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薄膜 密度 测量
本专题涉及薄膜 密度 测量的标准有500条。
国际标准分类中，薄膜 密度 测量涉及到分析化学、摄影技术、橡胶和塑料制品、长度和角度测量、土质、土壤学、建筑材料、土方工程、挖掘、地基构造、地下工程、货物的包装和调运、涂料和清漆、磁性材料、文献成像象技术、词汇、表面处理和镀涂、电学、磁学、电和磁的测量、有机化学、罐、听、管、包装材料和辅助物、电子设备用机械构件、麻袋、袋子、墨水、油墨、塑料、光学和光学测量、非金属矿、玻璃、导体材料、陶瓷、热力学和温度测量、无损检测、半导体分立器件、电阻器、消防、橡胶和塑料工业、纸制品、密封件、密封装置、集成电路、微电子学、金属材料试验、力、重力和压力的测量、道路工程、纸和纸板、印制技术、橡胶和塑料工业的生产工艺、辐射测量、电工器件、燃料、技术制图、电子电信设备用机电元件、涂料涂覆工艺、水质、有色金属、木基板材、皮革技术、半导体材料、钢铁产品、纺织产品、计量学和测量综合、纺织纤维、木材、原木和锯材、质量、核能工程、电气设备元件、试验条件和规程综合、机械试验、肥料、航空航天制造用零部件、涂料配料、电子显示器件、金属矿。
在中国标准分类中，薄膜 密度 测量涉及到基础标准与通用方法、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、金属理化性能试验方法综合、日用塑料制品、、工程地质、水文地质勘察与岩土工程、仓储设备、装卸机械、屋面、铺面防水与防潮材料、包装工具、颜色、长度计量、涂料、土壤、肥料综合、纸浆与纸板、塑料型材、材料防护、电磁计量、有机化工原料综合、包装材料与容器、物理学与力学、工业技术玻璃、电工材料和通用零件综合、特种陶瓷、合成树脂、塑料、半导体分立器件综合、电阻器、激光器件、基础标准和通用方法、造纸综合、其他橡胶制品、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、金属物理性能试验方法、纸制品、光学计量、核仪器与核探测器综合、纸、电子技术专用材料、包装方法、电影与摄影技术、标志、包装、运输、贮存综合、开关、水环境有毒害物质分析方法、低压配电电器、肥料与土壤调理剂、金属无损检验方法、辐射防护仪器、电工用钢、计量综合、丝、绸综合、原条与原木、核材料、核燃料综合、数学、磁性元器件、土壤、水土保持、建筑玻璃、其他纺织制品、针织综合、针织、钢铁与铁合金分析方法、涂料基础标准与通用方法、感光材料、感光材料基础标准与通用方法、化合物半导体材料、金属化学性能试验方法、稀有分散金属及其合金、放射性金属矿、土壤环境质量分析方法。
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于薄膜 密度 测量的标准
- GB/T 36053-2018 X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告
- GB/T 33051-2016 光学功能薄膜 表面硬化薄膜 硬化层厚度测定方法
- GB/T 33399-2016 光学功能薄膜 聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜 厚度测定方法
- GB/T 33826-2017 玻璃衬底上纳米薄膜厚度测量 触针式轮廓仪法
- GB/T 33396-2016 光学功能薄膜 三醋酸纤维素酯(TAC)膜 卤素含量测定方法
- GB/T 35923-2018 光学功能薄膜 三醋酸纤维素酯(TAC)膜 增塑剂含量测定方法
- GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法
CO-ICONTEC，关于薄膜 密度 测量的标准
- ICONTEC 1546-1980 塑料，薄膜宽度的测量
- ICONTEC 3304-1992 塑料．塑料薄膜的亮度测量
- ICONTEC 495-1970 牛奶，相关密度的测量
IN-BIS，关于薄膜 密度 测量的标准
- IS 2508-1984 低密度聚乙烯薄膜规范
- IS 10889-1984 高密度聚乙烯薄膜规范
- IS 9044-1979 测量云母块、薄片、薄膜和云母片厚度的方法
- IS 9698-1980 低密度聚乙烯薄膜根管内衬操作规范
- IS 11342-1985 热塑性薄膜制成的袋子尺寸的测量和表示方法
韩国科技标准局，关于薄膜 密度 测量的标准
