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沃特世发布用于离子迁移谱代谢物分析的参考数据库

2016.6.08

  分析测试百科网讯 2016年6月6日,沃特世在第ASMS2016上推出用于离子迁移质谱研究的代谢物分析参考数据库Metabolic Profiling CCS Library。该Metabolic Profiling CCS Library包括900多个碰撞截面(CCS)值,该数值主要是测量气相分子的三维形状,从而为确认分析结果提供了额外鉴定信息。该数据库同时还包括了600多个MS/MS谱。

  该数据库包含在沃特世 UNIFI科学信息系统中,这是沃特世结合了仪器控制、数据分析、可视化和管理于一体的色谱质谱软件平台。该数据库同时也可用于Progenesis QI软件。

  Metabolic Profiling CCS Library 可以使研究人员在用离子迁移谱仪分离复杂样品基质准确鉴定生物标志物。一个碰撞截面(CCS)值就代表一种物质在气态时的一个准确的物理化学性质,包括大小、形状以及电荷等。在涉及高度复杂小样本量非靶向代谢组学研究中,研究人员可以用数据库中的CCS值来确认内源性代谢物和脂质在不同样本组中统计学上的差异变化。

  “代谢组学和脂质组学无论是对于生物标志物的发现和转移还是鉴别潜在有效的内源性生物标志物,或者是了解疾病的过程都是非常重要的。离子迁移质谱对于想要更多的研究潜在的生物技术的研究人员来说是一种非常有用的技术。离子迁移可以增加色谱峰的容积,而CCS值则提高了研究人员正确鉴别特殊代谢物的可信度。”沃特世高级业务开发部经理David Heywood说。

  对于 UNIFI 软件来说Metabolic Profiling CCS Library可用于Vion™ IMS QTof 和 SYNAPT® G2-Si HDMS系统,高分辨质谱可以减少执行基于离子迁移分析的复杂性。

  当与 Progenesis QI 软件结合使用时,可以鉴别样本中化合物的重要变化,该技术可以使研究人员常规稳定,全面严谨的挖掘复杂样本。

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