四探针二探针

本专题涉及四探针二探针的标准有474条。

国际标准分类中，四探针二探针涉及到词汇、分析化学、试验条件和规程综合、长度和角度测量、金属材料试验、生物学、植物学、动物学、光学和光学测量、农业和林业、半导体材料、光学设备、电子设备用机械构件、绝缘流体、纺织产品、热力学和温度测量、牙科、医疗设备、教育、软件开发和系统文件、电学、磁学、电和磁的测量、土质、土壤学、电工和电子试验、医学科学和保健装置综合、农业机械、工具和设备、土方工程、挖掘、地基构造、地下工程、有色金属、机器、装置、设备的特性和设计、机床装置、陶瓷、建筑物结构、太阳能工程、机床、无损检测、电子电信设备用机电元件、水质、水利建筑、消防、管道部件和管道、有色金属产品、电工器件、电击防护、电气工程综合、电信设备用部件和附件、阀门、无机化学、辐射测量、建筑材料、润滑剂、工业油及相关产品、光纤通信、检查、维修和试验设备、电子显示器件、航空航天用电气设备和系统、航空航天用流体系统和零部件、机上设备和仪器、微生物学、电气设备元件、燃烧器、锅炉、半导体分立器件、导体材料、塑料、电子元器件综合、航空航天制造用材料、水果、蔬菜及其制品、计量学和测量综合、体积、质量、密度和粘度的测量、力、重力和压力的测量。

在中国标准分类中，四探针二探针涉及到基础标准与通用方法、基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、生化试剂、临床分析试剂、光学计量、动物检疫、兽医与疫病防治、电化学、热化学、光学式分析仪器、半金属及半导体材料分析方法、半金属与半导体材料综合、贵金属及其合金分析方法、工艺美术品、金属理化性能试验方法综合、基础标准与通用方法、加工专用设备、综合技术、金属物理性能试验方法、口腔科器械、设备与材料、医疗器械综合、教学专用仪器、石油地质勘探、卫生检疫、化学、特种陶瓷、电工仪器、仪表综合、机床综合、其他专科器械、试验机与无损探伤仪器综合、连接器、数学、超声波与声放射探伤仪器、建筑工程施工机械、水文地质勘察、金属无损检验方法、植物检疫、病虫害防治、、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、放大镜与显微镜、家用清洁、整容器具、金属化学性能试验方法、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、眼科与耳鼻咽喉科手术器械、一般与显微外科器械、物理学与力学、医疗设备通用要求、电缆及其附件、钢铁与铁合金分析方法、混凝土、集料、灰浆、砂浆、交直流电工仪器记录仪器、医用卫生用品、稀有金属及其合金分析方法、加工工艺综合、敏感元器件及传感器、医用超声、激光、高频仪器设备、建筑构造与装饰工程、电磁计量、公共医疗设备、电子元器件、基础标准与通用方法、管件、卡箍、密封件、基础学科综合、颜料、医用射线设备、元素半导体材料、基础标准和通用方法、基础标准与通用方法、防护设备的安全要求、程序语言、基础标准与通用方法、锅炉及其辅助设备、通用电子测量仪器设备及系统、电气设备与器具综合、化学计量、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、电子元件综合、模具、检验专用设备、电气系统与设备、工程技术特性标准物质、、包装材料与容器、计量综合、无线电计量、供气器材设备。


国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于四探针二探针的标准

  • GB/T 21636-2021 微束分析 电子探针显微分析（EPMA） 术语
  • GB/T 4930-2021 微束分析 电子探针显微分析 标准样品技术条件导则
  • GB/T 39518-2020 产品几何技术规范（GPS） 使用单探针和多探针接触式探测系统坐标测量机的检测不确定度评估指南
  • GB/T 17360-2020 微束分析 钢中低含量硅、锰的电子探针定量分析方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于四探针二探针的标准

  • GB/T 36052-2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式
  • GB/T 36052-2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式
  • GB/T 16857.5-2017 产品几何技术规范(GPS) 坐标测量机的验收检测和复检检测 第5部分：使用单探针或多探针接触式探测系统的坐标测量机
  • GB/T 34797-2017 核酸引物探针质量技术要求

