DIN 55530:2011 包装用塑料薄膜.低密度聚乙烯(PE-LD)薄膜和回收材料制成的防潮材料
- DIN 55543-1:2010-01 包装试验 包装薄膜试验方法 第1部分：薄膜厚度的测定
- DIN 53366:1983 塑料薄膜和膜片的检验.粘连强度的测定
- DIN EN 15042-1:2006-06 涂层厚度测量和表面波表征 第1部分：激光诱导表面声波测定薄膜弹性常数、密度和厚度指南
- DIN EN ISO 23216:2023-01 碳基薄膜-通过光谱椭圆光度法测定非晶碳薄膜的光学特性
- DIN ISO 4593:2019 塑料 薄膜和薄片 通过机械扫描测定厚度（ISO 4593:1993）
- DIN EN ISO 23216:2023 碳基薄膜 通过光谱椭圆光度法测定非晶碳薄膜的光学特性（ISO 23216:2021）
- DIN 53366:2007-10 塑料薄膜和片材的测试 粘连强度的测定
- DIN EN ISO 12625-3:2005 薄纸和薄纸制品.第3部分:厚度、膨松厚度和表观体密度的测定
- DIN ISO 4593:2019-06 塑料 薄膜和片材 通过机械扫描测定厚度
- DIN EN ISO 12625-3:2014 薄纸和薄纸制品.第3部分:厚度、膨松厚度、表观体密度和体积的测定
- DIN EN ISO 12625-3:2014-09 薄纸和薄纸产品第3部分：厚度、膨松厚度、表观堆积密度和松厚度的测定
- DIN 53370:2006 塑料薄膜的检验.用机械手触摸法测定厚度
- DIN 53370:1976 塑料薄膜的检验.用机械手触摸法测定厚度
- DIN 55543-1:1986 包装试验.塑料袋试验方法.薄膜厚度的测定
ES-AENOR，关于薄膜 测量密度的标准
- UNE 53-328-1985 温室用低密度聚乙烯薄膜的特性及测试方法
- UNE 7-050 Pt.2-1985 试验筛．金属薄膜，穿孔板和电制薄板．开口的额定测量
SE-SIS，关于薄膜 测量密度的标准
- SIS 18 41 58-1973 油漆．由刻度盘指示器线性测量测定薄膜厚度
- SIS SS 84 46 17-1981 塑料薄膜袋．名称和尺寸测量
- SIS SS 24 10 13-1982 塑料．塑料薄膜和塑料布．厚度测定
- SIS 18 60 15 E-1973 汽车暂时性防腐剂．薄膜重量的测定
- SIS SS 24 10 22-1982 塑料．薄膜和塑料布．测定撕裂强度-单舌试样
PL-PKN，关于薄膜 测量密度的标准
- PN C89090-1992 塑料薄膜厚度的测定
KR-KS，关于薄膜 测量密度的标准
- KS C 6111-5-2008(2023) 微波频率下超导体薄膜厚度的测量
- KS C IEC 61788-17-2020 超导性 - 第17部分:电子特性测量 - 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
- KS M ISO 12625-3-2016 薄纸和薄纸制品第3部分:厚度、松装厚度和表观松装密度的测定
RO-ASRO，关于薄膜 测量密度的标准
- STAS 7200-1973 塑料制品．薄膜和薄片厚度测定
- STAS 10157-1975 油漆和清漆．通过测量镜面反射测定薄膜光泽度
- SR ISO 4592:1992 塑料．薄膜和塑料布．长度和宽度的测定
- STAS 6000/3-1987 木质家具．光亮度和不透明度．基薄膜测定
- STAS 12971-1991 塑料薄膜和薄片裤型撕裂法测定其抗撕裂强度
- STAS SR ISO 8570:1996 塑料．薄膜和塑料布．冷裂温度的测定
- STAS 8994/7-1974 人造与合成革．耐压薄膜牢度的测定
- STAS 4384-1968 测量密度的仪器．乳密度计
- STAS 8994/6-1974 人造与合成革．耐摩擦薄膜牢度的测定
英国标准学会，关于薄膜 测量密度的标准
- BS EN IEC 61788-17:2021 超导 电子特性测量 大面积超导薄膜局部临界电流密度及其分布
- BS EN ISO 2808:2019 油漆和清漆 薄膜厚度的测定
- BS EN 61788-17:2013 超导性 电气特性测量值 大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
- BS EN ISO 23216:2022 碳基薄膜 用光谱椭圆光度法测定非晶碳薄膜的光学性质
- BS ISO 23216:2021 碳基薄膜 用光谱椭圆光度法测定非晶碳薄膜的光学性质
