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杂质光谱x

本专题涉及杂质光谱x的标准有499条。

国际标准分类中，杂质光谱x涉及到有色金属、半导体材料、金属材料试验、光学和光学测量、农用建筑物、结构和装置、非金属矿、与食品接触的物品与材料、分析化学、无机化学、陶瓷、黑色金属、焊接、钎焊和低温焊、核能工程、钢铁产品、金属矿、食用油和脂肪、含油种子、食品试验和分析的一般方法、耐火材料、电子元器件综合、铁合金、计量学和测量综合、教育、无损检测、艺术和手工艺品、废物、建筑材料、涂料配料、珠宝、光纤通信、肉、肉制品和其他动物类食品、水质、有机化学、航天系统和操作装置、燃料、土质、土壤学、饲料、词汇、石油产品综合、化工产品、犯罪行为防范、医疗设备、摄影技术、表面处理和镀涂、长度和角度测量、有色金属产品、原油、谷物、豆类及其制品、农业和林业、精密机械、珠宝、复合增强材料、导体材料。

在中国标准分类中，杂质光谱x涉及到轻金属及其合金分析方法、贵金属及其合金分析方法、重金属及其合金、电子光学与其他物理光学仪器、半金属与半导体材料综合、、金属无损检验方法、卫生、安全、劳动保护、重金属及其合金分析方法、食品卫生、稀有金属及其合金分析方法、稀土金属及其合金、半金属、生物质能、钢铁与铁合金分析方法、基础标准与通用方法、化学、半金属及半导体材料分析方法、核材料、核燃料及其分析试验方法、电子技术专用材料、稀有高熔点金属及其合金、稀有轻金属及其合金、钢铁产品综合、金属化学分析方法综合、铁矿、石油地质勘探、石油产品综合、铁合金、耐火材料综合、电离辐射计量、电子元件综合、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、教学专用仪器、元素半导体材料、工艺美术品、化学计量、建材产品综合、有机化工原料综合、一般无机试剂、化学试剂综合、涂料基础标准与通用方法、光通信设备、肉类加工制品、基本有机化工原料、燃料油、有色金属矿综合、焦炭、水环境有毒害物质分析方法、不定型耐火材料、定型隔热耐火材料、其他日用品、物理学与力学、光学测试仪器、无机化工原料综合、工业气体与化学气体、一般有机化工原料、通用核仪器、石墨材料、其他非金属矿、石油勘探、开发与集输、犯罪鉴定技术、电化学、热化学、光学式分析仪器、医用射线设备、轻金属及其合金、炭素材料、材料防护、玻璃纤维、粘结材料、原油、冶金原料与辅助材料综合、稀有金属矿、无机盐、重金属矿、核材料、核燃料生产、处理设备和设施、金属理化性能试验方法综合、有色金属及其合金产品综合、颜料基础标准与通用方法、建材原料矿、煤炭分析方法、土壤环境质量分析方法、氧化物、单质。


行业标准-商品检验，关于杂质光谱x的标准

  • SN/T 4020-2013 纯铁杂质含量测定 X射线荧光光谱法
  • SN/T 1504.5-2005 食品容器、包装用塑料原料.第5部分:聚烯烃中杂质元素含量的测定.X射线荧光光谱法
  • SN/T 4140-2015 出口鱼肉香肠和香精中多种杂环胺的测定 液相色谱-质谱/质谱法
  • SN/T 2698-2010 钨制品中杂质元素分析 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • SN/T 2764-2011 萤石中多种成分的测定 X射线荧光光谱法
  • SN/T 3363-2012 铅锭中杂质元素含量的测定.电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • SN/T 2079-2008 不锈钢及合金钢分析方法X-射线荧光光谱法
  • SN/T 3712-2013 石油产品硫含量测定 偏振X-射线荧光光谱法
  • SN/T 3808-2014 磷酸二铵中总磷含量测定 X射线荧光光谱法
  • SN/T 3793-2014 复混肥料中总磷、钾含量测定 X射线荧光光谱法
  • SN/T 3810-2014 尿素和硫酸铵中氮含量测定 X射线荧光光谱法
  • SN/T 2724-2010 进出口高纯石墨中硫的测定 X射线荧光光谱法
  • SN/T 3809-2014 氯化钾和硫酸钾中钾含量测定 X射线荧光光谱法
  • SN/T 3012-2011 钨精矿中三氧化钨含量的测定.X射线荧光光谱法
  • SN/T 2828-2011 出口食品接触材料 木质材料 软木中杂酚油的溶出测定 气相色谱-质谱法
  • SN/T 2047-2008 进口铜精矿中杂质元素含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • SN/T 3231-2012 滑石中石棉含量测定.偏光显微镜-X射线衍射光谱法
  • SN/T 2697-2010 进出口煤炭中硫、磷、砷和氯的测定 X射线荧光光谱法
  • SN/T 2780-2011 氧化铝中铅、镉、铬的测定 波长色散X射线荧光光谱法
  • SN/T 4396-2015 出口食品中荧光增白剂85、荧光增白剂71和荧光增白剂113的测定 液相色谱-质谱/质谱法

