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薄膜 衍射仪
本专题涉及薄膜 衍射仪的标准有174条。
国际标准分类中，薄膜 衍射仪涉及到光学和光学测量、纺织产品、辐射防护、长度和角度测量、词汇、有机化学、摄影技术、金属材料试验、橡胶和塑料制品、分析化学、光电子学、激光设备、电子设备用机械构件、职业安全、工业卫生、塑料、无损检测、包装材料和辅助物、有色金属产品、化工产品、金属生产、陶瓷、医疗设备、表面处理和镀涂、电工器件、非金属矿、电子显示器件、辐射测量、有色金属、真空技术、焊接、钎焊和低温焊、教育、信息技术应用、机械试验、建筑物的防护、橡胶和塑料工业的生产工艺、电子电信设备用机电元件、无机化学、雾化剂罐、粒度分析、筛分。
在中国标准分类中，薄膜 衍射仪涉及到电子光学与其他物理光学仪器、纺织制品综合、量具与量仪、线 、带、绳、放射卫生防护、光学计量、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、化学计量、电离辐射计量、学校专用设备、有机化工原料综合、金相检验方法、光学仪器综合、物理学与力学、、超声波与声放射探伤仪器、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、物性分析仪器、金属物理性能试验方法、金属无损检验方法、长度计量、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、电化学、热化学、光学式分析仪器、塑料型材、重金属及其合金、稀有轻金属及其合金、金属化学分析方法综合、电真空器件综合、低压配电电器、非金属矿、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、稀有高熔点金属及其合金、仪器、仪表用材料和元件、Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、核仪器与核探测器综合、轻金属及其合金、辐射防护监测与评价、基础标准与通用方法、工业技术玻璃、半导体分立器件综合、电子技术专用材料、特种陶瓷、涂料、合成树脂、塑料、焊接与切割、教学专用仪器、电子计算机应用、建筑构配件与设备综合、教育、学位、学衔、开关、无机盐、电工绝缘材料及其制品、贵金属及其合金。
行业标准-机械，关于薄膜 衍射仪的标准
- JB/T 11144-2011 X射线衍射仪
- JB/T 9400-1999 X射线衍射仪.技术条件
- JB/T 9400-2010 X射线衍射仪 技术条件
- JB/T 4167-1999 薄膜式气动量仪
IT-UNI，关于薄膜 衍射仪的标准
- UNI 7577-1976 从薄膜衍生的织物．从薄膜衍生的织物的特性和最常见产品
- UNI 7578-1976 从薄膜衍生的织物．聚烯烃薄片织物袋试验
国家质检总局，关于薄膜 衍射仪的标准
- GB 16355-1996 X射线衍射仪和荧光分析仪放射防护标准
- GB/T 8360-1987 金属点阵常数的测定方法 X射线衍射仪法
- GB/T 8362-1987 钢中残余奥氏体定量测定 X射线衍射仪法
- GB/T 26598-2011 光学仪器用透明导电薄膜规范
- GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
- GB/T 8359-1987 高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法
- GB/T 28609-2012 光学功能薄膜.聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜.双折射测定方法
- GB/T 26332.6-2022 光学和光子学 光学薄膜 第6部分：反射膜基本要求
- GB/T 26332.1-2010 光学和光学仪器 光学薄膜 第1部分：定义
- GB/T 26332.5-2022 光学和光子学 光学薄膜 第5部分：减反射膜基本要求
- GB/T 29658-2013 电子薄膜用高纯铝及铝合金溅射靶材
- GB/T 27583-2011 光学功能薄膜 反射眩光性能测试方法
- GB/T 25898-2010(英文版) 仪器化纳米压痕试验 薄膜的压痕硬度和模量
- GB/T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法
- GB/T 25898-2010 仪器化纳米压入试验方法 薄膜的压入硬度和弹性模量
- GB/T 19421.1-2003 层状结晶二硅酸钠试验方法 δ相层状结晶二硅酸钠定性分析 X射线衍射仪法
国家军用标准-国防科工委，关于薄膜 衍射仪的标准
- GJB/J 5463-2005 光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程
