EN
RU
ES
光谱 峰 面积 法
本专题涉及光谱 峰 面积 法的标准有189条。
国际标准分类中，光谱 峰 面积 法涉及到分析化学、光学和光学测量、润滑剂、工业油及相关产品、光电子学、激光设备、表面处理和镀涂、塑料、黑色金属、地质学、气象学、水文学、土质、土壤学、词汇、光学设备、化工产品、金属材料试验、半导体材料、电灯及有关装置、空气质量、生物学、植物学、动物学、微生物学、邮政服务、有色金属、半导体分立器件、太阳能工程、核能工程、电影、试验条件和规程综合、切削工具、航天系统和操作装置、环境保护、糖、糖制品、淀粉、纸浆、水质、玻璃、集成电路、微电子学。
在中国标准分类中，光谱 峰 面积 法涉及到、基础标准与通用方法、化学、润滑油、半导体发光器件、日用搪瓷制品、钢铁产品综合、化学试剂综合、金属理化性能试验方法综合、钢铁与铁合金分析方法、气象学、火工产品、土壤环境质量分析方法、冶金辅助原料矿、轻金属及其合金分析方法、半金属及半导体材料分析方法、半金属与半导体材料综合、电光源产品、稀土金属及其合金、材料防护、太阳能、核材料、核燃料综合、磨料与磨具、石油地质勘探、稀有金属及其合金分析方法、金属物理性能试验方法、大气、水、土壤环境质量标准、航天器综合、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、纸浆与纸板、环境卫生、建筑玻璃、微电路综合。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于光谱 峰 面积 法的标准
- GB/T 40139-2021 材料表面积的测量 高光谱成像三维面积测量法
- GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
- GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定硅片表面元素污染
- GB/T 36214.5-2018 塑料 体积排除色谱法测定聚合物的平均分子量和分子量分布 第5部分：光散射法
英国标准学会，关于光谱 峰 面积 法的标准
- BS ISO 19962:2019 光学和光子学 平面平行光学元件积分散射的光谱测量方法
- BS ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- BS ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
- BS ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- BS ISO 20903:2019 跟踪更改 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- BS ISO 19950:2015 主要用于铝生产的氧化铝. α氧化铝含量的测定. 采用X射线衍射净峰面积的方法
- BS DD ISO/TS 15338:2009 表面化学分析.辉光放电质谱法(GD-MS).用法介绍
- BS DD ISO/TS 25138:2011 表面化学分析.辉光放电发射光谱法分析金属氧化膜
- BS ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析指南
- BS ISO 19318:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
- BS ISO 14707:2021 跟踪更改 表面化学分析 辉光放电发射光谱法(GD-OES)使用介绍
- BS PD ISO/TR 18394:2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.化学信息的推导
- BS ISO 16962:2017 表面化学分析. 采用辉光放电光发射光谱法分析锌和/或铝基金属涂层
- BS ISO 15470:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- BS ISO 15470:2017 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- BS ISO 14706:2000 表面化学分析.采用全反射X射线荧光(TXRF)光谱法对硅片表面元素污染物的测定
- BS ISO 14706:2014 表面化学分析.采用全反射X射线荧光(TXRF)光谱法对硅片表面元素污染物的测定
- BS ISO 14706:2001 表面化学分析 采用全反射X射线荧光（TXRF）光谱法对硅片表面元素污染物的测定
- BS EN 15483:2008 环境空气质量.使用FTIR光谱法测量近地面大气环境