国家质检总局，关于四探针二探针的标准

美国材料与试验协会，关于四探针二探针的标准

  • ASTM D6241-22 使用50°C的土工织物和土工织物相关产品静态穿刺指数强度的标准试验方法 毫米探针
  • ASTM D8153-22 用介电常数探针测定土壤含水量的标准试验方法
  • ASTM E2730-22 电子参考结补偿电路评估中热电偶参考结探针的校准和使用的标准指南
  • ASTM E2730-21 电子参考结补偿电路评估中热电偶参考结探针的校准和使用的标准指南
  • ASTM B667-97(2019) 测量电接触电阻用探针的结构和使用的标准实施规程
  • ASTM D7352-18 用直接推压法在松散地层中使用膜界面探针（MIP）进行挥发性污染物测井的标准实施规程
  • ASTM E1104-98(2016) 临床温度计探针盖和护套的标准规范
  • ASTM F2170-2016 测定原位探针中使用的混凝土楼板中的相对湿度的标准试验方法
  • ASTM E2730-10(2015)e1 电子参考点补偿电路评估中热电偶参考点探针的校准和使用的标准实践
  • ASTM E2730-10(2015)e2 电子参考点补偿电路评估中热电偶参考点探针的校准和使用的标准实践
  • ASTM E816-15 通过与参考探针计数器进行比较来校准测量仪的标准测试方法
  • ASTM B667-97(2014) 测量电接触电阻用探针的结构和使用的标准实施规程
  • ASTM D6241-14 使用50mm探针的土工织物和土工织物相关产品的静态穿刺强度的标准测试方法
  • ASTM D6230-2013 使用探针型倾斜仪监测地面运动的标准试验方法
  • ASTM D7352-07(2012) 使用膜接口探针（MIP）进行挥发性污染物测井的直接推压技术的标准实践
  • ASTM E498/E498M-11 在示踪探针模式下使用质谱仪检漏仪或残余气体分析仪检漏的标准实施规程
  • ASTM E816-05(2010) 通过与参考探针计数器进行比较来校准测量仪的标准测试方法
  • ASTM E2730-10 电子参考点补偿电路评估中热电偶参考点探针的校准和使用的标准实践
  • ASTM D6241-04(2009) 用50毫米探针测定土工织物和土工织物相关产品的静态穿刺强度的标准试验方法
  • ASTM D6241-04(2009)e1 用50毫米探针测定土工织物和土工织物相关产品的静态穿刺强度的标准试验方法
  • ASTM E1104-98(2009) 临床温度计探针盖和护套的标准规范
  • ASTM B667-97(2009) 测量电接触电阻用探针的结构和使用的标准实施规程
  • ASTM D7352-07 使用膜接口探针（MIP）进行挥发性污染物测井的直接推压技术的标准实践
  • ASTM E1629-2007 绝对涡流探针的阻抗测定用标准实施规程
  • ASTM E498-95(2006) 在示踪探针模式下使用质谱检漏仪或残余气体分析仪进行泄漏的标准试验方法
  • ASTM E499-95(2006) 在探测器-探针模式下使用质谱仪检漏仪进行泄漏的标准试验方法
  • ASTM E816-05 通过与参考探针计数器进行比较来校准测量仪的标准测试方法
  • ASTM F2420-05 用相对湿度探针测量和绝缘罩测定混凝土地板表面相对湿度的标准试验方法
  • ASTM F2420-2005 用相对湿度探针测量法和绝缘盖测定混凝土地板表面相对湿度的标准试验方法
  • ASTM F2420-2005(2011) 用相对湿度探针测量法和绝缘盖测定混凝土地板表面相对湿度的标准试验方法
  • ASTM D6241-04 用50毫米探针测定土工织物和土工织物相关产品的静态穿刺强度的标准试验方法
  • ASTM B667-97(2003)e1 测量电接触电阻用探针的结构和使用的标准实施规程
  • ASTM E1104-98(2003) 临床温度计探针盖和护套的标准规范
  • ASTM F1711-96(2002) 用四点探针测量平板显示器制造用薄膜导体片电阻的标准实施规程
  • ASTM F672-88(1995)e1 用扩展电阻探针测量垂直于硅片表面电阻率分布的标准试验方法
  • ASTM E498-95(2000) 在示踪探针模式下使用质谱检漏仪或残余气体分析仪进行泄漏的标准试验方法
  • ASTM E499-95(2000) 在探测器-探针模式下使用质谱仪检漏仪进行泄漏的标准试验方法
  • ASTM F1392-00 用水银探针测量电容电压测定硅片中净载流子密度分布的标准试验方法
  • ASTM F1392-2000 用带汞探针的容量-电压测量法测定硅晶片中净载流子密度分布的标准试验方法
  • ASTM D6241-99 用50毫米探针测定土工织物和土工织物相关产品的静态穿刺强度的标准试验方法
  • ASTM F397-93(1999) 用两点探针测定硅棒电阻率的标准试验方法
  • ASTM F390-98 具有共线四探针阵列的金属薄膜的片电阻的标准试验方法
  • ASTM F390-98(2003) 具有共线四探针阵列的金属薄膜的片电阻的标准试验方法
  • ASTM E1104-98 临床温度计探针盖和护套的标准规范
  • ASTM D6230-1998 使用探针型倾斜仪检测地面运动的标准试验方法
  • ASTM D6230-1998(2005) 使用探针型倾斜仪检测地面运动的标准试验方法
  • ASTM B667-97 测量电接触电阻用探针的结构和使用的标准实施规程
  • ASTM E1813-96(2002) 扫描探针显微镜学中探针针尖形状测量与报告的标准规程
  • ASTM E1813-96e1 扫描探针显微镜学中探针针尖形状测量与报告的标准规程
  • ASTM F1711-96 用四点探针测量平板显示器制造用薄膜导体片电阻的标准实施规程
  • ASTM E816-95(2002) 通过与参考探针计数器进行比较来校准测量仪的标准测试方法
  • ASTM E816-95 通过与参考探针计数器进行比较来校准测量仪的标准测试方法
  • ASTM E499-1995(2006) 探测器探针方式用质谱仪检漏器检漏的试验方法
  • ASTM F1393-92(1997) 用水银探针测量米勒反馈轮廓仪测定硅片中净载流子密度的标准试验方法
  • ASTM F1393-1992(1997) 用带汞探针的铣床回授靠模工具机测量器测定硅中净载流子密度的测试方法