- KS M ISO 5989:2002 塑料.薄膜和薄板.电晕处理薄膜的水接触角度的测量
- KS F 2347-2007 利用橡胶薄膜法的土壤现场密度测试方法
- KS F 2347-1982 利用橡胶薄膜法的土壤现场密度测试方法
- KS C 6111-5-2023 微波频率下超导薄膜厚度的测量
- KS M ISO 4592:2007 塑料.薄片和薄膜.长度和宽度的测定
- KS M ISO 4592-2007(2017) 塑料薄膜和薄板长度和宽度的测定
- KS M ISO 4592-2007(2022) 塑料薄膜和薄板长度和宽度的测定
- KS M ISO 4593:2002 塑料.薄膜和薄板.机械扫描测定厚度
- KS M ISO 4593-2002(2022) 塑料薄膜和薄板机械扫描法测定厚度
- KS M ISO 4593-2002(2017) 塑料薄膜和薄板厚度的机械扫描测定法
- KS M ISO 4592-2023 塑料 薄膜和片材 长度和宽度的测定
- KS M 3089-2009 塑料薄膜和片材的厚度测定法
- KS M ISO 4591:2007 塑料.薄片和薄膜.以重量分析技术(重量分析厚度)测定试样的平均厚度和一卷的量和平均厚度
- KS L 2108-2001(2016) 测试方法为玻璃基板上的薄膜的密合性
- KS M ISO 4591-2007(2022) 塑料－薄膜和薄板－用重量分析法测定样品的平均厚度、卷的平均厚度和成品率（重量分析厚度）
- KS M ISO 8570:2014 塑料 薄膜和片材 冷裂温度的测定
- KS M ISO 8570-2014(2019) 塑料薄膜和片材冷裂温度的测定
- KS M ISO 8570-2019 塑料薄膜和片材冷裂温度的测定
- KS M ISO 4591-2007(2017) 塑料－薄膜和薄板－用重量分析技术测定样品的平均厚度和卷的平均厚度和成品率（重量分析厚度）
- KS C 6111-5-2008 利用微波测定高温超导薄膜的厚度
- KS M ISO 4593-2022 塑料 薄膜和片材 机械扫描厚度测定
- KS C IEC 61788-17:2020 超导性 - 第17部分:电子特性测量 - 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
- KS M ISO 12625-3:2006 薄纸和薄纸制品.第3部分:厚度、膨松厚度和表观体密度的测定
- KS M ISO 12625-3:2016 薄纸和薄纸制品 第3部分：厚度、膨松厚度和表观体密度的测定
- KS M ISO 4591-2023 塑料 薄膜和片材 通过重量技术测定样品的平均厚度以及卷的平均厚度和产量（重量厚度）
- KS M ISO 15184:2002 涂料和清漆.使用铅笔试验测定薄膜硬度
- KS M ISO 15184:2013 颜料和清漆.使用铅笔试验测定薄膜硬度
- KS A ISO/ASTM 51275:2005 放射性铬薄膜剂量测定系统使用规程
- KS T ISO 6591-2:2012 热塑柔性薄膜袋的尺寸标识与测量方法
- KS M ISO 15106-1:2008 塑料.薄膜和薄片.水蒸气传输率的测定.第1部分:湿度探测传感器法
- KS M ISO 15106-1-2008(2018) 塑料薄膜和薄板水蒸气透过率的测定第1部分:湿度检测传感器法
- KS D 8310-2001(2016) 铝及铝合金阳极氧化阳极氧化膜单位面积质量（表面密度）的测定（重量法）和阳极氧化膜厚度的测定（分光显微镜无损测量）
- KS D 8310-2001(2021) 铝及铝合金阳极氧化阳极氧化膜单位面积质量（表面密度）的测定（重量法）和阳极氧化膜厚度的测定（分束显微镜无损测量）
- KS D 8310-2021 铝及其合金阳极氧化 阳极氧化膜单位面积质量（表面密度）的测定（重量法）和阳极氧化膜厚度的测定（分束显微镜无损测量）
- KS F 2308-2006 土壤密度测量方法
- KS F 2308-1986 土壤密度测量方法
- KS M ISO 12625-3:2022 薄纸和薄纸制品.第3部分:厚度、膨胀厚度和表观体积密度和体积的测定
- KS K 3840-2010 纺织.单丝线密度测量
- KS F 2200-2000 木板材密度测量方法
- KS A ISO 5725-3-2012(2017) 测量方法和结果的准确度（真实度和精密度）第3部分:标准测量方法精密度的中间测量