国家质检总局，关于杂质光谱x的标准

  • GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
  • GB/T 13374-1992 八氧化三铀中杂质元素的光谱测定 氧化镓载带法
  • GB/T 36590-2018(英文版) 高纯银化学分析方法 微量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • GB/T 29851-2013 光伏电池用硅材料中B、Al受主杂质含量的二次离子质谱测量方法
  • GB/T 29852-2013 光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法
  • GB/T 37211.3-2022 金属锗化学分析方法 第3部分:痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
  • GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪鉴定方法
  • GB/T 10726-1989 化学试剂 溶剂萃取-原子吸收光谱法测定金属杂质通用方法
  • GB/T 10726-2007 化学试剂 溶剂萃取-原子吸收光谱法测定金属杂质通用方法
  • GB/T 28020-2011 饰品.有害元素的测定.X射线荧光光谱法
  • GB/T 31854-2015 光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
  • GB/T 3144-1982 甲苯中烃类杂质的气相色谱测定法
  • GB 3144-1982 甲苯中烃类杂质的气相色谱测定法
  • GB/T 29849-2013 光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
  • GB/T 19500-2004 X射线光电子能谱分析方法通则
  • GB/T 8925-1988 汽油铅含量测定法(X射线光谱法)
  • GB/T 18043-2008 首饰.贵金属含量的测定.X射线荧光光谱法
  • GB/T 18043-2013 首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法
  • GB/T 16597-1996 冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则
  • GB/Z 21277-2007 电子电气产品中限用物质铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选.X射线荧光光谱法
  • GB/T 2590.9-1981 氧化铪中氧化锆量的测定(X射线荧光光谱法)
  • GB/Z 42520-2023 铁矿石X射线荧光光谱分析实验室操作指南
  • GB/T 24574-2009 硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法
  • GB/T 24578-2015 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
  • GB/T 24578-2009 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
  • GB/T 30902-2014 无机化工产品 杂质元素的测定 电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)
  • GB/T 31364-2015 能量色散X射线荧光光谱仪主要性能测试方法
  • GB/T 42360-2023 表面化学分析 水的全反射X射线荧光光谱分析
  • GB/Z 42358-2023 铁矿石 波长色散X射线荧光光谱仪 精度的测定
  • GB/T 16921-1997 金属覆盖层 厚度测量 X射线光谱方法
  • GB/T 8038-1987 焦化甲苯中烃类杂质的气相色谱测定方法
  • GB/T 3391-2002 工业用乙烯中烃类杂质的测定 气相色谱法
  • GB/T 3392-2003 工业用丙烯中烃类杂质的测定 气相色谱法
  • GB/T 8038-2023 焦化甲苯 烃类杂质含量的测定 气相色谱法
  • GB/T 8038-2009 焦化甲苯中烃类杂质的气相色谱测定方法
  • GB/T 3392-2023 工业用丙烯中烃类杂质的测定 气相色谱法
  • GB/T 30905-2014 无机化工产品 元素含量的测定 X射线荧光光谱法
  • GB/T 17606-1998 原油中硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法
  • GB/T 223.79-2007 钢铁 多元素含量的测定 X-射线荧光光谱法(常规法)
  • GB/T 29513-2013 含铁尘泥 X射线荧光光谱化学分析 熔铸玻璃片法
  • GB/T 21114-2007 耐火材料 X射线荧光光谱化学分析 - 熔铸玻璃片法
  • GB/T 17606-2009 原油中硫含量的测定.能量色散X-射线荧光光谱法
  • GB/T 24581-2009 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法
  • GB/T 17040-1997 石油产品硫含量测定法(能量色散X射线荧光光谱法)
  • GB/T 18043-2000 贵金属首饰含量的无损检测方法 X射线荧光光谱法
  • GB/T 8156.10-1987 工业用氟化铝中硫量的测定 X射线荧光光谱分析法
  • GB/T 11140-2008 石油产品硫含量的测定.波长色散X射线荧光光谱法
  • GB/T 43309-2023 玻璃纤维及原料化学元素的测定 X射线荧光光谱法
  • GB/T 31197-2014 无机化工产品 杂质阴离子的测定 离子色谱法
  • GB/T 24582-2009 酸浸取.电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质
  • GB/T 16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱法
  • GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南