，关于四探针二探针的标准

国际标准化组织，关于四探针二探针的标准

  • ISO 18115-2-2021 表面化学分析词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
  • ISO 23692:2021 微束分析-电子探针显微分析-连铸钢产品中锰枝晶偏析的定量分析
  • ISO 15632:2021 微束分析.与扫描电子显微镜（SEM）或电子探针显微分析仪（EPMA）一起使用的能量色散X射线光谱仪（EDS）规范和检查用选定仪器性能参数
  • ISO 21222-2020 表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
  • ISO/IEC 26561-2019 软件和系统工程.产品线技术探针的方法和工具
  • ISO 11952-2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
  • ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
  • ISO 19463:2018 微束分析 - 电子探针显微分析仪（EPMA） - 执行质量保证程序的指南
  • ISO 19463-2018 微光束分析.电子探针显微分析仪（EPMA）.执行质量保证程序的指南
  • ISO 7492-2018 牙科学.探针
  • ISO 5395-3-2013/Amd 1-2017 OPC、驻车制动器、ROPS、加压软管、切割装置、草地收集器和测试探针
  • ISO 22489-2016 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
  • ISO 11775:2015 表面化学分析 - 扫描探针显微镜 - 悬臂弹簧常数的测定
  • ISO 11775-2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
  • ISO 13083:2015 表面化学分析.扫描探针显微镜.用于2D掺杂成像和其他目的的电扫描探针显微镜（ESPM）的空间分辨率定义和校准标准 如SSRM和SCM
  • ISO 13083-2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
  • ISO 14594:2014 微束分析 - 电子探针微量分析 - 波长色散光谱实验参数测定指南
  • ISO 14595:2014 微束分析.电子探针微量分析.认证标准物质（CRM）规范指南
  • ISO 230-10-2011/Amd 1-2014 用扫描探针测量性能
  • ISO 230-10 AMD 1-2014 机床试验规程.第10部分:数控机床探测系统测量性能的测定.修改件1:配扫描探针的探测系统的测量性能
  • ISO 13095:2014 表面化学分析 - 原子力显微镜 - 用于纳米结构测量的AFM探针柄轮廓的原位表征程序
  • ISO 13095-2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
  • ISO 11952:2014 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
  • ISO 11952-2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准
  • ISO 25178-605-2014 几何产品规范(GPS). 表面纹理: 面. 第605部分: 非接触式(点自动对焦探针)仪器的标称特性
  • ISO 17470:2014 微束分析——电子探针微量分析——波长色散X射线光谱法定性点分析指南
  • ISO 17470-2014 微束分析. 电子探针微量分析. 用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
  • ISO 18115-2-2013 表面化学分析.词汇表.第2部分:扫描-探针显微镜检查中应用的术语
  • ISO 18115-2:2013 表面化学分析——词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
  • ISO 23833:2013 微束分析——电子探针微量分析（EPMA）——词汇
  • ISO 23833-2013 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇
  • ISO 21672-2-2012 牙科学.牙周探针.第2部分:名称
  • ISO 16592-2012 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢的碳含量的指南
  • ISO 16592:2012 微束分析——电子探针微量分析——用校准曲线法测定钢中碳含量的指南
  • ISO 15632:2012 微束分析——用于电子探针微分析的能量色散X射线光谱仪规范和检查的选定仪器性能参数
  • ISO 21672-1-2012 牙科学.牙周探针.第1部分:通用要求
  • ISO 11938:2012 微束分析——电子探针微量分析——用波长色散光谱法进行元素映射分析的方法
  • ISO 11938-2012 微束分析. 电子探针微量分析. 使用波长色散光谱对元素映射的分析方法
  • ISO 11039-2012 表面化学分析.扫描探针显微镜.漂移率的测定标准
  • ISO 11039:2012 表面化学分析——扫描探针显微镜——漂移率的测量
  • ISO 27911-2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义与校准
  • ISO 27911:2011 表面化学分析——扫描探针显微镜——近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
  • ISO 28600-2011 表面化学分析.扫描探针显微镜检查用数据传送格式
  • ISO 28600:2011 表面化学分析——扫描探针显微镜的数据传输格式
  • ISO 18115-2:2010 表面化学分析词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
  • ISO 25178-602-2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第602部分:非触点(共焦易染色探针)仪器的标称属性
  • ISO 18115-2-2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜检查中使用的术语
  • ISO 14594 CORR 1-2009 微光束分析.电子探针微分析.波长色散光谱法测定实验参数用指南.技术勘误1
  • ISO 15548-2-2008 无损检测.涡流检验设备.第2部分:探针特性和验证
  • ISO 23833:2006 微束分析.电子探针微量分析（EPMA）.词汇
  • ISO 22489-2006 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
  • ISO 23833-2006 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇
  • ISO 16592:2006 微束分析.电子探针微量分析.用校准曲线法测定钢中碳含量的指南
  • ISO 16592-2006 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢的碳含量的指南
  • ISO 18452:2005 精细陶瓷（高级陶瓷、高级工业陶瓷）——用接触探针轮廓仪测定陶瓷膜厚度
  • ISO 18452-2005 精密陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷).用接触式探针轮廓测定仪测定陶瓷覆层厚度
  • ISO 17470:2004 微束分析.电子探针微量分析.波长色散X射线光谱法定性点分析指南
  • ISO 17470-2004 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法分析质量点的指南
  • ISO 14595:2003 微束分析——电子探针微量分析——认证标准物质（CRM）规范指南
  • ISO/TR 10305-2-2003 道路车辆.电磁场强度测量设备的校正.第2部分:9kHz-40GHz的电磁场传感器和探针(不包括天线)的校正用IEEE标准
  • ISO 7492-1997 牙科探针
  • ISO 7551-1996 牙科用吸髓探针
  • ISO 9950:1995 工业淬火油——冷却特性的测定——镍合金探针试验方法
  • ISO 3630-1-1992 牙根管器械 第1部分:推管锉、扩大器、倒刺拔髓针、粗锉、糊剂输送器、探针及棉捻
  • ISO 7492-1983 牙科用探针
  • ISO 18563-2-2017 无损检验. 超声相控阵设备的表征和验证. 第2部分：探针

