维 晶体

本专题涉及维 晶体的标准有934条。

国际标准分类中，维 晶体涉及到半导体材料、分析化学、无机化学、核能工程、物理学、化学、力、重力和压力的测量、化工产品、玻璃、金属材料试验、绝缘材料、光学和光学测量、频率控制和选择用压电器件与介质器件、光电子学、激光设备、工业炉、太阳能工程、非金属矿、杀虫剂和其他农用化工产品、电子元器件综合、电池和蓄电池、绝缘流体、电子显示器件、半导体分立器件、有色金属、陶瓷、燃料、金属的腐蚀、教育、空气质量、能源和热传导工程综合、词汇、辐射防护、计量学和测量综合、电工器件、糖、糖制品、淀粉、医疗设备、航空航天用电气设备和系统、电子设备用机械构件、电影、辐射测量、黑色金属、涂料配料、土质、土壤学、微生物学、燃气轮机和蒸汽轮机、蒸汽机、长度和角度测量、滤波器、航空航天制造用材料、手持工具、航空器和航天器综合、实验室医学、粒度分析、筛分、金属生产、小型船、字符符号、技术制图、电学、磁学、电和磁的测量、食品试验和分析的一般方法、集成电路、微电子学、切削工具、塑料、航空航天发动机和推进系统、金属矿、建筑材料、钟表学、特殊工作条件下用电气设备、电磁兼容性(EMC)、摄影技术、无屑加工设备、紧固件、地面服务和维修设备。

在中国标准分类中，维 晶体涉及到元素半导体材料、电化学、热化学、光学式分析仪器、人工晶体、核探测器、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、工业气体与化学气体、工业技术玻璃、仪器、仪表用材料和元件、特种玻璃、半金属与半导体材料综合、电子技术专用材料、半金属及半导体材料分析方法、电工绝缘材料及其制品、基础学科综合、石英晶体、压电元件、激光器件、金属物理性能试验方法、金属化学性能试验方法、工业电热设备、物理电源、合成材料综合、农药、太阳能、金属无损检验方法、时间、频率计量、、金相检验方法、滤波器、延迟线、稀土金属及其合金、、、教学专用仪器、电站、电力系统运行检修、能源综合、标准化、质量管理、、辐射防护与监测综合、化学试剂综合、电力半导体器件、部件、、物理学与力学、放射卫生防护、眼科与耳鼻咽喉科手术器械、医用光学仪器设备与内窥镜、电子元器件、放映设备及其配件、连接器、核仪器与核探测器综合、通用核仪器、涂料、固体废弃物、土壤及其他环境要素采样方法、土壤、水土保持、土壤环境质量分析方法、半金属、开关、Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、炭素材料、医学、犯罪鉴定技术、燃料油、金属化学分析方法综合、航空与航天用金属铸锻材料、放大镜与显微镜、电动工具、半导体光敏器件、炭素材料综合、环境条件、化工机械与设备综合、电源综合、基础标准和通用方法、光电子器件综合、其他、小型船专用装备、电子光学与其他物理光学仪器、调味品、航空、航天材料基础标准、术语、符号、核材料、核燃料及其分析试验方法、控制继电器、基础标准与通用方法、半导体集成电路、磨料与磨具、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、职业病诊断标准、电子束管、计算机应用、商业、贸易、合同、矫形外科、骨科器械、中国药典及成册药品标准、基础标准与通用方法、通用电子测量仪器设备及系统、电子元件综合、半导体分立器件综合、农、牧、副、渔用汽车、半导体三极管、航天器用能源设备、热学计量、半导体二极管、粘结材料、时间计量仪器、标准化、质量管理、电容器、计量综合、无线电计量、标准化、质量管理、电工材料和通用零件综合、照相级化学药品、感光材料、波导同轴元件及附件、建筑玻璃、安装、接线连接件、紧固件、地面测试设备、技术管理、继电器、斩波器、半导体整流器件、基础标准与通用方法、教育、学位、学衔、电子试验用仪器设备。


国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于维 晶体的标准

国家质检总局，关于维 晶体的标准

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于维 晶体的标准

  • GB/T 36081-2018 纳米技术 硒化镉量子点纳米晶体表征 荧光发射光谱法
  • GB/T 22319.9-2018 石英晶体元件参数的测量 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量
  • GB/T 22319.11-2018 石英晶体元件参数的测量 第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法
  • GB/T 35118-2017 掺铒钇铝石榴石激光晶体光学性能测量方法
  • GB/T 35316-2017 蓝宝石晶体缺陷图谱
  • GB/T 35316-2017 蓝宝石晶体缺陷图谱
  • GB/T 34612-2017 蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法
  • GB/T 14142-2017 硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法
  • GB/T 12273.1-2017 有质量评定的石英晶体元件 第1部分:总规范

