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x光电子能谱制样
本专题涉及x光电子能谱制样的标准有167条。
国际标准分类中，x光电子能谱制样涉及到电子元器件综合、分析化学、电学、磁学、电和磁的测量、光学和光学测量、无损检测、长度和角度测量、光学设备、化工产品、物理学、化学、环保、保健和安全、医学科学和保健装置综合、有色金属、耐火材料、陶瓷、非金属矿。
在中国标准分类中，x光电子能谱制样涉及到标准化、质量管理、基础标准与通用方法、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、综合测试系统、电子光学与其他物理光学仪器、光学测试仪器、化学、电子测量与仪器综合、电化学、热化学、光学式分析仪器、物理学与力学、炭素材料、化学助剂基础标准与通用方法、重金属及其合金分析方法、贵金属及其合金。
行业标准-电子，关于x光电子能谱制样的标准
- SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则
- SJ/T 10714-1996 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准方法
国际标准化组织，关于x光电子能谱制样的标准
- ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
- ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- ISO 10810:2019 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南
- ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱学.分析导则
- ISO/TR 19319:2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 射线光电子能谱 确定背景的程序
- ISO 15470:2017 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
- ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
- ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
- ISO 13424:2013 表面化学分析——X射线光电子能谱；薄膜分析结果的报告
- ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
- ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- ISO 20903:2019 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- ISO 17109:2022 表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法
- ISO 22489:2006 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- ISO/DIS 18118:2023 表面化学分析 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- ISO/FDIS 18118:2023 表面化学分析 - 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 - 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能普和X射线光电子光谱.通报结果所需峰值强度和信息的测定方法
- ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- ISO/CD 5861 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色Al Ka XPS仪器强度校准方法
- ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色 Al Kα XPS 仪器强度校准方法
- ISO 19668:2017 表面化学分析.X射线光电子能谱学.均匀材料中元素检测极限的估算和报告
英国标准学会，关于x光电子能谱制样的标准
- BS ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- BS ISO 16129:2018 跟踪更改 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- BS ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度尺度的线性
- BS ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析指南
- BS ISO 10810:2019 跟踪更改 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
- 20/30423741 DC BS ISO 19318 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法
- BS ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
- BS ISO 19318:2021 跟踪更改 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法
- BS ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- BS ISO 14701:2018 跟踪更改 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
- BS 6043-2.4:2000 铝制造中使用的碳质材料的取样和测试方法 焦炭电极 X射线荧光光谱分析
- IEC 62607-6-21:2022 纳米制造 关键控制特性 第6-21部分：石墨烯基材料 元素组成、C/O比：X射线光电子能谱
- BS ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
- BS ISO 20903:2019 跟踪更改 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- 23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- BS ISO 22489:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
- BS ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
- BS ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- BS ISO 17109:2022 表面化学分析 深度剖析 使用单层和多层薄膜的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率的测定方法...
- 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析 深度剖析 使用单一和……的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率测定方法
- BS ISO 18118:2015 跟踪更改 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- BS ISO 19668:2017 表面化学分析 X射线光电子能谱 均质材料中元素检测限的估计和报告
- DD ISO/TS 10798:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析表征单壁碳纳米管
- BS ISO 15632:2012 微束分析. 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
- BS ISO 15632:2021 微束分析 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
- 19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于电子探针显微镜或电子探针微量分析仪(EPMA)的能量色散 X 射线光谱仪的规格和检查的选定仪器性能参数
- BS DD ISO/TS 10798:2011 毫微技术.利用扫描电子显微镜和能量色散X射线光谱法分析得出单层碳纳米管的表示特征
德国标准化学会，关于x光电子能谱制样的标准
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- DIN ISO 16129:2020 表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)
