X光荧光分析的特点及应用
特点
1.分析速度快，通常每个元素分析测量时间在2～lOOs之内即可完成。
2.非破坏性，X射线荧光分析对样品是非破坏性测定，使得其在一些特殊测试如考古、文物等贵重物品的测试中独显优势
3.分析样品范围广，可以对元素周期表上的多种元素进行分析，并可直接测试各种形态的样品。
4.分析样品浓度范围宽，可分析含量在0.0001%～100%宽范同内的组分含量。
5.分析精度高、重现性好。
应用
随着仪器技术和理论方法的发展，X射线荧光分析法的应用范同越来越广。在物质的成分分析上，在冶金、地质、化工、机械、石油、建筑材料等工业部门，农业和医药卫生，以及物理、化学、生物、地学、环境、天文及考古等研究部门都得到了广泛的应用：有效地用于测定薄膜的厚度和组成．如冶金镀层或金属薄片的厚度，金属腐蚀、感光材料、磁性录音带薄膜厚度和组成：可用于动态分析上，测定某一体系在物理化学作用过程中组成的变化情况．如相变产生的金属问的扩散，固体从溶液中沉淀的速度，固体在同体中的扩散和同体在溶液中溶解的速度等。
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