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局，关于维 晶体的标准

国际电工委员会，关于维 晶体的标准

  • IEC TS 63202-4:2022 光伏电池.第4部分:晶体硅光伏电池的光和高温诱导退化的测量
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  • IEC 63284-2022 半导体器件.氮化镓晶体管用电感负载切换的可靠性试验方法
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  • IEC TS 63202-2:2021 光伏电池.第2部分:晶体硅太阳能电池的电致发光成像
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  • IEC 60444-6:2021 石英晶体元件参数的测量.第6部分:驱动电平相关性（DLD）的测量
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  • IEC 60444-6:2021 RLV 石英晶体元件参数的测量第6部分:驱动电平相关性（DLD）的测量
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  • IEC 61215-1-1:2021 RLV 地面光伏组件.设计鉴定和型式认证.第1-1部分:晶体硅光伏组件试验的特殊要求
  • IEC 61215-1-1:2021 地面光伏（Pv）模块 - 设计鉴定和型式认证 - 第1-1部分:晶体硅光伏（Pv）模块测试的特殊要求
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  • IEC TS 62804-1-1:2020 光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1-1部分:晶体硅.分层
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  • IEC 63202-1-2019 光伏电池第1部分:晶体硅光伏电池光致降解的测量
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  • IEC 60122-4-2019 经质量评定的石英晶体单元第4部分:带热敏电阻的晶体单元
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  • IEC TS 61994-4-1:2018 频率控制、选择和检测用压电、介电和静电器件及相关材料术语第4-1部分:压电材料合成石英晶体
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  • IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 CSV 经质量评定的石英晶体元件.第1部分:总规范
  • IEC 60122-1-2002/AMD1-2017 修改件1.经质量评定的石英晶体元件.第1部分:总规范
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  • IEC 60444-8:2016 石英晶体单位参数测量第8部分:表面贴装石英晶体单元的测试夹具
  • IEC 60444-8-2016 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
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  • IEC 60758:2016 合成石英晶体 - 规格和使用指南
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  • IEC 61215-1-1:2016 地面光伏（Pv）模块 - 设计鉴定和型式认证 - 第1-1部分:晶体硅光伏（Pv）模块测试的特殊要求
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  • IEC TS 62804-1-2015 光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1部分:晶体硅
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  • IEC 61435:2013 核仪器 - 用于辐射检测器的高纯度锗晶体 - 基本特性的测量方法
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  • IEC 60444-6:2013 石英晶体单位参数测量 - 第6部分:驱动电平依赖性测量（Dld）
  • IEC 60444-6-2013 石英晶体元件参数的测量. 第6部分: 激励电平相关性 (DLD) 的测量
  • IEC 60679-3:2012 评估质量的石英晶体控制振荡器 - 第3部分:标准概述和引线连接
  • IEC 60679-3-2012 石英晶体受控振荡器的评定标准.第3部分:标准外形和引线连接
  • IEC 60679-6:2011 评定质量的石英晶体控制振荡器 - 第6部分:石英晶体振荡器和SAW振荡器的相位抖动测量方法 - 应用指南
  • IEC 60122-3:2010 评估质量的石英晶体单位 - 第3部分:标准轮廓和引线连接
  • IEC 60444-11:2010 石英晶体元件参数的测量.第11部分:用自动网络分析仪技术和误差校正测定负载谐振频率fL和有效负载电容CLeff的标准方法
  • IEC 60122-3 Edition 4.0-2010 石英晶体元件质量评定.第3部分:标准外形线和引线接头
  • IEC 60689:2008 在10 Khz到200 Khz和标准值范围内调整叉石英晶体单元的测量和测试方法
  • IEC 60758:2008 合成石英晶体.规范和使用指南
  • IEC 60758-2008 合成石英晶体.使用规范和指南
  • IEC 60689-2008 用于10kHz～200kHz及标准值的音叉石英晶体元件的测量和试验方法
  • IEC/PAS 60679-6-2008 经质量评估的石英晶体受控振荡器.第6部分:石英晶体振荡器和SAW振荡器用相位抖动测量法.应用指南
  • IEC TS 61994-4-1-2007 频率控制和选择用压电和介电器件术语第4-1部分:压电材料合成石英晶体
  • IEC TS 61994-4-1:2007 频率控制和选择用压电和介电器件术语第4-1部分:压电材料合成石英晶体
  • IEC/TS 61994-4-1-2007 频率控制和选择用压电和介电装置.术语.第4-1部分:压电材料.合成石英晶体
  • IEC 60444-9:2007 石英晶体元件参数的测量第9部分:压电晶体元件杂散共振的测量
  • IEC 60444-9-2007 石英晶体元件参数测量.第9节:压电晶体元件寄生振荡测量
  • IEC 61215:2005 晶体硅地面光伏（pv）模块 - 设计资格和型式认可
  • IEC 61215-2005 地面用晶体硅光伏组件.设计鉴定和定型
  • IEC 60758-2004 人造石英晶体.规范和使用指南
  • IEC 60444-7:2004 石英晶体单位参数的测量 - 第7部分:石英晶体单元的活动和频率下降的测量
  • IEC 60444-7-2004 石英晶体元件参数的测量.第7部分:石英晶体元件的放射性和频率下降测量
  • IEC 60444-8-2003 石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
  • IEC 60444-8:2003 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装石英晶体元件的试验夹具
  • IEC 60679-1 AMD 2-2003 经质量评定的石英晶体控制振荡器.第1部分:总规范.修改件2
  • IEC 60122-1:2002 评估质量的石英晶体单位 - 第1部分:通用规范
  • IEC 60122-1-2002 经过质量评定的石英晶体元件.第1部分:总规范
  • IEC 60758 AMD 2-2001 人造石英晶体 规范和使用指南 修改2
  • IEC 60679-3-2001 经质量评定的石英晶体控制振荡器 第3部分：标准外形和引线连接
  • IEC 60122-3-2001 经质量评定的石英晶体元件 第3部分：标准外形和引线连接
  • IEC/TS 61994-4-1-2001 频率控制和选择用压电和介电器件 术语 第4-1部分：压电材料 合成石英晶体
  • IEC 60444-1 AMD 1-1999 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第1部分:用π型网络零相位技术测量石英晶体元件的谐振频率和谐振电阻的基本方法 修改1
  • IEC 60758 AMD 1-1997 人造石英晶体 规范和使用指南 修改1
  • IEC 61435-1996 核仪器 放射探测器用高纯度锗晶体
  • IEC 60444-5:1995 石英晶体单位参数的测量 - 第5部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正确定等效电参数的方法
  • IEC 61829:1995 晶体硅光伏（PV）阵列 - 现场测量I-V特性
  • IEC 60444-5-1995 石英晶体元件参数的测量 第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法
  • IEC 61829-1995 晶体硅光伏方阵 I-V特性现场测量
  • IEC 60444-6-1995 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量
  • IEC 60122-2-1:1991/AMD1:1993 修改件1.频率控制和选择用石英晶体元件.第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件的使用指南.第1节:微处理器时钟电源用石英晶体元件
  • IEC 60122-2-1-1991/AMD1-1993 修改件1.频率控制和选择用石英晶体元件.第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件的使用指南.第1节:微处理器时钟电源用石英晶体元件
  • IEC 60122-2-1 AMD 1-1993 频率控制和选择用石英晶体元件 第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用指南 第1节:微处理器钟用石英晶体元件 修改1
  • IEC 61215-1993 地面用晶体硅光伏组件 设计鉴定和定型
  • IEC 60758-1993 人造石英晶体 规范和使用指南
  • IEC 61178-2-1:1993 石英晶体单元 - IEC电子元件质量评估系统（IECQ）中的规范 - 第2部分:部分规范 - 能力认证 - 第1节:空白详细规范
  • IEC 61178-2:1993 石英晶体单元 - 电子元件Iec质量评估系统（iecq）中的规范 - 第2部分:部分规范 - 能力认证
  • IEC 61178-3:1993 石英晶体单元 - IEC电子元件质量评估系统（IECQ）中的规范 - 第3部分:部分规范 - 资质认证
  • IEC 61178-3-1:1993 石英晶体单元 - IEC电子元件质量评估系统（IECQ）中的规范 - 第3部分:部分规范 - 资质认证 - 第1节:空白详细规范
  • IEC 61178-3-1993 石英晶体元件 IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)规范 第3部分:分规范 鉴定批准
  • IEC 61178-2-1-1993 石英晶体元件 IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)规范 第2部分:分规范 能力批准 第1节:空白详细规范
  • IEC 61178-1-1993 石英晶体单元.IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).第1部分:总规范
  • IEC 61178-2-1993 石英晶体元件 IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)规范 第2部分:分规范 能力批准
  • IEC 61178-3-1-1993 石英晶体元件 IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)规范 第3部分:分规范 鉴定批准 第1节:空白详细规范
  • IEC 60891 AMD 1-1992 晶体硅光伏器件实测I-V特性的温度和辐照度校正方法 修改1
  • IEC 61080:1991 石英晶体等效电参数测量指南
  • IEC 61080-1991 石英晶体元件等效电参数测量指南
  • IEC 60122-2-1:1991 用于频率控制和选择的石英晶体单元 - 第2部分:用于频率控制和选择的石英晶体单元使用指南 - 第一部分:用于微处理器时钟供应的石英晶体单元
  • IEC 60122-2-1-1991 频率控制和选择用石英晶体元件 第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用指南 第1节:微处理器时钟用石英晶体元件
  • IEC 60679-3-1989 石英晶体受控振荡器.第3部分:标准轮廓和引线连接
  • IEC 60368-2-1:1988 压电滤波器 第2部分:使用压电滤波器的指南 第一部分 - 石英晶体滤波器
  • IEC TR 60444-4-1988 在pi网络中用零相位技术测量石英晶体单元参数 第4部分:负载谐振频率fL、负载谐振电阻RL的测量方法和石英晶体单元（最高30 MHz）其他衍生值的计算方法
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  • IEC 60368-2-1-1988 压电滤波器 第2部分:压电滤波器使用指南 第1节:石英晶体滤波器
  • IEC 60444-4-1988 用π型网络的零相位技术测量石英谐振器参数.第4部分:石英晶体元件负荷谐振频率fl、负荷谐振电阻Rl的测量方法,以及石英晶体元件其他导出值的计算方法(频率小于30MHz)
  • IEC 60891-1987 晶体硅光伏器件实测I-V特性的温度和辐照度校正方法
  • IEC 60444-1:1986 在Pi网络中通过零相位技术测量石英晶体单位参数 - 第1部分:通过零相位技术在Pi网络中测量石英晶体单元的谐振频率和谐振电阻的基本方法
  • IEC/TR 60444-3-1986 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第3部分:利用有并联电容Co补偿的π型网络相位技术测量频率达200MHz的石英晶体元件两端网络参数的基本方法
  • IEC 60444-1-1986 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第1部分:用π型网络零相位技术测量石英晶体元件的谐振频率和谐振电阻的基本方法
  • IEC 60679-1 AMD 1-1985 石英晶体受控振荡器.第1部分:一般信息、试验条件和方法
  • IEC 60122-2:1983 石英晶体频率控制和选择 - 第2部分:使用指南的石英晶体频率控制和选择
  • IEC 60122-2-1983 频率控制和选择用石英晶体元件 第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用指南
  • IEC 60444-2:1980 在pi网络中通过零相位技术测量石英晶体单位参数 第2部分:用于测量石英晶体单元的运动电容的相位偏移方法
  • IEC 60444-2-1980 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第2部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法
  • IEC 60689-1980 手表用32kHz石英晶体元件的测量方法、试验方法和标准值
  • IEC 60679-1-1980 石英晶体受控振荡器.第1部分:一般信息、试验条件和方法
  • IEC 60314 AMD 1-1979 石英晶体谐振器的温度控制装置.第1次修改
  • IEC 60149-3-1975 电子插塞器件用插座和附件.第3部分:晶体盒用插座
  • IEC 60314-1970 石英晶体谐振器的温度控制装置
  • IEC/TR 60283-1968 滤波器晶体单元的无用谐振频率和等效电阻的测量方法

