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数字式四探针电阻率测试仪

2020.6.02

  数字式四探针电阻率测试仪型号:SX1944

  产品说明

   四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。广泛用于半导体厂家、太阳能行业,还能满足科研单位的精密研究。

  产品特点

  四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用仪器。

  仪器以大规模集成电路为核心部件,采用旋扭式开关控制,及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术,使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。

  型号SX1944

  测量范围电阻率:10-4~105Ω-cm 方块电阻:10-3~106Ω/□ 电阻:10-4~105Ω

  可测半导体材料尺寸直径:Φ15~100mm

  测量方位轴向、径向均可

  数字电压表⑴量程: 200mV

  ⑵误差:± 0.1% 读数± 2 字

  ⑶大分辨力:10μV

  显示 : 4位半数字显示。小数点自动显示

  数控恒流源⑴电流输出:直流电流 0 ~ 100mA 连续可调,由交流电源供电。

  ⑵量程: 1 μ A , 10 μ A , 100μA , 1mA , 10mA , 100mA

  ⑶误差:± 0.5% 读数± 2 字

  四探针测试探头⑴探 针 间 距: 1mm

  ⑵探针机械游移率: ± 1.0%

  ⑶探 针: 碳化钨,Φ 0.5mm

  ⑷压 力: 0 ~ 2kg 可调 , 大压力约 2kg

  电源输入 : AC 220V ± 10% 50Hz 功 耗: <20W

  外形尺寸主机 260mm (长)× 210 mm (宽)× 125mm (高)

  备注USB 接口,配软件


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