- KS A ISO 5725-3-2022 测量方法和结果的准确度（准确度和精密度） 第3部分：标准测量方法精密度的中间测量
- KS F 2311-2001 沙置换测量法测量土壤密度方法
- KS M ISO 7837-2007(2012) 肥料 - 磨细肥料密度测量
- KS L 1620-2023 范德堡法测量导电陶瓷薄膜电阻率的试验方法
- KS A ISO 5-2:2011 摄影.密度测量.第2部分:透射密度的几何条件
- KS A ISO 5-4:2011 摄影.密度测量.第4部分:反射密度的几何条件
- KS M 3005-2002(2022) 热塑性薄膜和片材软化温度的热机械分析测试方法
- KS M 3088-2009 塑料薄膜和片材透水蒸气性试验方法测量仪器法
- KS D 0264-1989 锗的腐蚀坑密度测量方法
- KS I ISO 11272:2005 土壤质量.干散密度的测定
- KS F 2198-2001 木材密度及比重测量方法
- KS I ISO 11508:2009 土壤质量.粒子密度的测定
- KS I ISO 11508-2014 土壤质量 颗粒密度的测定
国际标准化组织，关于薄膜 密度 测量的标准
- ISO 15989:2004 塑料.薄膜和薄板.电晕处理薄膜的水接触角度的测量
- ISO 4592:1979 塑料.薄膜和薄板.长度和宽度的测定
- ISO 4592:1992 塑料 薄膜和薄板 长度和宽度的测定
- ISO 8570:1991 塑料 薄膜和薄板 冻裂温度测定
- ISO 6200:1979 缩微摄影技术.银明胶型薄膜的密度
- ISO 4593:1993 塑料 薄膜和薄板 机械扫描测定厚度
- ISO 4593:1979 塑料.薄膜和薄板.机械扫描测定厚度
- ISO 4591:1992 塑料薄膜和薄片.样品平均厚度,卷平均厚度及单位质量面积的测定称量法(称量厚度)
- ISO 15989:2004/cor 1:2007 塑料.薄膜和薄片.电晕处理薄膜水接触角的测量.技术勘误1
- ISO 5972:1978 云母块、薄片、薄膜和劈裂叠层.厚度的测定
- ISO 4591:1979 塑料.薄膜和薄板.用重量分析技术（重量分析厚度）测定样品的平均厚度和卷的平均厚度和产量
- ISO/TTA 4:2002 硅基质上薄膜导热性的测量
- ISO 12992:1995 塑料 塑料薄膜和薄板垂直燃烧蔓延程度的测定
- ISO 15184:1998 色漆和清漆 使用铅笔测定薄膜硬度
- ISO 2960:1974 纺织品.胀破强度和胀破扩张度的测定.薄膜法
- ISO 12625-3:2005 薄纸和薄纸制品.第3部分:厚度、膨松厚度和表观体密度的测定
- ISO/ASTM 51275:2002 放射性铬薄膜剂量测定系统使用规程
- ISO/ASTM 51275:2004 放射性铬薄膜剂量测定系统使用规程
- ISO/ASTM 51275:2013 放射性铬薄膜剂量测定系统使用规程
- ISO 12625-3:2014 薄纸和薄纸制品. 第3部分: 厚度, 蓬松厚度, 表观体密度和体积的测定
- ISO 15106-1:2003 塑料.薄膜和薄片.水蒸气传输率的测定.第1部分:湿度探测传感器法
- ISO 5-2:2001 摄影 密度测量 第2部分:透射密度的几何条件
- ISO 5-4:1995 摄影 密度测量 第4部分:反射密度的几何条件
- ISO 2106:1982 铝和铝合金的阳极氧化 阳极氧化膜单位面积质量(表面密度)的测定 重量法
- ISO/TS 19397:2015 利用超声波测量计测定涂层的膜厚度
- ISO 11272:1998 土壤质量 干散密度的测定
- ISO 11508:2017 土壤质量.粒子密度的测定
- ISO 11272:2017 土壤质量 干散密度的测定
- ISO 11508:1998 土壤质量 粒子密度的测定
国家质检总局，关于薄膜 密度 测量的标准
- GB/T 6672-2001 塑料薄膜和薄片厚度测定 机械测量法
- GB/T 6673-2001 塑料薄膜和薄片长度和宽度的测定
- GB/T 38518-2020 柔性薄膜基体上涂层厚度的测量方法
- GB/T 20220-2006 塑料薄膜和薄片 .样品平均厚度、卷平均厚度及单位质量面积的测定.称量法(称量厚度)
- GB/T 41792-2022 塑料制品 薄膜和薄片 冷裂温度的测定
- GB/T 30447-2013 纳米薄膜接触角测量方法