国家药监局，关于四探针二探针的标准

德国标准化学会，关于四探针二探针的标准

  • DIN 58853-2021 医疗器械. 有孔探针
  • DIN 58852-2021 医疗器械. 探针
  • DIN 58858-2021 医疗器械. König型有沟探针
  • DIN EN ISO 10360-5-2020 产品几何技术规范(GPS). 坐标测量系统(CMS)的验收和验证试验. 第5部分: 使用离散点和/或扫描测量模式的单探针和多探针接触探测系统的坐标测量机(CMM)(ISO 10360-5-2020); 德文版 EN ISO 10360-5-2020
  • DIN EN ISO 7492-2018 牙科学.牙科探针(ISO 7492-2018); 德文版本EN ISO 7492-2018
  • DIN 4000-178-2016 事物特性表. 第178部分: 探测系统, 触控系统和探针
  • DIN EN ISO 18452-2016 精密陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷).用接触式探针轮廓测定仪测定陶瓷覆层厚度(ISO 18452-2005).德文版本EN ISO 18452-2016
  • DIN ISO 16592-2015 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢的碳含量的指南(ISO 16592-2012)
  • DIN 58855-2014 医疗器械.Kirschner式有沟探针
  • DIN 58852-2014 医疗器械.探针
  • DIN 58858-2014 医疗器械.König型有沟探针
  • DIN 58853-2014 医疗器械.有孔探针
  • DIN EN ISO 21672-2-2013 牙科学.牙周探针.第2部分:名称(ISO 21672-2-2012).德文版本EN ISO 21672-2-2012
  • DIN EN 1971-2-2012 铜和铜合金.在无缝圆铜和铜合金管上的测量缺陷的涡流试验.第2部分:在内表面使用内部探针的试验.德文版本EN 1971-2-2011
  • DIN EN ISO 25178-602-2011 产品几何技术规范(GPS)-表面纹理:平面.第602部分:非接触式(共焦彩色探针)仪器的标称特征(ISO 25178-602-2010);德文版本EN ISO 25178-602-2010
  • DIN 96094-2010 医疗器械 -Bowman式泪囊探针
  • DIN 96091-2010 医疗器械.导向探针型布伦纳
  • DIN 58856-2010 医疗器械.代雅丹式胆结石探针
  • DIN EN 60512-16-1-2009 电子设备用连接器 试验和测量 第16-1部分:触点和终端的机械试验 试验16a:探针故障
  • DIN EN ISO 15548-2-2009 无损检验.涡流检验设备.第2部分:探针特性和鉴定
  • DIN 58855-2008 医疗器械.Kirschner式有沟探针
  • DIN 58852-2008 医疗器械.探针
  • DIN 58853-2008 医疗器械.有孔探针
  • DIN 58858-2008 医疗器械.K?nig型有沟探针
  • DIN 58857-2008 医疗器械.有沟探针
  • DIN EN 1071-4-2006 高级工业陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.第4部分:使用电探针微量分析(EPMA)测量化学成分
  • DIN 6800-5-2005 光子辐射和电子辐射用带探针型探测器的剂量测定程序.第5部分:热致发光剂量测定
  • DIN V ENV 737-6-2003 医用气体管道系统.第6部分:医用压缩气体和真空终端装置用探针的尺寸和定位
  • DIN EN 1071-1-2003 高级工业陶瓷.陶瓷覆层的试验方法.第1部分:用接触式探针轮廓测定仪测定覆层厚度
  • DIN EN 2591-6415-2003 航空航天系列.光电连接件.试验方法.第6415部分:光学元件.探针探伤
  • DIN EN 13312-6-2001 生物技术.管路铺设和仪器使用的性能标准.第6部分:设备探针; 德文版本 EN 13312-6:2001
  • DIN 6800-4-2000 光子辐射和电子辐射用探针型探测器的剂量测定程序.第4部分:胶片剂量测定法
  • DIN EN 61032-1998 用外壳对人体和设备进行的保护.验证用探针
  • DIN EN ISO 7492-1998 牙科探针
  • DIN 50435-1988 半导体材料试验:采用四探针/直流法测量硅片和锗片电阻率的径向变化
  • DIN 50431-1988 半导体材料的试验.用探针直线排列的四探针/直流法测量单晶硅或锗单晶体的电阻率
  • DIN 58858-1979 医疗器械.Koenig式带沟探针
  • DIN 58856-1976 医疗器械.Desjardins式胆结石探针
  • DIN 58853-1976 医疗器械.有孔探针
  • DIN 58852-1976 医疗器械.探针

