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特征x射线 能谱分析
本专题涉及特征x射线 能谱分析的标准有500条。
国际标准分类中，特征x射线 能谱分析涉及到光学和光学测量、分析化学、物理学、化学、辐射测量、黑色金属、计量学和测量综合、光学设备、词汇、金属材料试验、金属矿、钢铁产品、有色金属、耐火材料、无损检测、长度和角度测量、电站综合、铁合金、建筑材料、核能工程、涂料配料、医学科学和保健装置综合、电学、磁学、电和磁的测量、非金属矿、无机化学、化工产品、废物、燃料、纸和纸板、医疗设备、实验室医学、天文学、大地测量学、地理学、石油产品综合、橡胶和塑料工业的生产工艺、表面处理和镀涂、金属的腐蚀、石油、石油产品和天然气储运设备、燃烧器、锅炉、犯罪行为防范、纺织产品、无线通信、润滑剂、工业油及相关产品、地质学、气象学、水文学、水质、陶瓷。
在中国标准分类中，特征x射线 能谱分析涉及到电子光学与其他物理光学仪器、电子元件综合、基础标准与通用方法、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、半导体分立器件综合、钢铁与铁合金分析方法、、金属化学分析方法综合、化学、铁矿、耐火材料综合、电化学、热化学、光学式分析仪器、实验室基础设备、电力试验技术、稀有轻金属及其合金、建材产品综合、金属无损检验方法、同位素与放射源综合、重金属及其合金分析方法、涂料基础标准与通用方法、稀有金属及其合金分析方法、钢铁产品综合、核仪器与核探测器综合、颜料、有色金属矿综合、电子测量与仪器综合、化学计量、建材原料矿、不定型耐火材料、定型隔热耐火材料、化学助剂基础标准与通用方法、土壤、肥料综合、土壤环境质量分析方法、轻金属及其合金分析方法、有色金属及其合金产品综合、冶金原料与辅助材料综合、物理学与力学、造纸综合、Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、金属物理性能试验方法、工业废水、污染物分析方法、纸、贵金属及其合金分析方法、燃料油、辐射防护监测与评价、稀有金属矿、催化剂基础标准与通用方法、石油产品综合、医用射线设备、轻金属及其合金、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、生活服务汽车、基本有机化工原料、润滑油、犯罪鉴定技术、材料防护、半金属及半导体材料分析方法、光学测试仪器、氧化物、单质、重金属矿、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、核材料、核燃料及其分析试验方法、炭素材料、硅质耐火材料、地球科学、放射性金属矿、大气、水、土壤环境质量标准、给水、排水工程综合、特种陶瓷、润滑脂、金属理化性能试验方法综合、陶瓷、玻璃综合、液体介质与植物、动物、人体器官采样方法、固体废弃物、土壤及其他环境要素采样方法。
国家质检总局，关于特征x射线 能谱分析的标准
- GB/T 19500-2004 X射线光电子能谱分析方法通则
- GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
- GB/T 17362-1998 黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法
- GB/T 42360-2023 表面化学分析 水的全反射X射线荧光光谱分析
- GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
- GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则
- GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
- GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
- GB/T 18873-2002 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线 能谱定量分析通则
- GB/T 18873-2008 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则
- GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
- GB/T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
- GB/T 28892-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.选择仪器性能参数的表述
- GB/T 17507-2008 透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件
- GB/T 17507-1998 电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样通用技术条件
- GB/T 16597-1996 冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则
- GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
- GB/T 28633-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.强度标的重复性和一致性
- GB/Z 42520-2023 铁矿石X射线荧光光谱分析实验室操作指南
- GB/T 17723-1999 黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法
- GB/T 29513-2013 含铁尘泥 X射线荧光光谱化学分析 熔铸玻璃片法
- GB/T 21114-2007 耐火材料 X射线荧光光谱化学分析 - 熔铸玻璃片法
- GB/T 25185-2010 表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告
- GB/T 8156.10-1987 工业用氟化铝中硫量的测定 X射线荧光光谱分析法
- GB/T 2679.11-2008 纸和纸板 无机填料和无机涂料的定性分析.电子显微镜/X射线能谱法
- GB/T 2679.11-1993 纸和纸板中无机填料和无机涂料的定性分析 电子显微镜/X射线能谱法
- GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- GB/T 32869-2016 纳米技术 单壁碳纳米管的扫描电子显微术和能量色散X射线谱表征方法