- GB/T 25257-2010 光学功能薄膜 翘曲度测定方法
- GB/T 30693-2014 塑料薄膜与水接触角的测量
- GB/T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法
- GB/T 42674-2023 光学功能薄膜 微结构厚度测试方法
- GB/T 30412-2013 塑料薄膜和薄片水蒸气透过率的测定 湿度传感器法
- GB/T 25898-2010(英文版) 仪器化纳米压痕试验 薄膜的压痕硬度和模量
- GB/T 25273-2010 液晶显示器（LCD）用薄膜 雾度测定方法 积分球法
- GB/T 6379.3-2012 测量方法与结果的准确度(正确度与精密度).第3部分：标准测量方法精密度的中间度量
- GB/T 25898-2010 仪器化纳米压入试验方法 薄膜的压入硬度和弹性模量
- GB/T 22462-2008 钢表面纳米、亚微米尺度薄膜.元素深度分布的定量测定.辉光放电原子发射光谱法
- GB/T 12822.4-2008 摄影 密度测量 第4部分：反射密度的几何条件
- GB/T 11500-2008 摄影.密度测量.第2部分:透射密度的几何条件
- GB/T 12823.4-2008 摄影.密度测量.第4部分:反射密度的几何条件
- GB/T 2523-2022 冷轧金属薄板和薄带表面粗糙度、峰值数和波纹度测量方法
ZA-SANS，关于薄膜 密度 测量的标准
- SANS 4593:2003 塑料薄膜和薄片厚度测定．机械测量法
- SANS 4591:2003 塑料薄膜和薄片样品平均厚度，卷平均厚度及单位质量面积的测定称量法（称量厚度）
- SANS 2106:1982 铝及铝合金阳极氧化．阳极氧化膜单位面积质量（表面密度）的测定重量法
美国材料与试验协会，关于薄膜 密度 测量的标准
- ASTM E252-05 质量测量法测定薄箔、薄板和薄膜厚度的标准试验方法
- ASTM E252-04 用质量测量法测定薄箔和薄膜厚度的标准试验方法
- ASTM E252-06 质量测量法测定箔片、薄板和薄膜厚度的标准试验方法
- ASTM E2444-05 反射薄膜测量术语
- ASTM E252-06(2013) 采用质量测量的箔片, 薄板和薄膜厚度的标准试验方法
- ASTM E2444-11 反射薄膜测量相关术语
- ASTM E252-06(2021)e1 通过质量测量的箔 薄片和膜的厚度的标准测试方法
- ASTM E2444-11(2018) 标准术语 涉及对薄膜 反射膜的测量
- ASTM E2244-05 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
- ASTM E2244-11 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
- ASTM E2244-11(2018) 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
- ASTM D4635-01 通用和包装用低密度聚乙烯薄膜标准规范
- ASTM D4635-95 通用和包装用低密度聚乙烯薄膜标准规范
- ASTM D4635-08a 通用和包装用低密度聚乙烯薄膜标准规范
- ASTM F1151-88(1998) 测定薄膜薄煎饼硬度变化的标准试验方法
- ASTM F692-97 测量可焊薄膜与基底粘合强度的标准试验方法
- ASTM D1746-97 塑料薄膜透明度的标准测试方法
- ASTM D1746-03 塑料薄膜透明度的标准测试方法
- ASTM D1746-23 塑料薄膜透明度的标准测试方法
- ASTM E2444-05e1 与反射薄膜上测量的相关术语
- ASTM E2444-11e1 与反射薄膜上测量的相关术语
- ASTM D6988-13 测定塑料薄膜试样厚度的标准指南
- ASTM D6988-21 塑料薄膜试样厚度测定的标准指南
- ASTM E2246-02 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
- ASTM E2246-05 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
- ASTM E2244-02 用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法