国家军用标准-总装备部，关于薄膜 衍射仪的标准
- GJB 8687-2015 光学薄膜折射率和厚度测试仪检定规程
- GJB 3032-1997 溅射二硫化钼基自润滑固体薄膜规范
RU-GOST R，关于薄膜 衍射仪的标准
- GOST R 8.698-2010 确保测量一致性的国家体系.纳米粒子和薄膜的空间参数.利用小角度X-射线散射衍射仪的测量方法
- GOST R 53655.2-2009 塑料薄膜与薄板.利用自由落体重量法测定抗冲击性.第2部分:仪器冲击试验
国家计量检定规程，关于薄膜 衍射仪的标准
- JJG 629-2014 多晶X射线衍射仪检定规程
- JJG 629-1989 多晶X射线衍射仪检定规程
- JJG(地质) 1014-1990 多晶X-射线衍射仪检定规程
行业标准-教育，关于薄膜 衍射仪的标准
- JY 141-1982 光的干涉、衍射、偏振演示仪
- JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
- JY/T 008-1996 四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
美国材料与试验协会，关于薄膜 衍射仪的标准
- ASTM E2444-05 反射薄膜测量术语
- ASTM E2244-05 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
- ASTM E2244-11 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
- ASTM E2244-11(2018) 使用光学干涉仪测量薄膜 反射膜的面内长度的标准测试方法
- ASTM E2444-11 反射薄膜测量相关术语
- ASTM E2444-11(2018) 标准术语 涉及对薄膜 反射膜的测量
- ASTM E2246-02 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
- ASTM E2246-05 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
- ASTM E2244-02 用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法
- ASTM E2245-05 用光学干涉仪测量反射薄膜残余应力的标准试验方法
- ASTM E2245-02 用光学干涉仪测量反射薄膜残余应力的标准试验方法
- ASTM E2246-11 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
- ASTM E2244-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法
- ASTM E2245-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜残余应变的标准试验方法
- ASTM E2246-11e1 采用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法
- ASTM E2444-05e1 与反射薄膜上测量的相关术语
- ASTM E2444-11e1 与反射薄膜上测量的相关术语
- ASTM E2246-11(2018) 使用光学干涉仪的薄的反射膜的应变梯度测量的标准测试方法
- ASTM E2245-11(2018) 使用光学干涉仪的薄的反射膜的残余应变测量的标准测试方法
- ASTM E915-96 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
- ASTM E915-16 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
- ASTM E915-96(2002) 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
- ASTM F136-98e1 薄膜设备用铬溅射极的标准规范
- ASTM F136-08 薄膜设备用铬溅射极的标准规范
- ASTM F136-13(2021)e1 薄膜设备用铬溅射极的标准规范
- ASTM F1367-98(2011) 薄膜设备用铬溅射极的标准规范
- ASTM F2187-02 在薄膜开关或薄膜开关组合上检测射频振动影响的标准试验方法
- ASTM E915-19 残余应力测量用X射线衍射仪校准验证的标准试验方法
- ASTM E915-10 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的标准试验方法
- ASTM E915-21 残余应力测量用X射线衍射仪校准验证的标准实施规程
