XRF熔融制片方法的相关介绍
X射线荧光分析法是一种现代仪器分析方法,具有分析迅速、非破坏性分析、光谱不受化学状态的影响、分析精度高、分析范围广(4Be~92U)、定性定量分析、样品制备简单等优点。
仪器装置分为X射线发生装置、分光装置、计数记录装置。
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