本专题涉及半导体 薄膜应力的标准有221条。
国际标准分类中,半导体 薄膜应力涉及到金属材料试验、半导体分立器件、力、重力和压力的测量、绝缘流体、电容器、电子电信设备用机电元件、集成电路、微电子学、半导体材料、表面处理和镀涂、真空技术、图形符号、电工和电子试验、电工器件、频率控制和选择用压电器件与介质器件、电子显示器件、电线和电缆。
在中国标准分类中,半导体 薄膜应力涉及到金属物理性能试验方法、电容器、工业自动化与控制装置综合、仪器、仪表用材料和元件、半导体分立器件综合、电子设备专用微特电机、半金属与半导体材料综合、电力半导体器件、部件、半导体集成电路、、微型电机、混合集成电路、场效应器件、微电路综合、电子设备机械结构件、其他、膜集成电路、低压配电电器、基础标准与通用方法、电子技术专用材料、电缆及其附件。
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号