简述质子激发X射线荧光分析的原理
基本原理是用高速质子照射样品,质子与样品中的原子发生库仑散射。原子内层电子按一定几率被撞出内壳层,留下空穴,较外层电子向这个空穴跃迁时发射出特征X 射线。用探测仪器探测和记录这些特征X 射线谱,根据特征X 射线的能量可定性地判断样品中所含元素的种类,根据谱线的强度可计算出所测元素的含量。
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