RU-GOST R，关于杂质光谱x的标准

行业标准-有色金属，关于杂质光谱x的标准

  • YS/T 361-2006 纯铂中杂质元素的发射光谱分析
  • YS/T 362-2006 纯钯中杂质元素的发射光谱分析
  • YS/T 363-2006 纯铑中杂质元素的发射光谱分析
  • YS/T 364-2006 纯铱中杂质元素的发射光谱分析
  • YS/T 361-1994 纯铂中杂质元素的发射光谱分析
  • YS/T 362-1994 纯钯中杂质元素的发射光谱分析
  • YS/T 363-1994 纯铑中杂质元素的发射光谱分析
  • YS/T 364-1994 纯铱中杂质元素的发射光谱分析
  • YS/T 365-2006 高纯铂中杂质元素的发射光谱分析
  • YS/T 365-1994 高纯铂中杂质元素的发射光谱分析
  • YS/T 1600-2023 碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 739-2010 铝电解质分子比及主要成分的测定X射线荧光光谱法
  • YS/T 1011-2014 高纯钴化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 1012-2014 高纯镍化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 871-2013 高纯铝化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 895-2013 高纯铼化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 897-2013 高纯铌化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 891-2013 高纯钛化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 899-2013 高纯钽化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 901-2013 高纯钨化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 917-2013 高纯镉化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 922-2013 高纯铜化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 1599-2023 高纯锆化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 229.4-2013 高纯铅化学分析方法 第4部分:痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 923.2-2013 高纯铋化学分析方法 第2部分: 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 38.3-2023 高纯镓化学分析方法 第3部分：痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 568.9-2006 氧化铪中氧化锆量的测定（X射线荧光光谱法）
  • YS/T 703-2009 X射线荧光光谱法测定石灰石中CaO、MgO、SiO含量
  • YS/T 483-2005 铜及铜合金分析方法 X射线荧光光谱法 (波长色散型)
  • YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • YS/T 1601-2023 六氯乙硅烷中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

英国标准学会，关于杂质光谱x的标准

  • BS EN 15063-2:2006 铜和铜合金.用波长色散X射线荧光光谱测定法(XRF)测定主要元素和杂质.常规方法
  • BS EN 15063-1:2006 铜和铜合金.用波长色散X射线荧光光谱测定法(XRF)测定主要元素和杂质.常规方法指南
  • BS EN 15063-1:2014 铜和铜合金.用波长色散X射线荧光光谱测定法(XRF)测定主要元素和杂质.常规方法指南
  • BS ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
  • BS EN 12938:2000 锡铅合金分析方法.原子光谱法测定合金和杂质元素含量
  • BS EN 12938:2000(2001) 锡铅合金分析方法.原子光谱法测定合金和杂质元素含量
  • BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序
  • PD ISO/TR 16043:2015 铁矿石 氯含量的测定 X射线荧光光谱法
  • BS ISO 22863-4:2021 烟花 特定化学物质测定的试验方法 X射线荧光光谱法分析铅和铅化合物
  • BS ISO 17196:2014 燃料用二甲醚 (DME). 杂质的测定. 气相色谱法
  • BS ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
  • BS PD ISO/TR 18231:2016 铁矿石. 波长色散X射线荧光光谱仪. 精度的测定
  • PD ISO/TR 18231:2016 铁矿石 波长色散X射线荧光光谱仪 精密度测定
  • BS 6043-2.4:2000 铝制造中使用的碳质材料的取样和测试方法 焦炭电极 X射线荧光光谱分析
  • BS EN 13615:2001(2002) 锡锭的分析方法 用原子光谱法测定锡等级 99.90% 和 99.85% 中的杂质元素含量
  • BS ISO 13424:2013 表面化学分析.X射线光谱.薄膜分析报表
  • BS EN ISO 14596:2007 石油产品 硫含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法
  • PD CEN/TR 10377:2023 波长色散X射线荧光光谱法标准常规方法制备指南
  • BS EN ISO 8754:2003 石油产品 硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法
  • BS ISO 18118:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南