- ASTM F1709-97 电子薄膜用高纯钛溅射靶的标准规范
- ASTM F1709-97(2016) 电子薄膜用高纯钛溅射靶的标准规范
- ASTM F1709-97(2002) 电子薄膜用高纯度钛溅射靶机的标准规范
- ASTM F1709-97(2008) 电子薄膜用高纯度钛溅射靶机的标准规范
- ASTM E2120-00 涂料薄膜中铅含量测量用便携式X射线荧光光谱仪性能评估的标准实施规程
- ASTM F2359-04(2011) 测定散射光源薄膜开关的背光颜色的标准试验方法
- ASTM F2360-08(2015)e1 测定漫射光源的薄膜开关背光亮度的标准试验方法
- ASTM F2359-04(2019) 用漫射光源测定薄膜开关背光颜色的标准试验方法
- ASTM E1458-92 使用光掩模网的激光衍射粒度测量仪的校准验证标准测试方法
- ASTM E2872-14 采用激光衍射仪测定风道装置中喷雾横截面平均特性的标准指南
- ASTM E2872-14(2019) 在风洞设备中使用激光衍射仪测定喷雾横截面平均特性的标准指南
- ASTM F2359-04 带漫射光源的薄膜开关背面照明的颜色测定标准试验方法
- ASTM F2360-04 带漫射光源的薄膜开关背面照明的亮度测定标准试验方法
- ASTM E2245-11 利用光学干涉仪测量反射膜残余应变的标准试验方法
- ASTM E1458-12(2022) 使用光罩分划板对激光衍射粒度测定仪进行校准验证的标准试验方法
工业和信息化部，关于薄膜 衍射仪的标准
- HG/T 5854-2021 光学功能薄膜 涂布型反射膜
- YB/T 5338-2019 钢中奥氏体定量测定 X射线衍射仪法
- JB/T 13935-2020 无损检测仪器 超声检测 超声衍射声时检测仪
PL-PKN，关于薄膜 衍射仪的标准
- PN C99282-06-1989 射线照相医疗薄膜．X射线摄影的质量和薄膜可用特点
台湾地方标准，关于薄膜 衍射仪的标准
- CNS 13788-1996 塑料薄膜及薄片透湿度试验法（仪器法）
法国标准化协会，关于薄膜 衍射仪的标准
- NF S10-133:2005 光学和光学仪器.衍射光学.词汇
- NF T54-199:1999 塑料.工业用聚合物制成的薄膜和薄片.着色薄膜或薄片的光投射缩小比测量.
- NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
- NF EN ISO 18452:2016 技术陶瓷 使用接触式轮廓仪测定陶瓷薄膜的厚度
卫生部国家职业卫生标准，关于薄膜 衍射仪的标准
- GBZ 115-2002 X射线衍射和荧光分析仪卫生防护标准
中国团体标准，关于薄膜 衍射仪的标准
- T/ZZB 0514-2018 薄膜晶体管液晶显示用光学反射膜
- T/CPIA 0036.1-2022 光伏组件用定向反射光学薄膜 第1部分：用于涂锡焊带表面的薄膜
- T/GDCA 018-2023 适用于射频仪使用的面膜通则
- T/ZZB 1790-2020 铜铟镓硒太阳能电池薄膜溅射沉积设备
韩国科技标准局，关于薄膜 衍射仪的标准
- KS M 3088-1994 塑料薄膜及薄片透湿率试验方法（仪器法）
- KS M 3088-2013 塑料薄膜及薄片透湿率试验方法（仪器法）
- KS A ISO/ASTM 51275:2005 放射性铬薄膜剂量测定系统使用规程
- KS D ISO 16413:2021 用X射线反射计评估薄膜的厚度、密度和界面宽度.仪器要求、校准和定位、数据收集、数据分析和报告
- KS M 3088-2009 塑料薄膜和片材透水蒸气性试验方法测量仪器法
- KS M ISO 7765-2-2002(2017) 塑料薄膜和薄板自由落镖法测定抗冲击性第2部分:仪器化穿刺试验
- KS M ISO 7765-2-2002(2022) 塑料薄膜和薄板.用自由落镖法测定耐冲击性.第2部分:仪器穿刺试验
国家计量技术规范，关于薄膜 衍射仪的标准
- JJF 1447-2014 衍射时差法超声探伤仪校准规范
- JJF 1488-2014 橡胶、塑料薄膜测厚仪校准规范
- JJF 1613-2017 掠入射X射线反射膜厚测量仪器校准规范
美国机动车工程师协会，关于薄膜 衍射仪的标准
- SAE AMS2521C-2013 仪表玻璃镀膜、减反射
美国国家标准学会，关于薄膜 衍射仪的标准
- ANSI/ASTM E915:1996 测量剩余应力用的X射线衍射仪验证方法
- ANSI/ISO/ASTM 51275E 1275:2012 辐射变色薄膜剂量系统使用实施规程
- ANSI/ASTM D5946:2001 利用水触角测量仪进行电晕处理聚合物薄膜的试验方法
- ANSI/ASTM D4272:1999 用装有测量仪器的坠落镖测量塑料薄膜耐冲击性的方法