- BS EN 16602-70-05:2014 航天产品保证. 使用红外光谱法检测有机污染表面
- PD ISO/TS 25138:2019 跟踪更改 表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物薄膜
- BS ISO 11505:2013 表面化学分析. 采用辉光放电光学发射光谱法量化组成深度描述的通用规程
- BS ISO 18118:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南
- BS PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析. 全反射X射线荧光光谱法在生物和环境分析中的使用
- BS ISO 5350-4:2006 纸浆.尘埃和纤维素的估计.用等值黑色面积(EBA)法反射光的检验仪器
- BS ISO 17331:2004+A1:2010 表面化学分析.从硅片工作标准物质表面采集元素的化学方法及其全反射X射线荧光光谱(TXRF)法的测定
- BS ISO 24417:2022 表面化学分析 通过辉光放电发射光谱法分析铁基基底上的金属纳米层
法国标准化协会，关于光谱 峰 面积 法的标准
- NF ISO 19962:2019 光学和光子学。平行平面光学元件积分散射的光谱测量方法
- NF X21-058:2006 表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息
- NF EN ISO 25178-6:2010 产品几何规范（GPS） - 表面光洁度：面积 - 第 6 部分：表面光洁度测量方法的分类
- NF X21-061:2008 表面化学分析.螺旋电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- NF ISO 14707:2006 表面化学分析 辉光放电发射光谱法 用途简介
- XP CEN/TS 17405:2020 固定源排放 二氧化碳体积浓度的测定 参考方法：红外光谱法
- NF S10-048*NF ISO 19962:2019 光学和光子学 平面平行光学元件集成散射的光谱测量方法
- NF X21-053*NF ISO 14707:2006 表面化学分析 辉光放电光发射光谱测定法（GD-OES）使用说明
- NF EN ISO 25178-600:2019 产品几何规范 (GPS) - 表面光洁度：面积 - 第 600 部分：表面形貌测量方法的计量特性
- NF X21-071:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析用导则
- NF X43-350*NF EN 15483:2009 环境空气质量 使用FTIR光谱法测量近地面大气环境
- NF X21-068*NF ISO 29081:2010 表面化学分析 俄歇电子光谱法 电荷控制和校正用方法的报告
- NF ISO 2272:1989 表面活性剂。肥皂。分子吸收光谱法测定低含量游离甘油
国际标准化组织，关于光谱 峰 面积 法的标准
- ISO 20903:2006 表面化学分析.螺旋电子光谱法和X-射线光电光谱学.报告结果时测定峰强度的方法和必要信息的使用方法
- ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- ISO 20903:2019 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能普和X射线光电子光谱.通报结果所需峰值强度和信息的测定方法
- ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- ISO 19950:2015 主要用于铝生产的氧化铝. α氧化铝含量的测定. 采用X射线衍射净峰面积的方法
- ISO 19962:2019 光学和光子学.平面平行光学元件集成散射的光谱测量方法
- ISO 17925:2004 钢上锌和/或铝基涂层.单位面积涂层质量和化学组分的测定.重量分析法、感应耦合等离子体原子辐射光谱测定法和火焰原子吸收光谱测定法
- ISO 14707:2015 表面化学分析 辉光释放光传播光谱测定法(GD-OES) 使用说明
- ISO 14707:2000 表面化学分析 辉光释放光传播光谱测定法(GD-OES) 使用说明
- ISO 14707:2021 表面化学分析. 辉光释放光传播光谱测定法(GD-OES). 使用说明
- ISO 11505:2012 表面化学分析.通过辉光放电光发射光谱法来定量成分深度剖面的通用规程
- ISO 22415:2019 表面化学分析.二次离子质谱法.有机材料氩团簇溅射深度剖面测定屈服体积的方法
- ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
- ISO 19318:2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
- ISO 19318:2021 表面化学分析. X射线光电光谱法. 电荷控制和电荷校正方法的报告
- ISO/TS 25138:2019 表面化学分析 - 通过辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜
- ISO/TR 18394:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法.化学信息的推导
- ISO 16962:2017 表面化学分析. 采用辉光放电光发射光谱法分析锌和/或铝基金属涂层
- ISO 15470:2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- ISO 24237:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱法.强度的可重复性和稳定性
- ISO 16962:2005 表面化学分析.用辉光放电光发射光谱测定法分析锌和/或铝基金属涂层
- ISO/TS 15338:2009 表面化学分析.辉光放电质谱测定法(GD-MS).使用介绍
- ISO/TS 25138:2010 表面化学分析.用辉光放电发射光谱测定法分析金属氧化物薄膜
- ISO 24417:2022 表面化学分析.用辉光放电光学发射光谱法分析铁基衬底上的金属纳米层
- ISO 18118:2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- ISO 18118:2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- ISO 20411:2018 表面化学分析.二次离子质谱法.单离子计数动态二次离子光谱法中饱和强度的校正方法
- ISO/TS 18507:2015 表面化学分析. 全反射X射线荧光光谱法在生物和环境分析中的使用
- ISO 17331:2004 表面化学分析.从硅片工作基准材料表面采集元素的化学方法及其全反射X射线荧光光谱法的测定
美国材料与试验协会，关于光谱 峰 面积 法的标准
- ASTM D7214-07 利用峰面积积分用FT-IR测定已使用润滑剂中氧化物的标准试验方法
- ASTM D7214-07a(2012) 使用峰面积积分用FT-IR测定已使用润滑剂中氧化物的标准试验方法
- ASTM D7214-07a 利用峰面积积分用FT-IR测定已使用润滑剂中氧化物的标准试验方法
- ASTM D7214-06 利用峰面积积分用FT-IR测定已使用的润滑剂中氧化物的标准试验方法
- ASTM C810-90(2006) 用X射线发射光谱法测定搪瓷用钢表面镍沉积量的标准试验方法
- ASTM C810-90(2000) 用X射线发射光谱法测定搪瓷用钢表面镍沉积量的标准试验方法
- ASTM C810-90(2011)e1 用X射线发射光谱法测定搪瓷用钢表面镍沉积量的标准试验方法
- ASTM D7214-07a(2019) 用峰面积增加计算用FT-IR测定用过的润滑剂氧化的标准试验方法
- ASTM D7214-20 用峰面积增加计算用FT-IR测定用过的润滑剂氧化的标准试验方法
- ASTM D7214-23 用峰面积增加计算通过FT-IR测定用过的润滑剂氧化的标准试验方法
- ASTM D7214-22 用峰面积增加计算通过FT-IR测定用过的润滑剂氧化的标准试验方法
- ASTM E1217-11 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号样品面积的标准操作规程
- ASTM E1217-00 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
- ASTM E1217-05 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
- ASTM F2998-14 采用荧光显微法量化固定细胞扩散面积的指南
- ASTM D5626-94(2001) 美国邮政服务小面积光学测量的标准试验方法
- ASTM E1125-99 用平面光谱法校准初级非浓缩器的地面光电基准电池的标准试验方法
- ASTM E1125-16 用平面光谱法校准初级非浓缩器的地面光电基准电池的标准试验方法
- ASTM E1125-10(2015) 采用平面光谱法校准初级非浓缩器的地面光电参比电池的标准试验方法
- ASTM E1127-03 螺旋电子光谱法的深度剖面的标准指南