行业标准-机械，关于杂质光谱x的标准

福建省地方标准，关于杂质光谱x的标准

中华全国供销合作总社，关于杂质光谱x的标准

德国标准化学会，关于杂质光谱x的标准

  • DIN EN 15063-2:2007-01 铜和铜合金 波长色散X射线荧光光谱法（XRF）测定主要成分和杂质 第2部分：常规方法
  • DIN EN 15063-2:2007 铜和铜合金.用波长色散X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要成分和杂质.第2部分:常规方法
  • DIN EN 15063-1:2015-03 铜和铜合金.波长色散X射线荧光光谱法(XRF)测定主要成分和杂质.第1部分:常规方法指南
  • DIN EN 15063-1:2007 铜和铜合金.用波长色散X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要成分和杂质.第1部分:常规方法的指导方针
  • DIN 51418-1:1996 X光射线光谱测定法.X光射线散射和X光射线荧光分析(RFA).第1部分:定义和基本原理
  • DIN EN 12938:2000 锡基合金的分析方法.原子光谱仪法测定合金杂质含量
  • DIN 25708:1995 用耦合等离子激发感应光学发射光谱法测定核燃料中的金属杂质
  • DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
  • DIN EN 15063-1:2015 铜和铜合金.用波长色散X-射线荧光光谱法(XRF)测定主要成分和杂质.第1部分:常规方法的指导方针;德文版本EN 15063-1-2014
  • DIN 51418-1:2008 X射线光谱测定法.X射线散射和X射线荧光分析(XRF).第1部分:定义和基本原理
  • DIN EN 14935:2006-09 铜及铜合金纯铜中杂质的测定ET原子吸收光谱法德文版 EN 14935:2006
  • DIN 6868-5:2001 X光诊断图像质量保证.第5部分:牙科X光照相稳定性试验
  • DIN EN 12938:2000-10 锡合金分析方法原子光谱法测定合金元素和杂质元素含量（包括AC:2000）
  • DIN ISO 16129:2020 表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
  • DIN 51418-1:2008-08 射线光谱测定 X 射线发射和 X 射线荧光分析(XRF)第1部分：定义和基本原理
  • DIN EN ISO 14596:2007 石油产品.硫含量的测定.波长色散X射线荧光光谱法
  • DIN EN ISO 8754:2003 石油产品.硫含量的测定.能量分散X射线荧光光谱法
  • DIN EN ISO 14596:2007-12 石油产品-硫含量的测定-波长色散X射线荧光光谱法
  • DIN EN ISO 8754:2003-12 石油产品-硫含量的测定-能量色散X射线荧光光谱法
  • DIN 51418-2:2015 X射线光谱分析.X射线散射和X射线荧光分析(RFA).第2部分:定义和测量、校准及评估的基本原则
  • DIN 51418-2:1996 X射线光谱分析.X射线散射和X射线荧光分析(RFA).第2部分:定义和测量、校准及评估的基本原则
  • DIN EN ISO 3497:2001 金属镀层.镀层厚度测量.X射线光谱测定法

欧洲标准化委员会，关于杂质光谱x的标准

  • EN 15063-1:2014 铜及铜合金.用波长分散X光线荧光光谱法(XRF)测定主要成分及杂质.第1部分:日常方法指南
  • EN 15063-2:2006 铜和铜合金.用波长色散X射线荧光光谱测定法(XRF)测定主要元素和杂质.第2部分:常规方法
  • EN 15063-1:2006 铜和铜合金.用波长色散X射线荧光光谱测定法(XRF)测定主要元素和杂质.第1部分:常规方法指南
  • EN ISO 14596:2007 石油制品.硫含量的测定.波长色散X-射线荧光光谱法
  • CEN/TR 10377:2023 波长色散X射线荧光光谱法标准常规方法制备指南

日本工业标准调查会，关于杂质光谱x的标准

行业标准-农业，关于杂质光谱x的标准

法国标准化协会，关于杂质光谱x的标准

丹麦标准化协会，关于杂质光谱x的标准

  • DS/EN 15063-2:2007 铜和铜合金 波长色散 X 射线荧光光谱法（XRF）主要成分和杂质的测定 第2部分：常规方法
  • DS/EN 15063-1:2007 铜和铜合金 用波长色散 X 射线荧光光谱法（XRF）测定主要成分和杂质 第1部分：常规方法指南
  • DS/EN 12938/AC:2001 锡的分析方法 原子光谱法测定合金元素和杂质元素含量
  • DS/EN 12938:2001 锡的分析方法 原子光谱法测定合金元素和杂质元素含量
  • DS/EN 13615/AC:2003 锡锭的分析方法 用原子光谱法测定锡等级 99.90% 和 99.85% 中的杂质元素含量
  • DS/EN 13615:2002 锡锭的分析方法 用原子光谱法测定锡等级 99.90% 和 99.85% 中的杂质元素含量
  • DS/EN ISO 3497:2001 金属涂层 涂层厚度的测量 X射线光谱法
  • DS/EN ISO 17852:2008 水质 汞的测定 原子荧光光谱法
  • DS/EN ISO 14596:2007 石油产品 硫含量的测定 波长色散 X 射线荧光光谱法
  • DS/EN ISO 8754:2004 石油产品硫含量的测定能量色散X射线荧光光谱法
  • DS/ISO 22863-4:2021 烟花《特定化学物质测定试验方法》第4部分：X射线荧光光谱法（XRF）分析铅及铅化合物