- ASTM E2246-11 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
- ASTM D6988-07 塑料薄膜试样厚度的测定用标准指南
- ASTM E252-84(1999) 称重法测定薄膜厚度的标准试验方法
- ASTM D6988-08 塑料薄膜试样的厚度测定的标准指南
- ASTM D5796-03 用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法
- ASTM D5796-03(2010) 用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法
- ASTM D5796-10 用钻孔装置进行破坏法测量薄膜涂覆系统的干膜厚度的标准试验方法
- ASTM D4635-08 通用和包装用低密度聚乙烯制聚乙烯薄膜的标准规范
- ASTM D3363-05(2011)e1 通过铅笔测试的薄膜硬度的标准测试方法
- ASTM D3363-00 通过铅笔测试的薄膜硬度的标准测试方法
- ASTM D3363-20 通过铅笔测试的薄膜硬度的标准测试方法
- ASTM D4321-04 塑料薄膜包装产量的标准测试方法
- ASTM E2244-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法
- ASTM E2246-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
- ASTM D6988-03 塑料薄膜试验样品的厚度测定标准指南
- ASTM D5946-04 用水触点角度测量法测定电晕处理聚合物薄膜的标准试验方法
- ASTM E2246-11(2018) 使用光学干涉仪的薄的反射膜的应变梯度测量的标准测试方法
- ASTM D5796-99 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
- ASTM D5796-20 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
- ASTM D5796-10(2015) 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
- ASTM F2592-16 测量薄膜开关力位移的标准试验方法
- ASTM F2592-08 测量薄膜开关力位移的标准试验方法
- ASTM D4635-16 一般用途和包装应用的低密度聚乙烯和线性低密度聚乙烯制成的塑料薄膜标准规格
- ASTM F1843-97 薄膜开关涂覆层上抛光光泽测量用透明塑料薄膜的样品制备的标准指南
- ASTM F1843-97(2002) 薄膜开关涂覆层上抛光光泽测量用透明塑料薄膜的样品制备的标准指南
- ASTM D3363-22 铅笔试验法测定薄膜硬度的标准试验方法
- ASTM F2592-07a 测量薄膜开关的力位移用标准试验方法
- ASTM F2592-07 测量薄膜开关的力位移用标准试验方法
- ASTM D3861-91(1998) 薄膜过滤器中水可萃取物质量测试方法
- ASTM F2592-06 测量薄膜开关的力位移的标准试验方法
- ASTM F2592-09 测量薄膜开关的力位移的标准试验方法
- ASTM F2592-10 测量薄膜开关的力位移的标准试验方法
- ASTM D3981-95 一般用途及包装用中等密度聚乙烯制聚乙烯薄膜的标准规范
- ASTM D3981-08 一般用途及包装用中等密度聚乙烯制聚乙烯薄膜的标准规范
- ASTM D3981-09 一般用途及包装用中等密度聚乙烯制聚乙烯薄膜的标准规范
- ASTM D1922-23 用摆锤法测定塑料薄膜和薄片的传播撕裂强度的标准试验方法
- ASTM F1261M-96 薄膜金属直线平均电宽度测定的标准试验方法
- ASTM D5884-04a 内增强土工薄膜撕裂强度测定的标准试验方法
- ASTM D5884-04 内增强土工薄膜撕裂强度测定的标准试验方法
- ASTM F1261M-96(2003) 薄膜金属直线平均电宽度测定的标准试验方法
- ASTM D3981-03 一般用途及包装用中等密度聚乙烯制成的聚乙烯薄膜的标准规范
- ASTM C729-11 沉浮精密度测量器玻璃密度测定的标准试验方法
- ASTM D6636-01(2006) 加筋土工薄膜的剥纸强度的测定的标准试验方法
