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Park Systems与JOEL签订原子力显微镜在日分销协议

2015.10.09

  分析测试百科网讯 2015年10月6日,Park Systems宣布其子公司Park Systems Japan 与日本电子签订Park Systems原子力显微镜产品在日本市场的分销协议。日本电子与Park Systems Japan的合作伙伴关系将为客户更方便地提供扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM),以及最先进的原子力显微镜(AFM)。

  “日本电子是全球领先的电子显微镜制造商,其优秀技术与Park AFM提供的原子力显微镜测量相结合,”Park Systems董事长兼首席执行官Dr. Sang-il Park评论道:“我们很高兴通过此次分销合作,JEOL的客户能够接受由JEOL提供给客户Park Systems的原子力显微镜产品的优秀客户服务。”

  日本电子是为世界级科学、计量仪器、工业设备和医疗应用带来高性能电子光学和分析技术产品的全球市场领导者。日本电子提供电子显微镜、光谱系统等分析仪器,拥有近3000名员工,专门提供最先进的纳米级成像和分析应用,日本电子定位于为需要先进科学仪器的高水平研究和开发活动提供一流产品和客户服务。

  “与日本电子的合作将加强我们遍及日本的销售网络。我们致力于在学术和工业市场、为整个日本市场创造强大的销售队伍。”Park Systems Japan总裁Noboru Terata评论道。

  “日本电子的公司口号‘YOKOGUUSHI’其目标是实现协同效应,为客户提供整体解决方案。为了实现这一点,日本电子需要有强大的原子力显微镜系统。非常幸运的是 Park Systems作为合作伙伴,提供了先进技术和易于使用的原子力显微镜系统,”日本电子亚洲有限公司和日本电子(北京)有限公司主席、董事和执行副总裁Mr. Shin-ichi Watanabe评论:“我们很高兴能与Park Systems成为合作伙伴,并提供原子力显微镜能为我们所服务的日本客户。”

  先进半导体应用的最新趋势是扫描电子显微镜(SEM)与原子力显微镜(AFM)结合的混合计量模式。原子力显微镜的三维非破坏性测量可确保在半导体制造业的SEM不能单独测量的质量。Park Systems和日本电子的合作为客户提供了方便地访问最先进的SEM、TEM和AFM技术,满足他们所有纳米级成像要求。

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