英国标准学会，关于维 晶体的标准

  • BS EN IEC 60444-6-2021 石英晶体元件参数的测量. 第6部分: 激励电平相关性 (DLD) 的测量
  • BS EN 60444-8-2017 石英晶体元件参数的测量.表面安装石英晶体元件用试验装置
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  • BS EN 60758-2016 人造石英晶体.使用规范和指南
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  • BS ISO 15382-2015 辐射防护. 眼内晶体, 皮肤和四肢的剂量监测程序
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  • BS PD IEC/TS 62804-1-2015 光伏 (PV) 模块. 检测电位诱导衰减的试验方法. 晶体硅
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  • BS ISO 27027-2014 航空航天系列.使用电晶体的遥控功率控制器.通用性能要求
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  • BS EN 60444-6-2013 石英晶体元件参数的测量.激励电平相关性(DLD)的测量
  • BS IEC 61435-2013 核仪器.放射探测器用高纯度锗晶体.基本特性的测量方法
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  • BS EN ISO 12782-2-2012 土质.土壤和材料成分的浸出和物种形成的地球化学模型参数.带连二亚硫酸盐的氧化铁和氢氧化铁晶体的萃取
  • BS EN 60679-6-2011 经质量评估的石英晶体受控振荡器.石英晶体振荡器和SAW振荡器的相位抖动测量方法.应用指南
  • BS EN 60122-3-2010 经质量评定的石英晶体件.标准外形和引线连接
  • BS EN 60444-11-2010 石英晶体元件参数的测量.使用自动网络分析技术和纠错法测定负载共振频率L和有效负载电容CLeff的标准方法
  • BS EN 50513-2009 太阳能晶片.太阳能电池制造晶体硅晶片的数据表和产品信息
  • BS EN 60758-2009 人造石英晶体.使用规范和指南
  • BS ISO 27027-2008 航空航天系列.使用电晶体的遥控功率控制器.通用性能要求
  • BS DD IEC/TS 61994-4-1-2008 频率控制和选择用压电器件与介质器件.术语表.压电材料.人造石英晶体
  • BS EN 60444-9-2007 石英晶体元件参数测量.压电晶体元件寄生振荡测量
  • BS EN ISO 11979-10-2006 眼科植入物.眼内透镜.晶体眼人工晶体植入术
  • BS EN 50461-2006 太阳能电池.晶体硅太阳能电池的数据表信息和产品数据
  • BS ISO 20203-2006 铝生产用碳素材料.煅烧焦炭.用X射线衍射法测定煅烧石油焦炭的晶体粒度
  • BS EN 61215-2005 晶体硅地表光伏电池组件.设计合格鉴定和型式批准
  • BS EN 60758-2005 人造石英晶体.规范和使用指南
  • BS EN 60444-7-2004 石英晶体元件参数的测量.石英晶体元件的活性和频率下降的测量
  • BS EN 60444-8-2003 石英晶体元件参数的测量.表面安装石英晶体元件用试验装置
  • BS EN 60122-1-2002 经质量评定的石英晶体元件.总规范
  • BS EN 13708-2002 食品.用电子自旋共振光谱法检验经辐照的含晶体糖的食品
  • BS EN 60679-5-1-1998 经质量评估的石英晶体受控振荡器.空白详细规范.合格鉴定
  • BS EN 61747-5-1998 液态晶体和固态显示装置.环境、耐久性和机械试验方法
  • BS EN 60679-5-1998 经质量评估的石英晶体受控振荡器.分规范.合格鉴定
  • BS EN 60679-4-1-1998 经质量评估的石英晶体受控振荡器.空白详细规范.能力认可
  • BS EN 60679-4-1998 经质量评定的石英晶体受控振荡器.分规范.能力认可
  • BS EN 168201-1996 电子元器件的质量评估协调体系.空白详细规范.石英晶体元件(资格认可)
  • BS EN 60444-5-1995 石英晶体元件参数测量.第5部分:用自动网络分析仪和误差修正技术测定等效电气参数
  • BS EN 169101-1995 电子元件质量评定协调体糸规范.空白详细规范.石英晶体控制振荡器
  • BS EN 168100-1995 电子元器件质量评定协调体系.石英晶体器件的分规范(性能验收)
  • BS EN 60444-2-1993 石英晶体元件参数的测定.第2部分:用相位偏离法测量石英晶体单元的动态电容
  • BS EN 60444-1-1997 石英晶体单元参数的测量.第1部分:用π型网络零相位技术测量石英晶体单元谐振频率和谐振电阻的基本方法
  • BS EN 60444-3-1993 石英晶体器件参数的测定.第3部分:用与并联电容量C0补偿相连的π网络相位技术测量200 MHz以下的石英器件的两极参数的基本方法
  • BS EN 169100-1993 电子元器件质量评定协调体系.分规范:石英晶体受控振荡器(性能鉴定)
  • BS EN 60444-4-1993 石英晶体元件参数测量.第4部分:30 MHz以下石英晶体元件负荷谐振频率fL.负荷谐振电阻R1测量方法,以及石英晶体元件其他导出值计算方法
  • BS EN 168200-1996 电子元器件质量评定协调系统.分规范:石英晶体部件(合格鉴定批准)
  • BS CECC 68100-1991 电子元器件质量评定协调体系.石英晶体装置(性能合格鉴定)分规范.
  • BS EN 168101-1990 电子元器件质量保证协调体系.空白详细规范.石英晶体部件(性能认可)
  • BS 9617-1982 经质量评估的石英晶体振子详细规范的制定规则.全面评估级
  • BS 9612 N017-1979 振荡器用电阻焊接密封石英晶体元件用详细规范.DN、DZ、DQ和DP外壳、0.8～20 MHz和3.0～30 MHz频率范围.窄温范围(非温控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评估等级
  • BS 9612 N018-1979 振荡器用电阻焊密封石英晶体振子详细规范.DN、D2、DQ和DP外壳、17至75MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的第三谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N020-1979 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、D2、DQ和DP外壳、17至75MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的第五谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N019-1979 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、D2、DQ和DP外壳、17至75MHz频率范围.窄温范围(非温控)操作的第三谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N016-1979 振荡器用电阻焊接密封石英晶体元件用详细规范.DN、DZ、DQ和DP外壳、0.8～20 MHz和3.0～30 MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评估等级
  • BS 9612 N010-1979 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DP外壳、6.0至25MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N021-1979 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、D2、DQ和DP外壳、50至125MHz频率范围.窄温范围(温控)操作的第五谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N004-1977 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、47 U/2、DQ和DP外壳、0.8至20MHz和3.0到30MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N006-1977 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、47U/2、DQ和DP外壳、17至75MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的第三谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N007-1977 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、DQ和DP外壳、17至75MHz频率范围.窄温范围(非温控)操作用第三谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N008-1977 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、DQ和DP外壳、50至125MHz频率规范.宽温范围(非温控)操作用第五谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N005-1977 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、DQ和DP外壳、0.8～20MHz和3.0～30MHz频率范围.窄温范围(非温控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS 9612 N009-1977 经质量评定的振荡器用冷焊封石英晶体振子详细规范.DN、DQ和DP外壳,50至125MHz频率规范.窄温范围(非温控)操作的第五谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级
  • BS PD ISO/TR 19716-2016 纳米技术. 纤维素纳米晶体的特征描述
  • BS EN 61215-1-1-2016 地面光伏 (PV) 模组. 设计质量和型式批准. 晶体硅光伏 (PV) 模组的特殊试验要求