- ASTM C1284-10 α光谱测定法测定锕系元素电沉积性能的标准实施规程
- ASTM C715-90(2000) 用光度分析法测定搪瓷用钢表面镍沉积量的标准试验方法
- ASTM C715-90(2016) 用光度分析法测定搪瓷用钢表面镍沉积量的标准试验方法
- ASTM E1257-93(2003) 用光谱化学分析法评定表面处理用研磨材料
- ASTM G173-23 参考太阳光谱辐照度的标准表:37°倾斜面上的直法线和半球面
- ASTM D6966-13 用原子光谱法技术测量铅含量的扫描取样法现场收集积尘样品的标准试验方法
- ASTM E485-94(1999)e1 通过点到平面技术对高炉铁的光发射真空光谱分析的标准测试方法
- ASTM E1477-98A(2017)e1 使用积分球面反射计的声学材料的发光反射系数的标准测试方法
- ASTM E1477-98a(2017) 使用积分球面反射计的声学材料的发光反射系数的标准测试方法
- ASTM E485-94(2005) 采用点对面技术的高炉铁的光辐射真空光谱测定分析的标准试验方法
行业标准-电子，关于光谱 峰 面积 法的标准
- SJ 2355.7-1983 半导体发光器件测试方法.发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法
- SJ 2658.12-1986 半导体红外发光二极管测试方法.峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法
- SJ/T 2658.12-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽
韩国科技标准局，关于光谱 峰 面积 法的标准
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
- KS D 1685-2003 锌金属地面光谱法的释放
- KS D ISO 17925-2006(2016) 钢上锌和/或铝基涂层单位面积涂层质量和化学成分的测定重量法、电感耦合等离子体原子发射光谱法和火焰原子吸收光谱法
- KS D ISO 17925:2006 钢上锌和/或铝基涂层.单位面积涂层质量和化学组分的测定.重量分析法、感应耦合等离子体原子辐射光谱测定法和火焰原子吸收光谱测定法
- KS D ISO 17925:2021 钢上的锌和/或铝基涂层.单位面积涂层质量和化学成分的测定.重量分析法 电感耦合等离子体原子发射光谱法和火焰原子吸收光谱法
- KS D ISO 14706:2003 表面化学分析.用全反射X射线荧光光谱法测定硅圆片表面主要污物
- KS D ISO 19318:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
- KS D ISO 15470:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- KS D ISO 18118:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- KS M ISO 2272-2007(2022) 表面活性剂肥皂分子吸收光谱法测定低含量游离甘油
- KS M ISO 2272-2007(2017) 表面活性剂肥皂分子吸收光谱法测定低游离甘油含量
国家质检总局，关于光谱 峰 面积 法的标准
- GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
- GB/T 2922-1982 化学试剂 色谱载体比表面积的测定方法
- GB/T 24514-2009 钢表面锌基和(或)铝基镀层单位面积镀层质量和化学成分测定.重量法、电感耦合等离子体原子发射光谱法和火焰原子吸收光谱法
- GB/T 19502-2004 表面化学分析-辉光放电发射光谱方法通则
- GB/T 24578-2015 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
- GB/T 24578-2009 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
- GB/T 14634.6-2002 灯用稀土三基色荧光粉试验方法 比表面积测定
- GB/T 14634.6-2010 灯用稀土三基色荧光粉试验方法 第6部分：比表面积的测定
- GB/T 24579-2009 酸浸取.原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物
- GB/T 30701-2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定