立陶宛标准局，关于杂质光谱x的标准

  • LST EN 15063-2-2007 铜和铜合金 波长色散 X 射线荧光光谱法（XRF）主要成分和杂质的测定 第2部分：常规方法
  • LST EN 15063-1-2007 铜和铜合金 用波长色散 X 射线荧光光谱法（XRF）测定主要成分和杂质 第1部分：常规方法指南
  • LST EN 12938-2000 锡的分析方法 原子光谱法测定合金元素和杂质元素含量
  • LST EN 12938-2000/AC-2003 锡的分析方法 原子光谱法测定合金元素和杂质元素含量
  • LST EN 13615-2002 锡锭的分析方法 用原子光谱法测定锡等级 99.90% 和 99.85% 中的杂质元素含量
  • LST EN 13615-2002/AC-2003 锡锭的分析方法 用原子光谱法测定锡等级 99.90% 和 99.85% 中的杂质元素含量

AENOR，关于杂质光谱x的标准

  • UNE-EN 15063-2:2008 铜和铜合金 波长色散 X 射线荧光光谱法（XRF）主要成分和杂质的测定 第2部分：常规方法
  • UNE-EN 15063-1:2015 铜和铜合金 用波长色散 X 射线荧光光谱法（XRF）测定主要成分和杂质 第1部分：常规方法指南

国家质量监督检验检疫总局，关于杂质光谱x的标准

  • SN/T 1504.5-2017 食品容器、包装用塑料原料 第5部分：聚烯烃中杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
  • SN/T 4377-2015 铜及铜合金废料 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • SN/T 4567-2016 工业黄磷中磷、砷的测定 能量色散X射线荧光光谱法

YU-JUS，关于杂质光谱x的标准

行业标准-黑色冶金，关于杂质光谱x的标准

ES-UNE，关于杂质光谱x的标准

  • UNE-EN 62541-13:2015 铜和铜合金.波长色散X射线荧光光谱法(XRF)测定主要成分和杂质.第1部分:常规方法指南
  • UNE-EN 12938:1999 锡分析方法原子光谱法测定合金元素和杂质元素含量
  • UNE-EN 13615:2001 锡锭分析方法 原子光谱法测定99.90%和99.85%锡级中杂质元素含量
  • UNE-EN 13615:2001/AC:2002 锡锭分析方法 用原子光谱法测定 99,90 % 和 99,85 % 锡品位中杂质元素含量

GOSTR，关于杂质光谱x的标准

  • GOST 27566-2020 特纯物质 原子发射光谱测定液相物质中的化学元素杂质
  • GOST ISO 8754-2013 石油产品 能量色散 X 射线荧光光谱法测定硫含量

韩国科技标准局，关于杂质光谱x的标准

RO-ASRO，关于杂质光谱x的标准

  • STAS 10837/2-1977 硒、铁、硅、银、铜、镁、铅、锡、锑、砷杂质半定量光谱测定

HU-MSZT，关于杂质光谱x的标准

国家能源局，关于杂质光谱x的标准

  • NB/T 10470-2020 固体生物质燃料砷、磷、氯测定方法 X射线荧光光谱法
  • SY/T 7420-2018 X射线荧光光谱元素录井规范
  • NB/SH/T 0977-2019 轻质油品中氯含量的测定 单波长色散X射线荧光光谱法
  • SH/T 0842-2017 轻质液体燃料中硫含量的测定 单波长色散X射线荧光光谱法

行业标准-电子，关于杂质光谱x的标准

  • SJ 20744-1999 半导体材料杂质含量红外吸收光谱分析通用导则
  • SJ/T 10553-2021 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
  • SJ/T 10552-2021 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法
  • SJ/T 10552-1994 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法
  • SJ/T 10553-1994 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
  • SJ 2594-1985 高纯四氯化硅中硼及金属杂质的化学光谱分析方法
  • SJ/T 10551-1994 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
  • SJ/T 10551-2021 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
  • SJ/T 11494-2015 硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
  • SJ 20713-1998 砷化镓用高纯镓中铜、锰、镁、钒、钛等12种杂质的等离子体光谱分析法
  • SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法

CZ-CSN，关于杂质光谱x的标准

  • CSN 40 4009-1974 放射质制备过程中通过发射光谱法测定重金属和杂质浓度
  • CSN 66 2108-1983 石油苯．苯含量及其杂质的气相色谱法测定
  • CSN ISO 6332:1995 水质．铁的测定．利用1,10-邻二氮杂菲的分光光度法