法国标准化协会，关于四探针二探针的标准

  • NF S90-116-2020 医用气体管道分配系统. 医用液体的插座和相关探针. 设计和安装
  • NF C42-020-031-2015 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气测量和试验用手持式探针组件的安全要求
  • NF E60-100-10/A1-2014 机床试验规程. 第10部分: 数控机床探测系统测量性能的测定. 修改件1: 扫描探针的测量性能
  • NF E05-031-605-2014 几何产品规范(GPS). 表面纹理: 面. 第605部分: 非接触式(点自动对焦探针)仪器的标称特性
  • NF X10-960-1-2013 水和地热钻井.垂直地热探针.第1部分:总论
  • NF X10-960-4-2013 水和地热钻井.垂直地热探针.第4部分:耐升温的聚乙烯(PE-RT)探针环
  • NF X10-960-3-2013 水和地热钻井 - 垂直地热探针 - 第3部分: 交联聚乙烯 (PE-X) 探针回路
  • NF X10-960-2-2013 水和地热钻井 - 垂直地热探针 - 第2部分: 聚乙烯100 (PE 100) 探针回路
  • NF S91-190-2-2012 牙科 - 牙周探针 - 第2部分: 命名
  • NF X21-013-2012 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).应用波长色散光谱学进行元素映射分析方法
  • NF S91-190-1-2012 牙科 - 牙周探针 - 第1部分: 通用要求
  • NF A05-115-2-2012 铜和铜合金.测量圆形铜或铜合金管无缝缺陷的涡流试验.第2部分:使用内表面上内部测试探针的试验
  • NF A05-115-1-2012 铜和铜合金.测量圆形铜或铜合金管无缝缺陷的涡流试验.第2部分:使用内表面上内部测试探针的试验
  • NF X21-069-2-2010 表面化学分析.词汇.第2部分:扫描探针显微镜用术语.
  • NF E05-031-701-2010 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第701部分:触点(探针)仪器用测量和校准标准
  • NF E05-031-601-2010 产品几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第601部分:触点(探针)仪器的标称特性
  • NF E05-031-602-2010 产品的几何技术规范(GPS).表面纹理:平面.第602部分:非触点(共焦易染色探针)仪器的标称特性
  • NF C93-400-16-1-2008 电子设备用连接器.试验和测量.第16-1:触点和终端的机械试验.试验16a:探针损伤
  • NF X21-009-2008 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇
  • NF X21-007-2008 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢中碳含量的指南
  • NF X21-002-2007 微光束分析.电子探针微量分析.波长色散光谱学用实验参数测定指南
  • NF X21-006-2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法进行块状样品的定量点分析
  • NF X21-003-2006 微光束分析.电子探针显微分析.波长分布X射线光谱测量法定量分析指南
  • NF A92-801-4-2006 高级工业陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.第4部分:使用电探针微量分析法(EPMA)测量化学成分
  • NF A92-801-1-2003 先进工艺陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.第1部分:用接触式探针轮廓测定仪测定涂层厚度
  • NF L54-002-132-2002 航空航天系列.电气及光学连接元件.试验方法.第6415部分:光学元件.检测探针损伤
  • NF L54-002-058-2002 航空航天系列.电气及光学连接元件.试验方法.第415部分:检测探针损伤(插孔接触点)
  • NF C42-725-2002 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气测量和试验用手持式探针组件的安全要求
  • NF S91-111-1998 牙科用探针
  • NF C20-013-1998 防护罩对人员和设备的保护.验证用探针
  • NF C42-725-1994 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求.第2-031部分:电气测量和试验用手持探针的特殊要求
  • NF A09-326-1987 无损试验.超声波试验.接触式探针超声波束特性工作条件下的评估方法