- GB/T 34899-2017 微机电系统（MEMS）技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法
工业和信息化部，关于光谱 峰 面积 法的标准
- SJ/T 11760-2020 光伏电池绒面反射率的测量 光电积分法
中国团体标准，关于光谱 峰 面积 法的标准
- T/JCMS 0007-2022 受控堆肥条件下聚乳酸类生物降解材料最终需氧生物分解能力测定 太赫兹宽谱峰面积计算法
- T/BSPT 001-2018 微纳加工 基于激光诱导应变的大面积表面三维微纳结构加工方法
德国标准化学会，关于光谱 峰 面积 法的标准
- DIN 50990:2018-12 涂层厚度的测量 通过光谱测量方法测量金属层的面积相关质量
- DIN 50990:1993 涂层厚读的测量.用原子吸收光谱法测量金属镀层单位面积的质量
- DIN CEN/TS 17405:2020-11 固定源排放二氧化碳体积浓度的测定参考方法：红外光谱法
- DIN ISO 14707:2018 表面化学分析 辉光放电发射光谱法（GD-OES） 使用介绍（ISO 14707:2015）
- DIN ISO 14707:2023-05 表面化学分析 - 辉光放电发射光谱法 (GD-OES) - 使用简介 (ISO 14707:2021)
- DIN ISO 14707:2023 表面化学分析 辉光放电发射光谱法 (GD-OES) 使用简介 (ISO 14707:2021)
- DIN CEN/TS 17405:2020 固定源排放. 二氧化碳体积浓度的测定. 参考方法: 红外光谱法; 德文版 CEN/TS 17405-2020
- DIN ISO 16962:2018 表面化学分析 通过辉光放电光发射光谱法分析锌基和/或铝基金属涂层（ISO 16962:2017）
- DIN ISO 11505:2018-02 表面化学分析 通过辉光放电发射光谱法定量成分深度分析的一般程序
行业标准-农业，关于光谱 峰 面积 法的标准
- GB 2922-1982 化学试剂 色谱载体比表面积的测试方法
RU-GOST R，关于光谱 峰 面积 法的标准
- GOST R ISO 17925-2012 钢表面锌基和/或铝基镀层. 单位面积镀层质量和化学成分的测定. 重量法, 电感耦合等离子体原子发射光谱法和火焰原子吸收光谱法
- GOST R ISO 16962-2012 钢表面锌基和/或铝基镀层. 采用辉光放电原子发射光谱法对单位面积镀层厚度, 化学成分和质量的测定
- GOST 24229-1980 70、35和16mm电影摄影机.曝光面积.尺寸和位置.检验方法
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于光谱 峰 面积 法的标准
- GB/T 34287-2017 温室气体 甲烷测量 离轴积分腔输出光谱法
- GB/T 34286-2017 温室气体 二氧化碳测量 离轴积分腔输出光谱法
- GB/T 32996-2016 表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜
- GB/T 34190-2017 电工钢表面涂层的重量（厚度） X射线光谱测试方法
NL-NEN，关于光谱 峰 面积 法的标准
- NEN 2057-1991 建筑物采光口．采光口同等采光面积的简化（abridged）测定方法
印度尼西亚标准，关于光谱 峰 面积 法的标准
- SNI 06-6992.6-2004 沉积物. 第6部分:镍(Ni)与酸破坏原子吸收光谱(AAS法)法
- SNI 06-6992.7-2004 沉积物. 第7部分:用原子吸收光谱仪(AAS)测试酸破坏的锰(Mn)的方法
- SNI 06-6992.8-2004 沉积物. 第8部分:用原子吸收光谱仪(AAS)测试酸破坏的锌(Zn) 的方法
国家军用标准-国防科工委，关于光谱 峰 面积 法的标准
- GJB 6224-2008 野外烟幕对可见光有效遮蔽面积试验方法
陕西省标准，关于光谱 峰 面积 法的标准
- DB61/T 1580-2022 土壤和沉积物 无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法
行业标准-环保，关于光谱 峰 面积 法的标准
- HJ 780-2015 土壤和沉积物 无机元素的测定 波长色散X射线荧光光谱法
- HJ 1269-2022 土壤和沉积物 甲基汞和乙基汞的测定 吹扫捕集/气相色谱-冷原子荧光光谱法
- HJ 974-2018 土壤和沉积物 11种元素的测定 碱熔-电感耦合等离子体发射光谱法
日本工业标准调查会，关于光谱 峰 面积 法的标准