- GB/T 17416.2-1998 锆矿石化学分析方法 X射线荧光光谱法测定锆量和铪量
- GB/T 30702-2014 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
- GB/T 14506.28-1993 硅酸盐岩石化学分析方法 X射线荧光光谱法测定主、次元素量
- GB/T 14849.5-2010 工业硅化学分析方法.第5部分：元素含量的测定.X射线荧光光谱法
- GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
- GB/T 6609.30-2009 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法.第30部分:X射线荧光光谱法测定微量元素含量
- GB/T 19267.6-2008 刑事技术微量物证的理化检验 第6部分:扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GB/T 30701-2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定
- GB/T 6609.32-2009 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法.第32部分:α-三氧化二铝含量的测定.X-射线衍射法
德国标准化学会，关于特征x射线 能谱分析的标准
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- DIN 51418-1:2008 X射线光谱测定法.X射线散射和X射线荧光分析(XRF).第1部分:定义和基本原理
- DIN 51418-2:2015 X射线光谱分析.X射线散射和X射线荧光分析(RFA).第2部分:定义和测量、校准及评估的基本原则
- DIN 51418-2:1996 X射线光谱分析.X射线散射和X射线荧光分析(RFA).第2部分:定义和测量、校准及评估的基本原则
- DIN ISO 16129:2020 表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
- DIN 51418-1:2008-08 射线光谱测定 X 射线发射和 X 射线荧光分析(XRF)第1部分：定义和基本原理
- DIN 51418-1:1996 X光射线光谱测定法.X光射线散射和X光射线荧光分析(RFA).第1部分:定义和基本原理
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)
- DIN 51418-2:2015-03 X 射线光谱测定 X 射线发射和 X 射线荧光分析(XRF)第2部分：测量、校准和结果评估的定义和基本原则
- DIN ISO 15472:2020 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能标校准（ISO 15472:2010）；英文文本
- DIN ISO 15632:2022-09 微束分析 用于能量色散 X 射线光谱仪规格和检查的选定仪器性能参数
- DIN CEN/TR 16176:2012-03*DIN SPEC 19776:2012-03 废物表征 X射线荧光光谱法元素成分筛选方法 用于现场验证
- DIN 51440-1:2003 汽油检测.磷含量测定.第1部分:波长色散X射线光谱分析法
- DIN EN ISO 8754:2003 石油产品.硫含量的测定.能量分散X射线荧光光谱法
- DIN EN 10315:2006 使用临近技术用X射线荧光光谱法(XRF)分析高合金钢的常规法
- DIN EN 12543-2:2019 无损检测 用于无损检测的工业 X 射线系统的焦点特征 第2部分：针孔照相机射线照相法
- DIN 51431-2:2004 润滑剂的检验.镁含量测定.第2部分:波长色散的X射线光谱分析法(XRF)
- DIN EN 10315:2006-10 使用近旁技术通过 X 射线荧光光谱法(XRF)分析高合金钢的常规方法
- DIN 51577-4:1994 矿物油碳氢化合物和类似产品的检验.氯和溴含量的测定.用低价格仪器的能量散射X射线光谱仪分析
- DIN 51391-2:1994-03 润滑剂测试；添加元素含量的测定；通过波长色散 X 射线光谱 (XRS) 进行分析
- DIN EN ISO 20847:2004 石油产品.机动车燃料中硫含量的测定.能量分散X射线荧光光谱法
- DIN 51379-2:1990 润滑剂检验.润滑油中钼含量的测定.第2部分:波长频散X射线光谱测定分析法
- DIN ISO 15632:2015 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范(ISO 15632-2012)
- DIN EN 60601-2-54:2010 医用电子设备.第2-54部分:放射线照相术和放射线透视用X射线设备的基本安全和基本性能用特殊要求
- DIN 51829:2013 石油产品.测定润滑脂中的添加元素和磨损元素.波长色散X射线光谱法(XRS)分析
- DIN 51829:2013-03 石油产品 润滑脂中添加剂和磨损元素的测定 波长色散 X 射线荧光光谱法分析
- DIN 51577-4:2023-07 矿物油碳氢化合物和类似产品的测试。氯和溴含量的测定。用低成本仪器进行能量色散X射线光谱分析
- DIN 51790-7:2002 液体燃料试验.钒和镍含量测定.第7部分:波长色散X射线光谱法(XRS)和基本参数法分析
- DIN EN IEC 62220-2:2022-11 医用电气设备 数字X射线成像设备的特性 第2部分：双能减影效率的测定 用于双能射线照相成像的探测器
- DIN 51363-2:2003-02 石油产品检测 润滑油和添加剂中磷含量的测定 第2部分：波长色散X射线光谱法（XRS）分析
英国标准学会，关于特征x射线 能谱分析的标准
- BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- BS ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- BS ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析指南
- BS ISO 13424:2013 表面化学分析.X射线光谱.薄膜分析报表
- BS ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
- BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度尺度的线性
- BS DD ISO/TS 10798:2011 毫微技术.利用扫描电子显微镜和能量色散X射线光谱法分析得出单层碳纳米管的表示特征