法国标准化协会，关于维 晶体的标准

  • NF C93-621-6-2021 石英晶体元件参数的测量. 第6部分: 激励电平相关性 (DLD) 的测量
  • NF C57-105-1-1-2021 地面光伏(PV)模组. 设计质量和型式批准. 第1-1部分: 检测晶体硅光伏(PV)模组的特殊要求
  • NF C93-640-201-2014 空白详细规格: 石英晶体元件 (鉴定批准)
  • NF C93-640-101-2014 空白详细规格: 石英晶体元件 (能力批准)
  • NF C93-610-2014 在10 kHz至200 kHz和标准值范围内音叉石英晶体元件的测量和试验方法
  • NF C93-621-9-2014 石英晶体元件参数的测量. 第9部分: 压电晶体元件寄生谐振的测量
  • NF C93-621-6-2014 石英晶体元件参数的测量. 第6部分: 激励电平相关性 (DLD) 的测量
  • NF C93-640-100-2013 分规范: 石英晶体元件(能力批准)
  • NF C93-640-200-2013 分规范: 石英晶体谐振器 (资格鉴定)
  • NF C93-620-3-2013 经质量评估的石英晶体控制振荡器.第3部分:标准外形和引线连接器
  • NF C93-632-2013 人造石英晶体. 规范和使用指南
  • NF S94-750-1-2012 眼科植入物.人工晶体.第1部分:词汇
  • NF S94-750-4/A1-2012 眼科植入物.人工晶体.第4部分:标签和信息.修改件1
  • NF X31-090-2-2012 土质.土壤和材料成分的浸出和物种形成的地球化学模型参数.第2部分:带连二亚硫酸盐的氧化铁和氢氧化铁晶体的萃取
  • NF C93-620-6-2011 质量评估石英晶体控制振荡器.第6部分:石英晶体振荡器和锯齿波振荡器相位抖动的测量方法.
  • NF S94-750-8/A1-2011 眼睛植入体,人工晶体.第8部分:基本要求.修改件1.
  • NF C93-618-3-2011 经质量评估的石英晶体器件.第3部分:标准外形和引线连接件
  • NF C57-203-2009 太阳能硅片.太阳能电池生产用晶体硅的数据单和产品信息.晶体硅硅片
  • NF C53-700-1/A2-2009 高压直流(HVDC)电力传输用晶体闸流管阀门.第1部分:电气测试
  • NF C57-202-2006 太阳能电池.晶体硅太阳能电池的数据表信息和产品数据
  • NF S94-750-10-2006 眼科植入物.眼底镜.第10部分:晶体眼人工晶体植入术(PHAKIC)眼底镜
  • NF C57-105-2005 地面用晶体硅光伏组件.设计鉴定和型式批准
  • NF C93-632-2005 人造石英晶体.规范和使用指南
  • NF C93-621-8-2005 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装的石英晶体元件用试验设备
  • NF C93-621-7-2004 石英晶体元件参数的测量.第7部分:石英晶体元件的放射性和频率下降测量
  • NF C93-618-1-2003 经过质量评定的石英晶体装置.第1部分:总规范
  • NF V03-005-2002 食品.用电子自旋共振光谱法检验含晶体糖的辐照食品
  • NF C93-620-3-2002 经质量评估的石英晶体控制振荡器.第3部分:标准外形和引线连接器
  • NF C93-623-2001 用π型网络的零相位技术测量石英晶体器件参数.第3部分:用并联电容 CO 补偿的π网络零相位技术测量最高可达 200 MHz 的石英晶体器件谐振器两端参数的基本方法
  • NF C93-625-2001 石英晶体元件的参数测量.第5部分:使用自动网络分析仪和误差修正技术测定等效电气参数的方法
  • NF C93-622-2001 用π型网络的零相位法测量石英晶体器件参数.第2部分:石英晶体器件动态电容测量的相位补偿法
  • NF C93-626-2001 石英晶体元件的参数测量.第6部分:驱动水平依赖测量
  • NF C93-624-2001 用π型网络的零相位法测量石英晶体元件参数.第4部分:石英晶体单元负荷谐振频率 fL 、负荷谐振电阻 RL 的测量方法及其他石英晶体元件导出值的计算方法(频率最高可达 30 MHz)
  • NF T51-621-2000 塑料制品.用毛细管和偏光显微镜测定半晶体聚合物的熔化特性(熔化温度或熔化范围)
  • NF C57-108-2000 晶体硅光电(PV)阵列.I-V 特性现场测量
  • NF C93-621-2000 用π型网络的零相位法测量石英晶体器件参数.第1部分:用π型网络零相位法测量石英晶体器件谐振频率和谐振电阻的基本方法
  • NF C93-620-5-1-2000 经质量评定的石英晶体受控振荡器.第5-1部分:空白详细规范.合格鉴定批准
  • NF C93-620-5-1999 经质量评定的石英晶体受控振荡器.第5部分:分规范.合格鉴定批准
  • NF C93-620-4-1999 经质量评定的石英晶体受控振荡器.第4部分:分规范.能力批准
  • NF C93-630-1999 经质量评估的石英晶体控制振子.第4-1部分:容量认可的空白详细规范
  • NF C57-105-1996 晶体硅地面光电(PV)模数.设计合格鉴定和型号认可
  • NF C57-104-1995 晶体硅光电元器件 I-V 特性测量用温度和辐照度的修正程序
  • NF C93-613-1979 电气设备元件压电器件压电滤波器晶体滤波器的使用指南
  • NF C93-601/AM1-1976 电子元件.压电器件.晶体座
  • NF C93-611-1975 电子设备元件.压电器件.振荡器用石英晶体器件