- ASTM D6636-01 加筋土工薄膜的剥纸强度的测定的标准试验方法
- ASTM D6636-01(2011) 加筋土工薄膜的剥纸强度的测定的标准试验方法
- ASTM D3985-05 用库仑探测器测量氧气通过塑料薄膜和薄板的传送率的标准试验方法
- ASTM D6580-00(2005) 锌粉涂料与锌粉涂料硫化薄膜和富锌涂层硫化薄膜中金属锌含量测定的标准试验方法
- ASTM D6580-00 锌粉涂料与锌粉涂料硫化薄膜和富锌涂层硫化薄膜中金属锌含量测定的标准试验方法
- ASTM D6580-00(2009) 锌粉涂料与锌粉涂料硫化薄膜和富锌涂层硫化薄膜中金属锌含量测定的标准试验方法
- ASTM F1844-97(2016) 使用非接触式涡流量规测量平板显示器制造薄膜导体薄片电阻的标准实践
- ASTM D8331/D8331M-20 用加固光学干涉法用非破坏性方法测量薄膜涂层厚度的标准试验方法
- ASTM F1997-99 触觉薄膜开关敏感度测定(针拨开法)的标准试验方法
- ASTM F2360-08(2015)e1 测定漫射光源的薄膜开关背光亮度的标准试验方法
- ASTM F1997-99(2005) 触觉薄膜开关敏感度测定(针拨开法)的标准试验方法
- ASTM D3981-09a 由中密度聚乙烯制成的聚乙烯薄膜的一般用途和包装应用的标准规范
- ASTM D3981-09a(2016) 由中密度聚乙烯制成的聚乙烯薄膜的一般用途和包装应用的标准规范
- ASTM D5946-09 用测量水接触角测量结果测定经电晕处理的聚合物薄膜的试验方法
- ASTM D4272-09 塑料薄膜通过落滴的总能量冲击的标准测试方法
- ASTM D6583-04 用矿物油吸收法测定涂料薄膜孔隙度的标准试验方法
- ASTM D5884-99 整体加强型地薄膜的撕裂强度的测定的标准试验方法
- ASTM D5884-01 整体加强型地薄膜的撕裂强度的测定的标准试验方法
- ASTM D4885-01(2006) 用宽带拉伸法测定土工薄膜性能强度的标准试验方法
- ASTM D4885-88(1995) 用宽带拉伸法测定土工薄膜性能强度的标准试验方法
(美国)福特汽车标准，关于薄膜 密度 测量的标准
- FORD FLTM EU-BQ 010-1-2000 阳极氧化铝的薄膜厚度测量
- FORD FLTM EU-BQ 010-01-2000 阳极化铝的薄膜厚度测定
- FORD FLTM EU BN 050-07-2001 塑料薄膜的厚度测定．称重法
- FORD WSB-M4G276-C-1990 最小薄膜厚度0.25 MM的耐开裂可印刷乙烯基密封剂
- FORD ESA-M99D52-A-2008 低密度聚乙烯薄膜．伸展性能***与标准FORD WSS-M99P1111-A一起使用***
- FORD WSB-M4G276-B2-1993 红外辐射预凝胶型最小薄膜厚度0.25 MM的耐开裂可印刷乙烯基密封剂
- FORD FLTM BQ 010-1-2000 阳极氧化铝膜厚度测量的测试程序
- FORD FLTM EU-BI 054-01-2001 烘干瓷漆和底漆薄膜的固相含量的比重的测定
- FORD FLTM BU 101-07-2000 聚碳酸酯薄膜仪表标度盘贴花的抗剪粘附力的测定
丹麦标准化协会，关于薄膜 密度 测量的标准
- DS 2066:1975 无色低密度聚乙烯覆盖薄膜
- DS/EN IEC 61788-17:2021 超导性 第17部分：电子特性测量 大面积超导薄膜的局部临界电流密度及其分布
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- DS/EN ISO 6383-1:2004 塑料 薄膜和薄片 抗撕裂强度的测定 第1部分：裤型撕裂法
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- NF C31-888-17*NF EN IEC 61788-17:2021 超导性 第17部分：电子特性测量 局部临界电流密度及其在大面积超导薄膜中的分布
- NF EN IEC 61788-17:2021 超导性 - 第 17 部分：电子特性的测量 - 大表面超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布
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