- BS ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- DD ISO/TS 10798:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析表征单壁碳纳米管
- BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
- BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
- BS ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- BS ISO 17109:2022 表面化学分析 深度剖析 使用单层和多层薄膜的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率的测定方法...
- 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析 深度剖析 使用单一和……的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率测定方法
- PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析 全反射 X 射线荧光光谱在生物和环境分析中的应用
- BS ISO 15470:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- BS ISO 15470:2017 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- BS PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析. 全反射X射线荧光光谱法在生物和环境分析中的使用
- BS ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- BS ISO 15632:2012 微束分析. 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
- BS ISO 15632:2021 微束分析 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
- BS ISO 22863-4:2021 烟花 特定化学物质测定的试验方法 X射线荧光光谱法分析铅和铅化合物
- BS ISO 19668:2017 表面化学分析 X射线光电子能谱 均质材料中元素检测限的估计和报告
- BS ISO 19318:2021 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法
- BS ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电子分光计.能量等级的校准
- BS ISO 17470:2014 微束分析. 电子探针显微分析. 采用波长分散X射线光谱测定法的定性点分析指南
- BS ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子和俄歇电子光谱仪.强度标的线性度
- BS ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- BS ISO 18118:2015 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- 23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- BS ISO 20903:2019 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- 20/30423741 DC BS ISO 19318 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法
- BS ISO 22489:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
- BS ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
- BS ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
- BS EN 10315:2006 临近技术使用的X射线荧光光谱法(XRF)高合金钢分析的常规方法
- BS ISO 24237:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱学.强度标的可重复性和稳定性
- BS EN 10315:2006(2010) 临近技术使用的X射线荧光光谱法(XRF)高合金钢分析的常规方法
- BS ISO 19318:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
- BS ISO 14706:2000 表面化学分析.采用全反射X射线荧光(TXRF)光谱法对硅片表面元素污染物的测定
- BS ISO 14706:2014 表面化学分析.采用全反射X射线荧光(TXRF)光谱法对硅片表面元素污染物的测定
- BS ISO 14706:2001 表面化学分析 采用全反射X射线荧光（TXRF）光谱法对硅片表面元素污染物的测定
- 19/30401682 DC BS ISO 22863-4 烟花 特定化学物质测定的试验方法 第4部分：X 射线荧光光谱法(XRF)分析铅和铅化合物
- IEC 62607-6-21:2022 纳米制造 关键控制特性 第6-21部分：石墨烯基材料 元素组成、C/O比：X射线光电子能谱
- BS 1902-9.2:1987 耐火材料试验方法.第9.2部分:仪器化学分析法.第2节:用X射线荧光光谱法分析硅质耐火材料
- 19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于电子探针显微镜或电子探针微量分析仪(EPMA)的能量色散 X 射线光谱仪的规格和检查的选定仪器性能参数
- BS 6043-2.4:2000 铝制造中使用的碳质材料的取样和测试方法 焦炭电极 X射线荧光光谱分析
- BS ISO 18118:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南
- BS ISO 22581:2021 表面化学分析 来自X射线光电子能谱测量扫描的近实时信息 含碳化合物表面污染的识别和校正规则