教育部，关于四探针二探针的标准

国家能源局，关于四探针二探针的标准

国家食品药品监督管理局，关于四探针二探针的标准

国际电工委员会，关于四探针二探针的标准

  • IEC 61010-031-2015/AMD1-2018 修改件1.测量、控制和实验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气试验和测量用手持式和手动探针组件的安全要求
  • IEC 61010-031:2015/AMD1:2018 修改件1.测量、控制和实验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气试验和测量用手持式和手动探针组件的安全要求
  • IEC 61010-031:2015+AMD1:2018 CSV 测量、控制和实验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气试验和测量用手持式和手动探针组件的安全要求
  • IEC 61010-031-2015+AMD1-2018 CSV 测量、控制和实验室用电气设备的安全要求.第031部分:电气试验和测量用手持式和手动探针组件的安全要求
  • IEC 60512-16-1-2008 电子设备用连接器.试验和测量.第16-1部分:触点和终端的机械试验.试验16a:探针故障
  • IEC 61010-2-031-1993 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求.第2-031部分:电气测量和试验用手持探针的特殊要求
  • IEC/TR 61032-1990 靠近防护外罩的测试探针检验

国家质量监督检验检疫总局，关于四探针二探针的标准

  • SN/T 4971-2017 国境口岸耐多药结核分枝杆菌线性探针杂交检测方法
  • SN/T 4821-2017 牛脊椎畸形综合征TaqMan探针PCR检测方法

日本工业标准调查会，关于四探针二探针的标准

英国标准学会，关于四探针二探针的标准

  • BS ISO 22489-2016 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
  • BS PD ISO/TS 17865-2016 产品几何技术规范(GPS). 采用单探针和多探针接触探测系统评估坐标测量机(CMM)试验不确定度的指引
  • BS EN ISO 18452-2016 精密陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷).用接触式探针轮廓测定仪测定陶瓷覆层厚度
  • BS ISO 11775-2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
  • BS ISO 11775-2015 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 普通悬臂弹簧常数的测定
  • BS ISO 13083-2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
  • BS ISO 13083-2015 表面化学分析. 扫描式探针显微术. 电子扫描式探针显微术 (ESPM), 例如用于二维掺杂成像等用途的SSRM和SCM, 中空间分辨率的定义和校准标准
  • BS ISO 13095-2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
  • BS EN ISO 25178-605-2014 几何产品技术规范 (GPS). 表面结构: 平面式. 非接触 (点自动对焦探针) 仪器的标称特征
  • BS ISO 17470-2014 微束分析. 电子探针显微分析. 采用波长分散X射线光谱测定法的定性点分析指南
  • BS EN ISO 15548-2-2013 无损检测.涡流检验设备.探针特性和验证
  • BS ISO 18115-2-2013 表面化学分析. 词汇. 扫描探针显微镜用术语
  • BS ISO 23833-2013 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇
  • BS ISO 23833-2013 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇
  • BS ISO 11938-2013 微束分析.电子探针显微分析.使用波长色散光谱对元素映射的分析方法
  • BS ISO 11938-2013 微束分析.电子探针显微分析.使用波长色散光谱对元素映射的分析方法
  • BS EN ISO 21672-2-2012 牙科. 牙周探针. 命名
  • BS ISO 15632-2012 微束分析. 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
  • BS ISO 16592-2012 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢碳含量的指南
  • BS EN ISO 21672-1-2012 牙科学.牙周探针.通用要求
  • BS ISO 11039-2012 表面化学分析.扫面探针显微镜.漂移率的测定
  • BS ISO 11039-2012 表面化学分析.扫面探针显微镜.漂移率的测定
  • BS EN 1971-2-2011 铜和铜合金.铜及铜合金无缝圆管涡流探伤方法.用内部探针在内表面上试验
  • BS ISO 27911-2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
  • BS ISO 28600-2011 表面化学分析.扫描探针显微镜的数据传送格式
  • BS ISO 28600-2011 表面化学分析.扫描探针显微镜的数据传送格式
  • BS ISO 18115-2-2010 表面化学分析.词汇表.扫描-探针显微镜检查中应用的术语
  • BS EN ISO 25178-602-2010 产品几何技术规范(GPS).表面纹理.平面.非接触式(共焦彩色探针)仪器的标称特征
  • BS EN ISO 15548-2-2008 无损检测.涡流检验设备.探针特性和验证
  • BS EN 60512-16-1-2008 电子设备用连接器.试验和测量.触点和终端的机械试验.试验16a:探针故障
  • BS ISO 22489-2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
  • BS EN 1071-4-2006 高级工业陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.用电子探针微量分析(EPMA)测定化学成分
  • BS DD ENV 737-6-2003 医用气体管道系统.压缩医用气体终端设备和真空终端设备用探针的尺寸和定位
  • BS EN 13860-2-2003 无损检验.涡流检验.设备特性和检定.探针特性和检定
  • BS EN 2591-6415-2002 电气和光学连接元件.试验方法.光学元件.检测探针的损伤
  • BS EN 2591-415-2001 电气和光学连接元件.试验方法.测试探针损伤(塞孔接点)
  • BS EN 61032-1998 用外壳对人体和设备保护围栏.验证探针
  • BS EN ISO 7492-1997 牙科探针
  • BS EN ISO 7492-1998 牙科探针