美国材料与试验协会，关于维 晶体的标准

  • ASTM C788-03(2021) 核级硝酸铀酰溶液或晶体的标准规范
  • ASTM D7739-11(2020) 通过石英晶体微量天平测定热氧化稳定性的标准实践
  • ASTM B808-10(2020) 石英晶体微量平衡监测大气腐蚀室的标准试验方法
  • ASTM E82/E82M-14(2019) 测定金属晶体取向的标准试验方法
  • ASTM E2625-19 控制建筑物及拆卸活动的可吸入晶体硅的职业照射的标准程序
  • ASTM E2625-09(2017) 控制建筑物及拆卸活动的可吸入晶体硅的职业照射的标准程序
  • ASTM D7739-11(2016) 通过石英晶体微量天平测定热氧化稳定性的标准实践
  • ASTM B808-10(2015) 石英晶体微量平衡监测大气腐蚀室的标准试验方法
  • ASTM C788-03(2015) 核级硝酸铀溶液或晶体的标准规范
  • ASTM E82/E82M-14 测定金属晶体取向的标准试验方法
  • ASTM E82/E82M-2014 测定金属晶体取向的标准试验方法
  • ASTM E975-13 X射线测定近似随机晶体取向钢中残留奥氏体的标准实践
  • ASTM D7739-11 通过石英晶体微量天平测定热氧化稳定性的标准实践
  • ASTM E1968-2011 在对可卡因进行法医分析时所进行的微晶体试验的标准指南
  • ASTM D7739-2011 通过石英晶体微量天平测量热氧化稳定性的标准操作规程
  • ASTM D7739-2011(2016) 采用石英晶体微天平测量热氧化稳定性的标准实施规程
  • ASTM B808-10 石英晶体微量平衡监测大气腐蚀室的标准试验方法
  • ASTM B808-2010(2015) 用石英晶体微量天平监测室内大气腐蚀的标准试验方法
  • ASTM E82-09 测定金属晶体取向的标准试验方法
  • ASTM C788-03(2009) 核级硝酸铀溶液或晶体的标准规范
  • ASTM E2625-09 控制建筑物及拆卸活动的可吸入晶体硅的职业照射的标准程序
  • ASTM E82-2009 测定金属晶体取向的标准试验方法
  • ASTM E975-03(2008) X射线测定近似随机晶体取向钢中残留奥氏体的标准实践
  • ASTM E82-91(2007) 测定金属晶体取向的标准试验方法
  • ASTM E1969-2006 甲基苯异丙胺法医检定法中微晶体试验的标准指南
  • ASTM B808-05 石英晶体微量平衡监测大气腐蚀室的标准试验方法
  • ASTM B808-2005 用石英晶体微量天平监测大气腐蚀室的标准试验方法
  • ASTM E975-03 X射线测定近似随机晶体取向钢中残留奥氏体的标准实践
  • ASTM B808-97(2003) 石英晶体微量平衡监测大气腐蚀室的标准试验方法
  • ASTM C788-03 核级硝酸铀溶液或晶体的标准规范
  • ASTM C788-2003(2009) 核纯级硝酸铀酰溶液或晶体的标准规范
  • ASTM C788-2003 核纯级硝酸铀酰溶液或晶体的标准规范
  • ASTM F1723-96 用浮区晶体生长和光谱法评定多晶硅棒的标准实施规程
  • ASTM E82-91(1996) 测定金属晶体取向的标准试验方法
  • ASTM E82-91(2001) 测定金属晶体取向的标准试验方法
  • ASTM E1969-2001 甲基苯异丙胺法医检定法中微晶体试验的标准指南
  • ASTM E975-00 X射线测定近似随机晶体取向钢中残留奥氏体的标准实践
  • ASTM F1404-92(1999) 用熔融氢氧化钾（KOH）蚀刻技术测定砷化镓晶体完整性的试验方法
  • ASTM F950-98 用角抛光和缺陷蚀刻法测量机械加工硅片表面晶体损伤深度的标准试验方法
  • ASTM E1969-1998 甲基苯异丙胺法医检定法中微晶体试验的标准指南
  • ASTM E1968-1998 法医检定法中微晶体试验的标准指南
  • ASTM F950-1998 用角抛光和疵点侵蚀加工法测量机械加工硅片表面晶体损坏深度的试验方法
  • ASTM E1968-1998(2003) 法医检定法中微晶体试验的标准指南
  • ASTM F1726-97 硅片晶体完整性分析的标准指南
  • ASTM B808-97 石英晶体微量平衡监测大气腐蚀室的标准试验方法
  • ASTM B808-1997 用石英晶体微量天平监测室内大气腐蚀的标准试验方法
  • ASTM F1723-1996 用浮区晶体增长和光谱法评估多晶硅竿材的标准实施规范
  • ASTM E82-1991(2007) 测定金属晶体取向的标准试验方法

国际标准化组织，关于维 晶体的标准

  • ISO/TS 23151-2021 纳米技术.纤维素纳米晶体的粒度分布
  • ISO 21820:2021 精细陶瓷（先进陶瓷 先进技术陶瓷） - 用于分析导电SiC晶体多型态的紫外光致发光图像测试方法
  • ISO 21820-2021 精细陶瓷（高级陶瓷，高级工业陶瓷）.分析掺硼和掺氮SiC晶体的多类型的紫外光致发光图像试验方法
  • ISO 19214:2017 微束分析 - 分析电子显微镜 - 通过透射电子显微镜测定线状晶体的表观生长方向的方法
  • ISO 19214-2017 微束分析. 分析电子显微术. 采用透射电子显微镜术测定丝状晶体显著增长方向的方法
  • ISO/TR 19716-2016 纳米技术. 纤维素纳米晶体的特性描述
  • ISO/TR 19716:2016 纳米技术 - 纤维素纳米晶体的表征
  • ISO 15382-2015 辐射防护. 眼内晶体, 皮肤和四肢的剂量监测程序
  • ISO 11979-4 AMD 1-2012 眼科植入物.人工晶体.第4部分:标签和信息.修改件1
  • ISO 11979-1-2012 眼科植入物.人工晶体.第1部分:词汇表
  • ISO 12782-2-2012 土质.土壤和材料成分的浸出和物种形成的地球化学模型参数.第2部分:带连二亚硫酸盐的氧化铁和氢氧化铁晶体的萃取
  • ISO 20203-2005 铝生产中使用的碳素材料.煅烧焦炭.用X-射线衍射法测定煅烧石油焦的晶体粒度

工业和信息化部，关于维 晶体的标准

日本工业标准调查会，关于维 晶体的标准

，关于维 晶体的标准

国家能源局，关于维 晶体的标准

  • NB/T 10453-2026 晶体硅太阳电池组件用封框胶带
  • NB/T 10200-2019 晶体硅太阳电池组件用聚烯烃弹性体(POE)封装绝缘胶膜
  • NB/T 42104.1-2016 地面用晶体硅光伏组件环境适应性测试要求 第1部分：一般气候条件
  • NB/T 42104.2-2016 地面用晶体硅光伏组件环境适应性测试要求 第2部分：干热气候条件
  • NB/T 42104.3-2016 地面用晶体硅光伏组件环境适应性测试要求 第3部分：湿热气候条件
  • NB/T 42104.4-2016 地面用晶体硅光伏组件环境适应性测试要求 第4部分：高原气候条件

