The document describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to those devices specified for a marine environment.
DIN EN 60749-13-2003由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2003-04,并于 2003-04-01 实施。
DIN EN 60749-13-2003 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合,在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。
非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 DIN EN 60749-13-2003 前三页,或者稍后再访问。
点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号