行业标准-医药，关于四探针二探针的标准

行业标准-航空，关于四探针二探针的标准

欧洲标准化委员会，关于四探针二探针的标准

  • EN ISO 25178-605-2014 产品几何技术规范(GPS).表面结构:区域.第605部分:非接触式(点自动聚焦探针)仪器的标称特性(ISO 25178-605:2014)
  • EN ISO 15548-2-2013 无损检测.涡流检验设备.第2部分:探针特性和验证
  • EN ISO 21672-2-2012 牙科学.牙周探针.第2部分:名称
  • EN ISO 5814-2012 水质-溶解氧测定电化学探针方法(取代:岑EN 25814)
  • EN ISO 15548-2-2008 无损检测.涡流检验设备.第2部分:探针特性和验证［代替:CEN EN 13860-2］
  • EN 1071-4-2006 先进技术陶瓷.陶瓷涂层用试验方法.第4部分:使用电探针微量分析(EPMA)测量化学成分;代替ENV 1071-4-1995
  • EN 1071-1-2003 先进技术陶瓷.陶瓷覆层的试验方法.第1部分:用接触式探针轮廓测定仪测定覆层厚度;代替ENV 1071-1-1993
  • ENV 737-6-2003 医用气体管道系统.第6部分:压缩医用气体终端设备和真空终端设备用探针的尺寸和定位
  • EN 12668-2-2001 无损检测超声波检查设备的特性表征和检验.第2部分:探针;包含修改件A1-2004
  • EN 13312-6-2001 生物技术.管道和仪表用性能标准.第6部分:设备探针
  • EN 2591-415-2001 航空航天系列.光电连接元件的试验方法.第415部分:测试探针损伤(塞孔接点)
  • EN 2591-6415-2001 航空航天系列.光电连接元件的试验方法.第6415部分:光学元件.探针损伤测试
  • EN ISO 7492-1998 牙科用探针

韩国标准，关于四探针二探针的标准

行业标准-商品检验，关于四探针二探针的标准

  • SN/T 3399-2012 大豆茎溃疡病菌检疫鉴定方法--TaqMan MGB探针实时荧光PCR检测方法

云南省质量技术监督局，关于四探针二探针的标准

行业标准-石油，关于四探针二探针的标准

国家计量技术规范，关于四探针二探针的标准

美国保险商实验所，关于四探针二探针的标准

  • UL 1017 CRD-2012 真空吸尘器, 吹风机和家用地板整理机的UL安全标准. 节/段落参考: 图25主题: 修正图25探针测量"D" (第八版: 2010年9月10日)

美国国家标准学会，关于四探针二探针的标准

印度尼西亚标准，关于四探针二探针的标准

欧洲电工标准化委员会，关于四探针二探针的标准

  • EN 60512-16-1-2008 电子设备用连接器.试验和测量.第16-1部分:触点和终端的机械试验.试验16a:探针故障
  • EN 61032-1998 用外壳对人体和设备进行保护.检验用探针［替代:CENELEC HD 601 S1］