中国团体标准，关于杂质光谱x的标准

  • T/SDAS 4-2016 高纯金化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • T/GAIA 007.1-2021 油脂中外源杂质的测定 第一部分：难挥发外源杂质的测定 液相色谱-串联质谱法
  • T/CNFAGS 6-2023 尿素系统含氨介质中硫、氯含量的测定X射线荧光光谱法
  • T/CAIA SH003-2015 稻米 镉的测定 X射线荧光光谱法
  • T/CMES 08001-2020 铬铁 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原发射光谱法
  • T/CSTM 00901-2023 手持式X射线荧光光谱仪校准规范
  • T/CMES 08002-2020 铌铁 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • T/GAIA 007.2-2021 油脂中外源杂质的测定 第二部分：易挥发外源杂质的测定 顶空固相微萃取/气相色谱-质谱法
  • T/CACE 064-2022 煤气化渣成分测定 X射线荧光光谱法
  • T/QAS 017-2020 氯化钾中K、Na、Ca、Mg含量的测定 X射线荧光光谱法
  • T/YNBX 081-2023 农产品产地土壤重金属快速检测 X-射线荧光光谱法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于杂质光谱x的标准

  • GB/T 36590-2018 高纯银化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
  • GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
  • GB/T 16597-2019 冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则
  • GB/T 21114-2019 耐火材料 X射线荧光光谱化学分析 熔铸玻璃片法
  • GB/T 41153-2021 碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的测定 二次离子质谱法

工业和信息化部，关于杂质光谱x的标准

  • YS/T 1506-2021 高纯铱化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 1494-2021 高纯金化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 1504-2021 高纯钯化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 1530-2022 高纯锡化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 1495-2021 高纯铑化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 1493-2021 高纯铂化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 1473-2021 高纯钼化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 1505-2021 高纯钌化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 1347-2020 高纯铪化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
  • YS/T 483-2022 铜及铜合金分析方法 X射线荧光光谱法 （波长色散型）
  • YS/T 1033-2015 干式防渗料元素含量的测定 X射线荧光光谱分析法
  • YS/T 1164-2016 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
  • YS/T 1261-2018 铪化学分析方法 杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • YB/T 4590-2017 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法

澳大利亚标准协会，关于杂质光谱x的标准

  • AS 4862:2000 铅和铅合金．杂质和合金元素的测定．原子发射光谱法
  • AS 4699:2000 锌和锌合金 杂质和合金元素的测量 原子发射光谱法
  • AS 4861:2004 铝及铝合金．杂质和合金元素的测定．原子发射光谱法
  • AS 2563:1996 波长色散X射线荧光光谱仪．精度测定
  • AS 4392.1:1996 重矿砂．波长色散X射线荧光光谱法分析．钛矿砂
  • AS 2563:2019 铁矿石 波长色散X射线荧光光谱仪 精密度测定
  • AS 4392.2:1997 重矿砂．波长色散X射线荧光光谱法分析．诰石材料
  • AS 4392.1:1996/Amdt 2:1999 重矿砂 波长色散 X 射线荧光光谱法分析 含钛矿砂
  • AS 4392.1:1996/Amdt 1:1996 重矿砂 波长色散 X 射线荧光光谱法分析 含钛矿砂
  • AS ISO 15472:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．能量标度的校准
  • AS 2879.7:1997(R2013) 氧化铝微量元素的测定波长色散X射线荧光光谱法

国家计量检定规程，关于杂质光谱x的标准

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于杂质光谱x的标准

  • GB/T 33352-2016 电子电气产品中限用物质筛选应用通则 X射线荧光光谱法
  • GB/T 34534-2017 焦炭 灰成分含量的测定 X射线荧光光谱法

国际标准化组织，关于杂质光谱x的标准

  • ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
  • ISO 5279:1980 甲苯.烃类杂质的测定.气相色谱法
  • ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
  • ISO/TR 16043:2015 铁矿石. 氯含量的测定. X射线荧光光谱法
  • ISO 17858:2007 水质.测定类似二氧(杂)芑的多氯联苯.使用气相色谱/质谱测量法
  • ISO 5916:1982 工业用氯甲烷 杂质的测定 气相色谱法
  • ISO/TR 18231:2016 铁矿石. 波长色散X射线荧光光谱仪. 精度测定
  • ISO 17470:2004 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法分析质量点的指南
  • ISO 6379:1981 工业用乙烯 烃类杂质的测定 气相色谱法
  • ISO 6380:1981 工业用丙烯 烃类杂质的测定 气相色谱法
  • ISO 17196:2014 燃料用二甲醚 (DME). 杂质的测定. 气相色谱法
  • ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
  • ISO 17852:2006 水质.汞测定.原子荧光光谱法
  • ISO 6378:1981 工业用丁二烯 烃类杂质的测定 气相色谱法
  • ISO 16795:2004 核能.用X射线荧光光谱法测定钆燃料丸的Gd2O3含量
  • ISO/TR 18392:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序
  • ISO 14596:2007 石油制品.硫含量的测定.波长色散X-射线荧光光谱法
  • ISO 14596:1998 石油产品 硫含量的测定 波长色散X-射线荧光光谱法
  • ISO/DIS 16795 核能—X射线荧光光谱法测定含氧化铀球团中Gd2O3含量
  • ISO 18118:2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
  • ISO 18118:2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
  • ISO 3497:2000 金属覆盖层 镀层厚度的测量 X射线光谱法
  • ISO 10810:2019 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南