行业标准-能源，关于维 晶体的标准

教育部，关于维 晶体的标准

  • JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则

青海省市场监督管理局，关于维 晶体的标准

  • DB63/T1781-2020 电站现场晶体硅太阳能电池组件隐性缺陷检测技术规范

浙江省市场监督管理局，关于维 晶体的标准

  • DB33/ 972-2019 晶体硅光伏产品单位可比电耗限额及计算方法

上海市市场监督管理局，关于维 晶体的标准

  • DB31/T 1157-2019 地面用晶体硅光伏组件行业安全生产标准化基本要求

江苏省市场监督管理局，关于维 晶体的标准

德国标准化学会，关于维 晶体的标准

  • DIN EN 60122-1-2018 经质量评定的石英晶体元件. 第1部分: 总规范 (IEC 60122-1-2002+A1-2017); 德文版本 EN 60122-1-2002+A1-2018
  • DIN EN ISO 15382-2017 辐射防护.眼内晶体,皮肤和四肢的剂量监测程序(ISO 15382-2015);德文版本EN ISO 15382-2017
  • DIN IEC/TS 62804-1-2017 光伏(PV)模块.检测电位诱导衰减的试验方法.第1部分:晶体硅(IEC/TS 62804-1-2015)
  • DIN EN 60758-2017 人造石英晶体.规范和使用指南(IEC 60758-2016);德文版本EN 60758-2016
  • DIN EN ISO 11979-8-2015 眼科植入物.人工晶体.第8部分:基本要求(ISO 11979-8-2006+Amd.1-2011);德文版本EN ISO 11979-8-2015
  • DIN EN ISO 11979-10-2014 眼科植入物.眼内透镜.第10部分:有晶体眼人工晶体植入术(ISO 11979-10-2006+Amd 1-2014);德文版本EN ISO 11979-10-2006+A1-2014
  • DIN EN 60444-6-2014 石英晶体元件参数的测量. 第6部分:激励电平相关性 (DLD) 的测量 (IEC 60444-6-2013); 德文版本EN 60444-6-2013
  • DIN EN 60679-3-2014 经质量评估的石英晶体受控振荡器.第3部分:标准外形和引线连接件(IEC 60679-3-2012).德文版本EN 60679-3-2013
  • DIN EN ISO 11979-4-2013 眼科植入物.人工晶体.第4部分:标签和信息(ISO 11979-4-2008 + Amd.1-2012).德文版本EN ISO 11979-4-2008 + A1-2012
  • DIN EN ISO 12782-2-2012 土质. 土壤和材料成分的浸出和物种形成的地球化学模型参数. 第2部分:带连二亚硫酸盐的氧化铁和氢氧化铁晶体的萃取 (ISO 12782-2-2012); 德文版本EN ISO 12782-2-2012
  • DIN EN 60679-6-2011 质量评定的石英晶体控制振荡器.第6部分:石英晶体振荡器和SAW振荡器的相位抖动测量方法.应用指南(IEC 60679-6-2011).德文版 EN 60679-6-2011
  • DIN EN ISO 11979-8-2011 眼科植入物.人工晶体.第8部分:基本要求(ISO 11979-8-2006 + Amd.1-2011);德文版本EN ISO 11979-8-2009 + A1-2011
  • DIN EN 60122-3-2011 经质量评估的石英晶体元件.第3部分:标准外形和引线连结件(IEC 60122-3-2010).德文版本EN 60122-3-2010
  • DIN EN 60689-2009 频率为10 kHz～200 kHz 音叉石英晶体元件的测量和试验方法及标准值(IEC 60689:2008),德文版本 EN 60689:2009
  • DIN EN 60758-2009 人造石英晶体 规范和使用指南
  • DIN EN 60444-9-2007 石英晶体元件参数的测量.第9部分:压电晶体元件谐振的测量
  • DIN EN ISO 11979-10-2006 眼科植入物.眼内透镜.第10部分:有晶体眼人工晶体植入术(ISO 11979-10:2006)
  • DIN EN 61215-2006 地面用晶体硅光伏组件.设计鉴定和定型
  • DIN EN 60444-7-2004 石英晶体元件参数的测量.第7部分:石英晶体元件的活性和频率下降的测量
  • DIN EN 60444-8-2004 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装的石英晶体元件用测试工具
  • DIN EN 60122-1-2003 经质量评定的石英晶体元件.第1部分:总规范
  • DIN 1304-9-2003 物理量的字母符号.第9部分:压电晶体等效电路符号
  • DIN EN 60444-1-2000 用π型网络的零相位技术测量石英晶体单元的参数.第1部分:用π型网络的零相位技术测量石英晶体单元的谐振频率和谐振阻抗
  • DIN EN 60679-5-1-1999 经过质量评定的石英晶体控振荡器.第5-1部分:空白详细规范.合格鉴定
  • DIN EN 60679-5-1999 经过质量评定的石英晶体控制振荡器.第5部分:分规范.合格鉴定
  • DIN EN 60679-4-1-1998 经质量评定的石英晶体控制振荡器.第4-1部分:空白详细规范.能力认可
  • DIN EN 60679-4-1998 经质量评定的石英晶体控制振荡器.第4部分:分规范.能力认可
  • DIN EN 60444-2-1997 用π型网络的零相位技术测量石英晶体元件参数.第2部分:相位偏离法测量石英晶体元件动态电容
  • DIN EN 60444-4-1997 用π型网络的零相位技术测量石英晶体元件参数.第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法以及其他导出参数值的计算
  • DIN EN 60444-5-1997 石英晶体元件参数测量.第5部分:自动网络分析仪和误差修正技术评定电气参数的测量方法
  • DIN IEC 60679-2-1997 石英晶体受控振荡器.第2部分:石英晶体受控振荡器使用导则
  • DIN 50446-1995 半导体工艺材料的检验.硅晶体外延层缺陷种类和缺陷密度的测定
  • DIN IEC 61178-3-1-1995 石英晶体单元.IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).第3部分:分规范:合格验收.第1节:空白详细规范
  • DIN IEC 61178-2-1-1995 IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).石英晶体组件.第2部分:分规范:能力认可.第1节:空白详细规范
  • DIN IEC 61178-3-1995 IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).石英晶体组件.第3部分:分规范:合格鉴定批准
  • DIN IEC 61178-2-1995 IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).石英晶体组件.第2部分:分规范:能力批准
  • DIN EN 168200-1993 分规范.石英晶体装置(合格认定)
  • DIN 52341-1993 玻璃的试验.铅晶体玻璃和晶体玻璃的化学分析
  • DIN IEC 60122-2-1993 稳率控制和选择用石英晶体元件.第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用导则
  • DIN IEC 60368-2-1-1993 压电滤波器.第2部分:压电滤波器使用指南.第1节:石英晶体滤波器
  • DIN EN 168100-1993 分规范:石英晶体装置(性能批准)
  • DIN IEC 60122-2-1-1992 频率控制和选择用石英晶体元件.第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用导则.第1节:微处理机脉冲源用石英晶体元件
  • DIN 50443-1-1988 半导体工艺使用材料的检验.第1部分:用X射线外形测量法检测半导体单晶硅中晶体缺陷和不均匀性
  • DIN 50434-1986 半导体工艺材料的检验.对(111)和(100)表面采用蚀刻技术的单晶硅的晶体结构缺陷的测定
  • DIN 45105-4-1981 压电石英器件.测量方法.滤波器晶体附加谐振的频率和谐振阻抗测量