(美国)空军，关于四探针二探针的标准

美国防腐工程师协会，关于四探针二探针的标准

  • NACE 05107-2007 土壤或混凝土中的腐蚀探针报告.项目编号24234
  • NACE 1C187-2005 电流探针腐蚀监视器在油和天然气钻采作业中的使用.项目编号24003

台湾地方标准，关于四探针二探针的标准

美国公路与运输员工协会，关于四探针二探针的标准

  • AASHTO T 332-2007 利用特定离子探针测定混凝土和混凝土材料中氯离子的标准试验方法
  • AASHTO TP55-1998 用特定离子探针测定混凝土和混凝土材料中氯离子的标准试验方法.2000年版

国家计量检定规程，关于四探针二探针的标准

美国国防后勤局，关于四探针二探针的标准

  • DLA A-A-59206 VALID NOTICE 1-2003 检验用光探针(被替代:DLA MIL-P-12001 D 撤消公告 1,DLA MIL-P-12001 D,DLA MIL-P-12001 C,DLA MIL-P-12001 B)
  • DLA A-A-59206-1998 检验用光探针(被替代:DLA MIL-P-12001 D 撤消公告 1,DLA MIL-P-12001 D,DLA MIL-P-12001 C,DLA MIL-P-12001 B)

美国机动车工程师协会，关于四探针二探针的标准

  • SAE AS 5072/3A-2002 乙烯/乙二醇/水自封接头微型自动封闭校准无锁探针型420直径耦合装配
  • SAE AS 5072/1A-2002 乙烯/乙二醇/水自封接头微型自动封闭校准无锁探针型375直径耦合装配

福建省地方标准，关于四探针二探针的标准

  • DB35/T 110-2000 油漆物证检测电子探针和扫描电镜X射线能谱分析方法

(美国)军事条例和规范，关于四探针二探针的标准

美国电子元器件、组件及材料协会，关于四探针二探针的标准

美国电气电子工程师学会，关于四探针二探针的标准

  • IEEE 1309 ERTA-1998 频率为9KHz～40GHz的不包括天线的电磁场传感器和探针的校正.勘误
  • IEEE 1309-1996 频率为9KHz～40GHz的电磁传感器和探针,不包括天线

行业标准-机械，关于四探针二探针的标准

(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于四探针二探针的标准

丹麦标准化协会，关于四探针二探针的标准

  • DS/EN ISO 3630-1-1995 齿根管器械．第1部分：推管锉，扩大器，倒刺拔髓针，粗锉，糊剂输送器，探针及棉捻
  • DS/ENV 1071-1-1993 高级工业陶瓷．陶瓷涂层试验方法．第1部分：利用探针表面光度仪测定涂层厚度

行业标准-兵工民品，关于四探针二探针的标准

行业标准-电子，关于四探针二探针的标准

美国国防部标准化文件（含MIL标准），关于四探针二探针的标准

欧洲航空航天和国防工业标准化协会，关于四探针二探针的标准

  • ASD-STAN PREN 2591-FD15-1993 航空航天系列．电气和光学连接部件．试验方法．第FD15部分:光学元件．测试探针损坏;第P1版
  • ASD-STAN PREN 2591-D15-1992 航空航天系列．电气和光学连接部件．试验方法．第D15部分:测试探针损坏（插孔式触点）;第P1版

欧洲航空工业协会，关于四探针二探针的标准

  • AECMA PREN 2591-D15-1992 航空航天系列.光电连接元件　试验方法　D15部分:测试探针损伤(塞孔接点)

美国宇航局，关于四探针二探针的标准

  • NASA-TN-D-6827-1972 补偿和非补偿空速管静态空速探针的飞行校准和探针对超音速巡航工具的使用

澳大利亚标准协会，关于四探针二探针的标准

  • AS 61010.031-2004 测量，控制以及实验室用电气设备的安全要求．电气测量和试验用手持式探针组件的安全要求
  • AS 61010.031-2004 测量，控制以及实验室用电气设备的安全要求．电气测量和试验用手持式探针组件的安全要求

四探针二探针，四探针，四探针 自动，四探针测试仪探针，四探针仪，四探针法，四探针测试仪 探针，四探针系统，四探针仪器。

 

可能用到的仪器设备

 

元素分析

元素分析

赛默飞世尔科技（中国）有限公司集团展位

 

电子探针EPMA-1720系列

电子探针EPMA-1720系列

岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司

 

EPMA-8050G电子探针显微分析仪

EPMA-8050G电子探针显微分析仪

岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司

 

美国Artium TK系列即插即用型颗粒粒径速度测量仪

美国Artium TK系列即插即用型颗粒粒径速度测量仪

北京欧兰科技发展有限公司

 

比表面积及孔径\隙度分析仪BSD-PM6

比表面积及孔径\隙度分析仪BSD-PM6

贝士德仪器科技（北京）有限公司

 

 



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