PT-IPQ，关于杂质光谱x的标准

  • NP 2202-1999 水质．铁元素的测量，通过邻二氮杂菲光谱测定法来进行

内蒙古自治区标准，关于杂质光谱x的标准

  • DB15/T 1243-2017 树脂中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法

行业标准-教育，关于杂质光谱x的标准

行业标准-能源，关于杂质光谱x的标准

  • NB/SH/T 0842-2017 轻质液体燃料中硫含量的测定 单波长色散X射线荧光光谱法

青海省标准，关于杂质光谱x的标准

  • DB63/T 1678-2018 唐卡中矿物颜料的测定 X射线荧光光谱法（能谱法）
  • DB63/T 1611-2017 光纤预制棒原料四氯化硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
  • DB63/T 1319-2014 氯化钾中K、Na、Ca、Mg含量的测定 X射线荧光光谱法

KR-KS，关于杂质光谱x的标准

广东省标准，关于杂质光谱x的标准

国家计量技术规范，关于杂质光谱x的标准

美国材料与试验协会，关于杂质光谱x的标准

  • ASTM UOP913-92 气相色谱法测定苯乙烯中的杂质
  • ASTM E1621-21 X射线发射光谱分析标准指南
  • ASTM E1621-05 X射线发散光谱分析标准指南
  • ASTM D5381-93(2003) 颜料和填充剂的X射线萤光(XRF)光谱分析
  • ASTM D5381-93(1998) 颜料和填充剂的X射线萤光(XRF)光谱分析
  • ASTM F2405-04(2011) 用高质量分辨率辉光放电质谱仪测量高纯度铜中痕量金属杂质的标准试验方法
  • ASTM F1710-97 使用高分辨率发光质谱仪测试电子级钛中痕量金属杂质的标准试验方法
  • ASTM F1710-97(2002) 使用高分辨率发光质谱仪测试电子级钛中痕量金属杂质的标准试验方法
  • ASTM E995-04 螺旋电子光谱法和X射线光电光谱法中减去背景技术的标准指南
  • ASTM F1593-97 应用高质量分辩率辉光放电质谱计测定电子级铝中微量金属杂质的标准试验方法
  • ASTM F2405-04 使用高质量分辨率辉光放电质谱仪测量高纯度铜中痕量金属杂质的标准试验方法
  • ASTM F1593-97(2002) 应用高质量分辩率辉光放电质谱计测定电子级铝中微量金属杂质的标准试验方法
  • ASTM F1593-08 应用高质量分辩率辉光放电质谱计测定电子级铝中微量金属杂质的标准试验方法
  • ASTM F1710-08 应用高质量分辩率辉光放电质谱计测定电子级钛中微量金属杂质的标准试验方法
  • ASTM F1593-08(2016) 使用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级铝中痕量金属杂质的标准试验方法
  • ASTM F1710-08(2016) 使用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级钛中痕量金属杂质的标准试验方法
  • ASTM E995-16 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南
  • ASTM E996-04 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
  • ASTM E996-10 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
  • ASTM UOP755-92 气相色谱法测定高纯乙苯中的痕量杂质
  • ASTM UOP1026-19 通过气相色谱法追踪 LPG 样品中的 BTEX 杂质
  • ASTM D5381-93(2021) 颜料和填充剂的X射线荧光（XRF）光谱的标准指南
  • ASTM E1621-13 波长色散X射线荧光光谱法元素分析的标准指南
  • ASTM D5381-93(2014) 颜料和填充剂中X射线荧光(XR)光谱仪的标准指南
  • ASTM E996-94(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
  • ASTM B890-20 通过X射线荧光光谱法测定钨合金和钨硬质合金的金属成分的标准测试方法
  • ASTM F1724-96 用酸性萃取原子吸收光谱法测量多晶硅表面金属杂质的标准试验方法
  • ASTM E539-11 利用 X 射线荧光光谱法分析钛合金的标准试验方法
  • ASTM D5381-93(2009) 颜料和填充剂的X射线荧光光谱测定法的标准指南
  • ASTM E1085-09 用X 射线荧光光谱法分析低合金钢的标准试验方法
  • ASTM E2465-19 用X射线荧光光谱法分析镍基合金的标准试验方法
  • ASTM F1845-97 用高质量减少辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中微量金属杂质的标准试验方法
  • ASTM F1845-97(2002) 用高质量减少辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中微量金属杂质的标准试验方法
  • ASTM F1845-08 用高质量减少辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中微量金属杂质的标准试验方法
  • ASTM E1085-95(2004) 金属的X射线辐射光谱测定分析试验方法
  • ASTM E1085-95(2000) 金属的X射线辐射光谱测定分析试验方法
  • ASTM E1085-95(2004)e1 金属的X射线辐射光谱测定分析试验方法