- DD ENV 725-4-1994 高技术陶瓷.陶瓷粉末试验方法.用X射线荧光光谱分析法对氮化铝氧含量的测定
- BS EN 16424:2014 废弃物的特性描述. 使用便携式X射线荧光光谱仪对元素成分进行的筛选方法
- BS EN 725-4:2006 高级工业陶瓷.陶瓷粉末试验方法.用X射线荧光光谱(XRF)分析法测定氮化铝中氧含量
国际标准化组织，关于特征x射线 能谱分析的标准
- ISO/TS 10798:2011 纳米技术.使用扫描电镜与X射线能谱分析的单臂碳纳米管的特征描述
- ISO 10810:2019 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南
- ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
- ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱学.分析导则
- ISO 13424:2013 表面化学分析——X射线光电子能谱；薄膜分析结果的报告
- ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准
- ISO 15472:2001 表面化学分析 X射线光电谱仪 能量刻度表校准
- ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
- ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 射线光电子能谱 确定背景的程序
- ISO 15470:2017 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
- ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
- ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
- ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- ISO/TR 19319:2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- ISO 15470:2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
- ISO/TS 18507:2015 表面化学分析. 全反射X射线荧光光谱法在生物和环境分析中的使用
- ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- ISO/TR 18392:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序
- ISO 17470:2004 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法分析质量点的指南
- ISO 17470:2014 微束分析. 电子探针微量分析. 用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
- ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
- ISO/CD 5861 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色Al Ka XPS仪器强度校准方法
- ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色 Al Kα XPS 仪器强度校准方法
- ISO/DIS 18118:2023 表面化学分析 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- ISO/FDIS 18118:2023 表面化学分析 - 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 - 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- ISO 17109:2022 表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法
- ISO 22489:2006 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- ISO 19668:2017 表面化学分析.X射线光电子能谱学.均匀材料中元素检测极限的估算和报告
- ISO 17054:2010 用X射线荧光光谱法(XRF)近似技术分析高合金钢的常规方法
- ISO 24237:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱法.强度的可重复性和稳定性
- ISO 8754:2003 石油产品.硫含量的测定.能量分散X射线荧光光谱测定法
- ISO 22863-4:2021 烟花.特定化学物质测定的试验方法.第4部分：用X射线荧光光谱法（XRF）分析铅和铅化合物
- ISO 19318:2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
- ISO 19318:2021 表面化学分析. X射线光电光谱法. 电荷控制和电荷校正方法的报告
- ISO 15632:2021 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
- ISO 15632:2012 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
- ISO 20903:2019 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- ISO 15632:2002 微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范
- ISO 20847:2004 石油制品.机动车燃料的硫含量的测定.能量分散X射线荧光光谱法
- ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能普和X射线光电子光谱.通报结果所需峰值强度和信息的测定方法
- ISO 22581:2021 表面化学分析X射线光电子能谱测量扫描的近实时信息含碳化合物表面污染的识别和校正规则
- ISO 8466-1:1990 水质 性能特征分析方法和评价方法的校准和计算 第1部分:线性校准功能的统计法
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