- JIS B 7081:2017 光学和光子学. 平面光学元件综合散射的光谱测量方法
- JIS K 0144:2001 表面化学分析.辉光放电发射光谱测定法(GD-OES).使用说明
- JIS K 0144:2018 表面化学分析.辉光放电发射光谱测定法(GD-OES).使用说明
- JIS K 0162:2010 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- JIS K 0150:2009 表面化学分析.用辉光放电光发射光谱测定法分析锌和/或铝基金属涂层
- JIS K 0400-30-10:1999 水质.表面活性剂的测定.第1部分:亚甲蓝光谱法测定阴离子表面活性剂
广东省标准，关于光谱 峰 面积 法的标准
- DB44/T 1496.1-2014 LED测试仪器校准方法 第1部分：积分球光谱测试系统
IT-UNI，关于光谱 峰 面积 法的标准
- UNI CEN/TS 17405-2020 固定源排放 二氧化碳体积浓度的测定 参考方法：红外光谱法
立陶宛标准局，关于光谱 峰 面积 法的标准
- LST CEN/TS 17405-2020 固定源排放 二氧化碳体积浓度的测定 参考方法：红外光谱法
- LST EN 1377+AC-2000 食品 桌面甜味剂制剂中乙酰磺胺酸钾的测定 光谱法
欧洲标准化委员会，关于光谱 峰 面积 法的标准
- CEN/TS 17405:2020 固定源排放二氧化碳体积浓度的测定参考方法：红外光谱法
- EN 15483:2008 环境空气质量.使用FTIR光谱法测量近地面大气环境
ECSS - European Cooperation for Space Standardization，关于光谱 峰 面积 法的标准
- Q-ST-70-05C-2009 红外光谱法检测有机污染表面（第二期）
KR-KS，关于光谱 峰 面积 法的标准
- KS D ISO 17925-2021 钢上的锌和/或铝基涂层.单位面积涂层质量和化学成分的测定.重量分析法 电感耦合等离子体原子发射光谱法和火焰原子吸收光谱法
SE-SIS，关于光谱 峰 面积 法的标准
- SIS SS 91 42 01-1988 建筑设计．采光．简化方法检查窗户玻璃所需的面积
- SIS SS 02 81 75-1989 火焰原子吸收光谱法测定水，污泥和沉积物中的金属含量．汞特别指导
澳大利亚标准协会，关于光谱 峰 面积 法的标准
- AS ISO 15472:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．能量标度的校准
- AS ISO 15470:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．选定仪器性能参数的描述
- AS ISO 19318:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱学．电荷控制和电荷调整用报告法
- AS ISO 19319:2006 表面化学分析．Augur电子能谱法和X射线光电子光谱法．分析员对横向分辨率；分析区域和样品区域的目视检测
中国气象局，关于光谱 峰 面积 法的标准
- QX/T 429-2018 温室气体 二氧化碳和甲烷观测规范 离轴积分腔输出光谱法
AT-ON，关于光谱 峰 面积 法的标准
- ONR CEN/TS 17405-2020 固定源排放二氧化碳体积浓度的测定参考方法：红外光谱法（CEN/TS 17405:2020）
- ONORM M 6253 Teil.1-1985 水质分析．亚甲蓝光谱法测定阴离子表面活化剂
河北省标准，关于光谱 峰 面积 法的标准
- DB13/T 5220-2020 合成材料跑道面层中铅、镉、铬、汞的测定 X射线荧光光谱法
行业标准-石油，关于光谱 峰 面积 法的标准
- SY/T 6404-1999 沉积岩中金属元素的电感耦合等离子体原子发射光谱分析方法
美国国家标准学会，关于光谱 峰 面积 法的标准
- ANSI/ASTM E1125:1999 利用平行光谱校准初级非浓缩地面光伏比对电池的试验方法
- ANSI/ASTM E1585:1993 利用光谱测定法测量和计算建筑结构平面玻璃辐射密度的方法
山东省地方标准，关于光谱 峰 面积 法的标准
- DB37/T 4493-2022 海洋沉积物中主要重金属元素的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
丹麦标准化协会，关于光谱 峰 面积 法的标准
- DS/EN 1377:1997 食品 桌面甜味剂制剂中乙酰磺胺酸钾的测定 光谱法
RO-ASRO，关于光谱 峰 面积 法的标准
- STAS SR ISO 7875-1:1996 水质．表面活性剂的测定．第1部分：亚甲蓝光谱法测定阴离子表面活性剂