内蒙古自治区质量技术监督局，关于维 晶体的标准

河北省质量技术监督局，关于维 晶体的标准

行业标准-电子，关于维 晶体的标准

  • SJ/T 11550-2015 晶体硅光伏组件用浸锡焊带
  • SJ/T 11549-2015 晶体硅光伏组件用免清洗助焊剂
  • SJ/T 10015-2013 10kHz～200kHz音叉石英晶体元件的测试方法和标准值
  • SJ 51508/8-1999 LP12型石英晶体单片滤波器详细规范
  • SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量.第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
  • SJ/T 11211-1999 石英晶体元件参数的测量.第5部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法
  • SJ/T 11199-1999 压电石英晶体片
  • SJ 20719-1998 碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法
  • SJ 20718-1998 碲镉汞晶体中痕量元素的测定方法
  • SJ 51508/7-1996 LST25.0425M型石英晶体滤波器详细规范
  • SJ 51508/6-1996 LST21.4M型石英晶体滤波器详细规范
  • SJ/T 10707-1996 石英晶体元件-电子元器件质量评定体系规范.第2部分：分规范-能力批准.第1篇：空白详细规范
  • SJ/T 10708-1996 石英晶体元件-电子元器件质量评定体系规范.第3部分：分规范-鉴定批准.第1篇：空白详细规范
  • SJ 52138.1-1995 JA538型石英晶体元件详细规范
  • SJ 20514-1995 微波功率晶体管用硅外延片规范
  • SJ 51508.5-1995 LSP21.4M型石英晶体单片滤波器详细规范
  • SJ 51508.4-1995 LSB1.4M型边带石英晶体滤波器详细规范
  • SJ/T 10639-1995 石英晶体元件术语
  • SJ 51508/3-1994 LSP10.7M(1～3)型石英晶体单片滤波器详细规范
  • SJ 51508/2-1994 LST42.02M型石英晶体滤波器详细规范
  • SJ 51508/1-1994 LST60.02M型石英晶体滤波器详细规范
  • SJ/T 9550.29-1993 地面用晶体硅太阳电池单体质量分等标准
  • SJ/T 9550.30-1993 地面用晶体硅太阳电池组件质量分等标准
  • SJ 20110-1992 LST60MA型石英晶体滤波器详细规范
  • SJ/T 10015-1991 JU38和JU26型钟表用32kHz音叉石英晶体元件
  • SJ 3254-1989 中小功率晶体三极管计量专用样管筛选方法
  • SJ 2816.3-1987 J3型(锡焊)晶体盒详细规范
  • SJ 2816.4-1987 J3A型(电阻焊)晶体盒详细规范
  • SJ 2816.1-1987 J1型(锡焊)晶体盒详细规范
  • SJ 2816.2-1987 J1A型(电阻焊)晶体盒详细规范
  • SJ 2816.5-1987 J3B型(冷压焊)晶体盒详细规范
  • SJ 2592-1985 LSP10.7MA(～E)型石英晶体单片滤波器
  • SJ/Z 9155.1-1987 石英晶体振荡元件 第一部分：综合性资料、试验条件和试验方法
  • SJ/T 10958-1996 电子元器件详细规范 3CT320型管壳额定反向阻断三极晶体闸流管（可供认证用）
  • SJ/Z 9154.3-1987 利用并联电容CO补偿的π型网络相位法测量频率达200MHz的石英晶体元件两端网络参数的基本方法
  • SJ/T 9570.1-1995 石英晶体元件质量分等标准
  • SJ/Z 9154.2-1987 用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第二部分：测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法
  • SJ/T 9570.2-1995 石英晶体单片滤波器质量分等标准
  • SJ/Z 9570.1-1995 石英晶体元件质量分等标准
  • SJ/Z 9152.1-1987 频率控制和选择用石英晶体元件 第一部分：标准值和试验条件
  • SJ 20230-1993 BJ2951A（JS—5A）型晶体三极管HFE测试仪检定规程
  • SJ/Z 9162-1987 手表用32KHz石英晶体元件的测量方法、试验方法和标准值
  • SJ/Z 9154.1-1987 用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第一部分：测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法
  • SJ/Z 9156-1987 滤波晶体元件寄生谐振的频率和等效电阻的测量方法
  • SJ/T 10959-1996 电子元器件详细规范 3CT315型管壳额定雪崩三极晶体闸流管（可供认证用）
  • SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
  • SJ/Z 9152.3-1987 频率控制和选择用石英晶体元件 第三部分：标准外形及插脚连接
  • SJ/Z 9152.2-1987 频率控制和选择用石英晶体元件 第二部分：频率控制和选择用石英晶体元件使用指南
  • SJ/Z 9158-1987 石英晶体元件用温度控制装置

浙江省质量技术监督局，关于维 晶体的标准

  • DB33/ 972-2015 太阳能晶体硅单位产品可比电耗限额及计算方法

美国国家标准学会，关于维 晶体的标准

新疆维吾尔自治区质量技术监督局，关于维 晶体的标准

行业标准-建材，关于维 晶体的标准

欧洲标准化委员会，关于维 晶体的标准

  • EN ISO 11979-6-2014 眼科植入物.人工晶体.第6部分:贮藏期限和运输稳定性测试(ISO 11979-6:2014)
  • EN ISO 11979-1-2012 眼科植入人工晶体.第1部分:词汇
  • EN ISO 12782-2-2012 土质.土壤和材料成分的浸出和物种形成的地球化学模型参数.带连二亚硫酸盐的氧化铁和氢氧化铁晶体的萃取
  • EN ISO 11979-3-2012 眼科植入物.人工晶体.第3部分:机械性能和测试方法
  • EN ISO 10601-2008 涂料用云母铁矿晶体颜料.规范和试验方法
  • EN ISO 11979-10-2006 眼科植入物.眼内透镜.第10部分:有晶体眼人工晶体植入术 ISO 11979-10-2006

行业标准-机械，关于维 晶体的标准

韩国标准，关于维 晶体的标准

  • KS M ISO 10601-2012 涂料用云母铁矿晶体颜料.规范和试验方法
  • KS D 0258-2012 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
  • KS D 0258-2012 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
  • KS C IEC 60122-2-1-2011 频率控制和选择用石英谐振器.第2部分:频率控制和选择元件用石英晶体元件的使用指南
  • KS M ISO 20203-2011 铝生产中使用的碳素材料.煅烧焦炭.X.射线衍射法测定煅烧石油焦的晶体粒度
  • KS M ISO 20203-2011 铝生产中使用的碳素材料.煅烧焦炭.X.射线衍射法测定煅烧石油焦的晶体粒度
  • KS D 0078-2008 硅晶体中混杂物浓度测定方法.光致发光分析测定法
  • KS D 0078-2008 硅晶体中混杂物浓度测定方法.光致发光分析测定法
  • KS C IEC 60747-6-3-2006 半导体器件.分立器件.第6部分:晶体闸流管.第3节:电流在100A以下的额定环境和外壳的反向阻挡三极闸流晶体管的空白详细规范
  • KS C IEC 60747-6-2-2006 半导体器件.分立器件.第6部分:晶体闸流管.第2节:双向三极晶体闸流(三极双向可控硅开关元件)、电流最多为100A空白详细规范
  • KS C IEC 60747-6-3-2006 半导体器件.分立器件.第6部分:晶体闸流管.第3节:电流在100A以下的额定环境和外壳的反向阻挡三极闸流晶体管的空白详细规范
  • KS C IEC 60747-6-2-2006 半导体器件.分立器件.第6部分:晶体闸流管.第2节:双向三极晶体闸流(三极双向可控硅开关元件)、电流最多为100A空白详细规范
  • KS C IEC 61215-2006 地面用晶体硅光伏组件.设计鉴定和定型
  • KS C IEC 61215-2006 地面用晶体硅光伏组件.设计鉴定和定型
  • KS C 8537-2005 2次标准晶体基太阳电池
  • KS C 8537-2005 2次标准晶体基太阳电池
  • KS C 8528-2005 晶体基太阳电池输出功率的测量方法
  • KS C 8525-2005 晶体基太阳电池光谱响应测试方法
  • KS C 8526-2005 晶体基太阳电池模块输出功率的测量方法
  • KS C 8525-2005 晶体基太阳电池光谱响应测试方法
  • KS C 8528-2005 晶体基太阳电池输出功率的测量方法
  • KS C 8527-2005 晶体基太阳电池组件模块测定用太阳模拟器
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  • KS C 8526-2005 晶体基太阳电池模块输出功率的测量方法
  • KS C IEC 61829-2005 晶体硅光伏方阵.I.V特性现场测量
  • KS C IEC 61178-2-1-2002 石英晶体单元.IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).第2部分:分规范:性能验收.第1节:空白详细规范
  • KS C IEC 61178-3-1-2002 石英晶体单元.IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).第3部分:分规范:合格验收.第1节:空白详细规范
  • KS C IEC 60679-5-1-2002 已评定质量的石英晶体受控振荡器.第5-1部分:空白详细规范.质量验证
  • KS C IEC 60679-4-1-2002 已评定质量的石英晶体受控振荡器.第4-1部分:空白详细规范.能力鉴定
  • KS C IEC 60679-5-1-2002 已评定质量的石英晶体受控振荡器.第5-1部分:空白详细规范.质量验证
  • KS C IEC 61178-2-1-2002 石英晶体单元.IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).第2部分:分规范:性能验收.第1节:空白详细规范
  • KS C 8529-1995 晶体基太阳电池模块输出电压、输出电流的温度系数测定方法
  • KS C 8529-1995 晶体基太阳电池模块输出电压、输出电流的温度系数测定方法
  • KS C 6506-1983 人工石英晶体
  • KS C 6506-1983 人工石英晶体

