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扫描显微镜和电子显微镜
本专题涉及扫描显微镜和电子显微镜的标准有129条。
国际标准分类中，扫描显微镜和电子显微镜涉及到空气质量、光学设备、有色金属、光学和光学测量、分析化学、词汇、教育、长度和角度测量、犯罪行为防范、热力学和温度测量、电子显示器件、表面处理和镀涂、建筑材料。
在中国标准分类中，扫描显微镜和电子显微镜涉及到基础标准与通用方法、公共医疗设备、电子光学与其他物理光学仪器、电磁计量、技术管理、化学计量、检验专用设备、教学专用仪器、记录仪器及光线示波器、光学设备、放大镜与显微镜、教育、学位、学衔、石油地质勘探、石油勘探、开发与集输工程综合、、犯罪鉴定技术、材料防护、油页岩、混凝土、集料、灰浆、砂浆、光学计量、物理学与力学、稀有金属及其合金分析方法。
日本工业标准调查会，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- JIS K 3850-1:2006 空中纤维分子的测定.第1部分:光学显微镜法和扫描电子显微镜法
- JIS K 3850-1:2000 空气中纤维粒子的测量方法.第1部分:光学显微镜法和扫描电子显微镜法
- JIS K 0132:1997 扫描电子显微镜总则
- JIS K 0149-1:2008 微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南
美国材料与试验协会，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- ASTM E2090-00 利用光电子显微镜和扫描电子显微镜对清洁室擦刷工具释放粒子和纤维的尺寸差异计数的标准试验方法
- ASTM E2090-12 利用光电子显微镜和扫描电子显微镜对清洁室擦刷工具释放粒子和纤维的尺寸差异计数的标准试验方法
- ASTM E2382-04(2020) 扫描隧道显微镜和原子力显微镜中的扫描仪和尖端相关人工标准指南
- ASTM E2382-04 扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的指南
- ASTM E766-98(2003) 校准扫描电子显微镜的放大倍数
- ASTM E766-98 校准扫描电子显微镜的放大倍数
- ASTM E2382-04(2012) 扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的标准指南
- ASTM E986-97 扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
- ASTM E986-04(2017) 扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
- ASTM E766-14 扫描电子显微镜放大倍率校准的标准方法
- ASTM E986-04 扫描电子显微镜射束尺寸特征描述标准实施规程
- ASTM E986-04(2010) 扫描电子显微镜射束尺寸特征描述标准实施规程
- ASTM E766-98(2008)e1 扫描电子显微镜的放大系数的标准校正规范
- ASTM C1723-16(2022) 用扫描电子显微镜检查硬化混凝土的标准指南
- ASTM C1723-10 用扫描电子显微镜检验硬化混凝土的标准指南
- ASTM C1723-16 用扫描电子显微镜检查硬化混凝土的标准指南
- ASTM E766-14(2019) 校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
- ASTM E766-14e1 用于校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
德国标准化学会，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- DIN SPEC 52407:2015-03 纳米技术 使用原子力显微镜(AFM)和透射扫描电子显微镜(TSEM)进行粒子测量的准备和评估方法
- DIN EN ISO 9220:2022-05 金属涂层-涂层厚度的测量-扫描电子显微镜法
- DIN EN ISO 9220:2021 金属涂层-涂层厚度的测量-扫描电子显微镜法（ISO/DIS 9220:2021）
国际标准化组织，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
- ISO 22493:2008 微光束分析.扫描电子显微镜方法.词汇
- ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- ISO 16700:2016 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- ISO 8036:2006 光学和光子学.显微镜.光学显微镜浸液
- ISO 9220:1988 金属覆盖层 镀层厚度测量 扫描电子显微镜法
- ISO 9220:2022 金属涂层.涂层厚度的测量.扫描电子显微镜法
- ISO/TS 24597:2011 微光束分析.扫描电子显微镜检查法.图像清晰度评价法
- ISO 21466:2019 微束分析.扫描电子显微镜.用CD-SEM评定临界尺寸的方法
- ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的指南
- ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
- ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义与校准
- ISO 19749:2021 纳米技术.用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- ISO 22493:2014 微束分析. 扫描电子显微术. 词汇
- ISO 21222:2020 表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
韩国科技标准局，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- KS D 2714-2016(2021) 扫描探针显微镜－侧向力显微镜法
- KS D 2714-2016 横向力显微镜扫描探针显微镜方法
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析扫描电子显微镜词汇
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.扫描电子显微镜.术语
- KS M 0044-1999 扫描电子显微镜的一般规则
- KS I 0051-1999(2019) 扫描电子显微镜的一般规则
- KS I 0051-1999 扫描电子显微镜试验方法通则
- KS D ISO 16700:2013 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- KS D ISO 16700-2013(2018) 微束分析－扫描电子显微镜－图像放大率校准指南
- KS D ISO 9220:2009 金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
- KS D ISO 9220-2009(2022) 金属镀层镀层厚度的测量扫描电子显微镜法
- KS D ISO 9220-2009(2017) 金属镀层镀层厚度的测量扫描电子显微镜法
- KS D 2714-2006 扫描探针显微镜.横向剪切力的测量方法
KR-KS，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
- KS C ISO 19749-2023 纳米技术——用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
国家计量技术规范，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- JJF 1916-2021 扫描电子显微镜校准规范
- JJF 1351-2012 扫描探针显微镜校准规范
行业标准-机械，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- JB/T 6842-1993 扫描电子显微镜试验方法
- JB/T 5384-1991 扫描电子显微镜.技术条件
- JB/T 5480-1991 电子显微镜用光阑
- JB/T 5481-1991 电子显微镜用灯丝
国家计量检定规程，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- JJG(教委) 11-1992 扫描电子显微镜检定规程
- JJG 550-1988 扫描电子显微镜试行检定规程
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- GB/T 33834-2017 微束分析 扫描电子显微术 生物试样扫描电子显微镜分析方法
英国标准学会，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜（TIFF/SEM）的标记图像文件格式
- BS ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.图像放大校准指南
- BS ISO 21466:2019 微束分析 扫描电子显微镜 CDSEM评估关键尺寸的方法
- BS ISO 16700:2016 微束分析 扫描电子显微镜 校准图像放大率的指南
- BS EN ISO 9220:1989 金属镀层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
