原子力显微镜(atomic force microscope, AFM)工作原理
原子力显微镜是利用检测样品表面与细微的探针尖端之间的相互作用力(原子力)测出表面的形貌。探针尖端在小的轫性的悬臂上,当探针接触到样品表面时,产生的相互作用,以悬臂偏转形式检测。样品表面与探针之间的距离小于3-4nm,以及在它们之间检测到的作用力,小于10-8N。激光二极管的光线聚焦在悬臂的背面上。当悬臂在力的作用下弯曲时,反射光产生偏转,使用位敏光电检测器偏转角。然后通过计算机对采集到的数据进行处理,从而得到样品表面的三维图象。
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