美国保险商实验所，关于维 晶体的标准

  • UL 61215-2012 晶体硅地面光伏(PV)组件.设计资格和型号批准
  • UL 61215-2012 晶体硅地面光伏(PV)组件.设计资格和型号批准

国家军用标准-总装备部，关于维 晶体的标准

陕西省市场监督管理局，关于维 晶体的标准

2010/09/22，关于维 晶体的标准

(美国)军事条例和规范，关于维 晶体的标准

欧洲电工标准化委员会，关于维 晶体的标准

  • EN 60122-3-2010 经质量评估的石英晶体震荡器.第3部分:标准外形和引线连接件
  • EN 60758-2009 合成石英晶体.使用规范和指南
  • EN 60444-9-2007 石英晶体元件参数测量.第9部分:压电晶体元件寄生振荡测量
  • EN 50461-2006 太阳能电池.晶体硅太阳能电池的数据表信息和产品数据
  • EN 61215-2005 地面用晶体硅光伏(PV)模块设计鉴定和定型 IEC 61215-2005
  • EN 60444-7-2004 石英晶体元件参数的测量.第7部分:石英晶体元件活性和频率下降的测量 IEC 60444-7-2004
  • EN 60444-8-2003 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装的石英晶体元件的测试设备 IEC 60444-8-2003
  • EN 61829-1998 晶体硅光伏(PV)方阵现场测量IV特性 IEC 61829:1995
  • EN 60444-4-1997 用π型网络的零相位技术测量石英谐振器参数.第4部分:石英晶体元件负荷谐振频率fl,负荷谐振电阻Rl的测量方法,以及石英晶体元件其他导出值的计算方法(频率小于30MHz)
  • EN 169101-1993 空白详细规范:石英晶体控制振荡器(性能验收)
  • EN 168101-1992 空白详细规范.石英晶体部件(性能认可)
  • EN 168201-1992 空白详细规范.石英晶体部件(质量认可)

行业标准-医药，关于维 晶体的标准

加拿大标准协会，关于维 晶体的标准

美国国防后勤局，关于维 晶体的标准

印度尼西亚标准，关于维 晶体的标准

美国机动车工程师协会，关于维 晶体的标准

  • SAE ARP 1947B-2007 航空器结构质量D357型铝合金铸件枝状晶体分支间距的测定和验收

国家军用标准-国防科工委，关于维 晶体的标准

(美国)福特汽车标准，关于维 晶体的标准

国家计量检定规程，关于维 晶体的标准

行业标准-海军，关于维 晶体的标准

  • HJB 302.18-2004 核潜艇航海装备修理技术标准100B型晶体石英钟

贵州省地方标准，关于维 晶体的标准

行业标准-卫生，关于维 晶体的标准

  • WS/T 117-1999 X、γ、β射线和电子束所致眼晶体剂量估算规范

行业标准-商品检验，关于维 晶体的标准

  • SN/T 0735.2-1997 出口芳香油、单离和合成香料熔点的测定方法.晶体类

行业标准-航天，关于维 晶体的标准

美国电子元器件、组件及材料协会，关于维 晶体的标准

台湾地方标准，关于维 晶体的标准

  • CNS 13624-1995 砷化镓晶体结晶完整性检验法（熔融氢氧化钾浸蚀法）
  • CNS 12257-1988 晶体滤波器
  • CNS 12256-1988 石英振荡晶体用恒温箱
  • CNS 12254-1988 振荡器用石英振荡晶体（２００ＫＨｚ～１０００ＫＨｚ用）
  • CNS 12253-1988 振荡器用石英振荡晶体（１ＭＨｚ～１２５ＭＨｚ用）
  • CNS 11624-1986 无线电机振荡用ＣＲ–８４／ｕ石英晶体
  • CNS 1996-1978 化学试药（氯化锡，晶体）（四氯化锡晶体）

美国通用公司，关于维 晶体的标准

行业标准-航空，关于维 晶体的标准

  • HB 6742-1993 单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法

丹麦标准化协会，关于维 晶体的标准

  • DS/IEC 122-2-1-1993 频率控制和选择用石英晶体元件．第2部分：频率控制和选择用石英晶体元件使用指南．第1节：微处理器时钟发生器用石英晶体元件
  • DS/IEC 122-3-1992 国际电工委员会IEC标准No．122-3-1977以及附录No．1-1984 + 附录No．2-1991频率控制和选择用石英晶体元件．第3部分：标准外形和引线连接

美国电气电子工程师学会，关于维 晶体的标准

欧洲电工电子元器件标准，关于维 晶体的标准

(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于维 晶体的标准

  • JEDEC JES2-1992 电晶体,砷化镓场效应晶体管,总规范
  • JEDEC JESD4-1983 晶体闸流管和整流二极管的分离半导体封装的外部清洁度和漏电距离的定义

(美国)海军，关于维 晶体的标准

美国航空工业协会/国家航天工业标准，关于维 晶体的标准

(美国)电子工业联合会，关于维 晶体的标准

中国团体标准，关于维 晶体的标准

行业标准-教育，关于维 晶体的标准

  • JY/T 008-1996 四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则

维 晶体，晶体 晶体，晶体，晶体 光，光 晶体，晶体 晶粒，椭 晶体，苯 晶体，晶体 焓，硅 晶体，晶体 相，+++++ 光 晶体，晶体 图，晶粒 晶体，熔融 晶体，极性 晶体，石英 晶体，电子 晶体，结构 晶体，红外 晶体。

 

可能用到的仪器设备

 

Polymentron8398SC 感应式电导率传感器

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哈希水质分析仪器（上海）有限公司

 

Thermo Scientific™ 1500℃ 通用管式炉

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赛默飞实验室产品和服务

 

高温箱式炉

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北京安合美诚科学仪器有限公司

 

高温电阻炉

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北京安合美诚科学仪器有限公司

 

Applied Biosystems MiniAmp/MiniAmp Plus热循环仪/PCR

Applied Biosystems MiniAmp/MiniAmp Plus热循环仪/PCR

赛默飞世尔科技生命科学产品

 

 



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