- BS EN ISO 9220:2022 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜法
- BS ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
- 18/30344520 DC BS ISO 21466 微束分析 扫描电子显微镜 CD-SEM 评估关键尺寸的方法
- BS ISO 25498:2018 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
- BS ISO 19749:2021 纳米技术 用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜法
- BS ISO 11884-2:2007 光学和光子学.立体显微镜的最低要求.高性能显微镜
- BS ISO 22493:2014 微束分析. 扫描电子显微术. 词汇
- BS EN ISO 19749:2023 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- BS ISO 11884-1:2006 光学和光子学.体视显微镜的最低要求.通用体视显微镜
- BS ISO 8036:2006 光学和光子学.显微镜.光学显微学的浸液
行业标准-教育，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则
- JY/T 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则
- JY/T 0582-2020 扫描探针显微镜分析方法通则
- JY/T 0586-2020 激光扫描共聚焦显微镜分析方法通则
行业标准-商品检验，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- SN/T 4388-2015 皮革鉴定 扫描电镜和光学显微镜法
行业标准-石油，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- SY/T 5162-2014 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
- SY/T 5162-1997 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
- SY 5162-2014 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
上海市标准，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- DB31/T 297-2003 扫描电子显微镜放大倍率校准方法
国家能源局，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- SY/T 5162-2021 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
法国标准化协会，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- NF X21-005:2006 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 扫描电子显微镜 评价图像清晰度的方法
- XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 - 扫描电子显微镜 - 评估图像清晰度的方法
- NF A91-108:1995 金属镀层.镀层厚度的测量.扫描电子显微镜法
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金属镀层 镀层厚度的测量 扫描电子显微镜法
- NF EN ISO 9220:2022 金属涂层.涂层厚度的测量.扫描电子显微镜法
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量粒径和形状分布
- NF T25-111-4:1991 碳纤维-织构和结构-第4部分：扫描电子显微镜断口法
- NF ISO 15932:2014 微束分析 分析电子显微镜 词汇
- NF EN ISO 19749:2023 纳米技术 - 通过扫描电子显微镜测定颗粒尺寸和形状分布
江苏省标准，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- DB32/T 3459-2018 石墨烯薄膜微区覆盖度测试 扫描电子显微镜法
行业标准-司法，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- SF/T 0139-2023 泥土检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
中国团体标准，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- T/QGCML 1940-2023 扫描电子显微镜原位高温力学测试装置
国家质检总局，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- GB/T 18295-2001 油气储层砂岩样品 扫描电子显微镜分析方法
- GB/T 29190-2012 扫描探针显微镜漂移速率测量方法
- GB/T 19267.6-2003 刑事技术微量物证的理化检验 第6部分;扫描电子显微镜法
- GB/T 23414-2009 微束分析.扫描电子显微术.术语
- GB/T 42659-2023 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准
SE-SIS，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- SIS SS-ISO 9220:1989 金属涂层．涂层厚度测量．扫描电子显微镜方法
- SIS SS CECC 00013-1985 基本规范．半导体芯片的扫描电子显微镜观察
欧洲标准化委员会，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- EN ISO 9220:2022 金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
- EN ISO 19749:2023 纳米技术.用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- EN ISO 9220:1994 金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法(ISO 9220-1988)
- prEN ISO 9220:2021 金属镀层-镀层厚度的测量-扫描电子显微镜法（ISO/DIS 9220:2021）
RU-GOST R，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- GOST R 8.594-2009 确保测量一致性的国家体系.扫描电子显微镜
- GOST R 8.636-2007 国家测量统一性保证体系.扫描电子显微镜.校准方法
- GOST 8.594-2009 国家测量统一性保证体系.扫描电子显微镜.鉴定方法
丹麦标准化协会，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- DS/EN ISO 9220:1995 金属镀层 镀层厚度的测量 扫描电子显微镜法
- DS/ISO 19749:2021 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量粒径和形状分布
ES-UNE，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- UNE-EN ISO 9220:2022 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜方法
- UNE-EN ISO 19749:2023 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
行业标准-公共安全标准，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- GA/T 1938-2021 法庭科学 金属检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GA/T 1937-2021 法庭科学 橡胶检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GA/T 1939-2021 法庭科学 电流斑检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
AENOR，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- UNE-EN ISO 9220:1996 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜法 （ISO 9220:1988）
立陶宛标准局，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- LST EN ISO 9220:2001 金属镀层-镀层厚度的测量-扫描电子显微镜法（ISO 9220:1988）
行业标准-医药，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- YY 1296-2016 光学和光子学手术显微镜眼科用手术显微镜的光危害
AT-ON，关于扫描显微镜和电子显微镜的标准
- OENORM EN ISO 9220:2021 金属镀层-镀层厚度的测量-扫描电子显微镜法（ISO/DIS 9220:2021）
