XPS用于定性分析、定量分析
XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy(X射线光电子能谱), 早期也被称为ESCA(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis),是一种使用电子谱仪测量X-射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。
XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息,从峰强可获得样品表面元素含量或浓度。
推荐
-
项目成果
-
焦点事件
-
项目成果
-
市场商机
-
会议会展
-
科技前沿
-
科技前沿
-
科技前沿
-
科技前沿
-
科技前沿
-
科技前沿
-
科技前沿
-
科技前沿
-
企业风采
-
会议会展
-
科技前沿
-
项目成果
-
招标采购
-
项目成果
-
项目成果
-
项目成果
-
焦点事件
-
焦点事件
-
项目成果
-
焦点事件
-
焦点事件
-
焦点事件
-
企业风采
-
焦点事件
-
企业风采
-
项目成果
-
项目成果
-
焦点事件
-
项目成果
-
项目成果
-
项目成果
-
焦点事件
-
焦点事件
-
会议会展
-
项目成果
-
标准
-
项目成果
-
项目成果
-
项目成果
-
项目成果
-
科技前沿
-
产品技术
-
项目成果
-
科技前沿
-
科技前沿
-
项目成果
-
项目成果
-
项目成果
-
项目成果
-
会议会展
-
项目成果
-
科技前沿