- BS EN 15042-1:2006 覆层厚度测量和表面波纹表征.使用激光感应表面声波法测定薄膜的弹性常数,密度和厚度用指南
- BS ISO 8126:2019 显微图像 复制胶片、银膜、重氮膜和泡状膜 视觉密度的规格和测量
- 20/30400316 DC BS ISO 23216 碳基薄膜 用光谱椭圆光度法测定非晶碳薄膜的光学性质
- BS EN ISO 12625-3:2014 薄纸和薄纸制品. 厚度, 蓬松厚度, 表观体密度和体积的测定
- BS EN ISO 15106-1:2005 塑料.薄膜和薄片.水蒸气传输率的测定.湿度探测传感器法
- 19/30391554 DC BS EN 61788-17 超导 第17部分：电子特性测量 大面积超导薄膜局部临界电流密度及其分布
欧洲标准化委员会，关于薄膜 测量密度的标准
- EN 13048:2009 包装.铝软管.内部清漆薄膜厚度测量方法
- EN 13048:2000 包装.铝软管.内部清漆薄膜厚度测量方法
SCC，关于薄膜 测量密度的标准
- CAN/BNQ 2501-058-M88:1988 土壤 使用柔性膜测定土壤密度（水量）
日本工业标准调查会，关于薄膜 测量密度的标准
- JIS K 7130:1999 塑料.薄膜和片材.厚度测定
- JIS R 1636:1998 精细陶瓷薄膜厚度的试验方法.用接触探针式表面光度计法测定薄膜厚度
- JIS K 7317:2022 塑料 特种薄膜划痕硬度的测定
- JIS K 6768:1995 聚乙烯和聚丙烯薄膜润湿度的测试方法
CZ-CSN，关于薄膜 测量密度的标准
- CSN 64 0609-1977 测定收缩薄膜的收缩量
- CSN 64 6014-1983 包装技术要求的低密度聚乙烯热收缩薄膜
- CSN 80 0524-1977 聚合物膜的原纤化薄膜条的单体原纤维的细度测定
AENOR，关于薄膜 测量密度的标准
- UNE-ISO 4593:2010 塑料—薄膜和薄板—机械扫描法测定厚度
- UNE 48269:1995 油漆和清漆 铅笔测试的薄膜硬度
- UNE-EN 15042-1:2007 涂层厚度测量和表面波表面表征 第1部分：通过激光诱导表面声波测定薄膜的弹性常数、密度和厚度的指南
FI-SFS，关于薄膜 测量密度的标准
- SFS 3825-1976 塑料．薄膜和薄板的气体渗透速度测定
ET-QSAE，关于薄膜 测量密度的标准
- ES 408-2000 肥料包装材料 低密度聚乙烯内衬薄膜 规范
- ES 410-2000 塑料 聚乙烯薄膜 厚度的测定
中国团体标准，关于薄膜 测量密度的标准
- T/XAI 9-2021 覆晶薄膜油墨硬度测试方法
- T/XAI 8-2021 覆晶薄膜化锡厚度测试方法 库仑法
- T/CSTM 00537-2021 微纳薄膜相变温度测试 光功率分析法
- T/XAI 13-2023 覆晶薄膜基板线路剥离强度测试方法
- T/CPF 0059-2023 质量分级及“领跑者”评价要求 卷筒塑料薄膜精密涂布机
未注明发布机构，关于薄膜 测量密度的标准
- DIN ISO 4593 E:2019-01 塑料 薄膜和薄片 通过机械扫描测定厚度
- DIN EN 13048 E:2021-10 包装 铝软管 内部清漆薄膜厚度测量方法（草案）
- AS/NZS 1580.107.3:1997(R2013) 油漆及类似材料 测试方法 用量规测定湿薄膜厚度
- DIN EN ISO 23216 E:2022-08 碳基薄膜 通过光谱椭圆光度法测定非晶碳薄膜的光学特性（草案）
- DIN 53370 E:2002-04 塑料薄膜的检验 用机械手触摸法测定厚度
- AS/NZS 1580.107.2:1995(R2013) 涂料和相关材料 试验方法 金属试验板材的预处理 湿薄膜块的湿薄膜厚度测定
GSO，关于薄膜 测量密度的标准
- GSO ISO 15989:2013 塑料材料薄膜和片材测量薄膜的水接触角电晕处理
- GSO IEC 61788-17:2021 超导性 第17部分：电子特性测量 大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
澳大利亚标准协会，关于薄膜 测量密度的标准
- AS/NZS 1580.107.3:1997 油漆及类似材料 测试方法 用量规测定湿薄膜厚度
- AS/NZS 2891.14.2:1999 沥青取样与测试方法－场密度测定－利用原子核薄层密度计测定碾压沥青的场密度