农业农村部，关于杂质光谱x的标准

  • NY/T 3904-2021 肉及肉制品中杂环胺检测 液相色谱-串联质谱法

空间数据系统咨询委员会，关于杂质光谱x的标准

VN-TCVN，关于杂质光谱x的标准

台湾地方标准，关于杂质光谱x的标准

IN-BIS，关于杂质光谱x的标准

  • IS 12803-1989 X射线荧光光谱仪分析水硬性水泥的方法
  • IS 12737-1988 半导体 X 射线能量光谱仪的标准测试程序

吉林省地方标准，关于杂质光谱x的标准

PL-PKN，关于杂质光谱x的标准

  • PN H04239-1992 硬质合金的化学分．通X射线荧光光谱对样品溶液中钴，钛和钨含量测定

行业标准-轻工，关于杂质光谱x的标准

  • QB/T 1912-1993 眼镜架金属镀层厚度测试方法 X荧光光谱法
  • QB/T 1135-2006 首饰 金 银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法
  • QB/T 1135-1991 首饰金银覆盖层厚度的测定方法 X射线荧光光谱法

机械电子工业部，关于杂质光谱x的标准

BELST，关于杂质光谱x的标准

  • STB 1935-2009 原油 波色散X射线荧光光谱法测定有机氯含量

行业标准-中国金属协会，关于杂质光谱x的标准

行业标准-地质，关于杂质光谱x的标准

行业标准-公共安全标准，关于杂质光谱x的标准

  • GA/T 1655-2019 法庭科学 泥土元素成分检验 X射线荧光光谱法
  • GA/T 1995-2022 法庭科学 金属检验 波长色散X射线荧光光谱法

工业和信息化部/国家能源局，关于杂质光谱x的标准

ZA-SANS，关于杂质光谱x的标准

行业标准-建材，关于杂质光谱x的标准

  • JC/T 2027-2010 高纯石英中杂质含量的测定方法——电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • JC/T 2133-2012 半导体抛光液用硅溶胶中杂质元素含量的测定 —电感耦合等离子体原子发射光谱法

美国国防部标准化文件（含MIL标准），关于杂质光谱x的标准

(美国)全国电气制造商协会，关于杂质光谱x的标准

  • NEMA XR 16-1991 X光影像增强系统的系统对比度和系统杂光系数测定的试验标准

行业标准-石油化工，关于杂质光谱x的标准

  • SH/T 0742-2004 汽油中硫含量测定法（能量色散X射线荧光光谱法）
  • SH/T 1745-2004 工业用异丙苯纯度及杂质的测定 气相色谱法
  • SH/T 1497-2002 工业用叔丁醇含量及杂质的测定(气相色谱法)
  • SH/T 1497-2022 工业用叔丁醇纯度及杂质的测定 气相色谱法

四川省标准，关于杂质光谱x的标准

甘肃省地方标准，关于杂质光谱x的标准

  • DB62/T 2761-2017 不锈钢除尘灰和铬质引流砂中多元素含量的测定 波长色散X-射线荧光光谱法

行业标准-核工业，关于杂质光谱x的标准

  • EJ/T 20170-2018 金属铀中20种微量杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

行业标准-粮食，关于杂质光谱x的标准

  • LS/T 6115-2016 粮油检验 稻谷中镉含量快速测定 X射线荧光光谱法

BR-ABNT，关于杂质光谱x的标准

陕西省标准，关于杂质光谱x的标准

  • DB61/T 1162-2018 土壤 重金属元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法

湖北省地方标准，关于杂质光谱x的标准

  • DB42/T 2096-2023 绿松石 钾、钒、铬、锌、钼、钡含量的测定 X射线荧光光谱法

AT-ON，关于杂质光谱x的标准

TR-TSE，关于杂质光谱x的标准

  • TS 3181-1978 金属覆盖层　镀层厚度的测量．X射线光谱法

杂质光谱x，杂质 光谱，光谱杂质，杂质光谱，红外 光谱 杂质，x光谱，红外 光谱 杂质峰，x光光谱，x荧光 光谱，x光 光谱，x光谱 鉴定，x衍射+ 光谱，x射线光谱 ，x光谱检测，x射线 光谱，x荧光谱，光谱x射线，x 射线光谱，x衍射光谱，红外光谱杂质峰。

 

可能用到的仪器设备

 

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FL375如海光电其它光谱仪 荧光光谱法测AGEs含量

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