- DIN ISO 15472:2020 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能标校准（ISO 15472:2010）；英文文本
- DIN EN ISO 21587-3:2007-12 铝硅酸盐耐火制品的化学分析（替代X射线荧光法）-第3部分：电感耦合等离子体和原子吸收光谱法
国家质检总局，关于x光电子能谱制样的标准
- GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪鉴定方法
- GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
- GB/T 19500-2004 X射线光电子能谱分析方法通则
- GB/T 31472-2015 X光电子能谱中荷电控制和荷电基准技术标准指南
- GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
- GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
- GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
- GB/T 25185-2010 表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告
- GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
- GB/T 17507-1998 电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样通用技术条件
- GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
- GB/T 18873-2002 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线 能谱定量分析通则
- GB/T 18873-2008 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则
- GB/T 28892-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.选择仪器性能参数的表述
- GB/T 17507-2008 透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件
- GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
- GB/T 28633-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.强度标的重复性和一致性
- GB/T 30702-2014 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
美国材料与试验协会，关于x光电子能谱制样的标准
- ASTM E995-16 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南
- ASTM E996-04 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
- ASTM E996-10 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
- ASTM E996-10(2018) 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
- ASTM E996-19 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
- ASTM E2108-16 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
- ASTM E996-94(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
- ASTM E1217-11(2019) 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
- ASTM E1523-97 X射线光电子能谱法中电荷控制和电荷参考技术的标准指南
- ASTM E1523-15 X射线光电子能谱法中电荷控制和电荷参考技术的标准指南
- ASTM E995-11 在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中应用背景消除技术的标准指南
- ASTM E1217-11 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号样品面积的标准操作规程
- ASTM E1217-00 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
- ASTM E1217-05 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
- ASTM E2735-14(2020) 用于选择X射线光电子能谱所需校准的标准指南
- ASTM E902-94(1999) 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准实施规程
- ASTM E1523-03 X射线光电子谱测定中电荷控制和电荷参照技术标准指南
- ASTM E1523-09 X射线光电子谱测定中电荷控制和电荷参照技术的标准指南
- ASTM E1588-10e1 扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法射击残留物分析的标准指南
- ASTM B982-12 光发射光谱测定或电感耦合等离子体(ICP)分析铅和铅合金的抽样和样品制备标准规范
- ASTM B982-14 光发射光谱测定或电感耦合等离子体 (ICP) 分析用铅和铅合金的取样和样品制备标准规范
- ASTM B982-14e1 光发射光谱测定或电感耦合等离子体 (ICP) 分析用铅和铅合金的取样和样品制备标准规范
- ASTM E1588-20 通过扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱法进行枪支残留分析的标准实践
- ASTM E1588-16 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准指南
- ASTM E280-98(2004)e1 在法医聚合物检验中使用扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱（SEM/EDS）的标准指南
- ASTM E1588-07e1 用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南
- ASTM E1588-07 用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南
- ASTM E280-21 在法医聚合物检验中使用扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱（SEM/EDS）的标准指南
- ASTM E2809-22 在法医聚合物检验中使用扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱（SEM/EDS）的标准指南
- ASTM E1588-16a 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准实施规程
- ASTM E1588-17 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准实施规程
- ASTM E3309-21 用扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱法（SEM/EDS）报告法医底漆枪弹残留物（pGSR）分析的标准指南
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于x光电子能谱制样的标准
- GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
- GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
- GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
韩国科技标准局，关于x光电子能谱制样的标准
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
- KS D ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性
- KS D ISO 19318-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱电荷控制和电荷校正方法报告
- KS D ISO 19319:2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪部分性能参数说明
- KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验测定的相对灵敏度因子的使用指南
- KS D ISO 22489:2012 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- KS D ISO 22489:2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 使用波长色散X射线光谱法的批量样品的定量点分析
- KS L ISO 20565-3-2012(2017) 含铬耐火制品和含铬原料的化学分析（X射线荧光法的替代方法）第3部分:火焰原子吸收光谱法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）
- KS L ISO 20565-3-2012(2022) 含铬耐火制品和含铬原料的化学分析（X射线荧光法的替代方法）第3部分:火焰原子吸收光谱法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）
- KS L ISO 10058-3-2012(2022) 菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析（代替X射线荧光法）第3部分:火焰原子吸收分光光度法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）
- KS D ISO 15632:2018 微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数
- KS L ISO 10058-3-2012(2017) 菱镁矿和白云石耐火制品化学分析方法（X射线荧光法的替代方法）第3部分:火焰原子吸收分光光度法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）
未注明发布机构，关于x光电子能谱制样的标准
- BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率的测定
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度线性度
澳大利亚标准协会，关于x光电子能谱制样的标准
- AS ISO 19319:2006 表面化学分析．Augur电子能谱法和X射线光电子光谱法．分析员对横向分辨率；分析区域和样品区域的目视检测
- AS ISO 15472:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．能量标度的校准
- AS ISO 19318:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱学．电荷控制和电荷调整用报告法
- AS ISO 15470:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．选定仪器性能参数的描述
- AS ISO 18118:2006 表面化学分析．俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法．均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于x光电子能谱制样的标准
- GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
- GB/T 33502-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求
KR-KS，关于x光电子能谱制样的标准
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准
- KS D ISO 22489-2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 使用波长色散X射线光谱法的批量样品的定量点分析
- KS D ISO 22489-2018(2023) 微束分析.电子探针微量分析.用波长色散x射线光谱法对大块样品进行定量点分析
- KS D ISO 15632-2018 微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数
法国标准化协会，关于x光电子能谱制样的标准
- NF X21-071:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析用导则
- NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 射线光电子能谱(XPS)中的数据记录和报告
- NF X21-058:2006 表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息
- NF X21-006:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法进行块状样品的定量点分析
- FD T16-203:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析法表征单壁碳纳米管
日本工业标准调查会，关于x光电子能谱制样的标准
- JIS K 0167:2011 表面化学分析.俄歇电子光谱和X射线光电子能谱学.匀质材料定量分析用实验室测定相对敏感因子的使用指南
- JIS K 0152:2014 表面化学分析. X射线光电子能谱分析. 强度标的重复性和一致性
国际电工委员会，关于x光电子能谱制样的标准
- IEC TS 62607-6-21:2022 纳米制造.关键控制特性.第6-21部分:石墨烯基材料.元素组成 C/O比:X射线光电子能谱
- IEC TS 62607-5-4:2022 纳米制造.关键控制特性.第5-4部分:用电子能量损失光谱法（EELS）测量纳米材料的能带隙
行业标准-商品检验，关于x光电子能谱制样的标准
- SN/T 2003.4-2006 电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定.第4部分:能量色散X射线荧光光谱定性筛选法
- SN/T 2003.5-2006 电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定 第5部分：能量色散X射线荧光光谱定量筛选法
丹麦标准化协会，关于x光电子能谱制样的标准
- DS/EN ISO 21587-3:2007 铝硅酸盐耐火制品的化学分析（替代 X 射线荧光法）第3部分：电感耦合等离子体和原子吸收光谱法
- DS/EN ISO 20565-3:2009 含铬耐火制品和含铬原材料的化学分析（替代 X 射线荧光法）第3部分：火焰原子吸收光谱法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-
- DS/ISO/TS 10798:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析法表征单壁碳纳米管
- DS/EN ISO 10058-3:2009 菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析（替代 X 射线荧光法） 第3部分：火焰原子吸收分光光度法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）
立陶宛标准局，关于x光电子能谱制样的标准
- LST EN ISO 20565-3:2009 含铬耐火制品和含铬原材料的化学分析（替代 X 射线荧光法）第3部分：火焰原子吸收光谱法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-
- LST EN ISO 21587-3:2007 铝硅酸盐耐火制品的化学分析（替代 X 射线荧光法） 第3部分：电感耦合等离子体和原子吸收光谱法（ISO 21587-3:2007）
- LST EN ISO 10058-3:2009 菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析（替代 X 射线荧光法） 第3部分：火焰原子吸收分光光度法（FAAS）和电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）（ISO 10058-3:20
行业标准-有色金属，关于x光电子能谱制样的标准
- YS/T 644-2007 铂钌合金薄膜测试方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量
GOSTR，关于x光电子能谱制样的标准
- PNST 508-2020 纳米技术 单壁碳纳米管 通过扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱法表征
- PNST 507-2020 纳米技术 单壁碳纳米管 使用透射电子显微镜和能量色散 X 射线光谱法进行表征
AENOR，关于x光电子能谱制样的标准
- UNE-EN ISO 21587-3:2008 铝硅酸盐耐火制品的化学分析（替代 X 射线荧光法） 第3部分：电感耦合等离子体和原子吸收光谱法（ISO 21587-3:2007）
RU-GOST R，关于x光电子能谱制样的标准
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