- AS/NZS 1580.107.2:1995 涂料和相关材料.试验方法.金属试验板材的预处理.湿薄膜块的湿薄膜厚度测定
- AS 1580.107.1:2004 涂料和相关材料.试验方法.金属试验板材的预处理.干薄膜块的湿薄膜厚度测定
CU-NC，关于薄膜 测量密度的标准
- NC 30-77-1988 塑料工业．薄膜和薄片的撕开力量测定
- NC 30-78-1988 塑料工业．薄膜和薄片的初始撕开力量的测定．测试方法
ES-UNE，关于薄膜 测量密度的标准
- UNE-EN ISO 23216:2023 碳基薄膜 通过光谱椭圆光度法测定非晶碳薄膜的光学特性
- UNE-EN IEC 61788-17:2021 超导性 第17部分：电子特性测量 大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
- UNE-EN 61788-17:2013 超导性 第17部分：电子特性测量 大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
马来西亚标准，关于薄膜 测量密度的标准
- MS 1478-1999 一般用途和包装应用的低密度聚乙烯薄膜规范
美国国防后勤局，关于薄膜 测量密度的标准
- DLA DSCC-DWG-93030 REV D-2006 固定薄膜片状大量金属箔高精密2018型电阻器
PK-PSQCA，关于薄膜 测量密度的标准
- PS 163-1962 薄膜压力法测定织物的爆裂强度
美国通用公司（北美），关于薄膜 测量密度的标准
- GM 9986321-2008 薄膜.纳米厚度(NT)预处理通用质量标准
工业和信息化部，关于薄膜 测量密度的标准
- HG/T 5659-2019 光学功能薄膜 黄变的测量方法
BE-NBN，关于薄膜 测量密度的标准
- NBN 870-1971 非塑封膜包PVC接头．密度测定
立陶宛标准局，关于薄膜 测量密度的标准
- LST EN 15042-1-2006 涂层厚度测量和表面波表面表征 第1部分：通过激光诱导表面声波测定薄膜的弹性常数、密度和厚度的指南
- LST EN 13523-1-2010 卷材涂层金属 测试方法 第1部分：薄膜厚度
国际电工委员会，关于薄膜 测量密度的标准
- IEC 61788-17:2021 超导性第17部分:电子特性测量大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
- IEC 61788-17:2021 RLV 超导性第17部分:电子特性测量大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
- IEC 61788-17:2013 超导性 第17部分 电气特性测量值 大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
欧洲电工标准化委员会，关于薄膜 测量密度的标准
- EN IEC 61788-17:2021 超导性 第17部分：电子特性测量 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
- EN 61788-17:2013 超导性 第17部分：电子特性测量 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于薄膜 测量密度的标准
- GB/T 40279-2021 硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法
CN-STDBOOK，关于薄膜 测量密度的标准
- 图书 A-4824 密度测量技术
HU-MSZT，关于薄膜 测量密度的标准
- MNOSZ 11726-1953 矿物产品．测量点生长麻木作出了薄膜温度计（旋转）的方法
国家军用标准-总装备部，关于薄膜 测量密度的标准
- GJB 8687-2015 光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程
国家军用标准-国防科工委，关于薄膜 测量密度的标准
- GJB/J 5463-2005 光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程
行业标准-纺织，关于薄膜 测量密度的标准
- FZ/T 60009-1993 金属镀膜复合絮片针刺密度的测定
印度尼西亚标准，关于薄膜 测量密度的标准
- SNI ISO 12625-3:2014 薄纸和薄纸制品《第3部分：厚度、膨松厚度、表观松密度和体积的测定》