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于薄膜 衍射仪的标准
- GB/T 37983-2019 晶体材料X射线衍射仪旋转定向测试方法
- GB/T 40023-2021 无损检测仪器 超声衍射声时检测仪 技术要求
- GB/T 39849-2021 无损检测仪器 超声衍射声时检测仪 性能测试方法
- GB/T 40293-2021 红外硫系光学薄膜折射率测试方法
- GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
- GB/T 40279-2021 硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法
- GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
行业标准-黑色冶金，关于薄膜 衍射仪的标准
- YB/T 5337-2006 金属点阵常数的测定方法 X射线衍射仪法
- YB/T 5338-2006 钢中残余奥氏体定量测定 X射线衍射仪法
- YB/T 5336-2006 高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法
英国标准学会，关于薄膜 衍射仪的标准
- BS EN 13925-3:2005(2009) 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.仪器
- BS EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.仪器
- BS ISO 22278:2020 精细陶瓷（先进陶瓷、先进技术陶瓷） 采用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的测试方法
- 20/30360821 DC BS ISO 22278 精细陶瓷（高级陶瓷、先进技术陶瓷） 采用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的测试方法
- BS ISO 13424:2013 表面化学分析.X射线光谱.薄膜分析报表
- PD IEC TR 63258:2021 纳米技术 椭偏仪应用评估纳米级薄膜厚度的指南
- BS ISO 16413:2013 采用X射线反射计对薄膜厚度, 密度和接口宽度的评估. 仪器要求. 校准和定位, 数据收集, 数据分析和报告
- BS ISO 16413:2020 通过 X 射线反射计评估薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、对准和定位、数据收集、数据分析和报告
- PD ISO/TS 25138:2019 表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物薄膜
- BS ISO 7765-2:2022 塑料薄膜和片材 采用自由落镖法测定抗冲击性 仪器化穿刺试验
日本工业标准调查会，关于薄膜 衍射仪的标准
- JIS K 7129:2008 塑料.薄膜和薄片.水蒸气透过率的测定.仪器法
- JIS H 7805:2005 用X射线衍射仪测定金属晶体中晶粒大小的方法
- JIS K 7129:1992 塑料薄膜和薄片的水蒸气传输速率的测试方法(仪器法)
- JIS R 1635:1998 精细陶瓷薄膜的可视光透射率的试验方法
- JIS R 1694:2012 潮湿条件下精细陶瓷薄膜的光谱透射率测量
- JIS R 1698:2015 在潮湿条件下精细陶瓷薄膜光谱反射率的测量
行业标准-有色金属，关于薄膜 衍射仪的标准
- YS/T 819-2012 电子薄膜用高纯铜溅射靶材
- YS/T 893-2013 电子薄膜用高纯钛溅射靶材
- YS/T 718-2009 平面磁控溅射靶材.光学薄膜用铌靶
- YS/T 719-2009 平面磁控溅射靶材.光学薄膜用硅靶
- YS/T 1025-2015 电子薄膜用高纯钨及钨合金溅射靶材
- YS/T 839-2012 硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法
立陶宛标准局，关于薄膜 衍射仪的标准
- LST EN ISO 15902:2005 光学和光学仪器 衍射光学 词汇（ISO 15902:2004）
- LST EN 13925-3-2005 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器
- LST EN ISO 17636-1:2013 焊缝的无损检测. 射线照相检测. 第1部分: 带薄膜的X射线和γ射线技术(ISO 17636-1-2013)
江苏省标准，关于薄膜 衍射仪的标准
- DB32/T 3792-2020 石墨烯薄膜透光率测试 透光率仪法
行业标准-化工，关于薄膜 衍射仪的标准
- HG/T 5854～5857-2021 光学功能薄膜 涂布型反射膜、三醋酸纤维素（TAC）防眩光薄膜、防污硬化膜和盖板用透明硬化膜（2021）
- HG/T 5297～5300-2018 扩散复合聚对苯二甲酸乙二醇酯（PET）薄膜、耐高温透明高阻隔膜、铟锡氧化物（ITO）镀膜用透明聚对苯二甲酸乙二醇酯（PET）硬化薄膜和铟锡氧化物（ITO）镀膜用折射率匹配硬化膜（2018）
国际标准化组织，关于薄膜 衍射仪的标准
- ISO 22278:2020 精细陶瓷（高级陶瓷 高级工业陶瓷）.用平行X射线束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶片）结晶质量的试验方法
- ISO/ASTM 51275:2002 放射性铬薄膜剂量测定系统使用规程
- ISO/ASTM 51275:2004 放射性铬薄膜剂量测定系统使用规程
- ISO/ASTM 51275:2013 放射性铬薄膜剂量测定系统使用规程
- IEC TR 63258:2021 纳米技术.评估纳米薄膜厚度的椭偏仪应用指南
- IEC/TR 63258:2021 纳米技术.评估纳米薄膜厚度的椭偏仪应用指南
- ISO 17636-1:2013 焊缝的无损检测.放射线检验.第1部分:带薄膜的X射线和γ射线技术
- ISO 16413:2013 X射线反射计用薄膜的厚度、密度和接口宽度的评估.仪器邀请,校准和定位,数据收集,数据分析和报告
- ISO 16413:2020 通过X射线反射法评估薄膜的厚度 密度和界面宽度 - 仪器要求 对准和定位 数据采集 数据分析和报告
- ISO 7765-2:2022 塑料薄膜和薄板.用自由落镖法测定耐冲击性.第2部分:仪器化穿刺试验
- ISO 13424:2013 表面化学分析——X射线光电子能谱；薄膜分析结果的报告
德国标准化学会，关于薄膜 衍射仪的标准
- DIN 15551-3:2013-12 辐射敏感薄膜 硝酸纤维素薄膜 第3部分：术语和定义、性能、用途、储存
- DIN EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
- DIN EN 13925-3:2005-07 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器
- DIN ISO 7765-2:2009 塑料薄膜和薄板 用自由落体法测定耐冲击性 第2部分:仪器冲孔试验
- DIN ISO 7765-2:2023 塑料薄膜和薄片 用落镖法测定抗冲击性 第2部分：仪器穿刺试验（ISO 7765-2:2022）
欧洲标准化委员会，关于薄膜 衍射仪的标准
- EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
丹麦标准化协会，关于薄膜 衍射仪的标准
- DS/EN 13925-3:2005 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器
行业标准-海关，关于薄膜 衍射仪的标准
- HS/T 12-2006 滑石、绿泥石、菱镁石混合相的定量分析 X 射线衍射仪法
AENOR，关于薄膜 衍射仪的标准
- UNE-EN 13925-3:2006 无损检测 多晶和非晶材料的 X 射线衍射 第3部分：仪器
(美国)福特汽车标准，关于薄膜 衍射仪的标准
- FORD FLTM BO 015-03-2000 木纹薄膜的高强度紫外线照射耐受性
- FORD FLTM BU 101-07-2000 聚碳酸酯薄膜仪表标度盘贴花的抗剪粘附力的测定
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于薄膜 衍射仪的标准
- GB/T 33826-2017 玻璃衬底上纳米薄膜厚度测量 触针式轮廓仪法
- GB/T 36053-2018 X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告
KR-KS，关于薄膜 衍射仪的标准
- KS D ISO 16413-2021 用X射线反射计评估薄膜的厚度、密度和界面宽度.仪器要求、校准和定位、数据收集、数据分析和报告
未注明发布机构，关于薄膜 衍射仪的标准
- NF A89-510-1*NF EN ISO 17636-1:2013 焊缝的无损检测 放射线检验 第1部分：带薄膜的X射线和γ射线技术
RO-ASRO，关于薄膜 衍射仪的标准
- STAS 10157-1975 油漆和清漆．通过测量镜面反射测定薄膜光泽度
澳大利亚标准协会，关于薄膜 衍射仪的标准
- AS/NZS 4201.5:1994 柔性建筑用薄膜和衬垫物.试验方法.方法5:发射度
CZ-CSN，关于薄膜 衍射仪的标准
- CSN 02 3400-1986 滑动轴承．静态负荷与流体计算-薄膜放射状滑动轴承
